一种朱墨时序断层成像检验仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种成像检验仪，特别是关于一种朱墨时序断层成像检验仪。
【背景技术】
[0002]朱墨时序，是指文件上印章印文(一般为红色，简称朱)与书写、打印或复印字迹(一般为黑色，简称墨)形成的先后顺序。在我国，正式文件材料需要加盖印章方可生效，正常的形成顺序为先形成文件内容再盖印印文。近年来通过在空白纸张上先盖印印文再伪造文件内容的违法案件数量急剧增多，对经济社会发展造成了严重危害。快速、准确地确定朱墨时序已成为了当前司法鉴定领域的现实需要。而且，随着科技的不断进步，书写色料种类日趋多样化，各种类型打印机也逐渐普及，朱墨时序的识别也成为一大技术难题。
[0003]目前朱墨时序的识别方法是通过刀片剥离朱墨交叉处的色料观察下层的色泽，但这种方法需要极强的专业操作能力，不仅会破坏检材，而且多数情况下无法得出正确结论。而采用光学无损识别方法则不会对检材造成破坏，目前通常采用显微镜直接观察法或荧光检验法，但是这些常规光学检验方法只能得到样品表面的二维表观形貌，看不到立体堆积信息。而朱墨时序检验主要目的是确认印章印文与字迹的先后附着顺序，故其在纸张深度方向的立体堆积信息对于鉴定先后顺序尤为重要。因此，除了获取样品表面的二维形貌信息之外，获取样品深度方向的分层、立体、三维信息将有效提高朱墨时序识别的准确度，为鉴别文件的真实性、确定有无伪造事实提供新的判断标准和方法。
【发明内容】
[0004]针对上述问题，本发明的目的是提供一种能够对朱墨样品时序进行准确识别的朱墨时序断层成像检验仪。
[0005]为实现上述目的，本发明采取以下技术方案:一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，该成像检验仪包括一近红外光源、一分光部件、一参考臂光学器件、一样品臂光学器件、一探测器和一数据采集处理装置;所述近红外光源发出的近红外光通过所述分光部件分为参考光和样品光，所述参考光发送到所述参考臂光学器件，所述样品光经所述样品臂光学器件聚焦朱墨样品，经所述朱墨样品散射或反射的光沿原路返回与经所述参考臂光学器件出射的光发生干涉，干涉光经所述探测器发送到所述数据采集处理装置。
[0006]优选地，所述近红外光源采用中心波长为700nm?1500nm的宽谱带近红外光源，当所述近红外光源采用宽谱带近红外光源时，还包括一光谱仪，所述干涉光经所述光谱仪检测参考光和样品光干涉后的干涉光光谱并发送到所述探测器。
[0007]优选地，所述光谱仪包括一光纤准直器、一光栅和一透镜组，干涉光经所述分光器件发送到所述光纤准直器，所述光纤准直器将准直后的光发射到所述光栅发生衍射生成若干图像条纹，图像条纹经所述透镜组被所述探测器探测接收。
[0008]优选地，所述近红外光源采用近红外扫频光源。
[0009]优选地，所述分光部件包括一光纤环形器和一耦合器，所述近红外光源发出的近红外光发射到所述光纤环形器，经所述光纤环形器出射的光经所述耦合器按照设定的分光比分成两部分光。
[0010]优选地，所述分光部件采用2X2耦合器，所述近红外光源发出的近红外光发射到所述2 X 2耦合器按照设定的分光比分成两部分光。
[0011]优选地，所述参考臂光学器件包括一光纤准直器、一聚焦透镜和一平面反射镜，经所述分光器件出射的一部分光分别经所述光纤准直器和聚焦透镜聚焦到所述平面反射镜，经所述平面反射镜反射的光按照原光路返回。
[0012]优选地，所述样品臂光学器件包括一光纤准直器、一二维电动扫描系统、一物镜系统和一样品台，所述光纤准直器将发散光束准直为平行光发射到所述二维电动扫描系统，所述二维电动扫描系统实现光束二维扫描并将二维光束分别发送到所述物镜系统用于将光束聚焦到所述朱墨样品上，所述样品台用于承载和固定待识别朱墨时序的朱墨样品。
[0013]本发明由于采取以上技术方案，其具有以下优点:1、本发明包括近红外光源、分光部件、参考臂光学器件、样品臂光学器件、探测器和数据采集处理装置，由于基于光学相干断层成像技术(Optical Coherence Tomography，简称OCT)，因此本发明可以对朱墨样品一定深度范围内进行无损成像，得到包含目标样品内部信息的三维立体图像，根据光在印章印文和字迹中的穿透深度差异和光学散射特性差异，对朱墨时序进行有效识别。2、相比传统的显微检验技术，本发明的成像检验仪利用低相干光成像原理，实现无损、高分辨、断层成像，不仅可以得到样品表面结构信息，而且可以获取样品内部一定深度范围内的结构信息，实现三维立体成像，拓展了信息获取的维度，提高了朱墨时序识别的准确性和可靠性。本发明可以广泛应用于朱墨样品的识别过程中。
【附图说明】
[0014]图1是本发明的结构示意图；
[0015]图2(a)为本发明实施例先墨后朱样品三维图像示意图；
[0016]图2(b)为本发明实施例先朱后墨样品三维图像示意图。
【具体实施方式】
[0017]以下结合附图来对本发明进行详细的描绘。然而应当理解，附图的提供仅为了更好地理解本发明，它们不应该理解成对本发明的限制。
[0018]当检测朱墨样品时，由于朱和墨对近红外光的散射和吸收特性不同，造成了红外光在朱和墨中具有不同的穿透深度。具体来说，在朱中穿透深度较大，而在墨中穿透深度较小。因此，在先盖印后打印(或书与)的情况下，即先朱后墨(朱在下、墨在上)时，在朱墨交叉区域的内部将存在颗粒状印油，而在先打印(或书写)后盖印的情况下，即先墨后朱(墨在下、朱在上)时，在朱墨交叉区域将只能看到表面有颗粒状印油，内部则由于墨对红外光有较强的吸收而看不到信号。因此可以根据朱墨样品断层图像的差异来识别朱墨样品的朱墨时序，从而判断文件的形成顺序以及鉴定文件的真伪。
[0019]如图1所示，基于上述原理本发明提出朱墨时序断层成像检验仪，包括一近红外光源1、一分光部件2、一参考臂光学器件3、一样品臂光学器件4、一光谱仪探测器5和一数据采集处理装置6;近红外光源I发出的近红外光通过分光部件2分为参考光和样品光，参考光发送到参考臂光学器件3;样品光经样品臂光学器件4聚焦至朱墨样品，经朱墨样品散射或反射的光沿原路返回与经参考臂光学器件3出射的光发生干涉，干涉光经探测器5探测并发送到数据采集处理装置6进行数据处理及显示。
[0020]在一个优选的实施例中，为保证较好的穿透性和深度分辨率，近红外光源I可以采用宽谱带近红外光源，光源的中心波长可以从700nm到1500nm，光源的光谱带宽决定图像的深度分辨率，带宽越宽，纵向分辨率越高。本实施中的宽谱带近红外光源I采用SLED光源，SLED光源中心波长为832nm，带宽60nm(半高全宽)，但是不限于此。
[0021]在一个优选的实施例中，近红外光源I还可以采用近红外扫频光源，近红外扫频光源与SLED光源的不同之处在于，近红外扫频光源是以波长随时间扫描的形式发射光，某一时刻只有单点波长，而SLED光源是一次发出所有带宽范围内的波长的光。
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