技术特征：1.一种全参考电阻抗成像图像质量评价方法，其特征在于，包括步骤：1)、获取需要电阻抗成像的场域，并将电阻抗成像的场域通过有限元软件剖分成若干个单元，将所述进行有限元剖分的单元作为像素点，每一个单元的实际电导率作为所述像素点的像素值，形成图像质量评价的参考图像；2)、对步骤1)参考图像的场域通过电阻抗成像算法进行成像，得到成像结果图像；3)、提取步骤1)参考图像的像素点和像素值，以及提取电阻抗成像图像的像素点和像素值，计算电阻抗成像结果相对于参考图像的像素均方误差和对比度均方误差，将不同成像结果图像的像素均方误差和对比度均方误差进行分别比较作为图像质量评价指标对图像质量进行判定。2.根据权利要求1所述全参考电阻抗成像图像质量评价方法，其特征在于，所述步骤3还包括对参考图像中的像素值进行归一化处理的步骤。3.根据权利要求1-2之一所述的全参考电阻抗成像图像质量评价方法，其特征在于，计算场域中每个目标对应的区域的像素平均值和剩余的场域背景的像素平均值，作为成像对比度评价中的每个目标的像素值和背景像素值。4.根据权利要求1所述的全参考电阻抗成像图像质量评价方法，其特征在于，所述步骤3)计算参考图像和成像结果图像的对应像素点像素值归一化后的像素均方误差作为分辨率评价指标；将成像目标区域与成像背景的平均电阻率比值的均方误差作为对比度评价指标。5.根据权利要求4所述的全参考电阻抗成像图像质量评价方法，其特征在于，所述像素均方误差为PMSE=1uΣi=1u|ρi-ρi′|2---(1)]]>对比度均方误差为CMSE=1tΣj=1t|ρjρb-ρj′ρb′|2---(2)]]>式中u是场域剖分的单元数即像素点数，ρi、ρi′分别为第i个单元设置的电阻率和电阻抗成像后得到的电阻率；(2)式中t是场域中关注的成像目标个数，ρj、ρj′分别为第j个成像目标成像前后的平均电阻率；ρb、ρb′分别为场域背景成像前后的平均电阻率。当前第2页1 2 3