器件参数的确定方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及电子设计领域，并且特别地，设计一种器件参数的确定方法和装置。
【背景技术】
[0002] 在确定电子器件或电子器件组成的电路的实际性能时，需要参照各种参数。通常 情况下，会借助与器件或电路对应的工业标准仿真模型（例如，可W参照BSIM模型）来确 定器件或电路的参数。但是，工业标准仿真模型是预先给定的，其中的参数均是理想情况下 的参数值。而在产品的实际制造当中，会因为很多因素导致产品的实际参数相对于模型中 的参数出现偏差。
[0003] 在根据模型中的理想参数值评估器件或电路的性能时，由于实际参数值与理想参 数值之间的差异，所W必然将导致评估的结果与实际的客观结果之间存在差异，进而降低 了评估的准确性。
[0004] 针对相关技术中器件或电路评估准确性较低的问题，目前尚未提出有效的解决方 案。
【发明内容】
[0005] 针对相关技术中器件或电路评估准确性较低的问题，本发明提出一种器件参数的 确定方法和装置，能够更加客观地确定器件参数，有助于提高器件或电路评估结果的准确 性。
[0006] 本发明的技术方案是送样实现的：
[0007] 根据本发明的一个方面，提供了 一种器件参数的确定方法。
[0008] 根据本发明的器件参数的确定方法包括：
[0009] 获取器件的第一类型的参数的第一参数值；
[0010] 从预先配置的对应于器件的模型中获取第一类型的参数的参考值、W及参考值与 第二类型的参数的参考值之间的对应关系；
[0011] 根据对应关系、W及第一参数值，确定器件的第二类型的参数的第二参数值。
[0012] 其中，上述对应关系包括第一类型的参数的多个参考值与第二类型的参数的多个 参考值之间的 对应关系。
[0013] 并且，在确定第二参数值时，根据一一对应关系确定第一类型的参数的参考值与 第二类型的参数的参考值之间的变化关系，并根据变化关系、W及第一参数值与第一类型 的参数的至少一个参考值之间的差，确定第二参数值。
[0014] 并且，该方法可W进一步包括：
[0015] 从模型中获取第一类型的参数的参考值与第Η类型的参数的参考值之间的对应 关系，并根据该对应关系、W及第一参数值，确定器件的第Η类型的参数的第Η参数值。
[0016] 另外，该方法可W进一步包括：
[0017] 从模型中获取第二类型的参数的参考值与第四类型的参数的参考值之间的对应 关系，并根据该对应关系、w及第二参数值，确定器件的第四类型的参数的第四参数值。
[0018] 此外，该方法还可W进一步包括：
[0019] 根据器件的尺寸、W及器件的参数随尺寸而改变的变化关系，确定其他尺寸的器 件参数。
[0020] 该方法可W进一步包括：
[0021] 根据第一参数值和第二参数值确定器件、和/或由器件组成的电路的性能。
[0022] 根据本发明的另一方面，还提供了 一种器件参数的确定装置。
[0023] 该装置包括；第一获取模块，用于获取器件的第一类型的参数的第一参数值；第 二获取模块，用于从预先配置的对应于器件的模型中获取第一类型的参数的参考值、W及 参考值与第二类型的参数的参考值之间的对应关系；确定模块，用于根据对应关系、W及第 一参数值，确定器件的第二类型的参数的第二参数值。
[0024] 其中，对应关系包括第一类型的参数的多个参考值与第二类型的参数的多个参考 值之间的一一对应关系。
[0025] 并且，在确定第二参数值时，确定模块用于根据一一对应关系确定第一类型的参 数的参考值与第二类型的参数的参考值之间的变化关系，并根据变化关系、W及第一参数 值与第一类型的参数的至少一个参考值之间的差，确定第二参数值。
[0026] 本发明通过根据模型中包含的参数间的关系W及器件的某个参数的实际参数值 来确定其他参数值，从而能够得到器件的多个参数值，能够在无需对器件进行复杂的测量 的情况下，客观地获得器件的多个参数，有助于对器件或电路的实际情况进行更加准确的 评估。
【附图说明】
[0027] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所 需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施 例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W根据送些附图获 得其他的附图。
[002引图1是根据本发明实施例的器件参数的确定方法的流程图；
[0029] 图2是根据本发明实施例的方法中推导器件参数的确定原理示意图；
[0030] 图3是根据本发明实施例的器件参数的确定装置的框图；
[0031] 图4是实现本发明技术方案的计算机的示例性结构框图。
【具体实施方式】
[0032] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的 范围。
[0033] 根据本发明的实施例，提供了 一种器件参数的确定方法。
[0034] 如图1所示，根据本发明实施例的器件参数的确定方法包括：
[0035] 步骤S101，获取器件的第一类型的参数的第一参数值（该第一参数值可W时产品 的实际参数值，可w通过实际测量得到）；
[0036] 步骤S103,从预先配置的对应于器件的模型中获取第一类型的参数的参考值、W 及参考值与第二类型的参数的参考值之间的对应关系；
[0037] 步骤S105,根据对应关系、W及第一参数值，确定器件的第二类型的参数的第二参 数值。
[0038] 本发明的上述参数可W是器件的多种参数，例如，可W包括但不限于器件的直流 值C)电学参数巧-parameter)、交流（AC)电学参数，还可W是其他参数、也可W是多种参数 的组合。
[0039] 其中，上述对应关系包括第一类型的参数的多个参考值与第二类型的参数的多个 参考值之间的一一对应关系。
[0040] 并且，在确定第二参数值时，根据一一对应关系确定第一类型的参数的参考值与 第二类型的参数的参考值之间的变化关系，并根据变化关系、W及第一参数值与第一类型 的参数的至少一个参考值之间的差，确定第二参数值。
[0041] 例如，参照图2所示，假设模型中提供了 A类型的参数的多个参数值（参考值） A1-A4、W及与之对应的B类型的参数的多个参数值（参考值）B1-B4,其中，由于器件本身的 特性，模型中记录了当器件的A参数值为A1时，B参数的值为B1 ;当器件的A参数值为A2 时，B参数的值为B2 ;当器件的A参数值为A3时，B参数的值为B3 ;当器件的A参数值为A4 时，B参数的值为B4。也就是说，A1与B1、A2与B2、A3与B3、A4与B4分别具有--对应 关系。
[0042] 如果对该模型所对应型号的实际器件在某一测试条件下测量A参数后，确定参数 A的实际值为A'。此时，根据模型中A参数与B参数的变化关系（例如，可W根据A1与A2 之间的变化率），确定与A'对应的B参数的参数值B'。因此，借助于本发明的方案，确定的 参数B'是根据模型中的变化关系确定的，因此其数值至少是较为准确的，在对器件或器件 组成的电路进行评估时，可W参考参数A' W及依据模型确定的参数B'，评估的准确率显然 高于直接参考模型中给出的多个参考值。
[0043] 并且，在实际应用中，当需要依靠更多的参数进行评估时，采用本发明的方案后， 将省去对器件进行复杂测量，只需根据模型进行确定就能够得到准确的参数值。
[0044] 在一个实施例中，该方法可W进一步包括：
[0045] 从模型中获取第一类型的参数的参考值与第Η类型的参数的参考值之间的对应 关系，并根据该对应关系、W及第一参数值，确定器件的第Η类型的参数的第Η参数值。也 就是说，对于该器件的其他类型的参数，如果模型中提供了该类型的参数与第一类型的参 数之间的关系，都可W参照上述方式来来确定。
[0046] 在另一实施例中，该方法可W进一步包括：
[0047] 从模型中获取第二类型的参数的参考值与第四类型的参数的参考值之间的对应 关系，并根据该对应关系、W及第二参数值，确定器件的第四类型的参数的第四参数值。也 就是说，在能够确定器件的第一类型的参数的情况下，对于该器件的第四类型的参数，即使 模型中并未提供第四类型的参数与第一类型的参数之间的关系，但是，只要该模型提供了 第一类型的参数与第二类型的参数之间的关系、W及第二类型的参数与第四类型的参数， 郝么就可W根据上述两个关系先确定的第二类型的参数进而确定第四类型的参数，如此确 定的参数值同样参照了模型中给定的关