定期抽检型产品贮存寿命评估方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种基于保序回归理论和皮尔逊卡方拟合优度理论的定期抽检型产 品贮存寿命评估方法。它针对定期抽检型产品贮存寿命试验数据，通过保序回归理论中的 相邻逆序量合并算法（The Pool-Adjacent-Violators Algorithm，简称PAVA算法）进行调 整，对产品总体累积失效函数的分布参数进行极小卡方估计，并运用拟合优度理论检验分 布函数假设的合理性，最终评估产品的贮存可靠寿命。适用于定期抽检型产品贮存寿命试 验中小样本评估等领域。
【背景技术】
[0002] 通常情况下，军用产品在批量生产之后需要在仓库中贮存一段时间，称为产品的 贮存期。在贮存期内，由于贮存环境的作用，产品可靠性指标会有所下降。为了鉴定贮存期 不同阶段产品质量的变化，需要在贮存过程中对产品进行检验并分析试验数据。
[0003] 通常的定期抽检型产品贮存寿命试验按如下方法进行：
[0004] 记t = U1,…，tk)为检测时间点，在贮存了时间&之后，抽取n ^产品进行试验， 发现Xi件产品失效，从而得到数据：
[0005] (t" n" Xi), i = 1，2,…，k (1)
[0006] 其中，0 < t2< - < tk，各次抽检试验相互独立。
[0007] 在实际工作中，受时间和费用等约束，试验样本量叫不能取得太大值，因此试验结 果受抽样的随机性影响就会很大，有时会出现x i+1/ni+1< < X Vni的情况，这与样本失效概 率随时间增加而降低的特性不相符合，工程上称之为数据的倒挂，严重的倒挂会使计算结 果产生很大偏差。另一方面，针对定期抽检型产品贮存寿命试验得到的不完全数据，在应用 极大似然估计等传统评估方法时，没有进行任何调整和删失，结果给出的是产品累积失效 函数分布参数及可靠寿命的保守估计。在研宄中发现，基于皮尔逊卡方拟合优度理论的极 小卡方估计在评估此类数据时效果明显优于极大似然估计，通过仿真试验可知，极小卡方 估计在评估小样本数据时比极大似然估计具有更小的变异系数。
[0008] 基于此本发明提出一种基于保序回归理论和皮尔逊卡方拟合优度理论的定期抽 检型产品贮存寿命评估方法，综合考虑试验数据类型和评估方法，给出产品累积失效函数 的分布参数及可靠寿命的评估方法。
【发明内容】
[0009] (1)本发明的目的：针对定期抽检型产品在贮存寿命试验中失效数少而产生的一 系列估计问题，提供一种包含倒挂数据处理、寿命估计、拟合优度检验的完整的产品贮存寿 命评估方法。通过保序回归理论中PAVA算法调整试验数据，对产品累积失效函数的分布参 数进行极小卡方估计，并运用拟合优度理论检验分布函数假设的合理性，最终评估产品在 给定贮存条件下的可靠寿命。
[0010] ⑵技术方案：
[0011] 本发明需建立如下基本设置：
[0012] 设置1在进行产品贮存寿命试验时，不同批次的样本需来自同一总体，产品之间 可靠性指标无显著差异，累积失效函数相同。
[0013] 设置2产品贮存寿命t服从指数分布、威布尔分布、I型极大值分布和II型极大 值分布中的一种，各分布的累积失效函数分别为：
[0014] ①指数分布：
[0015] F (t) = l_exp (_t/ Θ ) (2)
[0016] ②威布尔分布：
[0017] F(t) = 1-exp (-(t/ n)m) (3)
[0018] ③I型极大值分布：
[0019] F (t) = exp (_exp (_ (t_ μ ) / 〇 )) (4)
[0020] ④II型极大值分布：
[0021] F(t) = exp (-(t/η 1 广0 (5)
[0022] 其中，θ为指数分布的均值寿命，η和m分别为威布尔分布的尺度参数和形状参 数，μ和 σ分别为I型极大值分布的位置参数和尺度参数，η 1和ml分别为II型极大值 分布的尺度参数和形状参数。
[0023] 本发明提出的方法主要针对定期抽检型产品贮存寿命试验数据，根据保序回归理 论中PAVA算法调整原始失效频率，并运用极小卡方估计的方法，对产品的可靠性参数进行 评估，进而对产品总体累积失效函数进行假设检验。
[0024] 基于上述假设与思路，本发明提供的定期抽检型产品贮存寿命评估方法通过如下 步骤实现：
[0025] 步骤一：用PAVA算法修正原始试验数据中的倒挂。
[0026] 根据定期抽检型产品贮存寿命试验数据结构，计算&时刻样本的原始失效频率
[0027] fj= X i/rij, i = I, 2, ···, k (6)
[0028] 其中，Iii为样本数，X i为样本中检测到的故障数。
[0029] 用PAVA算法调整样本原始失效频率中的倒挂，使其成为满足序约束的失效频率 值，即求出X i/nj关于权值的保序回归；
[0030] 将样本的保序失效频率值记为计算相应的样本保序失效数Z；*:
[0031] X：=f；-nn i = (7)
[0032] 步骤二：求分布函数参数的极小卡方估计，计算皮尔逊卡方统计量。
[0033] 在拟合优度检验的相关理论中，皮尔逊提出了皮尔逊卡方统计量用于检验一组独 立样本的共同分布是否属于某一具有特定性质的分布族，其中变样本复合皮尔逊卡方统计 量/-(?的形式为：
【主权项】
1. 一种定期抽检型产品贮存寿命评估方法，其特征在于：设置如下： 设置1:在进行产品贮存寿命试验时，不同批次的样本需来自同一总体，产品之间可靠 性指标无显著差异，累积失效函数相同； 设置2 :产品贮存寿命t服从指数分布、威布尔分布、I型极大值分布和II型极大值分 布中的一种，各分布的累积失效函数分别为： ① 指数分布： F(t) = 1-exp (-t/ 0 ).............................(1) ② 威布尔分布： F(t) = 1-exp(_(t/n)m).............................(2) ③I型极大值分布： F (t) = exp (-exp (- (t- y ) /〇))..........................(3) ④II型极大值分布： F(t) =exp(-(t/n1)'）.............................(4) 其中，9为指数分布的均值寿命，n和m分别为威布尔分布的尺度参数和形状参数，y和〇分别为I型极大值分布的位置参数和尺度参数，n 1和ml分别为II型极大值分布的 尺度参数和形状参数； 根据保序回归理论中PAVA算法调整原始失效频率，并运用极小卡方估计的方法，对产 品的可靠性参数进行评估，进而对产品总体累积失效函数进行假设检验； 定期抽检型产品贮存寿命评估方法通过如下步骤实现： 步骤一：用PAVA算法修正原始试验数据中的倒挂； 根据定期抽检型产品贮存寿命试验数据结构，计算h时刻样本的原始失效频率fi: fi= X i/rii, i = 1, 2, ???, k..............................(5) 其中，h为样本数，Xi为样本中检测到的故障数； 用PAVA算法调整样本原始失效频率中的倒挂，使其成为满足序约束的失效频率值，即 求出比=X i/nj关于权值的保序回归； 将样本的保序失效频率值记为f?，计算相应的样本保序失效数:
步骤二：求分布函数参数的极小卡方估计，计算皮尔逊卡方统计量； 在拟合优度检验的相关理论中，皮尔逊提出了皮尔逊卡方统计量用于检验一组独立样 本的共同分布是否属于某一具有特定性质的分布族， 其中，变样本复合皮尔逊卡方统计量的形式为：
其中，$ =d丨，…，代表参数向量，s为参数个数，乃(；2)为h时刻的理论失效频 率； 具体步骤为： I. 假设总体在时刻&的理论失效频率服从特定分布 II. 极小化皮尔逊卡方统计量
，A表示参数集 合，将所得到的参数f作为真值$的最佳估计，称之为！丨的极小卡方估计； 其中，求解，
等价于解方程组：
其中，
表示皮尔逊卡方统计量对各个参数求偏导数所得到的结果，
表示 理论失效分布函数对各个参数求偏导数所得到的结果； 故的极小卡方估计是下面方程的解：
III. 计算皮尔逊卡方统计量； 由于参数1丨的真值未知，故将i的极小卡方估计值f代入方程（8)中，得到近似皮尔 逊卡方统计量
步骤二：进行皮尔逊卡方拟合优度检验； 皮尔逊卡方统计量描述了期望频数与观察频数之间的差异；当叫一①时，f的极限分布是自由度为k-1的卡方分布;^2_4，即
在实际检验过程中，由于;r2(石未知，故用近似皮尔逊卡方统计量；^(办代替
的极限分布是自由度为k-s-l的卡方分布;，s为参数个数；因此若给定 显著性水平a，则有：
查表得到
他值，比较
1的大小； 当
成立时，小概率事件发生，拒绝原假设； 当
成立时，分布假设满足要求，计算分布对应的P值； 步骤四：计算产品在给定贮存条件下的可靠寿命； 选择满足假设检验的分布中P值最大的作为产品总体累积失效函数，记为，给 定可靠度R，计算对应的可靠寿命tK:
其中，rH?)为总体累积失效函数的反函数； 其中，在步骤一中所述的"保序回归"，是指： 令T={tpt2，…，tk}为一个有限集合，f= (f\,f2，…，fk)'为定义在T上的有界函 数；若T上又定义了一种半序关系"s"，且对heT，tfT，（ ，均有： f；=f*(ti) ^f；=f*(tj).............................(12) 成立，则称函数r= (fV，f/，…，C为定义在T上相对于'' 4 "的保序函数； 记G为保序函数的全体，若存在产gG，满足：
则称产=(fV，f/，为f的保序回归，其中《 = (%，％，…，W，％> 〇是给定权函数； 在步骤一中所述的"PAVA算法"，是指： i.如果fgg，则r=f; II?如果存在j使得选取适当权重《 = (?" ％，…，，《i>0， 令： b=aj+i} (14) fB=Av(B) = ....................(15) 〇B=Wj+Wj.i(16) 并且令：
III.重复上述步骤II，直到把下标集k分解为1个小块Bi，B2，…，Bi，并且满足条件：Av(Bi) <AV(B2) <…<Av(Bi) 则： f，=Av(Bt)，iGBt，i= 1，2,…，1.................(19)。
【专利摘要】一种定期抽检型产品贮存寿命评估方法，方法步骤如下：一、用PAVA算法修正原始试验数据中的倒挂；二、求分布函数参数的极小卡方估计，计算皮尔逊卡方统计量；三、进行皮尔逊卡方拟合优度检验；四、计算产品在给定贮存条件下的可靠寿命。本发明的优点是：它保证了寿命分布参数估计的准确性和完整性，其算法对参数的初值要求较低，算法迭代快速简单，可操作性强，较之极大似然估计对样本量的要求更低，评估结果更加稳定，体现了其在处理小样本数据时的优越性。
【IPC分类】G06F19-00
【公开号】CN104778354
【申请号】CN201510158708
【发明人】马小兵, 王晗, 赵宇
【申请人】北京航空航天大学
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2015年4月3日