本发明涉及半导体集成电路领域，且特别涉及一种降低功耗的分压检测电路。
背景技术：
分栅式闪存在编程或擦写时需要8v/12v电压，该电压由内部电荷泵电路产生高压，而电荷泵在稳定过程由于分压电路功耗较大，而电荷泵转换效率最终导致该功耗很大。闪存ip功耗主要受电荷泵功耗限制，因此不适于低功耗应用。
请参考图1，现有技术分压检测电路的高压产生电路主要由电荷泵电路，分压电路和比较器组成。分压电路产生vout的几分压(vdet)，并与参考电压进行比较；当vref>vdet时，en＝1，电荷泵工作。当vref<vdet时，en＝0，电荷泵关闭。最终产生一个稳定的输出电压vout。
其中mos分压电路始终产生i1电流，由于电荷泵转换效率较低，其所对应的电源电压功耗较大。在低功耗设计过程中，i1所占该电荷泵的电流负载比重不可忽略。
技术实现要素：
本发明提出一种降低功耗的分压检测电路，能够有效较低电路功耗，其复用电路能分别产生编程擦写分压，并减小分压电路面积
为了达到上述目的，本发明提出一种降低功耗的分压检测电路，包括：电阻分压电路和电容分压电路，所述电阻分压电路和电容分压电路并联连接于电荷泵，其中所述电阻分压电路连接有电压控制电路，所述电容分压电路连接有开关信号电路，所述电阻分压电路输出第一分压电压，所述电容分压电路输出第二分压电压，通过所述开关信号电路控制给电容充电使得所述第二分压电压等于所述第一分压电压，并通过所述电容分压电路保持住第二分压电压。
进一步的，当所述电压控制电路控制电荷泵工作时，所述电阻分压电路给所述电容分压电路进行充电。
进一步的，当所述电压控制电路控制电荷泵关闭时，所述电容分压电路输出的电压维持在第二分压电压。
进一步的，所述电容分压电路包括并联连接的编程电容分压电路和擦写电容分压电路，所述编程电容分压电路的开关信号电路连接于编程电压控制电路，所述擦写电容分压电路的开关信号电路连接于擦写电压控制电路。
进一步的，当所述编程电容分压电路控制所述编程电容分压电路工作时，其输出的编程电压为电荷泵输入电压的八分之一。
进一步的，当所述擦写电容分压电路控制所述擦写电容分压电路工作时，其输出的擦写电压为电荷泵输入电压的十二分之一。
进一步的，所述电阻分压电路包括多个串联连接的pmos管。
进一步的，所述电容分压电路包括两个串联连接的电容。
本发明提出的降低功耗的分压检测电路，通过利用电容分压电路维持分压，来降低编程和擦写时电荷泵电路的功耗。该分压检测电路能根据编程控制信号将电荷泵电路切换至低功耗模式，该分压检测电路通过复用，实现了编程擦写操作时产生不同的分压，进而减小面积。
附图说明
图1所示为现有技术中分压检测电路的高压产生电路结构示意图。
图2所示为本发明较佳实施例的降低功耗的分压检测电路结构示意图。
图3所示为本发明较佳实施例的编程擦写分压检测电路复用结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图给出本发明的具体实施方式，但本发明不限于以下的实施方式。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用于方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参考图2，图2所示为本发明较佳实施例的降低功耗的分压检测电路结构示意图。本发明提出一种降低功耗的分压检测电路，包括：电阻分压电路100和电容分压电路200，所述电阻分压电路100和电容分压电路200并联连接于电荷泵的输出电压hve，其中所述电阻分压电路100连接有电压控制电路300，所述电容分压电路200连接有开关信号电路out，所述电阻分压电路100输出第一分压电压vdet0，所述电容分压电路200输出第二分压电压vdet，通过所述开关信号电路out控制给电容充电使得所述第二分压电压vdet等于所述第一分压电压vdet0，并通过所述电容分压电路200保持住第二分压电压vdet。由于电容分压电路200的存在会减小给电容充电时间，由电容保持住vdet电压从而省掉电阻分压电路100的功耗。
根据本发明较佳实施例，当所述电压控制电路300控制电荷泵工作时，即当pump_en＝1时，所述电阻分压电路100给所述电容分压电路200进行充电。
当所述电压控制电路300控制电荷泵关闭时，即当pump_en＝0时，所述电容分压电路200输出的电压维持在第二分压电压vdet。
再请参考图3，图3所示为本发明较佳实施例的编程擦写分压检测电路复用结构示意图，所述电容分压电路200包括并联连接的编程电容分压电路210和擦写电容分压电路220，所述编程电容分压电路210的开关信号电路连接于编程电压控制电路310，所述擦写电容分压电路220的开关信号电路连接于擦写电压控制电路320。
根据本发明较佳实施例，当所述编程电容分压电路310控制所述编程电容分压电路210工作时，其输出的编程电压为电荷泵输入电压的八分之一。即当prog为高时，该分压电路产生vdetp电压，vdetp＝vdetp0＝v(hve)/8。当prog2为高时，即编程过程中，分压电路始终工作在电容分压模式以减小功耗。该分压检测电路在编程时功耗分析，功耗处于纯电阻分压电路和纯电容分压电路之间，与之前分压相比能有效减小功耗。
当所述擦写电容分压电路320控制所述擦写电容分压电路220工作时，其输出的擦写电压为电荷泵输入电压的十二分之一。即当erase为高时，该分压电路产生vdete电压。vdete＝vdete0＝v(hve)/12。该复用电路能分别产生编程擦写分压，并减小分压电路面积。
根据本发明较佳实施例，所述电阻分压电路包括多个串联连接的pmos管。进一步的，所述电容分压电路包括两个串联连接的电容。
综上所述，本发明提出的降低功耗的分压检测电路，通过利用电容分压电路维持分压，来降低编程和擦写时电荷泵电路的功耗。该分压检测电路能根据编程控制信号将电荷泵电路切换至低功耗模式，该分压检测电路通过复用，实现了编程擦写操作时产生不同的分压，进而减小面积。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。