技术总结
本实用新型公开了一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，包括测试设备和设置在可靠性试验箱内的无谐振基座和测试夹具，所述测试设备通过中继部件与测试夹具连接；所述测试设备包括系统板和与系统板相连的至少一个测试单元板；所述中继部件包括中继主机端、中继目标端和中继电缆，所述中继主机端与测试单元板一体化设置，所述中继目标端与测试夹具一体化设置。与现有技术相比，本实用新型的优点是：本实用新型可同时完成多个并行测试通道嵌入式电子产品测试，测试简便、测试效率高、测试结果准确，可扩展性高和维修成本低。
技术研发人员：赵鹏;黄昊;杨平;吴圣陶;郭元兴;曾柯杰;廖熹;孟珞珈;黄巍;杨光;张云;赖川;熊仕鹏;刘雨沁;吴志勇
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第三十研究所
文档号码：201720255396
技术研发日：2017.03.16
技术公布日：2017.10.24