【具体实施方式】
[0035]下面结合具体实施例，进一步阐述本发明。应理解，这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解，在阅读了本发明讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。
[0036]本发明的第一实施方式涉及一种印文配准比对方法，如图1所示，包括以下步骤:
[0037](I)输入样本印文和检材印文，得到样本印文图像和检材印文图像。例如用同一台扫描仪采用相同的参数分别对样本印文和检材印文扫描入电脑，以保证量化误差一致。
[0038](2)分别对样本印文图像和检材印文图像进行图像黑白二值化处理。在二值化处理时可以通过调整二值化处理的阈值参数以抑制背景图案颜色，突显印文细节来达到最佳效果。
[0039](3)对二值化图像进行特征点显现增强处理，使得处理后的图像由单像素细线组成，得到用于匹配的位置特征点。增强处理的基本操作是通过不断对图像中的黑色块进行腐蚀削减操作，直到处理后的印文图像由单像素细线组成。由于该操作是围绕黑色块轮廓边界不断进行，对较为粗糙的边腐蚀效率不同，起到了放大粗糙毛刺的效果，形成鉴别非矢量机刻伪造印文的一个粗糙度特征。另外，由于处理后的印文笔画的起始、交叉、终止点都可精确到一个像素，成为可供精确配准的位置特征点。图2是样本印文经过特征增强处理后的示意图，从图中可知印文笔画位置特征点清晰，毛刺少；图3是检材印文经过特征增强处理后的示意图，从图中可知印文笔画毛刺多，表明印文边缘粗糙。
[0040](4)在增强处理后的样本印文图像和检材印文图像中选择若干组位置特征点作为控制点，计算配准参数。例如选择四组以上的位置特征点作为控制点(同一组控制点认为是应该在比对时重合)，计算出配准参数(即检材图像通过旋转、平移一定量后与样本图像重合)。
[0041](5)分别将检材印文的黑白图像和样本印文的黑白图像着色成对比色，根据得到的配准参数重叠配准生成用于比对的合成图像。例如将检材印文的黑白图像着色成翠绿色透明色，将样本印文的黑白图像着色成洋红透明色，合成后的图像在重叠部份呈较深的褐色(见图4)。合成图像从颜色上可清晰区别检材、样本印文笔画图案的任何差异及重合度，方便文检人员比对。
[0042]本发明的第二实施方式涉及一种印文配准比对装置，包括:图像输入模块，用于输入样本印文和检材印文，得到样本印文图像和检材印文图像；二值化处理模块，用于对样本印文图像和检材印文图像进行图像黑白二值化处理；特征增强模块，用于对二值化图像进行特征点显现增强处理，使得处理后的图像由单像素细线组成，得到用于匹配的位置特征点；配准参数计算模块，用于在增强处理后的样本印文图像和检材印文图像中选择若干组位置特征点作为控制点，计算配准参数；合成模块，用于将检材印文的黑白图像和样本印文的黑白图像着色成对比色，根据得到的配准参数重叠配准生成用于比对的合成图像。
[0043]所述图像输入模块采用相同的方式输入样本印文和检材印文。
[0044]所述二值化处理模块通过调整二值化处理的阈值参数使得印文细节能够凸显。
[0045]所述特征增强模块通过不断对图像中的黑色块进行腐蚀削减操作来对二值化图像进行特征点显现增强处理。
[0046]所述合成模块将检材印文的黑白图像着色成翠绿色透明色，将样本印文的黑白图像着色成洋红透明色。
[0047]不难发现，本发明可以高精度地配准比对印文，并且通过简单地增加控制点的方法削弱个别控制点位置失配带来的误差；强化显现了非矢量机刻伪造印文边缘粗糙的细节特征。
【主权项】
1.一种印文配准比对方法，其特征在于，包括以下步骤: (1)输入样本印文和检材印文，得到样本印文图像和检材印文图像； (2)分别对样本印文图像和检材印文图像进行图像黑白二值化处理； (3)对二值化图像进行特征点显现增强处理，使得处理后的图像由单像素细线组成，得到用于匹配的位置特征点； (4)在增强处理后的样本印文图像和检材印文图像中选择若干组位置特征点作为控制点，计算配准参数； (5)分别将检材印文的黑白图像和样本印文的黑白图像着色成对比色，根据得到的配准参数重叠配准生成用于比对的合成图像。
2.根据权利要求1所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述步骤(I)中采用相同的方式输入样本印文和检材印文。
3.根据权利要求1所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述步骤(2)中通过调整二值化处理的阈值参数使得印文细节能够凸显。
4.根据权利要求1所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述步骤(3)通过不断对图像中的黑色块进行腐蚀削减操作来对二值化图像进行特征点显现增强处理。
5.根据权利要求1所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述步骤(5)中将检材印文的黑白图像着色成翠绿色透明色，将样本印文的黑白图像着色成洋红透明色。
6.一种印文配准比对装置，其特征在于，包括:图像输入模块，用于输入样本印文和检材印文，得到样本印文图像和检材印文图像；二值化处理模块，用于对样本印文图像和检材印文图像进行图像黑白二值化处理；特征增强模块，用于对二值化图像进行特征点显现增强处理，使得处理后的图像由单像素细线组成，得到用于匹配的位置特征点；配准参数计算模块，用于在增强处理后的样本印文图像和检材印文图像中选择若干组位置特征点作为控制点，计算配准参数；合成模块，用于将检材印文的黑白图像和样本印文的黑白图像着色成对比色，根据得到的配准参数重叠配准生成用于比对的合成图像。
7.根据权利要求6所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述图像输入模块采用相同的方式输入样本印文和检材印文。
8.根据权利要求6所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述二值化处理模块通过调整二值化处理的阈值参数使得印文细节能够凸显。
9.根据权利要求6所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述特征增强模块通过不断对图像中的黑色块进行腐蚀削减操作来对二值化图像进行特征点显现增强处理。
10.根据权利要求6所述的印文配准比对方法，其特征在于，所述合成模块将检材印文的黑白图像着色成翠绿色透明色，将样本印文的黑白图像着色成洋红透明色。
【专利摘要】本发明涉及一种印文配准比对方法和装置，方法包括：输入样本印文和检材印文；分别对样本印文图像和检材印文图像进行图像黑白二值化处理；对二值化图像进行特征点显现增强处理；在增强处理后的样本印文图像和检材印文图像中选择若干组位置特征点作为控制点，计算配准参数；分别将检材印文的黑白图像和样本印文的黑白图像着色成对比色，根据得到的配准参数重叠配准生成用于比对的合成图像。装置包括：图像输入模块、二值化处理模块、特征增强模块、配准参数计算模块和合成模块。本发明能快速显现印文特征点，以选择的印文特征点为配准依据，对印文进行高精度配准比对显现。
【IPC分类】G06T7-00
【公开号】CN104574370
【申请号】CN201410804647
【发明人】曹轶超, 王长亮, 李明
【申请人】曹轶超
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月18日