一种确定失效率的方法及装置的制造方法

文档序号:9288512阅读:465来源:国知局
一种确定失效率的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种确定失效率的方法及装置。
【背景技术】
[0002] 随着服务器行业的快速发展,越来越多的客户开始偏向于购买大批量的服务器作 为自己的核心应用。所以除了对服务器的稳定性、可靠性也提出了更高的要求。而现阶段 服务器各种硬件中,CPU、硬盘、内存等部件的失效率不受制造商的控制,制造商能够自己把 控的只有主板、板卡、线材等部件的失效率。而主板因为结构复杂,元器件数量大,所以主板 的失效率是整个服务器系统中最重要的一部分,服务器主板的失效率的值越来越收到客户 的重视。在主板设计中,按照功能不同,分成了各个ROOM(功能单元),所以各个功能单元的 失效率对于主板十分重要。现有技术中,还没有一种计算主板上各个ROOM的失效率的技术 方案。

【发明内容】

[0003] 有鉴于此,本发明提供了一种确定失效率的方法及装置,能够确定各个ROOM的失 效率。
[0004] -方面,本发明提供了一种确定失效率的方法,包括:预先确定主板上的功能单元 R00M,获取所述主板的物料清单Β0Μ,根据所述主板的BOM确定每个ROOM中的元器件,还包 括:
[0005] Sl :获取所述主板上的每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息中 的任意一个或多个;
[0006] S2 :根据所述主板上的每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息中 的任意一个或多个,确定每个元器件的失效率;
[0007] S3 :根据当前ROOM中元器件和当前ROOM中每个元器件的失效率,确定当前ROOM 的失效率。
[0008] 进一步地,所述S2,包括:
[0009] 根据每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息,确定每个元器件的 平均故障间隔时间MTBF ;
[0010] 根据公式一,确定每个元器件的失效率,其中,公式一为:
[0011]
[0012] 其中,p为元器件的失效率,Smtbf为元器件的MTBF。
[0013] 进一步地,还包括:
[0014] 预先设置元器件失效率表,该元器件失效率表中包括:每个ROOM的标识,每个 ROOM的标识对应多个信息栏;
[0015] 在S3之前,还包括:根据每个元器件所在的ROOM和所述元器件失效率表中的 ROOM的标识,将每个元器件的失效率导入到所述元器件失效率表中对应的ROOM的标识对 应的空闲的信息栏中,得到更新的元器件失效率表;
[0016] 所述S3,包括:
[0017] 从更新的元器件失效率表中提取出对应的ROOM的标识相同的信息栏;
[0018] 计算对应的ROOM的标识相同的信息栏中失效率的和,得到每个ROOM的失效率。
[0019] 进一步地,所述属性信息,包括:元器件的类别和/或元器件的子类别;
[0020] 所述应用环境信息,包括:应用环境的温度;
[0021] 所述质量级别信息,包括:是否是军用级别、是否是商用级别、是否是民用级别中 的任意一个或多个。
[0022] 进一步地,还包括:预先设置元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息与 失效率的对应关系;
[0023] 所述S2,包括:
[0024] 根据每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息,以及所述对应关系, 确定每个元器件的失效率。
[0025] 另一方面,本发明提供了一种确定失效率的装置,包括:
[0026] 第一确定单元,用于确定主板上的功能单元R00M,获取所述主板的物料清单Β0Μ, 根据所述主板的BOM确定每个ROOM中的元器件;
[0027] 获取单元,用于获取每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息中的 任意一个或多个;
[0028] 第二确定单元,用于根据每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别信息 中的任意一个或多个,确定每个元器件的失效率;
[0029] 第三确定单元,用于根据当前ROOM中元器件和当前ROOM中每个元器件的失效率, 确定当前ROOM的失效率。
[0030] 进一步地,所述第二确定单元,在执行所述根据每个元器件的属性信息、应用环境 信息和质量级别信息,确定每个元器件的失效率时,具体执行:根据每个元器件的属性信 息、应用环境信息和质量级别信息,确定每个元器件的平均故障间隔时间MTBF,根据公式 一,确定每个元器件的尖效率,其中,公式一为:
[0031]
[0032] 其中,p为元器件的失效率,Smtbf为元器件的MTBF。
[0033] 进一步地,还包括:第一设置单元,用于设置元器件失效率表,该元器件失效率表 中包括:每个ROOM的标识,每个ROOM的标识对应多个信息栏;
[0034] 还包括:导入单元,用于根据每个元器件所在的ROOM和所述元器件失效率表中的 ROOM的标识,将每个元器件的失效率导入到所述元器件失效率表中对应的ROOM的标识对 应的空闲的信息栏中,得到更新的元器件失效率表;
[0035] 所述第三确定单元,用于从更新的元器件失效率表中提取出对应的ROOM的标识 相同的?目息栏,计算对应的ROOM的标识相同的彳目息栏中失效率的和,得到每个ROOM的失效 率。
[0036] 进一步地,所述属性信息,包括:元器件的类别和/或元器件的子类别;
[0037] 所述应用环境信息,包括:应用环境的温度;
[0038] 所述质量级别信息,包括:是否是军用级别、是否是商用级别、是否是民用级别中 的任意一个或多个。
[0039] 进一步地,还包括:第二设置单元,用于设置元器件的属性信息、应用环境信息和 质量级别信息与失效率的对应关系;
[0040] 所述第二确定单元,用于根据每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量级别 信息,以及所述对应关系,确定每个元器件的失效率。
[0041] 本发明提供了一种确定失效率的方法及装置,预先确定主板上的ROOM,并根据 BOM确定每个ROOM中的元器件,为了确定每个ROOM的失效率,需要先确定每个ROOM中的每 个元器件的失效率,每个元器件的失效率与每个元器件的属性信息、应用环境信息和质量 级别信息中的任意一个或多个相关,通过获取每个元器件的属性信息、应用环境信息和质 量级别信息中的任意一个或多个,进而确定每个元器件的失效率,根据当前ROOM中元器件 和当前ROOM中每个元器件的失效率,确定当前ROOM的失效率。
【附图说明】
[0042] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明 的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据 这些附图获得其他的附图。
[0043] 图1是本发明一实施例提供的一种确定失效率的方法的流程图;
[0044] 图2是本发明一实施例提供的另一种确定失效率的方法的流程图;
[0045] 图3是本发明一实施例提供的一种确定失效率的装置的示意图。
【具体实施方式】
[0046] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例 中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是 本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员 在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
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