检测触控方法及其光学触控系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明指一种检测触控方法及其光学触控系统，尤指一种利用一分时发光的检测触控方法及其光学触控系统。
【背景技术】
[0002]由于触控显示装置提供使用者更直觉及便利的操作方式，因而已广泛地运用于各种消费性电子产品中。一般来说，触控显示装置由一显示器及一透明触控板所组成，并且经由将透明触控面板贴合于显示器上而能同时实现触控及显示功能。在当前的应用中尤以光学触控技术最受欢迎。
[0003]现有的光学触控架构大致分为利用2个感应器达成2点触碰以及6个感应器达成5点触碰。请参考图1，图1为现有一光学触控架构10的示意图。光学触控架构是由两个感应器分别平贴在屏幕的左上及右上角，来观测阴影到底发生在何处。当有触控发生时，光线被遮住产生阴影于反射条上(图1中ABCD点为阴影)，这时感应器看到的不是一条完整的光轴，而是被阴影切成一段一段的光轴。此时，通过逻辑运算，即可算出阴影位置后送回系统做出判断触控点的坐标。以两点触控来说，鬼点发生在当两触控点在屏幕上时，感应器总共会看到四个阴影。但有两个就是假的，因为是由阴影位置来做输入判断。在四取二的情况下，很多时候会造成误判。而如何在不增加感应器的情况下，达到多点触控且滤除鬼点为目前光学触控面板的一重要议题。
【发明内容】
[0004]因此，本发明的主要目的即在于提供一种用于一光学触控系统的检测触控方法及其光学触控系统，以达到多点触控且滤除鬼点的效果。
[0005]本发明揭露一种光学触控系统，该光学触控系统包含有一触控面板、多个光源、一发光元件、一反光元件、多个镜头以及一处理单元。该多个光源用来周期性发光。该发光元件用来操作于该触控面板上以及于该多个光源不发光时周期性发光。该反光元件用来操作于该触控面板上以及于该多个光源发光时反射该多个光源的光线。多个镜头用来于该多个光源发光期间擷取一第一图像以及于该多个光源不发光期间擷取一第二图像。该处理单元包含有一控制单元以及一计算单元。该控制单元用来控制该多个光源以及该发光元件发光或停止发光。该计算单元用来根据该第一图像以及该第二图像计算该发光元件位于该触控面板上的一第一位置以及该反光元件位于该触控面板上的一第二位置。
[0006]本发明揭露一种用于一光学触控系统的检测触控方法，该检测触控方法包含有控制一发光兀件以及多个光源分时发光；于该多个光源发光期间，利用一反光兀件反射该多个光源的光线以及擷取一第一图像；于该发光元件发光期间，擷取一第二图像；以及根据该第一图像以及该第二图像计算该发光元件位于一触控面板上的一第一位置以及该反光元件位于该触控面板上的一第二位置。
[0007]本发明揭露另一种光学触控系统，该光学触控系统包含有一触控面板、多个光源、一发光元件、一反光元件、多个镜头以及一处理单元。该多个光源用来周期性发光。该发光元件，用来操作于该触控面板上以及持续性发光。该反光元件用来操作于该触控面板上以及于该多个光源发光时反射该多个光源的光线。该多个镜头用来于该多个光源发光期间擷取一第一图像以及于该多个光源不发光期间擷取一第二图像。该处理单元包含有一控制单元、一比对单元以及一判断单元。该控制单元用来控制该多个光源周期性发光。该比对单元用来比对该第一图像以及该第二图像并产生一比对结果。该判断单元用来根据该比对结果判断该发光元件以及该反光元件。其中，该第一图像包含该反光元件的图像，该第二图像包含该反光元件的图像以及该发光元件的图像。
[0008]本发明揭露另一种用于一光学触控系统检测触控方法，该检测触控方法包含有控制多个光源周期性发光以及控制一发光元件持续性发光；于该多个光源发光期间，利用一反光元件反射该多个光源的光线；于该多个光源不发光期间擷取一第一图像，以及于该多个光源发光时擷取一第二图像；以及比对该第一图像以及该第二图像并产生一比对结果，以及根据该比对结果判断该发光元件以及该反光元件。其中，该第一图像包含该发光元件的图像，该第二图像包含该反光元件的图像以及该发光元件的图像。
[0009]本发明提供了一种检测触控方法及其光学触控系统，达到多点触控以及避免鬼点发生的效果；即使同时使用发光笔以及反光笔，也不会造成鬼点发生；进一步地，可降低成本以及增加运算速度。
【附图说明】
[0010]图1为现有一光学触控架构的示意图。
[0011 ]图2为本发明实施例的一检测触控流程的示意图。
[0012]图3为本发明实施例一发光笔以及两光源分时发光的示意图。
[0013]图4为本发明实施例一光学触控系统的意图。
[0014]图5为本发明实施例的一检测触控流程的示意图。
[0015]图6为本发明实施例发光笔持续性发光以及两光源周期性发光的示意图。
[0016]图7为本发明实施例一光学触控系统的意图。
[0017]符号说明:
[0018]10光学触控架构
[0019]20、50检测触控流程
[0020]200、202、204、206、208、210 步骤
[0021]S1、S2、S3、S4、S5、S6 时槽
[0022]40、70光学触控系统
[0023]400、700 触控面板
[0024]420,720 发光元件
[0025]440,740 反光元件
[0026]460、760 光源
[0027]480、780 镜头
[0028]490>790 处理单元
[0029]421、493 无线模块
[0030]491、793 控制单元
[0031]492计算单元
[0032]500、502、504、506、508、510 步骤
[0033]791比对单元
[0034]792判断单元
[0035]R比对结果
【具体实施方式】
[0036]请参考图2，图2为本发明实施例的一检测触控流程20的示意图。检测触控流程20可用于一光学触控系统，用来判断以及检测多点触控，而无须增加光学感应器的数量。检测触控流程20包含有下列步骤:
[0037]步骤200:开始。
[0038]步骤202:控制一发光笔以及一触控面板的左右两光源分时发光。
[0039]步骤204:于该左右两光源发光期间，利用一反光笔反射该左右两光源的光线以及擷取一第一图像。
[0040]步骤206:于该发光笔发光期间，擷取一第二图像。
[0041]步骤208:根据该第一图像以及该第二图像计算该发光笔位于该触控面板上的位置以及该反光笔位于该触控面板上的位置。
[0042]步骤210:结束。
[0043]根据检测触控流程20，发光笔以及左右两光源在不同时间间隔周期性发光。也就是说，当左右两光源发光时发光笔不发光，而当发光笔发光时左右两光源不发光。由于反光笔反射左右两光源的光线，当左右两光源发光期间所擷取的第一图像在反光笔的图像处会产生电压强度变化。另一方面，当发光笔发光期间所擷取的第二图像在发光笔的图像处会产生电压强度变化。根据发光笔的图像的电压强度变化以及反光笔的图像的电压强度变化，可分别计算出发光笔以及反光笔在触控面板上的位置。因此，检测触控流程20通过控制发光笔以及左右两光源分时发光以及发光笔和反光笔的架构不同，达到区别发光笔及反光笔，达到多点触控而无须增加光学