技术特征：
技术总结
本发明是申请号为201310379253.X的发明专利申请的分案，提供了一种测试头、芯片加工装置及显示芯片类型号的方法，该测试头可连接到主机，主机包括接口模块和处理模块，测试头包括：通信接口和测试接口，其中：通信接口用于与主机的接口模块通信连接；测试接口用于与待加工芯片进行通信连接；测试接口的样式根据待加工芯片的读写接口类型来配置；测试头还包括用以被主机区分测试头类型的电路。本发明通过将测试头的测试接口的样式根据待加工芯片的读写接口类型来配置，可以实现一个测试头可以用于一种或者多种不同型号的芯片，且一种测试头可对应多种通信协议，使得该测试头具有较高的通用性，进而也扩展了芯片加工装置的通用性。
技术研发人员：祁美超;刘金鑫;楼鹏;周斌;陈浩
受保护的技术使用者：珠海艾派克微电子有限公司
技术研发日：2013.08.27
技术公布日：2017.12.08