防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法及装置的制造方法

文档序号:9708637阅读:360来源:国知局
防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及植入式脑深部电刺激系统技术领域,尤其涉及一种防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法及装置。
【背景技术】
[0002]电刺激疗法是使用低频电流刺激市区神经控制的神经、肌肉及其它靶器官,以达到防止肌肉萎缩、促进神经再生、缓解疼痛、改善器官及肌体功能的方法。随着微电子技术、通信技术、材料技术以及生物等技术的发展,电刺激已经由传统的经皮刺激逐步发展到植入式电刺激阶段。与经皮刺激相比,植入式电刺激具有刺激定位准确、治疗效果好、刺激电流小、疼痛感轻等优点。
[0003]脑深部电刺激器(Deep Brain Stimulat1n,DBS)是一种可编程的植入式脉冲电刺激器,接收从体外传递的参数,并根据参数执行预设的程序,刺激相关靶点以达到医学治疗的目的。由于程序被事先存储在脑深部电刺激器的存储器中,一些不法商家会通过反向破解方式获取程序,牟取私利。

【发明内容】

[0004]有鉴于此,本发明实施例提供一种防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法及装置,以解决脑深部电刺激系统程序易被反向破解的技术问题。
[0005]第一方面,本发明实施例提供了一种防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法,包括:
[0006]在检测到上电复位中断时,获取系统上电复位次数;
[0007]将系统上电复位次数与预设的复位次数阈值进行比较,在所述系统上电复位次数大于预设的复位次数阈值时,执行预设的死循环程序。
[0008]进一步的,在获取系统上电复位次数后,还包括:
[0009]在所述系统上电复位次数不大于预设的复位次数阈值时,更新系统上电复位次数,并保存更新后的系统上电复位次数。
[0010]进一步的,所述获取系统上电复位次数,包括:
[0011]读取上电计数寄存器中存储的上电复位次数;
[0012]所述更新系统上电复位次数,并保存更新后的系统上电复位次数,包括:
[0013]将读取上电计数寄存器中存储的数据加一,并存入上电计数寄存器中。
[0014]进一步的,述检测上电复位中断,包括:
[0015]通过读取复位标志判断复位中断是否为上电复位中断。
[0016]进一步的,将系统上电复位次数与预设的复位次数阈值进行比较后,执行预设的死循环程序之前,还包括:
[0017]判断权限软件是否通过验证;
[0018]所述执行预设的死循环程序,包括:
[0019]在权限软件通过验证时,正常运行系统程序;
[0020]在权限软件未通过验证时,执行预设的死循环程序。
[0021]第二方面,本发明实施例还提供了一种防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的装置,包括:
[0022]复位次数获取模块,用于在检测到上电复位中断时,获取系统上电复位次数;
[0023]比较模块,用于将系统上电复位次数与预设的复位次数阈值进行比较,在所述系统上电复位次数大于预设的复位次数阈值时,执行预设的死循环程序。
[0024]进一步的,所述装置还包括:
[0025]复位次数更新模块,用于在所述系统上电复位次数不大于预设的复位次数阈值时,更新系统上电复位次数,并保存更新后的系统上电复位次数。
[0026]进一步的,所述复位次数获取模块包括:
[0027]数据读取单元,用于读取上电计数寄存器中存储的上电复位次数;
[0028]相应的,所述复位次数更新模块,用于:
[0029]将读取上电计数寄存器中存储的数据加一,并存入上电计数寄存器中。
[0030]进一步的,所述复位次数获取模块,用于:
[0031 ]通过读取复位标志判断复位中断是否为上电复位中断。
[0032]更进一步的,所述系统还包括:
[0033]验证判断模块,用于判断权限软件是否通过验证;
[0034]所述比较模块,用于:
[0035]在权限软件通过验证时,正常运行所述程序;
[0036]在权限软件未通过验证时,引导程序执行预设的死循环程序。
[0037]本发明实施例提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法及装置,通过在植入式脑深部电刺激系统上电复位中断时,将系统上电复位次数与预设的复位次数阈值,确定是否为非法反向破解,在确定为非法反向破解时将程序转入死循环程序运行,使非法反向破解无法继续执行,保护了开发者的权益。
【附图说明】
[0038]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
[0039]图1是本发明实施例一提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法的流程示意图;
[0040]图2是本发明实施例二提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法的流程示意图;
[0041]图3是本发明实施例三提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法的流程示意图;
[0042]图4是本发明实施四例提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法的流程示意图;
[0043]图5是本发明实施例五提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0044]下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。
[0045]实施例一
[0046]图1为本发明实施例一提供的防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的方法的流程图,本实施例可适用于防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的情况,该方法可以由防止植入式脑深部电刺激系统程序被破解的装置来执行,该装置可由软件/硬件方式实现,并集成于植入式脑深部电刺激系统中。
[0047]所述方法具体包括如下步骤:
[0048]步骤110,在检测到上电复位中断时,获取系统上电复位次数。
[0049]植入式脑深部电刺激系统在出厂后,一般会通过经销商进行销售,医院在购买后通过手术等方式将脑深部电刺激系统植入到人体中。由于植入式脑深部电刺激系统属于医疗设备,在此过程中,每一台植入式脑深部电刺激系统都会收到严格的管理和控制,不会流入到不法商家手中。而一旦脑深部电刺激系统从患者中取出,脑深部电刺激系统就不在管控范围之内,不法商家可以利用此漏洞获取到脑深部电刺激系统进行反向研究。在对脑深部电刺激系统进行反向研究时,需要破坏封装,然后借助半导体测试设备、显微镜和微定位器,在专门的实验室花上几小时甚至几周时间才能完成。将脑深部电刺激系统进行拆解,以获取程序相关信息。在完成拆解后,需要重新复位脑深部电刺激系统,在进行复位时,脑深部电刺激系统中的CPU会产生上电复位中断。在检测到上电复位中断时,读取存储的上电复位次数。
[0050]步骤120,将系统上电复位次数与预设的复位次数阈值进行比较,在所述系统上电复位次数大于预设的复位次数阈值时,执行预设的死循环程序。
[0051]—般来说,系统上电复位用来是系统恢复到初始设置状态,在在脑深部电刺激系统植入到患者体内时,一般无需上电复位植入式脑深部电刺激系统。植入式
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