固态硬盘的使用寿命，又不会影响其高速写入性能。
【附图说明】
[0039]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1是本发明实施例一提供的固态硬盘写入控制方法流程图；
[0041]图2是本发明实施例二提供的固态硬盘写入控制方法流程图；
[0042]图3是本发明实施例二提供的用户实际写入时数据的大小分布示意图；
[0043]图4是本发明实施例二提供的固态硬盘寿命模型示意图；
[0044]图5是本发明实施例三提供的固态硬盘写入控制装置结构示意图；
[0045]图6是本发明实施例四提供的固态硬盘写入控制装置结构示意图。
【具体实施方式】
[0046]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
[0047]实施例一
[0048]本发明实施例提供了一种SSD写入控制方法，参见图1，该方法包括:
[0049]步骤101:获取第一 SSD的第一硬件信息，第一硬件信息包括第一写入数据总量和第一剩余寿命。
[0050]步骤102:确定第一写入数据总量在寿命模型中对应的理想剩余寿命的区间，寿命模型包括用户写入总量和理想剩余寿命关系曲线以及曲线的预测区间。
[0051]步骤103:根据获取到的第一剩余寿命与确定的理想寿命的区间，控制第一 SSD的写入速度。
[0052]本发明实施例通过获取第一固态硬盘的第一硬件信息，第一硬件信息包括第一写入数据总量和第一剩余寿命；确定第一写入数据总量在寿命模型中对应的理想剩余寿命的区间，寿命模型包括用户写入总量和理想剩余寿命关系曲线以及曲线的预测区间；根据获取到的第一剩余寿命与确定的理想寿命的区间，控制第一固态硬盘的写入速度，由于，固态硬盘的速度是根据采集到的第一剩余寿命与寿命模型中的理想寿命比较后进行控制的，因此只会在固态硬盘寿命下降速度过快时，通过控制写入速度来保证硬盘的使用寿命，这样既保证了固态硬盘的使用寿命，又不会影响其高速写入性能。
[0053]实施例二
[0054]本发明实施例提供了一种SSD写入控制方法，以第一 SSD为例，参见图2，该方法包括:
[0055]步骤201:建立与第一 SSD同一型号的SSD的寿命模型。
[0056]在本实施例中，步骤201可以包括:
[0057]步骤一、统计用户实际写入时数据的大小分布和类型分布。
[0058]如图3所示，数据的大小包括0.5K、1K、2K、4K、8K、12K、16K、32K、64K等，数据的大小分别就是指每种大小的数据占写入总量的比例，例如IK的数据占1.130%。用户写入数据的类型包括串行数据和随机数据，数据的类型分别就是指串行数据占写入总量的比例，以及随机数据占写入总量的比例。
[0059]为了在后面步骤中建立模型时准确度更高，需要对不同商用客户类型的客户进行一定时长的数据采集。如图3所示，是对16个客户的写入情况采集后得到的结果，采集的时长为78天，这16个客户分属于不同的商用客户类型，包括办公客户、编程客户、媒体客户坐寸ο
[0060]步骤二、按照用户实际写入时数据的大小分布和类型分布，向第二 SSD中写入数据，第二 SSD与第一 SSD型号相同。
[0061]由于不同大小、不同类型的数据写入对于SSD的使用寿命影响是不同的，因此需要事先采集用户实际写入时的实际数据写入情况，然后按照该实际数据写入情况写入数据。
[0062]步骤三、采样第二 SSD的第二硬件信息，第二硬件信息包括第二写入数据总量与第二剩余寿命。
[0063]通常，SSD的剩余寿命可以用P/E cycle来衡量。第二硬件信息可以从第二 SSD的Smart接口获取。Smart接口用于为用户提供SSD的Smart信息,Smart信息即为上述第二硬件信息。
[0064]进一步地，在具体现实时，可以以预定时间间隔采样第二写入数据总量以及第二剩余寿命。例如，每隔24小时，采样一组第二写入数据总量和第二剩余寿命。
[0065]步骤四、采用多项式回归拟合出用户写入总量和理想剩余寿命关系曲线以及曲线的预测区间，得到与第一 SSD同一型号的SSD的寿命模型。
[0066]在本发明实施例中，该预测区间为95%预测区间。95%预测区间是指，有95%的可能采样到的数据总量与第二剩余寿命对应的点落在此区间内。95%是概率，此数取得越大，则此预测区间将越宽泛，能够容纳更多的采样点。
[0067]另外，在拟合曲线时，还可以通过设置置信区间来保证拟合的曲线的可靠度。例如，95%置信区间是指有95%的概率采样点与拟合出的曲线点能够符合曲线拟合的数学假设，数学假设可以是最小方差，最小二乘，极大似然等。也就是说，曲线上的每一个点并非是点估计，而是区间估计。
[0068]SSD的剩余寿命并非按照线性方式下降，而是类似于指数的形式，如图4所示，K为拟合曲线，Kl和K2为预测区间的上限和下限。图中，Y表示SSD剩余寿命，X表示用户写入总量，拟合曲线K线Y=aX2+bX+c，Kl线Y=alX2+blX+cl。例如，对应Intel520系列SSD，其K线为 Υ=-0.00004X2-0.004393X+100.4。
[0069]在具体实现时，上述步骤四可以采用软件来实现，例如mini Tab的曲线拟合功能。
[0070]通过前述步骤201可以实现:建立与第一 SSD同型号的SSD的寿命模型，寿命模型包括用户写入总量和理想剩余寿命关系曲线以及曲线的预测区间。
[0071]且容易知道，步骤201不需要每次执行，同一个型号的SSD只需要执行一次步骤201。
[0072]步骤202:获取第一 SSD的第一硬件信息，第一硬件信息包括第一写入数据总量和第一剩余寿命。
[0073]该信息可以从第一 SSD的Smart接口获取，获取到第一 SSD的Smart信息，即第一硬件信息。
[0074]步骤203:确定第一写入数据总量在寿命模型中对应的理想剩余寿命的区间。
[0075]步骤204:根据获取到的第一剩余寿命与确定的理想寿命的区间，控制第一 SSD的写入速度。
[0076]在本实施例中，步骤204包括:当获取到的第一剩余寿命连续N次小于确定的理想寿命的区间的下限时，控制第一 SSD的写入速度处于第一写入速度，该第一写入速度小于第一 SSD出厂时的设定写入速度，其中N为大于O的整数。
[0077]在其他实施例中，步骤204可以采用下述方式实现，当获取到的第一剩余寿命小于确定的理想寿命的区间的下限时，控制第一 SSD的写入速度处于第一写入速度。
[0078]另外，除了在上述两个实施例中，直接比较获取到的第一剩余寿命与确定的理想寿命的区间的下限的大小之外，步骤204还可以采用如下方式实现:
[0079]设确定的理想寿命的区间的下限为ml，获取到的第一剩余寿命为m2，
[0080]D=|ml-m2|,当D彡DO或连续N次彡DO时，控制第一 SSD的写入速度处于第一写入速度。