r包括:
[0168]-获取所述优选测试用例的测试过程中的测试相关信息；
[0169]-根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例以及所述测试相关信息，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
[0170]11.根据条款I至9中任一项所述的方法，其中，所述存储系统为分布式存储系统。
[0171]12.一种用于存储系统测试的测试设备，其中，该设备包括:
[0172]获取装置，用于获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联；
[0173]生成装置，用于根据所述测试用例，生成一个或多个优选测试用例；
[0174]其中，该设备还包括:
[0175]测试装置，用于根据所述优选测试用例，对所述存储系统进行测试。
[0176]13.根据条款12所述的测试设备，其中，所述测试用例包括以下至少任一项:
[0177]-包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据的测试用例；
[0178]-包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的执行模型的测试用例；
[0179]-包含所述存储系统的边界值和/或异常值的测试用例。
[0180]14.根据条款12或13所述的测试设备，其中，所述生成装置包括:
[0181]因子确定单元，用于根据所述测试用例，确定所述测试用例中的一个或多个优选测试因子；
[0182]用例生成单元，用于根据所述优选测试因子，生成一个或多个优选测试用例。
[0183]15.根据条款14所述的测试设备，其中，所述优选测试因子包括以下至少任一项:
[0184]-所述测试用例中所采用的一个或多个测试数据；
[0185]-所述测试用例中所采用的一个或多个执行模型。
[0186]16.根据条款14或15所述的测试设备，其中，所述用例生成单元用于以下至少任一项:
[0187]-将一个或多个所述优选测试因子与其他测试用例相结合，以生成一个或多个优选测试用例；
[0188]-将两个或多个所述优选测试因子相结合，以生成一个或多个优选测试用例。
[0189]17.根据条款12所述的测试设备，其中，所述获取装置用于:
[0190]-对一个或多个候选测试用例进行筛选，以获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联。
[0191]18.根据条款17所述的测试设备，其中，该设备还包括:
[0192]数据生成装置，用于根据所述存储系统的存储描述信息，生成与所述存储描述信息相对应的一个或多个测试数据；
[0193]候选用例生成装置，用于根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例。
[0194]19.根据条款18所述的测试设备，其中，所述候选用例生成装置用于:
[0195]-根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例，其中，所述测试用例中包括一个或多个执行操作以及与每个执行操作相对应的检验操作。
[0196]20.根据条款12至19中任一项所述的测试设备，其中，该设备还包括:
[0197]报告装置，用于根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
[0198]21.根据条款20所述的测试设备，其中，所述报告装置用于:
[0199]-获取所述优选测试用例的测试过程中的测试相关信息；
[0200]-根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例以及所述测试相关信息，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
[0201]22.根据条款12至21中任一项所述的测试设备，其中，所述存储系统为分布式存储系统。
【主权项】
1.一种用于存储系统测试的方法，其中，该方法包括: a获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联； b根据所述测试用例，生成一个或多个优选测试用例； 其中，该方法还包括: -根据所述优选测试用例，对所述存储系统进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测试用例包括以下至少任一项: -包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据的测试用例； -包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的执行模型的测试用例； -包含所述存储系统的边界值和/或异常值的测试用例。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述步骤b包括: -根据所述测试用例，确定所述测试用例中的一个或多个优选测试因子； bl根据所述优选测试因子，生成一个或多个优选测试用例。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述优选测试因子包括以下至少任一项: -所述测试用例中所采用的一个或多个测试数据； -所述测试用例中所采用的一个或多个执行模型。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其中，所述步骤bl包括以下至少任一项: -将一个或多个所述优选测试因子与其他测试用例相结合，以生成一个或多个优选测试用例； -将两个或多个所述优选测试因子相结合，以生成一个或多个优选测试用例。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤a包括: -对一个或多个候选测试用例进行筛选，以获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，该方法还包括: Xl根据所述存储系统的存储描述信息，生成与所述存储描述信息相对应的一个或多个测试数据； x2根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述步骤χ2包括: -根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例，其中，所述测试用例中包括一个或多个执行操作以及与每个执行操作相对应的检验操作。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，该方法还包括: r根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述步骤r包括: -获取所述优选测试用例的测试过程中的测试相关信息； -根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例以及所述测试相关信息，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
11.一种用于存储系统测试的测试设备，其中，该设备包括: 获取装置，用于获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联； 生成装置，用于根据所述测试用例，生成一个或多个优选测试用例； 其中，该设备还包括: 测试装置，用于根据所述优选测试用例，对所述存储系统进行测试。
12.根据权利要求11所述的测试设备，其中，所述测试用例包括以下至少任一项: -包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据的测试用例； -包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的执行模型的测试用例； -包含所述存储系统的边界值和/或异常值的测试用例。
13.根据权利要求11或12所述的测试设备，其中，所述生成装置包括: 因子确定单元，用于根据所述测试用例，确定所述测试用例中的一个或多个优选测试因子； 用例生成单元，用于根据所述优选测试因子，生成一个或多个优选测试用例。
14.根据权利要求13所述的测试设备，其中，所述优选测试因子包括以下至少任一项: -所述测试用例中所采用的一个或多个测试数据； -所述测试用例中所采用的一个或多个执行模型。
15.根据权利要求13或14所述的测试设备，其中，所述用例生成单元用于以下至少任一项: -将一个或多个所述优选测试因子与其他测试用例相结合，以生成一个或多个优选测试用例； -将两个或多个所述优选测试因子相结合，以生成一个或多个优选测试用例。
16.根据权利要求11所述的测试设备，其中，所述获取装置用于: -对一个或多个候选测试用例进行筛选，以获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联。
17.根据权利要求16所述的测试设备，其中，该设备还包括: 数据生成装置，用于根据所述存储系统的存储描述信息，生成与所述存储描述信息相对应的一个或多个测试数据； 候选用例生成装置，用于根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例。
18.根据权利要求17所述的测试设备，其中，所述候选用例生成装置用于: -根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例，其中，所述测试用例中包括一个或多个执行操作以及与每个执行操作相对应的检验操作。
19.根据权利要求11至18中任一项所述的测试设备，其中，该设备还包括: 报告装置，用于根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
20.根据权利要求19所述的测试设备，其中，所述报告装置用于: -获取所述优选测试用例的测试过程中的测试相关信息； -根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例以及所述测试相关信息，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。
【专利摘要】本发明的目的是提供一种用于存储系统测试的方法与设备。测试设备获取一个或多个测试用例，根据测试用例，生成一个或多个优选测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联；然后，根据所述优选测试用例，对所述存储系统进行测试。与现有技术相比，本发明主要利用与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联的测试用例，来生成一个或多个优选测试用例，并利用所述优选测试用例对存储系统进行测试，从而通过自动化生成更多的有效测试数据，对现有的测试进行了加强，高效、高覆盖地测试被测系统，使得测试更加全面完善，并更快的触发系统漏洞，提高了存储系统的测试效率与测试质量。
【IPC分类】G06F21-57, G06F11-36
【公开号】CN104850494
【申请号】CN201510213852
【发明人】沈湘
【申请人】百度在线网络技术（北京）有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年4月29日