单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像； 所述方法包括: 获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像； 对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息； 根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。
2.根据权利要求1所述电子设备工作状态的控制方法，其特征在于，所述根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态，包括: 根据所述第一特征描述信息与所述第一特征比对信息之间的差值、和/或第二特征描述信息与所述第二特征比对信息之间的差值，查询所述数据库中预存的状态调整策略得到相应的状态调整值，并根据所述状态调整值控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。
3.根据权利要求1所述电子设备工作状态的控制方法，其特征在于，所述对第一图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息，包括: 提取所述第一图像中的至少一个特征区域，并对所提取的特征区域进行特征分析得到相应的区域特征描述信息； 将与所述至少一个特征区域相应的所述区域特征描述信息进行汇总分析得到所述第一图像的第一特征描述信息。
4.根据权利要求1所述工作状态的控制方法，其特征在于，在所述第一投影单元处于第一工作状态之前，所述方法还包括: 获取所述电子设备在不同环境下分别处于所述第一投影单元和/或第二投影单元的最佳工作状态时，所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对所述处于最佳工作状态下采集到的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到相应的第一特征比对信息和/或第二特征比对信息存入所述数据库中；生成所述第一投影单元的状态调整策略并存入所述数据库中。
5.根据权利要求1至4任一项所述工作状态的控制方法，其特征在于， 所述第一特征描述信息为第一图像的灰度值和/或第一图像的光斑面积，所述第一特征比对信息为灰度和/或光斑面积的比对值； 所述第二特征描述信息为所述第二图像的面积大小，所述第二特征比对信息为面积比对值。
6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像； 所述电子设备还包括:控制单元，用于获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。
7.根据权利要求6所述电子设备，其特征在于，所述控制单元进一步用于，根据所述第一特征描述信息与所述第一特征比对信息之间的差值、和/或第二特征描述信息与所述第二特征比对信息之间的差值，查询所述数据库中预存的状态调整策略得到相应的状态调整值，并根据所述状态调整值控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。
8.根据权利要求6所述电子设备，其特征在于，所述控制单元进一步用于，提取所述第一图像中的至少一个特征区域，并对所提取的特征区域进行特征分析得到相应的区域特征描述信息；将与所述至少一个特征区域相应的所述区域特征描述信息进行汇总分析得到所述第一图像的第一特征描述信息。
9.根据权利要求6所述电子设备，其特征在于，所述控制单元进一步用于，在所述第一投影单元处于第一工作状态之前，获取所述电子设备在不同环境下分别处于所述第一投影单元和/或第二投影单元的最佳工作状态时，所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对所述处于最佳工作状态下采集到的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到相应的第一特征比对信息和/或第二特征比对信息存入所述数据库中；生成所述第一投影单元的状态调整策略并存入所述数据库中。
10.根据权利要求6至9任一项所述电子设备，其特征在于， 所述第一特征描述信息为第一图像的灰度值和/或第一图像的光斑面积，所述第一特征比对信息为灰度和/或光斑面积的比对值； 所述第二特征描述信息为所述第二图像的面积大小，所述第二特征比对信息为面积比对值。
11.一种控制单元，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像； 所述控制单元包括: 图像获取子单元，用于获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像； 图像分析子单元，用于对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息； 状态调整子单元，用于根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。
12.根据权利要求11所述控制单元，其特征在于，所述状态调整子单元进一步用于，根据所述第一特征描述信息与所述第一特征比对信息之间的差值、和/或第二特征描述信息与所述第二特征比对信息之间的差值，查询所述数据库中预存的状态调整策略得到相应的状态调整值，并根据所述状态调整值控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。
13.根据权利要求11所述控制单元，其特征在于，所述图像分析子单元进一步用于，提取所述第一图像中的至少一个特征区域，并对所提取的特征区域进行特征分析得到相应的区域特征描述信息；将与所述至少一个特征区域相应的所述区域特征描述信息进行汇总分析得到所述第一图像的第一特征描述信息。
14.根据权利要求11所述控制单元，其特征在于，在所述第一投影单元处于第一工作状态之前， 所述图像获取子单元进一步用于，获取所述电子设备在不同环境下分别处于所述第一投影单元和/或第二投影单元的最佳工作状态时，所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像； 所述图像分析子单元进一步用于，对所述处于最佳工作状态下采集到的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到相应的第一特征比对信息和/或第二特征比对信息存入所述数据库中；生成所述第一投影单元的状态调整策略并存入所述数据库中。
15.根据权利要求11至14任一项所述控制单元，其特征在于， 所述第一特征描述信息为第一图像的灰度值和/或第一图像的光斑面积，所述第一特征比对信息为灰度和/或光斑面积的比对值； 所述第二特征描述信息为所述第二图像的面积大小，所述第二特征比对信息为面积比对值。
【专利摘要】本发明公开了一种电子设备工作状态的控制方法，应用于电子设备，该电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元；该方法包括：获取图像采集单元从投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应第一图像的第一特征描述信息和/或对应第二图像的第二特征描述信息；根据第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将第一特征描述信息与数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将第二特征描述信息与数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制第一投影单元从第一工作状态调整到第二工作状态。本发明还公开了一种电子设备和控制单元。
【IPC分类】H04N5-74, G06T7-00
【公开号】CN104657971
【申请号】CN201310603565
【发明人】胡先伟
【申请人】联想(北京)有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2013年11月25日