0055] ηχ = Δ nWx (其中η为差分的阶数）
[0056] 4)对关于所述技术的专利相对数量进行归一化处理，将每年的专利相对数量除以 所述技术在1980年至当前年的前一年的专利总量，得到范围在[0，1]内的专利相对数量归 一化值；
[0057] 5)以1980至当前年的前一年的年份作为自变量，对应的专利相对数量归一化值 为因变量，对数据进行曲线拟合：根据得到的专利数据{(Xl，yi)，（i = l，2，"，m)}其中^为 年份，Y1为该年的专利数量，m为开始年份到结束年份期间的时间长），拟合曲线的多项式 模型：
[0059] 为满足拟合曲线的残差值
[0061] 对I求ak的偏导值，使其为0,即：
[0063] 变换得到：
[0065] 由此求解方程组可得到ak唯一解，从而确定最终的拟合曲线f(x);
[0066] 6)客户端界面输出拟合曲线，将最终所得的所述技术专利数量曲线与标准技术进 化S曲线对比，标准技术进化S曲线如图4所示，S曲线分为婴儿期、成长期、成熟期、衰退 期四个阶段；
[0067] 7)根据拟合曲线的终点在形态上等同于标准技术进化S曲线的阶段位置，用户主 观认定所述技术所处的技术阶段，并保存。
[0068] 图4是本发明的基于专利相对质量分析的技术成熟度评价算法流程图，至少包括 以下步骤：
[0069] 1)对每待分析技术的每一项专利赋予其对应的质量等级i，并统计每年所述技术 的专利的平均质量等级Lx;
[0070] 专利属性值的百分位表示具有某一属性和小于该属性值的专利占统计对象总专 利数的百分比。下文以Altshuller提出的五个等级为例说明，也可根据国际标准的九个等 级成熟度。不管等级数如何变化，都落入本发明的保护范围。
[0071] 专利类型的评分依据如表3所示。
[0072] 表 3
[0074] 以上百分位数的选择是依据Altshuller的TRIZ理论对专利创新级别的定义：1 级创新度的技术占32% ;2级创新度的技术占45% ;3级创新度的技术占18% ;4级创新度 的技术占4% ;5级创新度的技术占1%。
[0075] 2)计算所述技术的每年专利绝对增长量Wx，所要计算的年份的专利绝对增长量即 等于当年专利总量减去前一年的专利总量；
[0076] 3)计算所述技术的专利相对增长量，所要计算的年份的所述技术专利相对增长量 即等于将该年度下待分析技术专利的绝对增长量^乘以该年度待分析技术专利的平均质 量等级Lx，得到该年度待分析技术的专利相对增长数量nx。
[0077] 4)对关于T技术的专利相对增长量进行归一化处理，将每年的专利相对增长量除 以所述技术在1980年至当前年的前一年的专利总量，得到范围在[0，1]内的归一化值，；
[0078] 5)以1980至当前年的前一年的年份作为自变量，对应的专利相对增长量归一化 值为因变量，对数据进行曲线拟合得到基于相对质量的拟合曲线f2(x)，方法如前一算法的 步骤5)，此处不再赘述
[0079] 6)将所得曲线f2(x)与标准技术进化S曲线对比，方法同前一算法的步骤6);
[0080] 7)用户主观认定该技术所处的技术阶段，并保存，方法同前一算法的步骤7)。 [0081] 通过采用以上的算法，可以极大地消除了环境因素对曲线图趋势的影响，并基于 专利质量等级对专利数量信息进一步处理，进一步增强不同技术之间专利增长量的可比 性，便于相关人员对当前的技术成熟度作出准确的评价或预测。
[0082] 如图5所示，是本发明一种基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法进行技术 成熟度评判所依据的标准技术进化S曲线。Altshuller的TRIZ理论（发明问题解决理论） 的专利分析模型将技术生命周期分为婴儿期、成长期、成熟期和衰退期四个阶段，这四个阶 段的技术性能和时间关系呈现为"S"曲线。如果当前的技术处于图中S曲线的前期，那么 在研发过程中会面临较大的风险，但有较大的垄断市场的机会，此时可以考虑增加投入，进 行技术研发；反之，如果当前的技术处于图中S曲线的后期，那么在研发过程中只需面对较 小的风险，但缺少市场潜力，此时可以考虑引入新的技术。
【主权项】
1. 基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法，其特征在于包括如下步骤： 1) 输入待分析技术关键字，检索专利数据库，得到包含所述技术关键词的专利每年绝 对增长量Wx; 2) 对所述的Wx先进行一阶差分，根据单位根检验判断，如果一阶差分所得值为平稳序 列，则Wx的一阶差分所得值即为专利相对增长量nx;如果所得序列仍为非平稳序列，则每次 以1为增量逐次增加差分的阶对^进行差分，直至获得专利增长量的平稳序列，将所使用 的最高阶即n阶的差分所得值作为该年度待分析技术的专利相对增长数量nx; 3) 对专利相对增长数量rUS行归一化处理，将每年相对增长数量除以该技术指定时 间内的专利总量M，使之成为[0，1]的数，得到专利相对数量归一化值yx，； 4) 以年份X作为自变量，专利相对数量归一化值^为因变量进行曲线拟合：拟合方 法采用最小二乘法，通过提供一至十次多项式曲线拟合的求解，得到不同的拟合曲线，并计 算各拟合曲线的残差平方和，通过比较从中寻找残差平方和最小的一个，作为最终的拟合 曲线AU)进行绘制； 5) 将所得曲线AU)与标准技术进化S曲线对比，确定待分析技术所处的技术阶段， 并保存。2. 如权利要求1所述的基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法，其特征在于还包 括以下步骤： 1) 对每一项专利赋予其对应的质量等级i，并统计每年待分析技术的专利总量的平均 质量等级Lx; 2) 将该年度下待分析技术专利的绝对增长量^乘以该年度待分析技术专利的平均质 量等级Lx，得到该年度待分析技术的专利相对质量Sx，即专利的相对增长数量nx; 3) 对专利相对质量行归一化处理，将每年相对质量除以该技术指定时间内的专 利相对质量总量M，使之成为[0，1]的数，得到专利相对质量归一化值7：(，； 4) 以年份X作为自变量，专利相对质量归一化值yx为因变量进行曲线拟合：拟合方法 选择较为准确且实用的最小二乘法，通过提供一至十次多项式曲线拟合的求解，得到不同 的拟合曲线，并计算各拟合曲线的残差平方和，通过比较从中寻找残差平方和最小的一个， 作为最终的拟合曲线f2(x)进行绘制； 5) 将所得曲线f2(x)与标准技术进化S曲线对比，确定待分析技术所处的技术阶段， 并保存。
【专利摘要】本发明公开一种基于专利相对量分析的技术成熟度评价方法，通过对待分析技术的专利绝对增长进行统计，并基于专利总量增长倍数及专利质量等级对绝对增长量进行修正，得到专利相对增长量，并基于年份对归一化的专利相对增长量进行曲线拟合，将拟合曲线和标准专利增长量曲线图进行对比，从而确定当前的技术成熟度。本发明包括以下步骤：(a)检索统计待分析技术的专利绝对增长量；(b)计算待分析技术的专利相对增长量；(c)对专利相对增长量进行归一化处理；(d)对专利相对增长量归一化值进行曲线拟合。利用本发明，可以消除社会经济发展对专利增长的影响，并将专利质量等级反映到专利数量模型，提高技术成熟度预测的准确性和专利数据的使用效率。
【IPC分类】G06F19/00
【公开号】CN105184078
【申请号】CN201510562646
【发明人】赖朝安, 徐翠璐
【申请人】华南理工大学
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年9月6日