一种对amoled进行检测分类的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本申请涉及自动控制技术领域，尤其涉及一种对AMOLED进行检测分类的方法及 装置。
【背景技术】
[0002] 有源矩阵有机发光二极体面板（AMOLED)被称为下一代显示技术，具有反应速度 较快、对比度更高、视角较广等特点。电学检测作为AMOLED生产的后端工艺步骤，对保证出 厂产品质量，分析前端工艺不良起着重要的作用。
[0003] 目前所采用的点灯检测方法，主要依赖人工，在AMOLED点亮后通过人工进行观 察，量产环境下人力需求量大，检测结果容易受到检测人员主观影响，另外，高强度的用眼 也对视力造成损害，使得检测分类速度慢，准确率低。
【发明内容】
[0004] 本申请实施例提供了 一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置，用以实现 AMOLED的自动检测分类，提高工作效率，以及提高AMOLED分类的准确性，避免人工检测误 差以及对人眼的伤害。
[0005] 本申请实施例提供的一种对有源矩阵有机发光二极体面板AMOLED进行检测分类 的方法，包括：
[0006] 将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配；
[0007] 根据匹配结果，对所述AMOLED进行分类。
[0008] 现有技术中是采用人工检测分类，而本申请实施例，通过对AMOLED采集待匹配图 像；将所述待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，根据匹配结果，对AMOLED进行分类， 实现了AMOLED的自动检测分类，提高了工作效率，以及分类的准确性，避免人工检测误差 以及对人眼的伤害。
[0009] 较佳地，所述对AMOLED采集得到的待匹配图像包括：将对AMOLED分别采集得到的 红、绿、蓝、第一灰、第二灰、第三灰、黑七个待匹配图像；
[0010] 所述预设的模板图像库包括优良模板图像库，该优良模板图像库包括红、绿、蓝、 第一灰、第二灰、第三灰、黑七个优良模板图像子库；
[0011] 所述将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，具体包 括：分别将对AMOLED采集到的任一所述待匹配图像与相应颜色的优良模板图像子库进行 匹配；
[0012] 所述根据匹配结果，对AMOLED进行分类，具体包括：当所述七个待匹配图像，与 相应颜色的所述七个优良模板图像子库分别全部匹配时，为该AMOLED设置用于表示该 AMOLED为优良产品的标记。
[0013] 较佳地，所述预设的模板图像库，还包括不良模板图像库，该不良模板图像库中包 括η个不良子库，其中η为大于或等于1的正整数；
[0014] 所述将对AM0LED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，还包括： 当对AM0LED分别采集到的任一所述待匹配图像与相应颜色的优良模板图像子库不匹配 时，将该待匹配图像与不良模板图像库中的不良子库进行匹配；
[0015] 所述根据匹配结果，对AM0LED进行分类，还包括：当对AM0LED分别采集到的待匹 配图像与一不良子库i匹配时，为该AM0LED设置标记i，其中i大于或等于1，且小于或等 于n〇
[0016] 较佳地，所述根据匹配结果，对AM0LED进行分类，还包括：
[0017] 当对AM0LED分别采集到的待匹配图像与任一不良子库均不匹配时，将该待匹配 图像存入不良模板图像库，并确定该待匹配图像所属的不良子库；
[0018] 该方法还包括：重新对该AM0LED进行检测分类。
[0019] 较佳地，所述将对AM0LED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配， 具体包括：
[0020] 计算对所述AM0LED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库中的图像的相似 度，并将该相似度与预设的相似度阈值进行比较。
[0021] 本申请实施例提供的一种对有源矩阵有机发光二极体面板AM0LED进行检测分类 的装置，包括：
[0022] 第一单元，用于将对AM0LED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹 配；
[0023] 第二单元，用于根据匹配结果，对所述AM0LED进行分类。
[0024] 较佳地，所述对AM0LED采集得到的待匹配图像包括：将对AM0LED分别采集得到的 红、绿、蓝、第一灰、第二灰、第三灰、黑七个待匹配图像；
[0025] 所述预设的模板图像库包括优良模板图像库，该优良模板图像库包括红、绿、蓝、 第一灰、第二灰、第三灰、黑七个优良模板图像子库；
[0026] 所述第一单元，具体用于：分别将对AM0LED采集到的任一所述待匹配图像与相应 颜色的优良模板图像子库进行匹配；
[0027] 所述第二单元，具体用于：当所述七个待匹配图像，与相应颜色的所述七个优良模 板图像子库分别全部匹配时，为该AM0LED设置用于表示该AM0LED为优良产品的标记。
[0028] 较佳地，所述预设的模板图像库，还包括不良模板图像库，该不良模板图像库中包 括η个不良子库，其中η为大于或等于1的正整数；
[0029] 所述第一单元，还用于：当对AM0LED分别采集到的任一所述待匹配图像与相应颜 色的优良模板图像子库不匹配时，将该待匹配图像与不良模板图像库中的不良子库进行匹 配；
[0030] 所述第二单元，还用于：当对AM0LED分别采集到的待匹配图像与一不良子库i匹 配时，为该AM0LED设置标记i，其中i大于或等于1，且小于或等于η。
[0031] 较佳地，所述第二单元，还用于：
[0032] 当对AM0LED分别采集到的待匹配图像与任一不良子库均不匹配时，将该待匹配 图像存入不良模板图像库，并确定该待匹配图像所属的不良子库；并触发第一单元重新对 该AM0LED进行检测分类。
[0033] 较佳地，所述第一单元将对AM0LED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库 进行匹配，具体是指：所述第一单元计算对所述AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模 板图像库中的图像的相似度，并将该相似度与预设的相似度阈值进行比较。
【附图说明】
[0034] 图1为本申请实施例提供的一种对AMOLED进行检测分类的方法的流程示意图；
[0035] 图2为本申请实施例提供的对AMOLED进行检测分类的原理示意图；
[0036] 图3为本申请实施例提供的一种对AMOLED进行检测分类的具体流程示意图；
[0037] 图4为本申请实施例提供的一种对AMOLED进行检测分类的装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0038] 本申请实施例提供了 一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置，用以实现 AMOLED的自动检测分类，提高工作效率，以及提高AMOLED分类的准确性，避免人工检测误 差以及对人眼的伤害。
[0039] 针对目前电学检测都用利用人工检测方式，检测结果具有操作人员的主观思想， 眼睛长期观察显示器件容易产生视觉疲劳，造成结果会误判的现象，本申请实施例提供的 技术方案，是一种基于相似度匹配的AMOLED电学检测自动分类方案。与现有