阶差分，以获得专利增长量的平稳序列，以差分的所得值代表离开均衡状态的偏差值。
[0017] 相对质量用于解决不同质量水平的专利的价值不可比的问题，它通过将不同质量 水平的专利数量折算成基准水平的专利的数量，例如，1项质量水平为5的高质量专利在价 值上等同于5项质量水平为1的低质量专利，将相对质量折算为相对数量，再进一步计算专 利的相对增长量，基于此方法所拟合而成的曲线能提高技术成熟度评价结果的准确性。
[0018] 本发明的目的通过如下技术解决方案实现。
[0019] 基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法，它是一种基于专利相对数量分析的 技术成熟度预测算法，通过对待分析技术的专利进行数量统计，并基于年份对数据进行曲 线拟合，将拟合曲线和标准专利数量曲线图进行对比，从而确定当前的技术成熟度的方法。 具体步骤如下：
[0020] 基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法，包括以下步骤：
[0021] 1)输入待分析技术关键字，检索专利数据库，得到包含所述技术关键词的专利每 年绝对增长量Wx;
[0022] 2)对所述的Wx先进行一阶差分，根据单位根检验判断，如果一阶差分所得值为平 稳序列，则Wx的一阶差分所得值即为专利相对增长量η χ;如果所得序列仍为非平稳序列，则 每次以1为增量逐次增加差分的阶对^进行差分，直至获得专利增长量的平稳序列，将所 使用的最高阶（记为η阶）的差分所得值作为该年度待分析技术的专利相对增长数量ηχ;
[0023] 3)对专利相对增长数量^进行归一化处理，将每年相对增长数量除以该技术指定 时间内的专利总量Μ，使之成为[0，1]的数，得到专利相对数量归一化值yx，；
[0024] 4)以年份X作为自变量，专利相对数量归一化值^为因变量进行曲线拟合：拟合 方法选择较为准确且实用的最小二乘法，通过提供一至十次多项式曲线拟合的求解，得到 不同的拟合曲线，并计算各拟合曲线的残差平方和，通过比较从中寻找残差平方和最小的 一个，作为最终的拟合曲线AU)进行绘制；
[0025] 5)将所得曲线(X)与标准技术进化S曲线对比；
[0026] 6)用户主观认定该技术所处的技术阶段，并保存。
[0027] 上述各步骤相关参数及其计算公式如表1。
[0028] 表 1
[0029] CN 105184078 A 说明书 4/8 页
[0030] 本发明还进一步地通过利用质量等级对专利数量进行处理，包括以下步骤：
[0031] 1)对每一项专利赋予其对应的质量等级i，并统计每年待分析技术的专利总量的 平均质量等级Lx;
[0032] 2)将该年度下待分析技术专利的绝对增长量Wx乘以该年度待分析技术专利的平 均质量等级Lx，得到该年度待分析技术的专利相对质量Sx，即专利的相对增长数量nx;
[0033] 3)对专利相对质量Sx进行归一化处理，将每年相对质量除以该技术指定时间内的 专利相对质量总量M，使之成为[0，1]的数，得到专利相对质量归一化值7：(，；
[0034] 4)以年份X作为自变量，专利相对质量归一化值^为因变量进行曲线拟合：拟合 方法选择较为准确且实用的最小二乘法，通过提供一至十次多项式曲线拟合的求解，得到 不同的拟合曲线，并计算各拟合曲线的残差平方和，通过比较从中寻找残差平方和最小的 一个，作为最终的拟合曲线f2(x)进行绘制；
[0035] 5)将所得曲线f2(X)与标准技术进化S曲线对比；
[0036] 6)用户主观认定该技术所处的技术阶段，并保存。
[0037] 上述各步骤新引入的相关参数及其计算公式如表2所示。
[0038] 表 2
CN 105184078 A 1>兀 h/i -p 5/8
[0040]由于采用以上方案，本发明与现有技术相比，具有如下优点和技术效果：本发明使 用专利相对数量的归一化值进行数据拟合得到专利数量曲线图，使不同技术的专利增长量 具有可比性，消除了环境因素对曲线图趋势的影响，并基于专利质量等级对专利数量信息 进一步处理，通过专利相对质量的计算，进一步增强不同技术之间专利增长量的可比性，便 于相关人员对当前的技术成熟度作出准确的评价。综上所述，本发明提高了技术成熟度评 价的准确性。
【附图说明】
[0041 ]图1是本发明基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法实现的硬件结构图。
[0042] 图2是本发明基于专利相对量分析的技术成熟度评价算法实现硬件的专利数量 分析服务器的功能模块图。
[0043] 图3是本发明基于专利相对数量分析的技术成熟度评价方法流程图。
[0044] 图4是本发明基于专利相对质量分析的技术成熟度评价方法流程图。
[0045] 图5是标准技术进化S曲线图。
【具体实施方式】
[0046] 以下结合附图和实例对本发明的具体实施作进一步说明。
[0047] 图1是本发明基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法实现的硬件结构 图。该硬件系统部分包括：专利数据库1，专利相对量分析服务器2,客户端3。专利数 据库1用于存储专利，专利相对量分析服务器2通过开放式数据库连接（Open Database Connectivity，ODBC)与专利数据库1连接，用于获取专利信息，统计某种技术的专利数量 或专利质量，并实现本发明基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法或一种基于专利相 对质量分析的技术成熟度评价算法。
[0048] 图2是本发明基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法实现硬件的专利数量 分析服务器的功能模块图。该服务器2包括：专利数量质量信息获取模块4,拟合曲线生成 模块5,图形输出模块6。其中专利数量质量信息获取模块4用于读取专利数据库1中的专 利数量信息或专利质量信息。拟合曲线生成模块5根据模块4获取的专利数量信息或专利 质量信息，基于专利相对数量或专利的相对质量进行数据拟合。图形输出模块6输出拟合 曲线图形至客户端3。
[0049] 以下以T技术这一主题为例详细说明本发明所涉及的基于专利相对量分析的技 术成熟度评价方法。
[0050] 图3是本发明基于专利相对数量分析的技术成熟度评价方法流程图，至少包括以 下步骤：
[0051] 1)在客户端界面输入待分析技术的关键字，设定时间为1980年至当前年的前一 年，检索专利数据库，得到1980年至当前年的前一年间每年关于所述技术的专利增长量， 计算每年关于所述技术的专利总量增长率，如果专利总量增长率处于上升趋势，则可认为 专利增长量序列为非平称序列；
[0052] 步骤1)中，根据关键字检索专利数据库，可选择根据专利名称或者专利摘要进行 检索，并且可以输入多个关键字，根据"and"、"or"进行不同的关键字组合，提高检索效率。
[0053] 2)统计关于所述技术的专利绝对增长量，所要计算的年份的专利绝对增长量即等 于当年专利总量减去前一年的专利总量；
[0054] 3)计算关于所述技术的专利相对数量，所要计算的年份的专利相对数量即等于对 专利增长量的η阶差分，具体地，先对专利增长绝对量Wx进行一阶差分，根据单位根检验判 断，如果一阶差分所得序列为平稳序列，则专利绝对增长量Wx的一阶差分所得值即为专利 相对增长量ηχ;如果一阶差分所得序列为非平稳序列，则每次以1为增量逐次增加差分的 阶，直至获得专利增长量的平稳序列，将所使用的最高阶（记为η阶）的差分的所得值代表 离开均衡状态的偏差值，即专利增长相对量ηχ;计算模型：
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