本发明涉及测试领域，特别是涉及一种SSD硬盘测试方法、装置、设备及介质。
背景技术：
SSD硬盘是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由于其具有较快的读写速度、较高的防震抗摔性、低功耗以及噪声低等优势，因此广泛应用于当前的电子信息领域。
由于在SSD硬盘中对于数据的更新需要以整个数据块为单位进行，因此对SSD硬盘进行数据更新时，需要先将该数据块中的有效数据读出并擦除数据块中的无效数据，进而将有效数据与新数据集中写入数据块中，上述操作会导致SSD硬盘在写入新数据时，增加额外的数据IO量，造成“写放大”的现象。“写放大”会因占用SSD硬盘的带宽而影响SSD硬盘的随机写入性能，并且会因增加对SSD硬盘的数据写入量而直接影响SSD硬盘的寿命，由于SSD硬盘的工作过程中往往伴随着“写放大”情况的出现，并且SSD硬盘的“写放大”情况能够直接反映该SSD硬盘的整体性能，因此对于SSD硬盘的“写放大”程度进行测试，是了解SSD硬盘是否可靠的重要依据。
由此可见，提供一种SSD硬盘测试方法，以相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度，是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种SSD硬盘测试方法、装置、设备及介质，以相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。
为解决上述技术问题，本发明提供一种SSD硬盘测试方法，包括：
选取预先经过原始数据写满的待测SSD硬盘；
将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘，并获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量；
利用IO总量与预设数据量进行做商运算，并生成待测SSD硬盘的写放大倍数以作为测试结果。
优选的，在将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘前，该方法进一步包括：
根据待测SSD硬盘的应用场景设置对应的测试用例，并依据测试用例对待测SSD硬盘进行参数配置。
优选的，在生成待测SSD硬盘的写放大倍数以作为测试结果后，该方法进一步包括：
将待测SSD硬盘的型号、测试结果以及测试用例对应记录至日志。
优选的，预先经过原始数据写满的待测SSD硬盘具体为：
预先经过两倍于SSD硬盘的额定容量的原始数据写满的待测SSD硬盘。
优选的，将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘具体为：
将预设数据量的测试数据写入至待测SSD硬盘以写满待测SSD硬盘。
此外，本发明还提供一种SSD硬盘测试装置，包括：
选取模块，用于选取预先经过原始数据写满的待测SSD硬盘；
数据覆盖模块，用于将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘，并获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量；
结果运算模块，用于利用IO总量与预设数据量进行做商运算，并生成待测SSD硬盘的写放大倍数以作为测试结果。
优选的，该装置进一步包括：
用例配置模块，用于根据待测SSD硬盘的应用场景设置对应的测试用例，并依据测试用例对待测SSD硬盘进行参数配置。
优选的，该装置进一步包括：
日志记录模块，用于将待测SSD硬盘的型号、测试结果以及测试用例对应记录至日志。
此外，本发明还提供一种SSD硬盘测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行计算机程序时实现如上述的SSD硬盘测试方法的步骤。
此外，本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的SSD硬盘测试方法的步骤。
本发明所提供的SSD硬盘测试方法，在选取预先被原始数据写满的待测SSD硬盘后，将预设数据量的测试数据写入待测SSD硬盘中，以覆盖待测SSD硬盘中的原始数据，进而获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量，最终通过IO总量与预设数据量之间的做商运算生成待测SSD硬盘的写放大倍数，并作为测试结果。由于“写放大”现象在SSD硬盘的剩余存储空间越小时越为明显，因此对预先写满原始数据的待测SSD硬盘进行测试数据的覆盖写时，能够最大程度的产生“写放大”现象，进而利用IO总量与预设数据量进行做商运算所生成的写放大倍数的准确性相对较高，以此确保测试能够相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。此外，本发明还提供一种SSD硬盘测试装置、设备及介质，有益效果同上所述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种SSD硬盘测试方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的另一种SSD硬盘测试方法的流程图；
图3为本发明实施例提供的一种SSD硬盘测试装置的结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护范围。
本发明的核心是提供一种SSD硬盘测试方法，以相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。本发明的另一核心是提供一种SSD硬盘测试装置、设备及介质。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。
实施例一
图1为本发明实施例提供的一种SSD硬盘测试方法的流程图。请参考图1，SSD硬盘测试方法的具体步骤包括：
步骤S10：选取预先经过原始数据写满的待测SSD硬盘。
需要说明的是，本步骤中的待测SSD硬盘预先被原始数据写满，由于SSD硬盘的真实存储空间容量与其额定的存储空间存在差异，并且SSD硬盘的真实存储空间往往大于SSD硬盘额定的存储空间，因此此处所指的“写满”是指将待测SSD硬盘的真实存储空间被原始数据写满。需要强调的是，由于当SSD硬盘在存储空间较小且有新数据写入SSD硬盘时，“写放大”的情况相对明显，因此待测SSD硬盘中预先写满有原始数据是能够实现本方法的重点内容。在本步骤之前，应有相应的步骤将原始数据写入待测SSD硬盘直至待测SSD硬盘被写满，但是由于如何将数据写满SSD硬盘是本领域技术人员所公知的技术内容，因此不在此赘述。
步骤S11：将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘，并获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量。
在将测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘时，由于待测SSD硬盘已无剩余空间存储测试数据，在此情况下待测SSD硬盘会根据自身的工作机制，在原始数据中选取无效数据，并将无效数据读出并集体写入待擦除的数据块，继而以数据块为单位擦除数据块中的无效数据，并将测试数据写入至数据块以实现对原始数据的覆盖，在此期间会涉及到对待测SSD硬盘中原始数据的多次IO，因此IO的总数据量将大于测试数据的预设数据量，出现“写放大”现象，由于IO总量与“写放大”存在直接的关系，因此在本步骤中需要获取待测SSD硬盘的IO总量，以用于在后续步骤中通过计算获悉待测SSD硬盘写放大倍数的情况。另外，本步骤中的预设数据量可以根据用户的当前测试需要而定，在此不做具体限定，但是需要说明的是，由于预设数据量越大，待测SSD硬盘的IO总量也相对越大，进而对于“写放大”现象的呈现也越明显，因此测试的准确性相对更高。
步骤S12：利用IO总量与预设数据量进行做商运算，并生成待测SSD硬盘的写放大倍数以作为测试结果。
需要说明的是，在运算写放大倍数时，是采用待测SSD硬盘的IO总量除以测试数据的预设数据量。例如，将3MB的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘期间，待测SSD硬盘的IO总量为6MB，则放大倍数为6MB/3MB＝2。上述仅为说明写放大倍数的运算原理而进行的举例，并不作为具体限定。
本发明所提供的SSD硬盘测试方法，在选取预先被原始数据写满的待测SSD硬盘后，将预设数据量的测试数据写入待测SSD硬盘中，以覆盖待测SSD硬盘中的原始数据，进而获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量，最终通过IO总量与预设数据量之间的做商运算生成待测SSD硬盘的写放大倍数，并作为测试结果。由于“写放大”现象在SSD硬盘的剩余存储空间越小时越为明显，因此对预先写满原始数据的待测SSD硬盘进行测试数据的覆盖写时，能够最大程度的产生“写放大”现象，进而利用IO总量与预设数据量进行做商运算所生成的写放大倍数的准确性相对较高，以此确保测试能够相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。
实施例二
在上述实施例的基础上，本发明还提供以下一系列优选的实施方式。
图2为本发明实施例提供的另一种SSD硬盘测试方法的流程图。图2中步骤S10-S12与图1相同，在此不再赘述。
如图2所示，作为一种优选的实施方式，在将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘前，该方法进一步包括：
步骤S20：根据待测SSD硬盘的应用场景设置对应的测试用例，并依据测试用例对待测SSD硬盘进行参数配置。
由于考虑到SSD硬盘在不同的使用环境下，其内部的参数配置往往存在差异，为了进一步提高对待测SSD硬盘的测试准确性，应模拟待测SSD硬盘所运行的场景，因此本步骤是将待测SSD硬盘在具体使用时所处的场景抽取为测试用例，进而根据测试用例对待测SSD硬盘进行相应的参数配置，以此确保待测SSD硬盘能够以其在真实使用场景下的状态工作，保证了测试结果能够更加准确的反映待测SSD硬盘的“写放大”状态。在本实施方式的基础上的一种优选的方式可以为，设置待测SSD硬盘的应用场景设置对应的多个测试用例，即测试用例集合，并根据测试需求选取目标测试用例，并依据目标测试用例对待测SSD硬盘进行参数配置。上述优选的实施方式对待测SSD硬盘的多种应用场景均能够进行测试，相对提高了对待测SSD硬盘进行测试的全面性。
在上述实施方式的基础上，作为一种优选的实施方式，在生成待测SSD硬盘的写放大倍数以作为测试结果后，该方法进一步包括：
将待测SSD硬盘的型号、测试结果以及测试用例对应记录至日志。
由于考虑到本方法为SSD硬盘的测试方法，因此需要将测试的结果进行记录以供技术人员参考，因此在生成待测SSD硬盘的写放大倍数后，以相互对应的方式将写放大倍数、待测SSD硬盘的型号、以及测试用例记录至日志，进而技术人员能够在日志中相对全面的获悉目标待测SSD硬盘的相关测试信息以及测试结果情况。
此外，作为一种优选的实施方式，预先经过原始数据写满的待测SSD硬盘具体为：
预先经过两倍于SSD硬盘的额定容量的原始数据写满的待测SSD硬盘。
需要说明的是，由于SSD硬盘的额定容量与其真实的可用空间往往存在一定的差异，并且SSD硬盘真实的可用空间大于其额定容量，但是在实际情况下，用户往往难以获悉SSD硬盘真实的可用空间，因此在本实施方式中，为了能够在待测SSD硬盘的可用空间中写满原始数据，采用两倍于额定容量的原始数据写入待测SSD硬盘，保证待测SSD硬盘能够在最大程度上被写满原始数据。
此外，作为一种优选的实施方式，将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘具体为：
将预设数据量的测试数据写入至待测SSD硬盘以写满待测SSD硬盘。
需要说明的是，本实施方式中，将预设数据量的测试数据写入至待测SSD硬盘以写满SSD硬盘，即预设数据量的测试数据完全覆盖待测SSD硬盘中的原始数据。由于待测SSD硬盘中原始数据需要完全更新为测试数据，因此在测试数据覆盖原始数据的过程中，涉及到对原始数据进行全面的IO读写，“写放大”现象的程度最高，因此通过本实施方式所产生的写放大倍数的准确性相对更高。
实施例三
在上文中对于SSD硬盘测试方法的实施例进行了详细的描述，本发明还提供一种与该方法对应的SSD硬盘测试装置，由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述，这里暂不赘述。
图3为本发明实施例提供的一种SSD硬盘测试装置的结构图。本发明实施例提供的SSD硬盘测试装置，包括：
选取模块10，用于选取预先经过原始数据写满的待测SSD硬盘。
数据覆盖模块11，用于将预设数据量的测试数据以覆盖原始数据的方式写入待测SSD硬盘，并获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量。
结果运算模块12，用于利用IO总量与预设数据量进行做商运算，并生成待测SSD硬盘的写放大倍数以作为测试结果。
本发明所提供的SSD硬盘测试装置，在选取预先被原始数据写满的待测SSD硬盘后，将预设数据量的测试数据写入待测SSD硬盘中，以覆盖待测SSD硬盘中的原始数据，进而获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量，最终通过IO总量与预设数据量之间的做商运算生成待测SSD硬盘的写放大倍数，并作为测试结果。由于“写放大”现象在SSD硬盘的剩余存储空间越小时越为明显，因此对预先写满原始数据的待测SSD硬盘进行测试数据的覆盖写时，能够最大程度的产生“写放大”现象，进而利用IO总量与预设数据量进行做商运算所生成的写放大倍数的准确性相对较高，以此确保测试能够相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。
在实施例三的基础上，该装置还包括：
用例配置模块，用于根据待测SSD硬盘的应用场景设置对应的测试用例，并依据测试用例对待测SSD硬盘进行参数配置。
在实施例三的基础上，该装置还包括：
日志记录模块，用于将待测SSD硬盘的型号、测试结果以及测试用例对应记录至日志。
实施例四
本发明还提供一种SSD硬盘测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行计算机程序时实现如上述的SSD硬盘测试方法的步骤。
本发明所提供的SSD硬盘测试设备，在选取预先被原始数据写满的待测SSD硬盘后，将预设数据量的测试数据写入待测SSD硬盘中，以覆盖待测SSD硬盘中的原始数据，进而获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量，最终通过IO总量与预设数据量之间的做商运算生成待测SSD硬盘的写放大倍数，并作为测试结果。由于“写放大”现象在SSD硬盘的剩余存储空间越小时越为明显，因此对预先写满原始数据的待测SSD硬盘进行测试数据的覆盖写时，能够最大程度的产生“写放大”现象，进而利用IO总量与预设数据量进行做商运算所生成的写放大倍数的准确性相对较高，以此确保测试能够相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的SSD硬盘测试方法的步骤。
本发明所提供的SSD硬盘测试的计算机可读存储介质，在选取预先被原始数据写满的待测SSD硬盘后，将预设数据量的测试数据写入待测SSD硬盘中，以覆盖待测SSD硬盘中的原始数据，进而获取测试数据完全写入待测SSD硬盘时，待测SSD硬盘的IO总量，最终通过IO总量与预设数据量之间的做商运算生成待测SSD硬盘的写放大倍数，并作为测试结果。由于“写放大”现象在SSD硬盘的剩余存储空间越小时越为明显，因此对预先写满原始数据的待测SSD硬盘进行测试数据的覆盖写时，能够最大程度的产生“写放大”现象，进而利用IO总量与预设数据量进行做商运算所生成的写放大倍数的准确性相对较高，以此确保测试能够相对准确的获得SSD硬盘的“写放大”程度。
以上对本发明所提供的一种SSD硬盘测试方法、装置、设备及介质进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。