择的功能，将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能，依据上述举例，假设A功能的测试优先值为4800，所述待测软件中的B功能的测试优先值为2200，C功能的测试优先值为2500等，则对待测软件中的各个功能的测试优先值进行排序，优选的按照测试优先值的数值大小进行排序，以供用户进行选择，所述功能设定子单元1115将用户所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能，需要说明的是，待测功能也可以为辅助功能，即待测功能与辅助功能可能为相同的功能。
[0096]可以理解的是，待测功能为用户自行选择的针对测试软件的待测点，而对辅助功能进行设定，可以确定哪些功能为高危功能，通过结合辅助功能对待测功能进行测试，可以达到确定待测功能的测试范围的效果。
[0097]方法集确定单元112，用于分别计算所述待测功能中各个测试方法的测试效果值，并根据所述各个测试方法的测试效果值确定所述待测功能所采用的待测方法集；
[0098]具体实现中，所述方法集确定单元112获取所述待测功能中各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量，并获取所述各个测试方法所检测的第二级别缺陷的数量，所述方法集确定单元112按照第一级别的属性和第二级别的属性，并根据所述各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量，计算所述各个测试方法的测试效果值，所述方法集确定单元112对所述各个测试方法的测试效果值进行排序，并获取根据排序后的所述各个测试方法的测试效果值所选择的至少一个测试方法，根据所述所选择的至少一个测试方法生成所述待测功能所采用的待测方法集。
[0099]具体的，请一并参见图7，为本发明实施例提供了方法集确定单元的结构示意图。如图7所示，所述方法集确定单元112可以包括:
[0100]第二数量获取子单元1121，用于获取所述待测功能中各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量，并获取所述各个测试方法所检测的第二级别缺陷的数量；
[0101]具体实现中，所述第二数量获取子单元1121可以获取所述待测功能中各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量，并同时获取所述待测功能中各个测试方法所检测的第二级别缺陷的数量，可以理解的是，在获取第一级别缺陷和第二级别缺陷的过程中，用户可以针对待测功能使用多种测试方法对所述待测功能进行测试，例如:取消法、重复法等，因此所述第二数量获取子单元1121获取各个测试方法在所述历史时间段内发现的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量。
[0102]效果值计算子单元1122，用于按照第一级别的属性和第二级别的属性，并根据所述各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量，计算所述各个测试方法的测试效果值；
[0103]具体实现中，所述效果值计算子单元1122可以按照所述第一级别的属性和所述第二级别的属性，并根据所述各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量，计算所述各个测试方法的测试效果值，优选的，所述效果值计算子单元1122可以采用测试效果值计算公式对各个测试方法的测试效果值进行计算，所述测试效果值计算公式为:(第一级别缺陷的数量*权值3+第二级别缺陷的数量*权值4)，权值3和权值4为根据所述第一级别的属性和第二级别的属性分别进行定义的，为了突出第一级别缺陷的权重，权值3需要大于权值4，权值3和权值4的值具体可以有用户自行定义，若用户未定义，所述软件测试设备可以对权值3和权值4设置默认值。假设针对所述待测功能，采用X测试方法在历史时间段内发现的第一级别缺陷的数量为6，第二级别缺陷的数量为5，权值3为20，权值4为1，则X测试方法的测试效果值为(6*20+5*1) = 125。
[0104]方法集生成子单元1123，用于对所述各个测试方法的测试效果值进行排序，并获取根据排序后的所述各个测试方法的测试效果值所选择的至少一个测试方法，根据所述所选择的至少一个测试方法生成所述待测功能所采用的待测方法集；
[0105]具体实现中，所述方法集生成子单元1123可以对所述各个测试方法的测试效果值进行排序，并获取根据排序后的所述各个测试方法的测试效果值所选择的至少一个测试方法，根据所述所选择的至少一个测试方法生成所述待测功能所采用的待测方法集，假设X测试方法的测试效果值为125，Y测试方法的测试效果值为110，Z测试方法的测试效果值为130等，优选的，可以按照所述各个测试方法的测试效果值的数值大小进行排序，以供用户进行选择，并获取用户所选择的至少一个测试方法，依据所选择的至少一个测试方法生成所述待测功能所采用的待测方法集。
[0106]可以理解的是，通过提供针对待测功能的各个测试方法的测试效果值，可以为用户在对测试方法进行选择时提供依据，保证测试方法在测试过程中的高效性。
[0107]场景数计算单元113，用于根据所述待测软件的历史测试信息以及所述待测方法集中各个待测方法的测试效果值计算所述各个待测方法的测试场景数；
[0108]具体实现中，所述场景数计算单元113备根据所述待测软件的历史测试信息以及所述待测方法集中的各个待测方法的测试效果值计算所述各个待测方法的测试场景数，所述历史测试信息包括至少一个历史测试任务中各个历史测试任务的历史测试场景的执行完成度和所述各个历史测试任务完成的历史测试场景的数量，所述各个历史测试任务用于指示对所述待测软件中至少一个待测功能进行历史测试，可以理解的是，针对单个历史测试任务，可以包括对一个或多个待测功能进行测试的过程，同时，在预设时间段内(例如1天内)，可以进行多个历史测试任务。
[0109]具体实现中，请一并参见图8，为本发明实施例提供了场景数计算单元的结构示意图。如图8所示，所述场景数计算单元113可以包括:
[0110]第三数量获取子单元1131，用于在所述各个历史测试任务中获取历史测试场景的执行完成度小于预设阈值的至少一个第一测试任务，并获取所述至少一个第一历史测试任务中各个第一测试任务完成的历史测试场景的数量；
[0111]预期场景数生成子单元1132，用于对所述各个第一测试任务完成的历史测试场景的数量进行排序，并根据排序得到的数量队列生成预期测试场景数；
[0112]具体实现中，所述第三数量获取子单元1131在所述各个历史测试任务中获取历史测试场景的执行完成度小于预设阈值的至少一个第一测试任务，并获取所述至少一个第一历史测试任务中各个第一测试任务完成的历史测试场景的数量，所述预期场景数生成子单元1132对所述各个第一测试任务完成的历史测试场景的数量进行排序，并根据排序得到的数量队列生成预期测试场景数，优选的，按照数量的数值大小从大到小进行排序，通过获取排序后的数量队列，获取该数量队列的位于80%至50%的位置上的历史测试场景的数量，例如:假设有30个历史测试任务，其中属于第一测试任务的有20个，则在排序后，获取第10个第一测试任务到第16个第一测试任务的历史测试场景的数量，并对这些数量的数值进行求和，取其平均数作为所述预期测试场景数。通过选取80 %至50 %的位置上的历史测试场景的数量，可以保证预期测试场景数的合理性。
[0113]测试场景数计算子单元1133，用于根据所述各个待测方法的测试效果值、所述待测方法集的测试效果值的总和以及所述预期测试场景数，计算所述各个待测方法的测试场景数；
[0114]具体实现中，所述测试场景数计算子单元1133根据所述各个待测方法的测试效果值、所述待测方法集的测试效果值的总和以及所述预期测试场景数，计算所述各个待测方法的测试场景数，优选的，可以采用测试场景数计算公式对各个待测方法的测试场景数进行计算，所述测试场景数计算公式为:(某待测方法的测试效果值/待测方法集的测试效果值的总和)*预期测试场景数，依据上述举例，假设选取了 X测试方法、Y测试方法、Z测试方法为待测方法，预期测试场景数计算为10，则针对X测试方法的测试场景数为[125/(125+110+130) ]*10约等于3个，以此类推。
[0115]可以理解的是，在单个历史测试任务中，针对一个或多个待测功能可以分别设计多个测试场景，然后由于时间的限制，往往无法采用所有的测试场景进行测试，因此，通过选取未完成所有测试场景的历史测试任务，并取其所完成的测试场景的数量进行排序，通过选取排序后的中间位置的数量的数值，可以保证预期测试场景数的合理性，同时预期测试场景数可以推荐给用户进行参考，用户可以根据预期测试场景数进行上下浮动调整，使得预期测试场景数具备可调性，进一步提升了各个待测方法的测试场景数的合理性。
[0116]设计时长获取单元114，用于根据所述各个历史测试任务的历史测试场景的设计时长获取所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长；
[0117]具体实现中，所述历史测试信息还可以包括所述各个历史测试任务的历史测试场景的设计时长，所述测试任务信息还可以包括所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长，可以理解的是，所述当前测试任务的定义可以参见对历史测试任务的定义，采用当前和历史仅为区分测试任务的发生的时序性，即，当前对待测功能进行的测试过程属于当前测试任务中的一个测试过程，而历史测试任务为当前测试任务之前所发生的测试任务，例如当前测试任务发生在X月10日，则历史测试任务发生在X月9日，在X月10日所发生的所有测试任务均认为是当前测试任务。所述软件测试设备1可以根据所述各个历史测试任务的历史测试场景的设计时长获取所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长。
[0118]进一步的，所述设计时长获取单元114可以对所述各个第一测试任务的历史测试场景的设计时长进行排序，并根据排序得到的时长队列生成所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长，例如在X月10日中所进行的各个当前测试任务的待测场景的设计时长，均采用排序得到的时长队列所生成的设计时长。优选的，按照各个第一测试任务的历史测试场景的实际的设计时长的数值从大到小进行排序，当获取到排序后的时长队列，获取该时长队列的位于80%至50%的位置上的设计时长，对这些位置上的设计时长的数值进行求和，取其平均数作为所述当前测试任务的待测场景的设计时长。需要说明的是，设计时长的数值会在预设的一个时间段后时效，例如:在乂月10日中所进行的各个当前测试任务的待测场景的设计时长均依据X月9日的各个第一测试任务的历史测试场景的实际的设计时长所计算得出，而到了 X月11日中所进行的各个当前测试任务的待测场景的设计时长均依据X月10日的各个第一测试任务的历史测试场景的实际的设计时长所计算得出。
[0119]具体的，请一并参见图9，为本发明实施例提供了设计时长获取单元的结构示意图。如图9所示，所述设计时长获取单元114可以包括:
[0120]设计时长排序子单元1141，用于对所述各个第一测试任务的历史测试场景的设计时长进彳丁排序；
[0121]设计时长生成子单元1142，用于根据排序得到的时长队列生成所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长；
[0122]具体实现中，所述历史测试信息还可以包括所述各个历史测试任务的历史测试场景的设计时长，所述测试任务信息还可以包括所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长，可以理解的是，所述当前测试任务的定义可以参见对历史测试任务的定义，采用当前和历史仅为区分测试任务的发生的时序性，即，当前对待测功能进行的测试过程属于当前测试任务中的一个测试过程，而历史测试任务为当前测试任务之前所发生的测试任务，例如当前测试任务发生在X月10日，则历史测试任务发生在X月9日，在X月10日所发生的所有测试任务均认为是当前测试任务。所述软件测试设备1可以根据所述各个历史测试任务的历史测试场景的设计时长获取所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长。
[0123]进一步的，所述设计时长排序子单元1141可以对所述各个第一测试任务的历史测试场景的设计时长进行排序，所述设计时长生成子单元1142根据排序得到的时长队列生成所述待测功能所属当前测试任务的待测场景的设计时长，例如在X月10日中所进行的各个当前测试任务的待测场景的设计时长，均采用排序得到的时长队列所生成的设计时长。优选的，按照各个第一测试任务的历史测试场景的实际的设计时长的数值从大到小进行排序，当获取到排序后的时长队列，获