技术特征：
技术总结
本发明涉及使用无监督机器学习的自动全芯片设计空间采样。一种示例性方法包括：读取作为要分析的当前布局的布局；将当前布局分割为n个子布局，其中n是正整数，以使每个子布局适合预定存储器；对子布局中的每一者执行聚类步骤，包括扫描各个子布局的特征并将每个子布局转换为定义各个图案的特征向量组，搜索每组特征向量的具有预定聚类参数的聚类，以及从每个聚类中选择图案的m个特征表示，其中m是正整数；将n个子布局中的每一者的特征表示合并成新的单个布局；搜索为各个子布局发现的特征表示的具有预定聚类参数的聚类；从每个聚类中选择图案的M个特征表示，其中M是正整数；以及输出图案的特征表示。
技术研发人员：A·路提
受保护的技术使用者：格罗方德半导体股份有限公司
技术研发日：2017.08.09
技术公布日：2018.02.23