Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质与流程

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质。

背景技术：

随着android系统市场占有率提升，android设备得到了广泛应用。目前，android设备在生产出货前，一般将android设备配置为用户模式，并进行质检，而android设备一旦进入用户模式，就无法再进入工厂测试模式，若android设备质检出现问题，通常需要拆开android设备，更换android设备的主板，这些操作耗时费力，从而导致android设备质检效率低。

技术实现要素：

本发明的主要目的是提供一种android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中android设备质检效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提出android设备产测方法，所述android设备产测方法包括以下步骤：

android设备系统开机后，读取usb接口状态；

当所述usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位；

当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

可选地，所述当所述usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位的步骤之后，还包括：

当所述预设标志位为空值时，进入用户模式。

可选地，所述android设备系统开机后，读取usb接口状态的步骤之后，还包括：

当所述usb接口的d+和d-引脚短接时，进入工厂测试模式。

可选地，所述android设备系统开机后，读取usb接口状态的步骤之后，还包括：

当所述usb接口的d+和d-引脚短接时，重新赋值所述预设标志位。

可选地，所述预设标志位为flag标志。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种android设备产测装置，所述android设备产测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的android设备产测程序，所述android设备产测程序被所述处理器执行时实现如上文所述的android设备产测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种android设备，所述android设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的android设备产测程序，所述android设备产测程序被所述处理器执行时实现如上文所述的android设备产测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有android设备产测程序，所述android设备产测程序被处理器执行时实现如上文所述的android设备产测方法的步骤。

本发明技术方案中，当android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的android设备产测装置结构示意图；

图2是本发明的android设备产测方法第一实施例的流程示意图；

图3是本发明实施例方案涉及的一个可选的usb线处理示意图；

图4是本发明的android设备产测方法第二实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例的解决方案主要是：当android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。通过本发明实施例的技术方案，解决了android设备质检效率低的问题。

本发明实施例提出一种android设备产测装置。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的android设备产测装置结构示意图。

在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。

如图1所示，该android设备产测装置可以包括：处理器1001、通信总线1002、用户接口1003、网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如wi-fi接口)。存储器1005可以是高速ram存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的android设备产测装置结构并不构成对android设备产测装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块以及android设备产测程序。

本发明中，android设备产测装置通过处理器1001调用存储器1005中存储的android设备产测程序，并执行以下操作：

android设备系统开机后，读取usb接口状态；

当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位；

当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的android设备产测程序，还执行以下操作：

当预设标志位为空值时，进入用户模式。

可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的android设备产测程序，还执行以下操作：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，进入工厂测试模式。

可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的android设备产测程序，还执行以下操作：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，重新赋值预设标志位。

本实施例通过上述方案，当android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

基于上述硬件结构，提出本发明android设备产测方法实施例。

参照图2，图2为本发明android设备产测方法第一实施例的流程示意图。

在第一实施例中，android设备产测方法包括以下步骤：

步骤s10，android设备系统开机后，读取usb接口状态；

步骤s20，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位；

步骤s30，当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

本发明提出的android设备产测方法，适用于上述实施例中的android设备产测装置，当android设备系统开机后，通过bootloader启动装载读取usb(universalserialbus，通用串行总线)接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

以下是本实施例中实现android设备产测的具体步骤：

步骤s10，android设备系统开机后，读取usb接口状态；

本实施例中，android设备系统开机后，通过系统的bootloader启动装载首先读取usb接口状态。在嵌入式操作系统中，bootloader是在操作系统内核运行之前运行，可以初始化硬件设备、建立内存空间映射图，从而将系统的软硬件环境带到一个合适状态，以便为最终调用操作系统内核准备好正确的环境，在嵌入式系统中，系统的加载启动任务由bootloader来完成。

usb接口状态包括以下至少一种：

1)、usb接口的d+和d-引脚未短接；

2)、usb接口的d+和d-引脚短接。

例如，在一实施方式中，如图3所示，在该usb线处理示意图中，usb接口的d+和d-引脚短接。

步骤s20，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位；

在bootloader读取usb接口状态后，若usb接口的d+和d-引脚未短接，此时，读取预设标志位。预设标志位用以区分android设备的工厂测试模式与用户模式，针对于android设备的工厂测试模式与用户模式，预设标志位分别对应不同设置。例如，预设标志位可选为flag标志位，对于android设备的工厂测试模式，对应的flag标志位为非空值，对于android设备的用户模式，对应的flag标志位为空值。

可选地，预设标志位存储于android设备的misc分区中。misc分区包含on/off开关形式的系统设置，包括cid(carrierorregionid)、usb配置和某些硬件的设置等。

步骤s30，当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

在读取预设标志位后，基于读取的预设标志位，判断android设备当前是进入工厂测试模式，还是用户模式。当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

可选地，如图4所示，步骤s20之后，还包括：

步骤s40，当预设标志位为空值时，进入用户模式。

在读取预设标志位后，若预设标志位为空值，此时，进入用户模式。

因此，根据预设标志位的不同，实现了android设备在生产时便捷地进行工厂测试模式与用户模式之间的切换，方便生产复测使用，省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

本实施例提供的方案，当android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

可选地，基于第一实施例提出本发明android设备产测方法第二实施例，在本实施例中，如图4所示，步骤s10之后，还包括：

步骤s50，当usb接口的d+和d-引脚短接时，进入工厂测试模式。

在第一实施例中，介绍了根据预设标志位来使android设备进入工厂测试模式或者用户模式，本实施例中，介绍另一种android设备进入工厂测试模式的情况。具体地，android设备系统开机后，通过系统的bootloader首先读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚短接时，强制进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

可选地，android设备产测方法还包括：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，重新赋值预设标志位。

可选地，android设备系统开机后，通过系统的bootloader首先读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚短接时，强制进入工厂测试模式，并重新赋值预设标志位。例如，在misc分区中重新赋值预设标志位。

例如，仍以预设标志位为flag标志位为例，android设备系统开机后，通过系统的bootloader首先读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚短接时，强制进入工厂测试模式，并在misc分区中重新赋值flag标志位。

之后，android设备系统重新开机后，通过系统的bootloader首先读取usb接口状态，usb接口的d+和d-引脚虽然没有短接，仍然可以通过读取misc分区中的预设标志位，判断android设备是进入工厂测试模式还是用户模式，从而实现android设备在生产时便捷地进行工厂测试模式与用户模式之间的切换。

本实施例提供的方案，android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚短接时，进入工厂测试模式，并在misc分区中重新写入预设标志位，之后可以通过读取misc分区中的预设标志位，判断android设备是进入工厂测试模式还是用户模式，从而实现android设备在生产时便捷地进行工厂测试模式与用户模式之间的切换，方便生产复测使用，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

本发明还提供了一种android设备，android设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的android设备产测程序，android设备产测程序被处理器执行以用于：

android设备系统开机后，读取usb接口状态；

当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位；

当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

可选地，android设备产测程序被处理器执行时还实现如下操作：

当预设标志位为空值时，进入用户模式。

可选地，android设备产测程序被处理器执行时还实现如下操作：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，进入工厂测试模式。

可选地，android设备产测程序被处理器执行时还实现如下操作：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，重新赋值预设标志位。

本发明android设备具体实施方式与上述android设备产测方法各实施例基本相同，在此不再赘述。

本实施例通过上述方案，当android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质(又称可读存储介质)，计算机可读存储介质存储有android设备产测程序，android设备产测程序可被一个或者一个以上的处理器执行以用于：

android设备系统开机后，读取usb接口状态；

当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位；

当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

可选地，android设备产测程序被处理器执行时还实现如下操作：

当预设标志位为空值时，进入用户模式。

可选地，android设备产测程序被处理器执行时还实现如下操作：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，进入工厂测试模式。

可选地，android设备产测程序被处理器执行时还实现如下操作：

当usb接口的d+和d-引脚短接时，重新赋值预设标志位。

本发明计算机可读存储介质具体实施方式与上述android设备产测方法各实施例基本相同，在此不再赘述。

本实施例通过上述方案，当android设备系统开机后，通过系统bootloader读取usb接口状态，当usb接口的d+和d-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对android设备进行质检，从而省去了拆开android设备，更换android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了android设备的质检效率。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。