技术特征：
1.一种基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于：包括如下步骤，s1、将单匝闭环的磁芯放置在测试架上；s2、将数据采集装置的两个测试夹分别经磁芯两端穿入磁芯内并相互夹紧，使夹紧后的测试夹保留在磁芯内；通过数据采集装置采集所述磁芯的串联电感ls和品质因数q，并记录为字符串信息；s3、使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接，将步骤s2的字符串信息写入至数据处理装置，经数据处理装置读取，将字符串信息转化为数值信息；s4、所述数据处理装置读取步骤s3的数值信息，基于计算公式a得到所述磁芯复数磁导率的串联实部μs’和串联虚部μs”，其计算公式a如下：，其计算公式a如下：式中，μs’和μs”分别是复数磁导率的串联实部和串联虚部，ls是磁芯的串联电感，le是磁芯磁路的等效长度，ae是磁芯的等效截面积，q是磁芯的品质因数，π是圆周率。s5、根据s4步骤所得的串联复数磁导率的串联实部μs’和串联虚部μs”，基于计算公式b得到所述磁芯的并联复数磁导率的并联实部μp＇和并联虚部μp＂，其计算公式b如下：得到所述磁芯的并联复数磁导率的并联实部μp＇和并联虚部μp＂，其计算公式b如下：式中，μs’和μs”分别是复数磁导率的串联实部和串联虚部，μp＇和μp＂分别是复数磁导率的并联实部和并联虚部，q是所述磁芯的品质因数；s6、基于设定的串联实部μs’、串联虚部μs”、并联实部μp＇和并联虚部μp＂的数值范围，将步骤s4、s5计算所得的串联实部μs’、串联虚部μs”、并联实部μp＇和并联虚部μp＂在设定范围内的磁芯筛选出来。2.如权利要求1所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，所述数据处理装置内设定有用于将字符串信息转化为数值信息的数据采集程序。3.如权利要求2所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，所述步骤s3包括，所述数据采集程序工作界面的通讯端口、波特率、比特率的设定与所述数据采集装置的通讯端口、波特率、比特率的设定一致，使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接。4.如权利要求2所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，步骤s3还包括：s31、将数据采集装置的字符串信息写入数据采集程序后，所述数据采集程序对所述字符串信息进行读取；s32、所述数据采集程序将该字符串信息进行拆分成两段字符串信息，两段字符串信息之间设置有分隔符进行分隔，所述分隔符前的字符串信息为串联电感ls的字符串信息，所
述分隔符后的字符串信息为品质因数q的字符串信息；s33、将步骤s32中串联电感ls的字符串信息通过转化为串联电感ls的数值信息；将步骤s32中品质因数q的字符串信息通过转化为品质因数q的数值信息；s34、将步骤s33所得的数值信息通过显视控件显示。5.如权利要求4所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，所述步骤s31还设定有字符串信息总量，读取到所述字符串信息总量后就停止读取。6.如权利要求4所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，所述步骤s32中，设定有第一字符串长度x1和第二字符串长度x2，所述字符串信息的长度通过所述分隔符分隔成两个长度的字符串信息，所述分隔符前的字符串信息的长度为所述第一字符串长度x1，所述分隔符后的字符串信息的长度为所述第二字符串长度x2，先读取所述分隔符前的所述第一字符串长度x1的字符串信息，将其记录为所述串联电感ls的字符串信息，再读取所述分隔符后的所述第二字符串长度x2的字符串信息，将其记录为所述品质因数q的字符串信息。7.如权利要求6所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，还包括所述第一字符串长度x1和第二字符串长度x2的校验方法，所述校验方法包括：先设定第一预设字符串长度x
10
和第二预设字符串长度x
20
，通过第一预设字符串长度x
10
和第二预设字符串长度x
20
对所述字符串信息进行拆分获得两段字符串信息，将分隔符前的字符串信息设定为第一字符串信息，将分隔符后的字符串信息设定为第二字符串信息，并将第一字符串信息和第二字符串信息分别转化为第一数值信息和第二数值信息，再来判断第一数值信息和第二数值信息是否与数据采集装置上显示的串联电感ls的数值和品质因数q的数值相等，当判断为是时，则第一预设字符串长度x
10
即为第一字符串长度x1、第二预设字符串长度x
20
即为第二字符串长度x2，当判断为否时，则修改第一预设字符串长度x
10
的长度值和第二预设字符串长度x
20
的长度值，再次进行检验。8.如权利要求6所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，步骤s33中，将所述字符串信息的长度为所述第一字符串长度x1的字符串信息转化为数值信息，即得到串联电感ls的数值信息；将所述字符串信息的长度为所述第二字符串长度x2的字符串信息转化为数值信息，即得到品质因数q的数值信息。9.如权利要求1所述的基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其特征在于，所述数据采集装置为lcr测试仪。
技术总结
本发明公开了一种基于复数磁导率筛选磁芯的方法，其步骤：S1、将单匝闭环的磁芯放置在测试架上；S2、将数据采集装置的两个测试夹分别经磁芯两端穿入磁芯内并相互夹紧，使夹紧后的测试夹保留在磁芯内；通过数据采集装置采集所述磁芯的串联电感Ls和品质因数Q，并记录为字符串信息；S3、使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接，将步骤S2的字符串信息写入至数据处理装置，经数据处理装置读取，将字符串信息转化为数值信息；S4、所述数据处理装置读取步骤S3的数值信息，得到所述磁芯复数磁导率的串联实部μs’和串联虚部μs”；S6、基于设定的复数磁导率范围，将步骤S4、S5计算所得的复数磁导率在所述复数磁导率范围内的磁芯筛选出来。出来。出来。
技术研发人员：肖育咏 张继超 张志臻 黄旭文
受保护的技术使用者：佛山市中研非晶科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.07
技术公布日：2022/3/22