技术特征：
技术总结
本发明涉及一种检验Raid卡超级电容的方法及装置，包括如下步骤：获取BBU的状态信息；根据获取的BBU的状态信息判断BBU在位信息或BBU工作状态信息，来判断Raid卡是否连接有超级电容，根据获取的BBU的位置状态信息判断BBU在位信息，来判断Raid卡是否连接有超级电容；若BBU在位，表示Raid卡连接有超级电容；若BBU不在位，表示Raid卡没有连接超级电容。
技术研发人员：刘玉磊
受保护的技术使用者：郑州云海信息技术有限公司
技术研发日：2018.05.23
技术公布日：2018.11.06