NAND闪存的擦写能力测试方法、装置、设备及介质与流程

文档序号:22681792发布日期:2020-10-28 12:43阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种nand闪存的擦写能力测试方法,其特征在于,包括:

确定所述nand闪存中参加擦写能力测试的块分组信息,所述块分组信息包括分组总数以及各个分组的块总数;

根据各个分组的块总数分别确定各个分组所包含的块的编号;

根据所述nand闪存的块擦写承受阈值,分别为各个分组确定一一对应的目标擦写次数;其中,目标擦写次数大于所述块擦写承受阈值的分组数量不小于预设数量;

分别对各个分组所包含的块进行对应次数的擦写操作;

分别生成与各个目标擦写次数对应的擦写能力测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,各个分组的块总数均为m;其中,m·n≤t,n为所述分组总数,t为所述nand闪存中的块总数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据各个分组的块总数分别确定各个分组所包含的块的编号,包括:

根据预设编号计算公式依次确定各个分组所包含的各个块的块编号,所述预设编号计算公式为:

aij=ai1+step·(j-1);

其中,aij为第i分组中第j个块的编号;ai1为第i分组中第1个块的编号;step为步长参数。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述步长参数为:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分别为各个分组确定一一对应的目标擦写次数,包括:

分别为各个分组确定依次增大的目标擦写次数;其中,倒数第二个分组对应的目标擦写次数为所述块擦写承受阈值,倒数第一个分组对应的目标擦写次数大于所述块擦写承受阈值。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,在所述分别对各个分组所包含的块进行对应次数的擦写操作之前,还包括:

根据所述nand闪存的温度承受范围确定测试温度;所述测试温度与所述温度承受范围的上限值的差值小于预设差值。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述分别对各个分组所包含的块进行对应次数的擦写操作,包括:

将各个分组的目标擦写次数的最大公约数确定为循环总次数;

将各个分组的目标擦写次数与所述循环总次数的商分别确定为各个分组在单次循环中的重复擦写次数;

在一个循环周期中分别对各个分组中的各个块进行对应重复次数的擦写操作;

判断是否达到所述循环总次数;

若否,则继续执行所述在一个循环周期中分别对各个分组中的各个块进行对应重复次数的擦写操作的步骤;

若是,则判定对各个分组的擦写操作完成。

8.一种nand闪存的擦写能力测试装置,其特征在于,包括:

分组模块,用于确定所述nand闪存中参加擦写能力测试的块分组信息,所述块分组信息包括分组总数以及各个分组的块总数;

确定模块,用于根据各个分组的块总数分别确定各个分组所包含的块的编号,并根据所述nand闪存的块擦写承受阈值,分别为各个分组确定一一对应的目标擦写次数;其中,目标擦写次数大于所述块擦写承受阈值的分组数量不小于预设数量;

测试模块,用于分别对各个分组所包含的块进行对应次数的擦写操作;

生成模块,用于分别生成与各个目标擦写次数对应的擦写能力测试结果。

9.一种电子设备,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于执行所述计算机程序以实现如权利要求1至7任一项所述的nand闪存的擦写能力测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时用以实现如权利要求1至7任一项所述的nand闪存的擦写能力测试方法的步骤。


技术总结
本申请公开了一种NAND闪存的擦写能力测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,该方法包括:确定NAND闪存中参加擦写能力测试的块分组信息,块分组信息包括分组总数以及各分组的块总数;根据各分组的块总数分别确定各分组包含的块的编号;根据NAND闪存的块擦写承受阈值,分别为各分组确定一一对应的目标擦写次数;目标擦写次数大于块擦写承受阈值的分组数量不小于预设数量;分别对各分组包含的块进行对应次数的擦写操作;分别生成与各目标擦写次数对应的擦写能力测试结果。本申请对不同分组的块进行不同次数的擦写和错误率统计,不仅保障了结果正确率,并且可获取NAND闪存的擦写能力特性,全面客观地进行擦写能力评估。

技术研发人员:王敏;张闯;孙颉
受保护的技术使用者:浪潮(北京)电子信息产业有限公司
技术研发日:2020.07.16
技术公布日:2020.10.27
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