一种提高SAW-RFID识别速度的方法及装置与流程

本发明涉及智能卡读取技术领域，尤其涉及一种提高saw-rfid识别速度的方法及装置。

背景技术

saw-rfid(表面声波射频识别surfaceacousticwaveradiofrequencyidentification)传感器技术是利用多位高q值的saw谐振器频点组合构成编码方案。读取器对组成编码的所有谐振频点进行扫描，根据与编码对应谐振频点的存在与否进行id识别。

实际批量生产的saw谐振器谐振频点与设计标称值是有一定偏差的，在目前工艺规程条件下，这个偏差值大约是±200khz左右。读取器为保证可靠id读取，需对每一位谐振频点进行扫描读取，扫描范围为400khz，单个谐振频点的扫描读取时间约150ms。当id超过20位时，完整id读取时间将超过3s，在很多自动化流水生产线上，这个id读取时间太长，不可接受，应用场景受到较大限制。

技术实现要素：

为解决上述采用现有技术，完整读取整个id时间过长的技术问题，本发明提供了一种提高saw-rfid识别速度的方法及装置。

第一方面，本发明提供了一种提高saw-rfid识别速度的方法，包括：

步骤一：对相同属性的saw-rfid芯片进行标记，得到标记芯片组；

步骤二：将所述标记芯片组中的每个所述saw-rfid芯片进行组装，得到传感器；

步骤三：当读取器对所述传感器进行读取时，则仅对任一所述saw-rfid芯片的第一个标志位进行扫描读取。

本发明的有益效果是：仅对第一标志位进行频率扫描读取，然后对其他剩余id位用直接读取的办法，能大幅提高saw-rfid的读取速度。

进一步，所述步骤三后还包括：以所述第一个标志位的谐振频点为基准，按设定的频率间隔依次读取每个所述saw-rfid芯片的剩余的id位。

进一步，所述相同属性包括：

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与预设的标称值的差值为正差值，且所述正差值小于预设的差值阈值；或者，

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与所述标称值的差值为负差值，且所述负差值的绝对值小于预设的差值阈值。

进一步，所述0≤差值阈值≤70khz。

第二方面，本发明提供了一种提高saw-rfid识别速度的装置，该装置包括：

分组模块：用于对相同属性的saw-rfid芯片进行标记，得到标记芯片组；

组装模块：用于将所述标记芯片组中的每个所述saw-rfid芯片进行组装，得到传感器；

第一读取模块：用于通过读取器对所述传感器进行读取时，则仅对任一所述saw-rfid芯片的第一个标志位进行扫描读取。

本发明的有益效果是：仅对第一标志位进行频率扫描读取，然后对其他剩余id位用直接读取的办法，能大幅提高saw-rfid的读取速度。

进一步的，还包括：第二读取模块，用于以所述第一个标志位的谐振频点为基准，按设定的频率间隔依次读取每个所述saw-rfid芯片的剩余的id位。

进一步的，所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与预设的标称值的差值为正差值，且所述正差值小于预设的差值阈值；或者，

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与所述标称值的差值为负差值，且所述负差值的绝对值小于预设的差值阈值。

进一步的，所述0≤差值阈值≤70khz。

附图说明

图1为本发明的一种提高saw-rfid识别速度的方法的流程示意图；

图2为本发明的一种提高saw-rfid识别速度的装置的结构示意图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、接口、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。

图1为本发明实施例提供的一种提高saw-rfid识别速度的方法的流程示意图。

如图1所示，该方法包括：

s1：对相同属性的saw-rfid芯片进行标记，得到标记芯片组；

s2：将所述标记芯片组中的每个所述saw-rfid芯片进行组装，得到传感器；

s3：当读取器对所述传感器进行读取时，则仅对任一所述saw-rfid芯片的第一个标志位进行扫描读取。

本发明的有益效果是仅对第一标志位进行频率扫描读取，然后对其他剩余id位用直接读取的办法，能大幅提高saw-rfid的读取速度。

优选地，s3之后还包括：以所述第一个标志位的谐振频点为基准，按设定的频率间隔依次读取每个所述saw-rfid芯片的剩余的id位。

在一些说明性实施例中，所述相同属性包括：

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与预设的标称值的差值为正差值，且所述正差值小于预设的差值阈值；或者，

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与所述标称值的差值为负差值，且所述负差值的绝对值小于预设的差值阈值。

所述0≤差值阈值≤70khz。

优选地，差值阈值为50khz。

在对每个saw-rfid芯片的id位不进行扫描操作情况下，单个saw-rfid芯片的id位读取时间由读取器锁相环本振电路锁定时间(500us)、收发开关切换时间(1ms)、查询脉冲宽度及个数决定(50us*3)，合计共1.65ms。

假设完整saw-rfid芯片的id位数为24位时，整个saw-rfid芯片的读取时间为：150ms+1.65*23ms＝186.95ms，小于0.2s。

假设完整saw-rfid芯片的id位数为26位时，整个saw-rfid芯片的读取时间为：150ms+1.65*25ms＝191.25ms，小于0.2s。

这个读取速度应用于绝大多数流水自动生产线上的生产管理，将不会存在任何障碍。

相应地，本发明实施例还提供了一种提高表面声波射频识别saw-rfid读取识别速度的装置。

图2为本发明实施例提供的一种提高saw-rfid识别速度的装置的结构示意图。

如图2所示，该装置包括：

分组模块100：用于对相同属性的saw-rfid芯片进行标记，得到标记芯片组；

组装模块200：用于将所述标记芯片组中的每个所述saw-rfid芯片进行组装，得到传感器；

第一读取模块300：用于通过读取器对所述传感器进行读取时，则仅对任一所述saw-rfid芯片的第一个标志位进行扫描读取。

优选地，上述装置还包括：第二读取模块，用于以所述第一个标志位的谐振频点为基准，按设定的频率间隔依次读取每个所述saw-rfid芯片的剩余的id位。

在一些说明性实施例中，所述相同属性包括：

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与预设的标称值的差值为正差值，且所述正差值小于预设的差值阈值；或者，

所述saw-rfid芯片的所述谐振频点与所述标称值的差值为负差值，且所述负差值的绝对值小于预设的差值阈值。

所述0≤差值阈值≤70khz。

优选地，所述差值阈值为50khz。

读者应理解，在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。