技术总结
本发明涉及一种太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法，针对太赫兹波检测颗粒样品时由于散射效应的存在，导致频率谱线随着频率增大而缓慢变高，在后期应用中提取特征谱线中特征峰的位置和峰高时会引入较大误差，从而无法准确地描述被测样品在太赫兹波段内的光谱特性这一问题，从太赫兹系统采集得到的时域或者频域信号，建立对应的数学模型，推导频谱散射线与频率之间的对应关系，最终得到去除散射线之后的特征谱线。可以提高被测样品的特征峰和峰高的提取精度。该方法简单易行，适用范围广，准确度高。
技术研发人员：王凯亮;彭滟;朱亦鸣;张秀平;徐博伟;张腾飞;王俊炜;庄松林
受保护的技术使用者：上海理工大学
文档号码：201610710461
技术研发日：2016.08.23
技术公布日：2017.01.04