专利名称：利用可编程命令校准远程无键输入系统中定时电路的设备和方法
相关申请的交叉参考下面共同悬而未决且同样转让的美国专利申请已经与此申请在同一天被申请。这些申请的每一个都进一步描述了在本申请中公开的当前优选实施例的其他部分并且与之相关，然后它们全部被参考结合。
2001年9月28日提交的美国专利申请序列号为09/967,339、名称为“Apparatus and Method for Calibrating a Keyless Transmitter，”(校准一个无键发射机的设备和方法)，代理人参考号9367/6。
2001年9月28日提交的美国专利申请序列号09/967,330、名称为“Apparatus and Method for Timing an Output of a Remote KeylessEntry System，”(对一个远程无键输入系统的输出进行定时的设备和方法)，代理人参考号9367/8。
一种无键输入系统(“RKE”)允许用户使用一个发射机锁门或开门、发出警铃、安排座位以及镜子位置、打开箱子和/或执行其他功能。发明背景在无键输入系统中，一个或多个唯一识别的代码被编程到该接收机中。在这些无键输入系统中，发射机和接收机使用一个已定义的通信协议。该通信协议定义比特流的定时和容忍度。发射机可以包括按照一个通信协议进行发射的一个微处理器。在一些无键输入系统中，需要一个外部振荡器来提供一个稳定又精确的时钟基准给该微处理器。这些振荡器电路可以包含多个部分，这多个部分包括一个外部晶体或一个外部共鸣器。
在一些例子中，包括一个外部晶体或一个外部共鸣器在内的多个部分例如可以减少耐用性并增加制造的复杂性、尺寸、成本以及一些无键输入系统的装配成本。当一个大数目的无键输入系统被制造和/或被装配时这些无键输入系统增加的成本会特别高。
图1是目前优选实施例的框图。
图2示说明振荡器中断的可仿效图。
图3是由优选发射机产生的优选数字数据流的可仿效定时图。
图4-6是优选发射机的优选校准分程序的流程图。
图7-9是优选测试装置的优选操作的流程图。
图10A和10B是目前优选测试装置和目前优选发射机的选择输出的可仿效图。
图11是由优选发射机产生的优选数字数据流的可仿效定时图。
图12是说明用于发射数据的优选流程的可仿效流程图。
其他当前优选通过监控由当前优选微处理器所产生的一个数字信号来验证一个耦合到当前优选微处理器上的一个当前优选发射机的比特定时输出。替换当前优选方法监控当当前优选发射机处于睡眠模式中时当前优选发射机引出的电流。
在检查了附图和详细说明书之后，对于本领域技术人员来说，当前优选实施例的其他设备、系统、方法、特征以及优点将变得很显然。所有如此的另外设备、系统、方法、特征和优点都意欲被包括在此说明书中，在本发明的范围之内，并且受到随后的权利要求的保护。最佳实施方式当前优选远程无键输入系统(“RKE”)向用户提供一种用于控制车辆和其他远程结构和系统的方便的设备和方法。当前优选远程无键输入系统允许一个当前优选发射机被隐藏在一个外壳、一个按键、一张卡、一个表袋或者另外一个装置中。当被激活时，当前优选发射机与一个接收机或者收发信机进行通信。优选地，当前优选发射机与接收机之间的通信批准对车辆或者另一个远端结构或系统的接入。当前优选设备和方法优选地被机械地激活。可是，一个优选可替换设备和方法可以是一个免提系统的单一部分，其在发射机接近接收机时自动批准接入或者启动一个功能。可选择地，当前优选设备和方法可以是声音激活的。
图1是与当前优选测试装置(“测试器”)102通信的当前优选发射机100的框图。正如所示出的，当前优选发射机100，其在其他当前优选实施例中为一个收发信机，包括一个微处理器104。优选地，当前优选微处理器104是当前优选定时电路106的单一部分。当前优选定时电路106优选地以一个受控频率产生一个可变输出而不用一个晶体(“无晶体”)。在这个详细说明书中，这个恒定或者可调节的输出被称为“时钟”频率。优选地，该“时钟”频率只驱动微处理器104。可是，在其他当前优选实施例中，“时钟”频率能够驱动其它电路或装置。
在一个当前优选实施例中，当前优选定时电路106包括电容器阵列，各个电容器都是在存在于微处理器104中的振荡器校准(“OSCCAL”)寄存器的控制下由晶体管各个挑选的。在这个当前优选实施例中，振荡器校准寄存器是六比特长，虽然也可以使用其他寄存器长度。优选地，六比特表示范围从零到六十三的二进制计数值(“000000”到“111111”)。因此，在如下转变中产生比特改变的最大值从十五到十六(“001111”到“010000”)、从三十一到三十二(“011111”到“100000”)以及从四十七到四十八(“101111”到“110000”)。
如图2所示，中断的范围可以发生在这些转变值之间或者附近。可仿效图还示出了随着电压变化而变化的“时钟”脉冲宽度。因此，优选地通过能够包括一个或多个中断范围在内的至少一个期望的频谱来校准一个适当的定时频率或“时钟”。为了补偿电压变化，“时钟”优选地通过一个期望的可操作电压范围来被校准。
I.K因子如图3所示，从当前优选发射机100发射的数据的比特时间是以一个指令循环计数为基础的。对于优选操作频率处的一个给定微处理器，一个指令循环是执行一个指令所需要的一个已知时间数值。例如，当优选微处理器正以四兆赫兹操作时它可能花一微秒来执行一个指令。
优选地，从当前优选发射机100中发射的数据的比特时间由执行一个固定指令和一个或多个可调指令所需要的多个时间周期所组成。优选地，一个固定指令是执行一个必要功能的指令。在这个当前优选实施例中，一个反跳指令是一个固定指令。优选地，一个可调指令是一个延迟指令，它被执行来保持一个基本上恒定的比特时间周期。在这个当前优选实施例中，必须被执行来保持一个基本上恒定的比特时间周期的可调指令数被称为K因子。在这个当前优选实施例中，K因子是一个整数恒量。在一个替换的优选实施例中，K因子可以包括一个或多个实数，被编程来避免在一个频率范围内发生的一个或多个频率中断。
更准确地，在这个当前优选实施例中，K因子产生一个基本上恒定的时间T2附加给一个反跳时间T1。优选地，这个基本上恒定的时间T2是一个时间周期，其避免一个频率中断并进一步同步与集成在车辆、房屋、附件或其他设备或结构中的一个接收机通信。对于一给定操作频率，当当前优选发射机100被校准时基本上恒定的时间T2改变。
优选地，T1表示检测一个开关激活所需要的时间。在这个当前优选实施例中，当当前优选发射机100被一个开关激活时那个开关的打开与关闭会产生一个一致信号作为逻辑状态之间的开关输出转换。作为替换，该转换可以包括在该开关转换期间从开关接触“跳起”中导致的一个瞬时。为了确保该瞬时不引起微处理器104检测假想切换事件，则在当前优选实施例中一个反跳周期T1优选地被加到恒定时间周期T2上。优选地，在这个反跳周期期间，一个输入端口被抽样并且发生的命令被排序。这保证在发射器件没有开关事件被错过。
II.校准虽然当前优选发射机100和接收机之间的通信优选地是一个同步过程，但是当前优选定时电路的“时钟”优选地被调整来避免频率中断并且补偿电压和温度变化。如图4所示，一个当前优选校准过程可以被使用来产生数据，该数据被使用来在一个常规操作期间调整在当前优选发射机100中的一个当前优选定时电路106。当前优选校准过程还验证校准数据并触发一个发射并且验证比特时间。
正如所示出的，以连续的直线所勾画的框表示由当前优选发射机100所执行的功能。虚线框表示由当前优选测试装置102执行的功能。
参见图4-6，当前优选校准过程在动作400处开始。在动作400处，当前优选发射机100被耦合到一个电源，例如可编程的电源116。在动作402处，当前优选发射机100被唤醒。优选地，当前优选测试装置102用一个起始值来编程振荡器校准寄存器的内容并且还用一个校准值来编程一个校准寄存器，例如“D0H”。优选地，振荡器校准寄存器和校准寄存器都保存在驻留在微处理器104中的一个存储器108中。优选地，该存储器是一个电可擦只读存储器(“EEPROM”)，虽然在替换的优选实施例中也可以使用其他可编程存储器。
在动作404处，当前优选发射机100读取校准寄存器。当一个期望值(例如，“D0H”)被读出时，当前优选校准过程开始，否则当前优选发射机100以一种正常模式操作。在动作404处，校准过程在EEPROM 108中产生一个查询表。优选地，此查询表保持K因子，以及电压和温度补偿值，其被使用作为当前优选定时电路调整算法中的基准。
在动作406处，一个存储器指针(例如，EE_PTR)，一个K_flag，电压数(例如，Num Voltages)，K因子(例如，K)被初始化。用一个值把振荡器校准寄存器初始化这样振荡器的中断被避免。优选地，存储器指针指向查询表中的第一个数据入口并且K-flag识别K因子是否已经被编程。K因子优选地确保比特时间周期基本上是恒定的。
在调整并验证振荡器校准寄存器的内容之前通过调整并验证K因子来继续该当前优选校准过程。优选地，当前优选测试装置102使用在包括当前优选发射机100的工作电压范围的一个电压范围上调谐K因子和振荡器校准寄存器内容的Up/Down命令来编程K因子和振荡器校准寄存器的内容。通过控制当前优选发射机100的两个输入，RC0和RC1，当前优选发射机100产生与软件定时环路成正比的一个输出脉冲。当当前优选发射机可以发射宽带频率范围内的一个信号时，为了解释的目的，在大约四兆赫兹“时钟”频率上，固定定时环路优选地被调谐到大约一微妙。
参见图4，在动作408处，当前优选发射机100检测RC0和RC1是否被驱动到一个逻辑高状态。如果RC0和RC1未处于逻辑高状态，则在动作406处，当前优选测试装置102驱动RC0和RC1到逻辑高状态。当RC0和RC1被驱动到逻辑高状态时，在动作410处，当前优选发射机100通过产生一个参考脉冲来进行响应。在动作412处，当前优选测试装置102确定该参考脉冲宽度是否大于或者小于一个参考周期。在这个当前优选实施例中，参考周期优选地大约为一微妙，虽然在替换的优选实施例中也可以使用其他参考周期。
当当前优选测试装置102确定该参考脉冲宽度比参考周期长时，则在动作412处，当前优选测试装置102驱动RCO到一个逻辑高状态而驱动RC1到逻辑低状态。当当前优选测试装置102确定参考脉冲宽度小于参考周期时，则在动作412处当前优选测试装置102驱动RC0到逻辑低状态而驱动RC1到逻辑高状态。当当前优选测试装置102确定参考脉冲宽度基本上等于参考周期时，则在动作412处，当前优选测试装置102驱动RC0和RC1到逻辑低状态。
当RC0处于逻辑高状态而RC1处于逻辑低状态时，当前优选发射机100在如图4和5中所示的动作414和502处估计K-flag。如果K因子还没有被编程，则K-flag将处于逻辑低状态并且在动作504处K因子被递增。当前优选测试装置102然后在动作402处驱动RC0和RC1为高。当K因子被编程时，则K_flag将为逻辑高并且当前优选发射机100在动作506处递增振荡器校准寄存器的内容。优选地，当前优选测试装置102然后在动作420处驱动RC0和为逻辑高。
当当前优选测试装置102确定参考脉冲宽度短于参考周期时，则在动作412处当前优选测试装置102驱动RC0为逻辑低状态而驱动RC1为逻辑高状态。在这些状态中，在动作412和506处当前优选发射机100估计K_flag。如果K因子还没有被编程，则K_flag将处于逻辑低状态并且在动作508处K因子被递减。当前优选测试装置102然后在动作420处驱动RC0和RC1到逻辑高状态。当K因子被编程时，K_flag将处于逻辑高状态并且当前优选发射机100在动作510处递减振荡器校准寄存器的内容。当前优选测试装置102然后在动作420处驱动RC0和为逻辑高。
当当前优选测试装置102确定由当前优选发射机100产生的参考脉冲宽度基本上等于参考周期时，则在动作412处，当前优选测试装置102驱动RC0和RC1到逻辑低状态。作为响应，当前优选发射机100在动作512处估计K-flag。如果K因子还没有被编程，则在动作514处K因子被写入存储器108(例如，EEPROM)的查询表中，并且K-flag被编程为逻辑高状态。如果在动作514之前K因子已被编程，则在动作516处振荡器校准寄存器的内容和存储器写时间被存储在查询表中，查询表存储在存储器108中。优选地，存储器写时间被用来确定当前优选发射机100的周围温度。在动作518处，存储器指针EE_PTR被加1并且电压计数被减1。上述当前优选过程然后被重复知道整个工作电压范围已经通过如动作520中所示跟踪电压索引而被校准为止。在这个当前优选实施例中，当在动作418处当前优选测试装置调整电压供电时，校准过程以大约100毫瓦特的增量为单位步进大约2和3.1瓦特。在其他替换优选实施例中，可以使用其他的电压范围和增量。
一旦K因子和振荡器校准寄存器的内容已经被建立，并且被保存在存储器108(优选地为EEPROM)中，则在图6的动作602-606处，一个DigitalOnly标记被编程为逻辑高状态，当前优选校准寄存器被第二参考(在此为“A5H”)所编程，并且RC0和RC1被驱动为逻辑高状态。作为响应，在动作608处当前优选发射机100产生两微秒数字脉冲，其在动作610处被当前优选测试装置102分析并验证。在这个当前优选实施例中，在动作606处，两微秒数字脉冲在动作608处产生并且用期望的“DOH”值之外的一个数值(在此为“A5H”)来对校准寄存器进行再编程。如果两微秒数字脉冲在动作610处被验证，则在图4的动作426处完成当前优选校准过程之前在图4的动作422处DigitalOnly标记被编程为逻辑低状态。优选地，结束了校准序列。
在这个当前优选实施例中，在EEPROM108已经被编程之后，当前优选测试装置102在RC0和RC1SHANG发出在大约三十二微秒内的一个脉冲以便仿真一个开关事件。这个开关事件出发当前优选发射机100发射一个射频调制信号。在动作610处，一个射频调制信号被验证而不必射频电路110发射视频信号。数据只出现在一个数字输出线路上。如果验证失败，如图6所示，则在动作612处当前优选发射机100失败。
图7示出了当前优选测试装置102的当前优选操作的流程图。在动作702处，当前优选测试装置102向当前优选发射机100供电到由可编程供电116产生的一个优选工作电压。在这个当前优选实施例中，当前优选发射机100的优选工作电压大约是2.4瓦特。在当前优选发射机100被供电之后，电压索引被初始化(例如，VoltageIndex＝0)并且当前优选发射机100的两个输入，RC0和RC1被驱动到逻辑高状态。在这个当前优选实施例中，RC0和RC1也被输入到当前优选微处理器104中。当当前优选发射机100识别输入线RC0和RC1被驱动为高时，则当前优选发射机100产生优选地大约是一微妙长度的一个参考信号。
当当前优选测试装置102接收该参考信号的上升沿时，在动作706处当前优选测试装置102确保RC0和RC1被驱动为高。当前优选测试装置102还在当前优选测试装置102准备了一个接收机来检测参考信号的负或下降沿。当当前优选测试装置102检测到参考信号的下降沿时，当前优选实施例在动作708处计算参考信号的脉冲宽度或持续时间。在动作710处如果参考信号的脉冲宽度大于大约期望的时间间隔，则当前优选测试装置102在动作712处驱动当前优选发射机的一个输入RC1到逻辑低状态。在动作714处如果参考信号的脉冲宽度小于大约期望的时间间隔，则当前优选测试装置102在动作716处驱动当前优选发射机的一个输入RC0到逻辑低状态。
如图8所示，当参考信号的脉冲宽度为大约期望的时间间隔时，则当前优选测试装置102在动作800处驱动RC0和RC1为低并且在动作802处确定任何其他工作电压是否已经被验证。如果只有一个工作电压已经被验证，则在动作804处可编程供电116优选地被初始化。否则，在动作806处，可编程供电116以大约100微瓦特增量为单位递增到下一个电压。在动作808处，电压索引被加1。在动作810处，当前优选测试装置102确定当前优选发射机100的整个工作电压范围是否已经被验证。如果当前优选发射机100的整个工作电压范围还没有被验证，则在图7的链路8处当前优选测试装置102重复当前优选校准过程。如果整个工作电压范围已经被验证，则当前优选发射机100进入正常操作。
进一步参见图8，当前优选测试装置102还要估计当前优选发射机100发送数据时的比特时间。在动作812处，当前优选发射机100进入正常操作。在这个当前优选实施例中，他也被称为一个正常fob操作。优选地，在动作812处当前优选测试装置102通过输入线RC0和RC1仿真一个开关输入来触发一则消息。如果比特时间失败，则当前优选测试装置102在当前优选测试装置102的远端或者单一数据库中记录失败日志并且当前优选发射机100在动作816和818处失败。
如果在动作814处比特时间被验证，则当前优选测试装置102在动作820和822处在当前优选发射机100的共组电压范围上验证K因子和振荡器校准寄存器的内容。优选地，当前优选测试装置102还在动作820处把一个唯一识别码编程到每个当前优选发射机中。如果存储在查询表中的数值在动作822处未通过验证，则当前优选发射机100重新初始化振荡器校准寄存器的内容并且优选校准过程在动作824处和如图7所示的开始链路处被重复。
图10A和10B是当前优选发射机100和测试装置102的选择输出的可仿效图。正如所示出的，通过可编程供电116来仿真的电池电压，优选地以100微瓦特增量的斜率递增。这些图还示出了图6的动作608中描述的两微秒脉冲在数字输出信道上产生并且还示出了调节可仿效一微妙参考脉冲的Up/Down命令。
III.电流产生(curren draw)一旦K因子和振荡器校准寄存器的内容被验证，则当前优选测试装置102监控当当前优选发射机100处于如图9所示的睡眠模式时由当前优选发射机100引起的电流。优选地，当前优选测试装置102监控睡眠间隔期间的睡眠电流或者电压睡眠电流。在动作902处，可编程供电116被初始化并且当前优选发射机100引起的睡眠电流被测量。如果在动作904处睡眠模式消耗比参考电流更少，在少于大约一微安培的这个当前优选实施例中，当前优选测试装置102在动作906处记录数据库入口日志并且当前优选发射机100传递到动作908处。可是，如果睡眠模式消耗比大约一微安培更大，则当前优选测试装置102在动作910处记录数据库入口日志并且当前优选发射机100在动作912处失败。
参见前述描述，应当指出上面的测试还可以测量当前优选发射机100的在醒来间隔期间消耗的工作电流以及在醒来和睡眠间隔之间的转换期间消耗的睡眠电流。此外，还可以在一个期望的温度范围上测量这些电流并且它们对许多其他电压参考范围而被验证。
IV.在RF发射期间的开关反跳图11是优选数字数据流的第二可仿效定时图。正如所示出的，定时图包括检测在时间间隔T1期间的一个开关激活和扩展(stretch)时间或射频补偿时间T3所需要的时间。正如所描述的，一个开关的打开和关闭可以不产生一个一致信号作为逻辑状态之间开关输入转换。为了确保瞬时不引起当前优选微处理器检测假想的切换事件，在这个当前优选实施例中优选地反跳周期T1被加到基本上恒定的时间T2上。优选地，这个反跳周期T1允许开关逻辑反跳分程序(“开关管理器”)来确定一个有效开关事件是否已发生并且排序按键命令而不必打断射频发射。优选地，开关管理器被嵌入在一个软件发射分程序中。在这个当前优选设备和方法中，切换事件未被错过并且开关的反跳在标准和确定的间隔上被服务。因为开关反跳被嵌入在发射分程序中，当前优选微处理器104不必服务一个中断或者轮询一个输入来识别一个开关事件。在一些例子中，这些事件可以产生比特定时差错。优选地，开关反跳能够被合并到包括脉冲宽度调制任何比特编码方法中，或者例如合并到曼彻斯特编码方法中。
图12是说明一种用于发射数据的优选过程的可仿效流程图。优选地，流程图把一个扩展时间合并到当前优选曼彻斯特编码方法中。优选地，当前优选曼彻斯特编码是一种同步编码，其中，实际数据没有作为一和零的序列被直接发射。取而代之，在当前优选曼彻斯特编码中，逻辑一作为一个零被发射给比特定时周期中心附近的一个转换而逻辑零被编码为在比特定时周期中心附近从一到零的一个转换。
V.扩展时间优选地，当前优选曼彻斯特编码能够在包括扩展时间或者射频补偿在内的一个时间周期内被编码。优选地，该扩展时间补偿由于供电射频发射电路所需要的时间所引起的脉冲宽度减少。这个减少的脉冲宽度导致AM-RF接收机中的比特时间差错。一些AM-RF接收机检测接收信号的包络。扩展时间补偿基本上消除或者完全消除了这个差错。参见图1，当前优选微处理器104被电耦合到射频电路110，射频电路110使用当前优选微处理器104的数字输出作为连续信号来调制并放大。射频电路110优选地能在任何频率范围内发射，但是更好地以一个大约315MHz或者433.92MHz来发射。优选地，射频电路110通过一个或多个频率信道来发射，其中发射可不可以是周期性的取决于该应用的要求。
如下面的真值表(表1)所示，通过估计三个连续比特，通过修改二进制数字的高或低时间周期，比特定时周期基本上能够恒定。优选地，当射频电路110在发射一个逻辑高之前供电时则扩展时间补偿比特的上升时间。为了补偿这些供电延迟，当前优选发射机100优选地为比特部分提供所需要的一个较长的初始产生周期。在这个环境下为了保持一个恒定比特时间周期，当需要来确保一个基本上恒定的比特发射时间时优选地比特低部分的标称比特时间对应地被缩短。优选地，在发射一个比特之前，当前优选发射机检查驻留在当前优选微处理器104中断发射缓冲器112。前一比特、当前比特以及后一比特被用来计算一个比特的适当的高和低时间。正如下面的真值表所示出的，TP是一个标准比特时间，TR是一个扩展时间补偿，TH是比特的高时间而TL是比特的低时间。
表1当前优选扩展时间计算
局heartbeat定时器期满，heartbeat定时器调度功能执行三种行为首先，驱动相应于在状态机未经处理差错掩蔽状态表510中设置一比特位的所有差错的状态机509，用差错清除计数器跟踪差错清除，其次，传送差错分布换缓冲器518中的差错数据至差错秒模块526和差错记录模块528，第三，触发所有的在状态机未经处理差错掩蔽状态表510中设置有比特位的所有差错的更新。
3.1.2差错类型参见表C，如下为实施方案中追踪的物理寄存器差错和逻辑差错实例，如上所述，SSC 232处理在所有32个SACs 208上所有32个端口，在交换机架200A，有32个SACs 208，一个SCH 230和6个SMX卡228，故障检测单元308传递其它物理状态如“line card to OOBmagic packet”，SCH 230和SMX236物理位置33-39上差错映射到物理位置1-32(SAC)，因此，32个逻辑位置包括有关物理位置33-39的差错。
表C
在动作1214处，当前优选发射分程序在周期“TH-TD”中驱动调制输出为高。优选地，这个动作建立该比特中心时间周期附近的向上转换，其识别一个逻辑一。在动作1216处，当前优选开关管理器被呼叫来识别在发射期间可能已经发生的任何开关事件。在动作1218处，最好前一比特标记被设置。在动作1220处，要发射的比特，作为跟踪要被发射的比特数的计数器，被减1。如果在动作1222处要被发射的比特不为零，则当前优选过程继续动作1204处的计算比特时间子程序。可是，如果前一比特已经被发射，则在动作1224和1226处当前优选发射分程序把一个延迟初始化并且清除输出。在动作1228处，当前优选发射分程序结束并且当前优选发射机100进入睡眠模式。
优选地，当前优选发射过程还要发射逻辑低。如图12所示，当在动作1208处进位未被设置时，则在动作1230处当前优选发射分程序在周期“TH”中驱动调制输出为高。在当前优选曼彻斯特编码中，一个逻辑零被转换成为该比特定时周期中心附近的逻辑令转换的逻辑一。换言之，一个逻辑零被转换成为该比特定时周期中心附近的一个向下转换。
在动作1232处，当前优选发射分程序称为当前优选开关管理器，其控制开关逻辑反跳分程序。优选地，当前优选开关管理器确定一个有效开关事件是否发生并且如果此事件已经被检测到则排序一个开关命令。
在动作1234处，当前优选发射分程序在周期“TL-TD”中驱动调制输出为低。优选地，这个动作建立该比特中心时间周期附近的向下转换，其识别一个逻辑零。在动作1236处，当前优选开关管理器被呼叫来识别在发射期间可能已经发生的任何开关事件。在动作1238处，最好前一比特标记被清除。在动作1220处，要发射的比特被减1。如果在动作1222处要被发射的比特不为零，则当前优选过程继续动作1204处的计算比特时间子程序。可是，如果前一比特已经被发射，则在动作1224和1226处当前优选发射分程序把一个延迟初始化并且清除输出。在动作1228处，当前优选发射分程序结束并且当前优选发射机100进入睡眠模式。
上述的当前优选远程无键输入系统实施例应用一个定时电路106，其是微处理器104或微控制器的单一部分。虽然优选地应用于大约315兆赫兹美国频带中，但是也可以应用其他当前优选的远程无键输入系统实施例，包括操作在大约四百三十三兆赫兹的欧洲频带中的那些。优选地，定时电路106包括电容器阵列，各个电容器都是由振荡器校准寄存器所控制的晶体管来选择。可选择地，也可以使用由与微处理器或微控制器耦合或成整体的硬件或软件集成或者选择的任何频率独立分量。
VII.操作在操作中，当前优选发射机100应用一种算法，其避免频率中断并且补偿电压和温度变化。在第一当前优选算法中，在校准之后K因子是恒定的并且被用来避免频率中断。在这个当前优选算法中，K因子跟踪可调整的指令数，这些指令必须被执行来保持一个基本上恒定的比特时间周期。K因子优选地是一个整数衡量。
在第二当前优选算法中，当前优选定时电路106的输出频率为电压和温度变化而被调整。在这个当前优选算法中，当当前优选微处理器104监控当前优选发射机100初始工作电压时进行一个粗略的频率调整。优选地，该初始工作电压交叉涉及一个保留在当前优选存储器106中的一个初始频率值。第二当前优选算法然后执行一个温度补偿，其细微调整当前优选定时电路108的输出频率。优选地，温度补偿通过存储器写时间的一个比较来被导出。这个当前优选方法把一个写时间与驻留在保留在存储器108中的表中的参考写时间进行比较。优选地，这些写时间值之间的任何差值产生一个温度补偿，其补偿由温度变化所引起的频率偏移。在替换优选实施例中，任何温度传感方法或设备能够被使用，其与当前优选定时电路无关。
上述实施例不限制为上述参考值或编码方法。此外，虽然使用来自Arizona州的Chandler的MicrochipTechnology Incorported的Microchip HCS1365完成了上述当前优选实施例，但是也可以使用其他微控制器和/或控制器。而且，上述校准过程不需要包括上述所有的动作。校准过程的许多部分可以被排除或者分离地执行，例如包括以数字格式检查射频格式的处理；验证睡眠和/或工作模式中的电流图的处理；数据发射期间开关反跳和消息排序的处理；和计算一个扩展时间或射频补偿的处理。
从前述详细描述中，很显然，当前优选发射机100可以被集成在一个按键fob、接入卡或任何其他设备中或者可以成为这些设备的单独部分。此外，当当前优选实施例示免提设备、系统和/或方法的一部分时，可以不需要开关反跳和消息排序的处理，因为当前优选免提实施例可以不被一个开关或一个机械运动所激活。还应当指出，虽然上述当前优选实施例可以被使用或被集成在一个车辆中，但是这些实施例也可以与许多其他装置、结构或技术一起使用。
虽然本发明的各个实施例已经被描述，但是对本发明的普通技术人员来说很显然，更多的实施例和实现是可能的，其是在本发明的范围之内。因此，除了根据附加的权利要求和它们的等价物之外，本发明不被限制。
权利要求
1.一种校准一个远程无键输入系统的方法，包括把一个微处理器的多个输入驱动为逻辑高状态，所述微处理器是一个定时电路的单独部分，所述定时电路包括分别被耦合到多个开关上的多个依赖于频率的组件；监控所述微处理器的一个输出；和根据所述微处理器的输出来编程所述微处理器内的一个校准因子，所述校准因子控制所述定时电路的一个输出频率。
2.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，把一个微处理器的多个输出驱动为逻辑高状态的动作包括把耦合到所述微处理器上的一个测试装置的多个输出驱动为逻辑高状态。
3.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，依赖于频率的组件包括作为所述微处理器的单独部分的多个电容器。
4.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，多个开关包括作为所述微处理器的单独部分的多个晶体管。
5.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，监控所述微处理器的第一输出的所述动作还包括测量由所述微处理器产生的一个脉冲宽度并且把所述脉冲宽度输出的一个持续时间与一个参考时间周期进行比较。
6.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，对所述微处理器内的一个校准因子进行编程的所述动作包括把所述微处理器的一对输入驱动为逻辑高或者逻辑低状态，其调整所述微处理器内的所述校准因子。
7.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，所述校准因子包括提供所述定时电路的所述输出频率的不同调整级的多个校准因子。
8.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，所述多个开关包括作为所述微处理器的单独部分的电子开关。
9.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法还包括通过监控由所述微处理器产生的一个数字调制信号来验证耦合到所述微处理器上的一个射频发射机的一个比特定时输出。
10.如权利要求1所述校准远程无键输入系统的方法，其中，所述微处理器和定时电路是一个发射机的一部分并且所述校准远程无键输入系统的方法还包括监控由所述发射机引起的一个电流。
11.如权利要求10所述校准远程无键输入系统的方法，其中，监控由所述发射机引出的电流的所述动作包括监控由所述发射机在睡眠模式中引起的电流并且将在睡眠模式中引起的此电流与一个参考电流进行比较。
12.如权利要求11所述校准远程无键输入系统的方法，其中，所述参考电流包括参考电流的一个范围。
13.如权利要求11所述校准远程无键输入系统的方法还包括在监控由所述发射机引起的电流之后在通过或者失败软件中记录数据日志。
14.一种校准一个远程无键输入系统的方法，包括把一个微处理器的多个输入驱动为逻辑高状态，所述微处理器是一个定时电路的单独部分，所述定时电路包括分别被耦合到多个开关上的多个依赖于频率的组件；测量所述微处理器一个输出的脉冲宽度；把所述脉冲宽度的一个持续时间与一个参考时间周期进行比较；和根据所述微处理器的所述输出利用至少一个向上或者向下命令来对驻留于所述微处理器中的一个K因子和一个振荡器校准寄存器进行编程，所述K因子和所述振荡器校准寄存器控制所述定时电路的一个输出频率。
15.如权利要求14所述校准远程无键输入系统的方法，其中，依赖于频率的组件包括作为所述微处理器的单独部分的多个电容器。
16.如权利要求14所述校准远程无键输入系统的方法，其中，对一个K因子和一个振荡器校准寄存器进行编程的所述动作包括在校准所述振荡器校准寄存器之前校准所述K因子。
17.如权利要求14所述校准远程无键输入系统的方法还包括通过监控一个数字调制信号来验证耦合到所述微处理器上的一个射频电路的一个比特定时输出。
18.如权利要求14所述校准远程无键输入系统的方法，其中，所述微处理器和定时电路是一个发射机的一部分并且所述校准远程无键输入系统的方法还包括监控由所述发射机在睡眠模式下引起的电流。
19.如权利要求18所述校准远程无键输入系统的方法还包括在监控由所述发射机引起的电流之后在数据库中记录数据日志。
20.一种校准一个远程无键输入系统的方法，包括把一个微处理器的多个输入驱动为逻辑高状态，所述微处理器是一个定时电路的单独部分，所述定时电路包括分别被耦合到多个晶体管上的多个电容器；测量所述微处理器一个输出的脉冲宽度；把所述脉冲宽度的一个持续时间与一个参考时间周期进行比较；根据所述微处理器的所述输出通过执行一个向上或者向下命令来对驻留于所述微处理器中的一个K因子和一个振荡器校准寄存器进行编程，所述K因子和所述振荡器校准寄存器控制所述定时电路的一个输出频率；通过监控一个数字信号来验证从一个射频电路所发射的一个射频信号的比特定时输出，所述射频电路被耦合到所述微处理器上；当在睡眠模式时监控由至少所述微处理器所引起的一个电流；和在一个远程数据库中记录数据日志。
全文摘要
一种校准远程无键输入系统的方法调整作为一个微处理器的单独部分的一个定时电路。所述方法把该微处理器的多个输入驱动为一个逻辑状态，监控该微处理器的输出，并且根据微处理器的输出对该微处理器内的一个校准因子进行编程。该校准因子控制定时电路的输出频率。
文档编号G07C9/00GK1409504SQ0214355
公开日2003年4月9日 申请日期2002年9月27日 优先权日2001年9月28日
发明者威廉·莱希特弗里德, 查尔斯·麦克道尔, 詹姆斯·迪尔盖里恩 申请人:阿尔卑斯汽车公司