一种服务器内存测试方法及装置与流程

本发明涉及服务器
技术领域：
，特别涉及一种服务器内存测试方法及装置。
背景技术：
：服务器内存是数据与处理器进行沟通的桥梁。服务器内存一旦无法进行稳定工作，那么这将很可能会导致整个服务器系统瘫痪。因此，在产品发布之前，还需对服务器内存进行测试。目前，在对服务器内存进行测试时，主要是通过测试服务器内存在常温下能否稳定工作。但是由于影响服务器内存稳定性的因素不只包括温度，还有供电电压等其它因素，而且，单就测试一个标准状态下的值，也并不能说明在允许的温度变化范围内，服务器内存能够稳定工作。可见，如何能够较准确的检测服务器内存的稳定性成为目前亟待解决的问题。技术实现要素：本发明实施例提供了一种服务器内存测试方法及装置，能够较准确的检测服务器内存的稳定性。第一方面，本发明实施例提供了一种服务器内存测试方法，包括：确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；从每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；还包括：控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；根据所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。优选地，进一步包括：确定每一个所述测试项目分别对应的标准值；利用各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；在所述控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行之前，进一步包括：控制所述待测试服务器内存在所述第二测试环境下运行。优选地，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。优选地，进一步包括：确定所述供电电压对应的标准值；确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值，包括：利用如下公式1，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式2，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述供电电压对应的所述第二耐受阈值。优选地，所述利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境下，包括：通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。优选地，所述第一耐受阈值为5％，所述第二阈值为5％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.14V，所述上限值为1.26V；或，所述第一耐受阈值为3％，所述第二耐受阈值为4.4％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.164V，所述上限值为1.2528V。第二方面，本发明实施例提供了一种服务器内存测试装置，包括：第一确定单元，用于确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；第二确定单元，用于确定所述第一确定单元确定出的每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；第一设置单元，用于从所述第二确定单元确定出的每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；第一测试单元，用于控制所述待测试服务器内存在所述第一设置单元设置的所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；第三确定单元，用于根据所述第一测试单元生成的所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。优选地，进一步包括：第四确定单元，用于确定所述第一确定单元确定出的每一个所述测试项目分别对应的标准值；第二设置单元，用于利用所述第四确定单元确定出的各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；第二测试单元，用于控制所述待测试服务器内存在所述第二设置单元设置的所述第二测试环境下运行。优选地，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。优选地，进一步包括：第五确定单元，用于确定所述供电电压对应的标准值；第六确定单元，用于确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述第二确定单元，具体用于利用如下公式1，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述第五确定单元确定出的所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述第六确定单元确定出的所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式2，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述第五确定单元确定出的所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述第六确定单元确定出的所述供电电压对应的所述第二耐受阈值；和/或，所述第一设置单元，具体用于通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。本发明实施例提供了一种服务器内存测试方法及装置，通过确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目，以及确定每一个测试项目分别对应的两个极限值，其中，两个极限值分别是相应测试项目对应的上限值和下限值，以及从每一个测试项目分别对应的上限值和下限值中均任意选择出一个，并利用选择出的各个极限值设置待测试服务器内存的测试环境，以使待测试服务器内存在设置的测试环境下运行，并生成运行日志，最终根据该运行日志，确定待测试服务器内存的稳定性。由于在设置测试环境时，每次均是同时利用所有的测试项目分别对应的一个极限值，而不再是只利用单个测试项目的一个标准值，从而能够较准确的检测待测试服务器内存的稳定性。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本发明一个实施例提供的一种服务器内存测试方法的流程图；图2是本发明另一个实施例提供的一种服务器内存测试方法的流程图；图3是本发明实施例提供的服务器内存测试装置所在设备的硬件架构图；图4是本发明一个实施例提供的一种服务器内存测试装置的结构示意图；图5是本发明另一个实施例提供的一种服务器内存测试装置的结构示意图；图6是本发明又一个实施例提供的一种服务器内存测试装置的结构示意图。具体实施方式为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。如图1所示，本发明实施例提供了一种服务器内存测试方法，该方法可以包括以下步骤：步骤101：确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目。步骤102：确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值。步骤103：从每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境。步骤104：控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行，并生成运行日志。步骤105：根据所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。在图1所示的实施例中，通过确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目，以及确定每一个测试项目分别对应的两个极限值，其中，两个极限值分别是相应测试项目对应的上限值和下限值，以及从每一个测试项目分别对应的上限值和下限值中均任意选择出一个，并利用选择出的各个极限值设置待测试服务器内存的测试环境，以使待测试服务器内存在设置的测试环境下运行，并生成运行日志，最终根据该运行日志，确定待测试服务器内存的稳定性。由于在设置测试环境时，每次均是同时利用所有的测试项目分别对应的一个极限值，而不再是只利用单个测试项目的一个标准值，从而能够较准确的检测待测试服务器内存的稳定性。在本发明一个实施例中，为了检测在标准条件下待测试服务器内存能否稳定工作，进一步包括：确定每一个所述测试项目分别对应的标准值；利用各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；在所述步骤104之前，进一步包括：控制所述待测试服务器内存在所述第二测试环境下运行。例如，针对待测试服务器内存的测试项目共有3个，分别为供电电压、温度和气压，其中，待测试服务器内存的标准工作电压为1.2V，常温为25℃，标准工作大气压为101Kpa，那么在进行测试时，可首先将待测试服务器内存的测试环境设置为1.2V、25℃及101Kpa，并使待测试服务器内存在该环境下运行一段时间(时间不宜太短，否则可能导致测试结果不准确)，如1小时，之后在完成所有测试环境的测试后，或者是完成当前测试环境的测试后，可通过查看待测试服务器内存在这1小时的运行日志，来确定待测试服务器内存在标准工作条件下能否稳定工作。通过检测待测试服务器内存在标准工作条件下的运行状态，可以为待测试服务器内存在其它极限条件下的测试结果提供对比参考。在本发明一个实施例中，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。在本发明一个实施例中，为了能够确定出待测试服务器内存的供电电压的上限值和下限值，进一步包括：确定所述供电电压对应的标准值；确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述步骤102的具体实施方式包括：利用如下公式1，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式2，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述供电电压对应的所述第二耐受阈值。当供电电压为标准工作电压时，是待测试服务器内存最理想的工作状态，但是由于待测试服务器内存的负载变化非常快，那么其负载电流也会频繁的变化，从而可能导致供电电压出现复杂的上下波动情况，但是只要其波动在允许的范围内，待测试服务器内存也可正常工作。因此，本发明实施例中通过利用允许的波动范围的上限值和下限值，来检测待测试服务器内存是否达到预期标准，也即，待测试服务器内存是否可以在预期允许的波动范围内稳定工作。例如，第一耐受阈值λ＝5％、第二耐受阈值μ＝5％及供电电压对应的标准值U＝1.2V(也即待测试服务器内存的标准工作电压)，那么利用公式1计算供电电压的下限值为M＝U*(1-λ)＝1.2*(1-5％)＝1.2*95％＝1.14V；利用公式2计算供电电压的上限值为S＝U*(1+μ)＝1.2*(1+5％)＝1.2*105％＝1.26V。其中，第一耐受阈值和第二耐受阈值并不局限于上述实施例，可根据实际情况进行设定。通过确定待测试服务器内存的供电电压的下限值和上限值，以便接下来通过这两个极限值及其他测试项目分别对应的两个极限值来对待测试服务器内存进行测试，那么当测试均通过时，则确定待测试服务器内存能够稳定工作，相比较只测试单个值，能够有效检测待测试服务器内存的稳定性。在本发明一个实施例中，为了能够根据确定出的供电电压的上限值和下限值，以及温度的上限值和下限值设置待测试服务器内存的测试环境，所述步骤103的具体实施方式包括：通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。在本发明实施例中，在设置待测试服务器内存的供电电压时，首先应选择测试版本BIOS刷新程序，务必确保待测试服务器内存的供电电压可以在BIOS界面进行设置，进而通过登入BIOS界面，将供电电压调节任意一个确定的极限值，如1.14V或者是1.26V。另外，为保证供电电压调节的准确性，在通过BIOS设置之后，可利用万用表、示波器等电压测量仪器来测试待测试服务器内存的供电电压是否准确的达到预设值，例如，预设值为1.14V，但实际测量到的电压值为1.09V，那么此时还需要对供电电压进行微调，而微调可通过向主板上的VR控制芯片刷入相应的值，以精细调节待测试服务器内存的供电电压达到1.14V。除此之外，还可通过直接调节主板上的电阻、电容等器件来设置待测试服务器内存的供电电压，但是这种实现方式过于繁琐，而通过BIOS的设置方式则既能提升工程师的调试效率，缩短测试实现的周期，而且还能大量节省物料，降低成本。在本发明实施例中，温度模拟装置可以采用温湿度测试chamber。在本发明一个实施例中，所述第一耐受阈值为5％，所述第二阈值为5％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.14V，所述上限值为1.26V。在本发明一个实施例中，所述第一耐受阈值为3％，所述第二耐受阈值为4.4％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.164V，所述上限值为1.2528V。其中，3％和4.4％是依据公版的测试标准确定出的。下面将以温度和供电电压这两个测试项目来为例，对本发明实施例中提供的一种服务器内存测试方法进行详细说明，如图2所示，该方法可以包括以下步骤：步骤201：确定对应待测试服务器内存的两个测试项目温度和供电电压。在本发明实施例中，是以温度和供电电压这两个测试项目为例，但如果之后还包括气压等其它测试项目时，均可按照本发明实施例中的测试方法对待测试服务器内存进行测试。步骤202：确定温度对应的标准值为25℃，供电电压对应的标准值为1.2v。其中，温度对应的标准值可认为是常温状态下的温度值；而供电电压对应的标准值则可能根据待测试服务器内存型号的不同而不同。步骤203：确定温度对应的上限值为40℃及下限值为0℃，供电电压对应的上限值为1.26v及下限值为1.14v。其中，待测试服务器内存对应的温度的上限值40℃以及下限值0℃是按照国标GB-9813中2级标准确定出的。另外，在确定待测试服务器内存供电电压对应的上限值1.26v及下限值1.14v时，首先应确定供电电压对应的第一耐受阈值λ和第二耐受阈值μ，那在本发明实施例中，λ取5％、μ取5％，然后可分别通过公式1：M＝U*(1-λ)以及公式2：S＝U*(1+μ)计算出上限值M＝1.26v，下限值S＝1.14v，其中，U是上述步骤202中确定出的供电电压的标准值1.2v。由于温度和供电电压分别对应两个极限值，所以利用温度和供电电压同时对待测试服务器内存进行测试时，就会有22＝4组极限环境测试，那这4组测试形式可如下表1所示：表1温度供电电压40℃1.26v40℃1.14v0℃1.14v0℃1.26v步骤204：通过温度模拟装置以及BIOS界面，分别设置待测试服务器内存的温度为25℃、供电电压为1.2v。步骤205：控制待测试服务器内存在25℃、1.2v的测试环境下运行时间t1。在本发明实施例中，首先进行的是标准条件下的测试，并可将此测试结果作为接下来的4组极限条件下测试结果的参考。其中，t1可取1小时。步骤206：通过温度模拟装置以及BIOS界面，分别设置待测试服务器内存的温度为40℃、供电电压为1.26v。在本发明实施例中，可在步骤205的基础上，首先将温度设置为40℃(为减少对待测试服务器内存的损坏及提高测试的准确性，还可设置温度从25℃升至40℃的上升时间，如1小时)，而供电电压保持1.2v不变，并控制待测试服务器内存在该1小时内运行，以进一步确定温度升高对待测试服务器内存稳定性的影响。之后，保持温度40℃不变，而调节供电电压为1.26v。步骤207：控制待测试服务器内存在40℃、1.26v的测试环境下运行时间t2。其中，t2可取5小时。步骤208：通过温度模拟装置以及BIOS界面，分别设置待测试服务器内存的温度为40℃、供电电压为1.14v。在本发明实施例中，在步骤207的基础上，保持温度40℃不变，而调节供电电压为1.14v，一是可以测试在这组极限条件下的待测试服务器内存的稳定性，二是可以测试温度保持不变时，供电电压由上限值变为下限值的过程对待测试服务器内存稳定性的影响。步骤209：控制待测试服务器内存在40℃、1.14v的测试环境下运行时间t3。其中，t3可取5小时。步骤210：通过温度模拟装置以及BIOS界面，分别设置待测试服务器内存的温度为0℃、供电电压为1.14v。在本发明实施例中，可在上述步骤209的基础上，首先设置温度为0℃(与上述步骤206中原理类似，可设置温度从40℃至0℃的下降时间，如2小时)而保持供电电压1.14v不变，并控制待测试服务器内存在该2小时内运行，可进一步确定温度下降对待测试服务器内存稳定性的影响。步骤211：控制待测试服务器内存在0℃、1.14v的测试环境下运行时间t4。其中，t4可取5小时。步骤212：通过温度模拟装置以及BIOS界面，分别设置待测试服务器内存的温度为0℃、供电电压为1.26v。在步骤211的基础上，保持温度0℃不变，而调节供电电压为1.26v。步骤213：控制待测试服务器内存在0℃、1.26v的测试环境下运行时间t5。其中，t5可取5小时。另外，为进一步提高测试的准确性，还可在该步骤的基础上，将温度再次设置为25℃(设置0℃升至25℃的上升时间，如1小时)，且调节供电电压为标准值1.2v，并控制待测试服务器内存在该1小时内运行，除此之外，当温度升至25℃后，继续控制待测试服务器内存在25℃、1.2v的标准条件下运行1小时。步骤214：根据t1至t5生成的待测试服务器内存的所有运行日志，确定待测试服务器内存的稳定性。在待测试服务器内存运行的过程中，会生成相应的运行日志，测试人员可通过查看所有运行日志中是否有报错、报错的个数及报错的位置等等，来确定待测试服务器内存能否稳定工作，如果确定出能够稳定工作，则待测试服务器内存的测试通过，可进行批量生产了，那如果确定出不能够稳定工作，还需对设计进行相应的改善，直至测试通过。如图3、图4所示，本发明实施例提供了一种服务器内存测试装置。装置实施例可以通过软件实现，也可以通过硬件或者软硬件结合的方式实现。从硬件层面而言，如图3所示，为本发明实施例提供的服务器内存测试装置所在设备的一种硬件结构图，除了图3所示的处理器、内存、网络接口、以及非易失性存储器之外，实施例中装置所在的设备通常还可以包括其他硬件，如负责处理报文的转发芯片等等。以软件实现为例，如图4所示，作为一个逻辑意义上的装置，是通过其所在设备的CPU将非易失性存储器中对应的计算机程序指令读取到内存中运行形成的。本实施例提供的服务器内存测试装置，包括：第一确定单元401，用于确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；第二确定单元402，用于确定所述第一确定单元401确定出的每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；第一设置单元403，用于从所述第二确定单元402确定出的每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；第一测试单元404，用于控制所述待测试服务器内存在所述第一设置单元403设置的所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；第三确定单元405，用于根据所述第一测试单元404生成的所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。如图5所示，在本发明一个实施例中，进一步包括：第四确定单元501，用于确定所述第一确定单元401确定出的每一个所述测试项目分别对应的标准值；第二设置单元502，用于利用所述第四确定单元501确定出的各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；第二测试单元503，用于控制所述待测试服务器内存在所述第二设置单元502设置的所述第二测试环境下运行。在本发明一个实施例中，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。如图6所示，在本发明一个实施例中，进一步包括：第五确定单元601，用于确定所述供电电压对应的标准值；第六确定单元602，用于确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述第二确定单元402，具体用于利用如下公式1，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述第五确定单元601确定出的所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述第六确定单元602确定出的所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式2，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述第五确定单元601确定出的所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述第六确定单元602确定出的所述供电电压对应的所述第二耐受阈值；在本发明一个实施例中，所述第一设置单元403，具体用于通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。本发明实施例提供了一种可读介质，包括执行指令，当存储控制器的处理器执行所述执行指令时，所述存储控制器执行上述各个实施例所述的方法。本发明实施例提供了一种存储控制器，包括：处理器、存储器和总线；所述存储器用于存储执行指令，所述处理器与所述存储器通过所述总线连接，当所述存储控制器运行时，所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令，以使所述存储控制器执行上述各个实施例所述的方法。上述装置内的各单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明方法实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此处不再赘述。综上，本发明各个实施例至少具有如下有益效果：1、在本发明实施例中，通过确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目，以及确定每一个测试项目分别对应的两个极限值，其中，两个极限值分别是相应测试项目对应的上限值和下限值，以及从每一个测试项目分别对应的上限值和下限值中均任意选择出一个，并利用选择出的各个极限值设置待测试服务器内存的测试环境，以使待测试服务器内存在设置的测试环境下运行，并生成运行日志，最终根据该运行日志，确定待测试服务器内存的稳定性。由于在设置测试环境时，每次均是同时利用所有的测试项目分别对应的一个极限值，而不再是只利用单个测试项目的一个标准值，从而能够较准确的检测待测试服务器内存的稳定性。2、在本发明实施例中，通过检测待测试服务器内存在标准工作条件下的运行状态，可以为待测试服务器内存在其它极限条件下的测试结果提供对比参考。3、在本发明实施例中，通过利用每一个测试项目中的一个极限值来对待测试服务器内存进行测试，一是提高了测试结果的准确性，二是对整个服务器系统的稳定性提供了保障，提升了产品的可靠性。4、在本发明实施例中，通过BIOS的设置方式既能提升工程师的调试效率，缩短测试实现的周期，而且还能大量节省物料，降低成本。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个......”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储在计算机可读取的存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质中。最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。当前第1页1 2 3