芯片前端仿真检测方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001 ]本发明涉及芯片前端仿真检测领域。
【背景技术】
[0002] 如图1所示，现有的一种芯片前端仿真检测装置，包括:一个驱动单元110,两个监 测单元121和122,一个参考模型单元130,一个比对单元140。其中，驱动单元110用于生成输 入数据，并将输入数据发送至待检测芯片。两个监测单元中，一个监测单元121用于获取待 检测芯片的输入数据，并将输入数据发送至参考模型单元;另一个监测单元122用于获取待 检测芯片的输出数据，并将输出数据发送至比对单元。参考模型单元130用于模拟待检测芯 片的行为对输入数据进行处理，以得到该待检测芯片应该输出的正确的输出数据(为方便 描述，后续将参考模型单元生成的数据称为参考数据），并将参考数据发送至比对单元140。 比对单元140用于将参考数据与输出数据进行比较，若参考数据与输出数据一致，则确定该 芯片前端仿真检测通过，否则确定该芯片前端仿真检测不通过。
[0003] 上述监测单元122与比对单元140和参考模型单元130与比对单元140的通信是通 过传输线模型端口（transmission line model port,TLM port)来实现的。当驱动单元110 生成多个类型的输入数据时，则监测单元122与比对单元140和参考模型单元130与比对单 元140需要针对不同类型的数据分别建立TLM port进行数据传输，并且，比对单元140需要 接收多个类型的数据分别进行比较。建立TLM port和对多个类型的数据进行比较，需要通 过在芯片前端仿真检测装置输入代码来实现。
[0004] 例如，驱动单元110生成3个类型的输入数据时，则监测单元122与比对单元140和 参考模型单元130与比对单元140需要针对3个类型的数据分别建立TLM port进行数据传 输，即需要建立6个TLM port，每建立一个TLM port需要输入一段代码来实现。比对单元140 需要接收3个类型的数据分别进行比较。每个类型的数据的比较需要输入一段代码来实现。
[0005] 这种检测方式会造成芯片前端仿真检测装置所需要的代码量增加，非常不利于芯 片前端仿真检测装置重用和维护。
【发明内容】
[0006] 有鉴于此，本发明实施例提供一种芯片前端仿真检测方法及装置，可有效减少芯 片前端仿真检测装置所需的代码量，便于芯片前端仿真检测装置的重用和维护。
[0007] 第一方面，本发明实施例提供一种芯片前端仿真检测装置，所述装置包括：
[0008] 第一监测单元，用于获取芯片的至少两个类型的输入数据，并将所述至少两个类 型的输入数据发送至参考模型单元；
[0009] 所述参考模型单元，用于模拟所述芯片分别处理所述至少两个类型的输入数据， 得到至少两个类型的参考数据，并提取所述至少两个类型的参考数据的最大公约集合生成 参考组合数据，将所述参考组合数据发送至比对单元；
[0010] 第二监测单元，用于获取所述芯片输出的至少两个类型的输出数据，提取所述至 少两个类型的输出数据的最大公约集合生成输出组合数据，将所述输出组合数据发送至所 述比对单元；
[0011] 所述比对单元，用于若所述参考组合数据与所述输出组合数据一致，则确定所述 芯片前端仿真检测通过。
[0012] 优选地，所述参考模型单元，还用于通知所述比对单元所述参考组合数据对应的 所述至少两个类型；所述第二监测单元，还用于通知所述比对单元所述输出组合数据对应 的所述至少两个类型。
[0013] 优选地，所述比对单元，具体用于针对所述至少两个类型中的每一个类型，从所述 输出组合数据中获取该类型对应的输出数据，从所述参考组合数据中获取该类型对应的参 考数据，比较该类型对应的输出数据和参考数据是否一致;如果每个类型对应的输出数据 和参考数据分别一致，则确定所述芯片前端仿真检测通过。
[0014] 优选地，所述至少两个类型包括以下类型中的至少两个：I/Q路数据、复数数据和 实数数据。
[0015] 优选地，所述装置还包括:驱动单元，用于生成所述至少两个类型的输入数据，并 将所述两个类型的输入数据发送至所述芯片。
[0016] 第二方面，本发明实施例提供一种芯片前端仿真检测方法，所述方法包括：
[0017] 获取芯片的至少两个类型的输入数据，并模拟所述芯片分别处理所述至少两个类 型的输入数据，得到至少两个类型的参考数据，提取所述至少两个类型的参考数据的最大 公约集合生成参考组合数据；
[0018] 获取所述芯片输出的至少两个类型的输出数据，提取所述至少两个类型的输出数 据的最大公约集合生成输出组合数据；
[0019] 若所述参考组合数据与所述输出组合数据一致，则确定所述芯片前端仿真检测通 过。
[0020] 优选地，所述若所述参考组合数据与所述输出组合数据一致，则确定所述芯片前 端仿真检测通过具体包括:针对所述至少两个类型中的每一个类型，从所述输出组合数据 中获取该类型对应的输出数据，从所述参考组合数据中获取该类型对应的参考数据，比较 该类型对应的输出数据和参考数据是否一致;如果每个类型对应的输出数据和参考数据分 别一致，则确定所述芯片前端仿真检测通过。
[0021] 优选地，所述至少两个类型包括以下类型中的至少两个：I/Q路数据、复数数据和 实数数据。
[0022] 通过利用本发明实施例提供的芯片前端仿真检测装置及方法，该芯片前端仿真检 测装置的参考模型单元提取至少两个类型的参考数据的最大公约集合生成参考组合数据， 将参考组合数据发送至比对单元，第二监测单元提取至少两个类型的输出数据的最大公约 集合生成输出组合数据，将输出组合数据发送至比对单元。也就是说，第二监测单元和比对 单元之间传输的数据只有输出组合数据，比对单元和参考模型单元之间传输的数据只有参 考组合数据，因此第二监测单元和比对单元之间只需要建立一个TLM port进行传输数据， 比对单元和参考模型单元之间只需要建立一个TLM port进行传输数据。并且，比对单元140 仅需要对参考组合数据与所述输出组合数据进行比较。因此，本发明实施例提供的芯片前 端仿真检测方法及装置，可有效减少芯片前端仿真检测装置所需的代码量，便于芯片前端 仿真检测装置的重用和维护。
【附图说明】
[0023] 图1为本发明实施例提供的一种芯片前端仿真检测装置的结构示意图；
[0024] 图2为本发明实施例提供的一种芯片前端仿真检测方法的流程示意图
【具体实施方式】
[0025]为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进 一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例，而不是全部的实施 例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的 所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0026] 本发明实施例提供的芯片前端仿真检测装置与现有的芯片前端仿真检测装置结 构相同，在结构上无需做任何改动，仅需要优化模拟单130元，监测单元122(即第二监测单 元)和比对单元140的功能即可。
[0027] 在本实施例仅针对驱动单元110生成至少两个类型的输入数据为例进行说明。驱 动单元110生成一个类型的输入数据的情况，本实施例提供的芯片前端仿真检测装置的监 测过程与现有的芯片前端仿真检测装置相同，在此不再赘述。
[0028] 本发明实施例中，驱动单元110生成至少两个类型的输入数据，并将该至少两个类 型的输入数据发送至待检测的芯片(本方便描述本实施例中后续简称芯片）。
[0029] 其中，至少两个类型包括以下类型中的至少两个：I/Q路数据、复数数据和实数数 据。需要说明的是，该类型不仅限于此，所有可以表示数据类型的类型均在本发明的保护范 围内。
[0030] 监测单元121用于获取芯片的至少两个类型的输入数据，并将该至少两个类型的 输入数据发送至参考模型单元130。
[0031]参考模型单元130用于模拟芯片分别处理该至少两个类型的输入数据，得到至少 两个类型的参考数据，并提取该至少两个类型的参考数据的最大公约集合生成参考组合数 据，将该参考组合数据发送至比对单元140。
[0032] 进一步地，参考模型单元130还用于通知比对单元140该参考组合数据对应的至少 两个类型。
[0033]监测单元122用于获取芯片输出的至少两个类型的输出数据，提取该至少两个类 型的输出数据的最大公约集合生成输出组合数据，将该输出组合数据发送至比对单元140。 [0034] 进一步地，监测单元122还用于通知比对单元140该输出组合数据对应的至少两个 类型。
[0035] 比对单元140用于若该参考组合数据与该输出组合数据一致，则确定该芯片前端 仿真检测通过。
[0036] 进一步地，比对单元140具体用于针对该至少两个类型中的每一个类型，从该输出 组合数据中获取该类型对应的输出数据，从该参考组合数据中获取该类型对应的参考数 据，比较该类型对应的输出数据和参考数据是否一致;如果每个类型对应的输出数据和参 考数据分别一致，则确定该芯片前端仿真检测通过。
[0037] 在一个具体的例子中，驱动单元110生成三个类型的输入数据，三个类型分别为1/ Q路数据(为描述方便，后续简称A类型）、复数数据(为描述方便，后续简称B类型）和实数数 据(为描述方便，后续简称C类型）。驱动单元110将A类型输入数据，B类型输入数据，C类型输 入数据发送至芯片。
[0038] 监测单元121获取芯片的A类型输入数据，B类型输入数据，C类型输入数据，并将获 取到的A类型输入数据，B类型输入数据，C类型输入数据发送至参考模型单元130。
[0039]参考模型单元130模拟芯片分别处理该A类型输入数据，B类型输入数据，C类型输 入数据，得到A类型参考数据，B类型参考数据和C类型参考数据，并提取A类型参考数据，B类 型参考数据和C类型参考数据的最大公约集合生成参考组合数据，将该参考组合数据发送 至比对单元140。
[0040] 进一步地，参考模型单元130还通知比对单元140该参考组合数据对应的三个类 型，即A类型，B类型和C类型。
[0041] 在此过程中，参