一种舰船仪表检定周期确定方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及舰船仪表定期检定技术领域，尤其涉及一种舰船仪表检定周期确定方 法及系统。
【背景技术】
[0002] 舰船上装配了大量用于监测工作状态的仪表，为保证仪器仪表能正常发挥作用， 必须定期对其进行检定。根据国家计量技术规范，确定仪表检定周期的基本原则之一是依 据仪表本身特征、性能要求及使用情况确定检定周期。但现行舰船仪器仪表的检定周期一 般采用估计的方法，检定周期大多约定为一年或者半年。采用固定检定周期会带来一些问 题：检定周期过短会因检定频次高而造成检定任务过重和成本增加；检定周期过长则会给 装备性能的准确可靠带来隐患。而舰船仪器仪表易受工作环境、使用要求的影响，检定周期 也应采取相应的变化。
[0003] 另外舰船仪表受航行任务及维修的影响，实际检定时间间隔与规定的检定周期并 不一致，为检定数据的统计分析带来困难。
【发明内容】
[0004] 本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种舰船仪表检定周期 确定方法及系统。
[0005] 本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种舰船仪表检定周期确定方法，包 括如下步骤：根据原始检定数据建立卡方分布模型；根据卡方分布模型利用总体分布的假 设检验方法判断现行检定周期是否合理，如果合理，保持现行的检定周期，如果不合理，则 计算最小调整时间，根据最小调整时间对现行检定周期进行调整。
[0006] 本发明的有益效果是：本发明针对舰船仪表检定量大的特点，根据每批次的仪表 检定合格情况建立了卡方分布模型，并利用假设检验的方法对现行检定周期是否合理进行 了判定，并提出了相应的调整方法。本发明合理调整仪表的检定周期，解决了现有技术中检 定周期过短、检定频次高而造成检定任务过重和成本增加，检定周期过长则会给装备性能 的准确可靠带来隐患的技术问题，同时解决了仪表受航行任务及维修的影响导致实际检定 时间间隔与规定的检定周期并不一致，检定数据的统计分析困难的问题。本发明基于卡方 分布的模型无需知道被检仪表的具体可靠性模型，具有一定的通用性。
[0007] 在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。
[0008] 进一步，根据原始检定数据建立卡方分布模型的具体实现如下：
[0009] 同一类型且检定周期相同的仪表，预定时间段内有N批待检定，第i批仪表数量为 IV期望合格率为P〇,每批的期望合格数量为ep则
[0010] ei= n i*P0
[0011] 设第i批实际合格数量为gi，则第i批送检仪表中合格与不合格的数量按照（1) 式近似服从卡方分布，自由度V = 1 ;
[0013] 采用上述进一步方案的有益效果是：实现了非参数模型，无需知道仪表具体的可 靠性模型及其参数。
[0014] 根据卡方分布的可加性，
同样服从卡方分布，自由度v = N，卡方分布模型如 (2)式所示；
[0016] 采用上述进一步方案的有益效果是：增加了统计分析的样本容量。
[0017] 进一步，所述叫的取值范围为大于等于50, 取值范围为大于等于5,若gi小于 5,将该批检定数据与相邻批次的检定数据合并。
[0018] 采用上述进一步方案的有益效果是：保证检验结果的可靠性。
[0019] 进一步，根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法判断现行检定周期I；是 否合理的具体实现为：利用总体分布的假设检验方法对N批仪表总的实际检定合格率与期 望检定合格率P0是否一致进行校验。
[0020] 采用上述进一步方案的有益效果是：假设检验方法比简单的阈值判断方法更全 面。
[0021] 进一步，根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法对N批仪表总的实际检 定合格率与期望检定合格率P0是否一致进行校验的具体实现为：
[0022] 原假定％:假设N批仪表总的实际检定合格率与期望的检定合格率P0 -致；
[0023] 在一定的显著性水平a下，根据a和N查询卡方分布表得到x2(a，N);若
则假设成立，无需调整现行检定周期L，若
则假 设不成立，则调整现行检定周期L。
[0024] 进一步，如果N批仪表的检定合格率与期望的检定合格率匕不一致，调整现行检 定周期L，具体实现如下：
[0025] 求解实际检定合格率平均值 计算第i批估计的合格数量g'i，以时间变 > 量At调整g' i得到Ag' i;
[0026] 若歹，则延长现行检定周期I；，将第i批估计的合格数量A g' i带入式（2)， 并验证是否满足原假定％，调整At直到找到满足原假定％的最小At值，则新的检定周 期 T = T0+A t0;
[0027] 若户</^，则缩短现行检定周期I；，将第i批估计的合格数量Ag\带入式（2)，并 验证是否满足原假定％，调整At直到找到满足原假定％的最小At值，则新的检定周期T =T0_A t0〇
[0028] 进一步，计算第i次在现行检定周期下估计的检定合格数量g'，的具体计算方法 如下：
[0029] 基于失效率A相同的假设：
[0030] 其中，I；为现行的检定周期，T i为第i次实际的检定时间间隔；P i为第i次实际的 检定合格率；P/为第i次在现行检定周期下估计的检定合格率；
[0032] 第i次在现行检定周期下估计的检定合格数量g' i计算如下：
[0034] 其中，叫为第i批仪表数量；
[0035] 以时间变量At调整g' i得到Ag' i:
[0036] 其中，At = kt。，t。为某一常量；
[0037] 若尸乏/5。，则延长现行检定周期T。，将
，k = 1，2, 3…带入式（2)，并验证是否满足原假定％，直到找到满足原假定％的最小k值，则新的 检定周期T = Td+kt。；
[0038] 若声</>&则缩短现行检定周期T。，将
，k = 1，2, 3…带入式（2)，并验证是否满足原假定％，直到找到满足原假定％的最小k值，则新的 检定周期T = Td-kt。。
[0039] 本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种舰船仪表检定周期确定系 统，包括建模模块、检测模块和调整模块：
[0040] 所述建模模块，其用于根据原始检定数据建立卡方分布模型；
[0041] 所述检测模块，其用于根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法判断现行 检定周期是否合理，如果合理，则保持现行的检定周期，如果不合理则调用调整模块；
[0042] 所述调整模块，其用于则计算最小调整时间，根据最小调整时间对现行检定周期 进行调整。
【附图说明】
[0043]图1为本发明实施例中所述舰船仪表检定周期确定方法流程图；
[0044]图2为本发明实施例中所述舰船仪表检定周期确定系统框图。
【具体实施方式】
[0045] 以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并 非用于限定本发明的范围。
[0046] 如图1所示，一种舰船仪表检定周期确定方法，包括如下步骤。
[0047] 第一步，根据原始检定数据建立卡方分布模型。
[0048] 具体地，根据原始检定数据建立卡方分布模型的具体实现如下：
[0049] 同一类型且检定周期相同的仪表，预定时间段内（可以为1年）有N批待检定，第 i批仪表数量为IV期望合格率为匕，每批的期望合格数量为 ei，则
[0050] ei= n i*P〇
[0051]设第i批实际合格数量为gi，则第i批送检仪表中合格与不合格的数量按照（1) 式近似服从卡方分布，自由度v = 1 ;
[0053] 根据卡方分布的可加性
同样服从卡方分布，自由度v = N，卡方分布模型如 (2)式所示；
[0055] 其中，所述叫的取值范围为大于等于50, g ^勺取值范围为大于等于5,若gi小于 5,将该批检定数据与相邻批次的检定数据合并。
[0056] 第二步，根据卡方分布模型利用总体分布的假设检验方法判断现行检定周期是否 合理，如果合理，保持现行的检定周期，如果不合理执行第三步。
[0057] 具体地，原假定％:假设N批仪表总的实际检定合格率与期望的检定合格率P0 - 致；在一定的显著性水平a (典型值0.05)下，根据a和N查询卡方分布表得到x2(a，N);
i则假设成立，无需调整现行检定周期
则 假设不成立，则调整现行检定周期L。
[0058] 第三步，计算最小调整时间，根据最小调整时间对现行检定周期进行调整。
[0059] 具体地，如果N批仪表的检定合格率与期望的检定合格率P。不一致，调整现行检 定周期L，具体实现如下：
[0060] 求解实际检定合格率平均值
计算第i批估计的合格数量g'i，以时间 变量At调整g' i得到Ag' i;
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