一种自动测试方法、装置、系统及电子设备与流程

1.本发明涉及自动化测试技术领域，具体涉及一种自动测试方法、装置、系统及电子设备。


背景技术：

2.随着互联网产业的不断发展，服务器的需求越来越大。其中，直流电源供电电压的稳定性对服务器的性能有着重要的影响。现有技术中采用ddr5测试技术实现对memory卡供电稳定性的衡量，但在现有使用ddr5测试技术对memory卡供电稳定性的测试过程中，需要通过精密数位电表手动量取memory卡最差电压pin脚的电压，然后通过信号发生器对最差电压pin脚进行手动扫频，获取最差频率点和占空比，最后配置示波器进行手动截图并保存测试结果，整个测试过程耗时长、效率低。


技术实现要素：

3.因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有采用ddr5测试技术对memory卡供电稳定性的测试方式耗时长、效率低的缺陷，从而提供一种自动测试方法、装置、系统及电子设备。
4.根据第一方面，本发明实施例公开了一种自动测试方法，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述ddr5连接器、所述控制器连接；所述方法包括：控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的所述pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡；控制所述信号发生器对所述目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值；根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作。
5.可选地，所述控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置之前，所述方法还包括：获取测试报告并读取所述测试报告的初始化数据。
6.可选地，所述控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的所述pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡，包括：记录获取到的所有pin脚电压值；获取所述最差电压值对应的pin脚信息；将所述最差电压值以及其对应的pin脚信息填写至所述测试报告的指定位置。
7.可选地，还包括：控制所述示波器的ch1与最差电压值对应的pin脚相连接；控制所述电子负载仪拉载恒定电流值，获取所述示波器上量测的ripple值并将所述ripple值填写至报告的指定位置。
8.可选地，所述控制所述信号发生器对所述目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值，包括：按照预设占空
比区间和预设频率区间，控制所述信号发生器按照预设扫频间隔进行扫频操作并控制所述示波器记录扫频操作过程中的电压值；生成扫频操作测试报告。
9.可选地，所述根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作，包括：读取所述扫频操作测试报告；对所述扫频操作测试报告中的电压值进行排序操作，得到所述最差电压值对应的频率值和占空比；控制所述示波器读取所述扫频操作测试报告中的电压值，并在波形累积得到预设次数后控制所述示波器响应截屏保存操作；将所述示波器读取的电压值填写至报告的指定位置。
10.根据第二方面，本发明实施例还公开了一种自动测试装置，应用于自动测试系统的控制器，所述控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，所述自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述ddr5连接器、所述控制器连接；所述装置包括：第一控制模块，用于控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；第二控制模块，用于控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的所述pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡；第三控制模块，用于控制所述信号发生器对所述目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制所述示波器获取扫频操作过程中的电压值；第四控制模块，用于根据所述电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制所述示波器进行截屏保存操作。
11.根据第三方面，本发明实施例还公开了自动测试系统，包括：ddr5连接器，用于安装在待测memory卡上；控制器，与所述ddr5连接器连接；信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中所述信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与所述ddr5连接器、所述控制器连接；所述控制器用于执行如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的自动测试方法的步骤。
12.根据第四方面，本发明实施例还公开了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的自动测试方法的步骤。
13.根据第五方面，本发明实施方式还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的自动测试方法的步骤。
14.本发明技术方案，具有如下优点：
15.本发明提供的自动测试方法/装置，应用于自动测试系统的控制器，控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，自动测试系统设置的信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与ddr5连接器、控制器连接，控制器控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置，控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡，控制信号发生器对目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值，根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作；相比于现有技术中通过手动方式进行memory卡的供电稳定性的测试，本发明提供的测试方式通过控制器连接各测试组件并控制相应的测
试组件完成对待测memory卡的测试，实现了对memory卡的自动测试，节省了测试时间、提高了测试效率。
附图说明
16.为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1为现有测试系统的一个具体示例的结构示意图；
18.图2为本发明实施例中自动测试方法的一个具体示例的流程图；
19.图3为本发明实施例中自动测试系统的一个具体示例的结构示意图；
20.图4为本发明实施例中自动测试装置的一个具体示例的原理框图；
21.图5为本发明实施例中电子设备的一个具体示例图。
具体实施方式
22.下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
23.在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
24.此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
25.如图1所示，现有在进行memory卡供电稳定性测试方式如下述步骤：
26.1.单颗cpu有两组memory卡插槽，需要两套ddr5测试治具。将ddr5load cards分别安装在memory卡槽上，每侧8张，需要将编号一致的load cards尽量安装在同一侧，定一侧为master卡，另一侧为slave卡；然后将2个mcb(main control board，主控板)分别与两侧load cards相连，信号发生器输出接到master侧mcb上的input j2，master侧12v isense j3连接到示波器ch2，示波器ch1是高压差分探棒；
27.2.在两侧memory卡插槽共引11对拉载线到电子负载仪上，使load cards与电子负载仪相连，每侧均匀拉载load cards，一个cpu共需拉载11张load cards且在连接过程中需要注意正负不可接错；
28.3.检查有无短路和接错的地方，当检查完毕给电子负载仪上电，检查没有问题后，先给2个vr board上电，打开vr board上开关，此时vr board绿灯亮；然后给主板上电，2个mcb上电，拨码开关sw2.4＝on，sw2.1＝off，12v通道开启，低增益。load cards对应card enable拨码开关全部选择on；
29.4.连接完成后，首先使用电子负载仪加载dc current，使用精密数位电表，分别量
取master与slave侧12v vsense管脚电压，记录测得最小值电压的管脚，然后使用高压差分探棒(接到示波器ch1)量取此最小电压值测试点的电压mean值与pk－pk值并记录。
30.5.电子负载仪加载starting current with e－load，使用精密数位电表，使用步骤4)中，同样方法找到最小电压和最大电压的测试点，将最小电压、最大电压分别记录；
31.6.电子负载仪加载starting current with e－load，使用信号发生器加载0a～(ending current－starting current)a电流，将高压差分探棒放在测得最小电压的测试点处进行扫频，测得v＿droop，并将频点和占空比与电压值记录；随后将高压差分探棒放在测得最大电压测试点处进行扫频，测得v＿overshoot，记录至报告。
32.7.当人工记录完成后，关掉信号发生器，负载仪掉载，card enable拨码开关全部选择off，sw2.4＝off，主板断电，关掉vr board上电源开关，vr board12v断电。待放电完成后，拆除load cards。
33.可见现有测试方法在测试过程中，特别是需要同时测试多张memory卡时接线过程繁琐，且在判断最差的电压点时，需要手动量取每侧8张卡对应pin脚的电压值，效率较低；在确定出最差电压点的对应pin脚后，需要用信号发生器进行手动扫频，进而确定对应的频率和占空比，消耗工时和人力，且配置示波器进行截图保存测试结果的过程中不能实现自动保存。故为了解决上述技术问题，本技术实施例提供了一种自动测试方法，具体如下：
34.本发明实施例公开了一种自动测试方法，应用于自动测试系统的控制器，控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与ddr5连接器、控制器连接；具体地，本技术实施例中的自动测试系统可以包括控制器、示波器、被vrtt的pcb板、电子负载仪、精密数位电表、高压差分探棒、ddr5 load cards*16、main control board*2、regulator board*2、i2c cables*1、10-pin power cables*2、sma to sma cable、bnc to sma cable等组成。
35.具体的连接关系如图3所示，在图3所示的自动测试系统中，控制器通过usb-gpib分别与电子负载仪、信号发生器、ddr5连接器、精密数位电表以及示波器通信连接，电子负载仪与待测memery卡之间通过负载线连接，示波器与待测memory卡之间通过探棒连接。在进行自动测试前，准备待测vrtt的pcb板并按照规范将16张memory卡安装在待测板卡上形成待测memory卡，每8张待测memory卡分别安装mcb和drr5连接器，在mcb上安装ddr5连接器，此ddr5连接器连接mcb上12v和3v3的所有pin脚。在自动测试系统的控制器中预先集成测试过程中需要用到的所有自动化控制程序，通过预先建立的系统内部的通信连接关系，通过控制器控制相应的组件响应自动化测试操作。
36.如图2所示，该方法包括如下步骤：
37.步骤201，控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；
38.示例性地，控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置之前控制器控制继电器为待测memory卡以及主板上电，控制器通过usb-gpib控制电子负载仪拉载指定的恒定电流值，本技术实施例对该恒定电流值大小不作限定，本领域技术人员可以根据实际测试需求确定。
39.作为本发明一个可选实施方式，步骤201之前，该方法还包括：获取测试报告并读取测试报告的初始化数据。示例性地，该测试报告可以是用户通过自动测试系统的交互系
统上传或者直接从自动测试系统的内存中读取预存的测试报告，本技术实施例对测试报告的获取方式不作限定。
40.步骤202，控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡；
41.示例性地，控制器控制精密数位电表通过ddr5连接器量取所有连接pin脚的电压并对获取到的电压值进行记录，随后对12v和3v3的pin脚的电压值分别进行比较，获取最差电压值及对应的pin脚信息，其中最差的电压值为超过memory卡供电稳定性电压范围的最大电压值和/或最小电压值。
42.步骤203，控制信号发生器对目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值；
43.示例性地，控制信号发生器拉载指定的动态电流值时通过示波器读取电流值，调整好risetime和falltime，保证拉载精度。拉载电流值确定后，控制器控制信号发生器进行最差电压点的自动化扫频，本技术实施例中扫频的占空比由10％到90％，频率在1khz到1mhz，频率扫频间隔为0.5khz，记录1k，1.5k，2k直至1mhz对应的电压值。
44.步骤204，根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作。
45.示例性地，电子负载仪对待测memory卡进行拉载，测试过程中涉及对待测memory卡拉载并获取最差电压值，同时在扫频过程中也会对待测memory卡拉一个静态电流值，拉载过程由控制器通过usb-gpib进行控制；在确定最差电压值及对应的待测memory卡之后，控制信号发生器对待测memory卡的驱动端拉载动态电流值，拉载过程由控制器通过usb-gpib进行控制。信号发生器拉载动态电流值后进行扫频，占空比由10％到90％，频率范围由1khz到1mhz；示波器获取拉载电流值并反馈给控制器，同时在信号发生器进行扫频过程中，获取取所量取的电压值并反馈给控制器，此过程通过控制器进行控制实现，最终确定最差频率点及占空比后，控制器通过示波器对测试结果截图并保存。
46.本发明提供的自动测试方法，应用于自动测试系统的控制器，控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，自动测试系统设置的信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与ddr5连接器、控制器连接，控制器控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置，控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡，控制信号发生器对目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值，根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作；相比于现有技术中通过手动方式进行memory卡的供电稳定性的测试，本发明提供的方法通过控制器连接各测试组件并控制相应的测试组件完成对待测memory卡的测试，实现了对memory卡的自动测试，节省了测试时间、提高了测试效率。
47.作为本发明一个可选实施方式，步骤202，包括：记录获取到的所有pin脚电压值；获取最差电压值对应的pin脚信息；将最差电压值以及其对应的pin脚信息填写至测试报告的指定位置。
48.作为本发明一个可选实施方式，该方法还包括：控制示波器的ch1与最差电压值对应的pin脚相连接；控制电子负载仪拉载恒定电流值，获取示波器上量测的ripple值并将
ripple值填写至报告的指定位置。
49.示例性地，控制器获取到最差电压值，自动填写至报告指定位置；同时，控制示波器ch1与最小和/或最大电压值的pin脚相连接，负载仪拉载恒定电流值，获取示波器上量测的ripple值并填写至报告指定位置处。
50.作为本发明一个可选实施方式，步骤203，包括：按照预设占空比区间和预设频率区间，控制信号发生器按照预设扫频间隔进行扫频操作并控制示波器记录扫频操作过程中的电压值；生成扫频操作测试报告。
51.作为本发明一个可选实施方式，步骤204，包括：读取扫频操作测试报告；对扫频操作测试报告中的电压值进行排序操作，得到最差电压值对应的频率值和占空比；控制示波器读取所述扫频操作测试报告中的电压值，并在波形累积得到预设次数后控制示波器响应截屏保存操作；将示波器读取的电压值填写至报告的指定位置。示例性地，本技术实施例中预设次数为波形累计500次后响应截屏保存操作，通过在波形累积达到500次后响应截屏操作，预留了拉载稳定时间，保证了截取的波形的准确性；同时将示波器读取的最大和最小电压值填写至报告的指定位置处。截屏保存结束后，控制器控制电子负载仪卸载，信号发生器卸载，测试结束。
52.作为本技术一个具体实施方式，结合设计的自动化测试系统的测试方式如下：
53.1、将待测试vrtt的pcb板与ddr5治具通过现有技术方案的连接方法进行连接，此外在mcb上安装ddr5连接器，此ddr5连接器连接mcb上12v和3v3的所有pin脚；
54.2、控制器通过usb-gpib控制电子负载仪拉载指定的恒定电流值；
55.3、控制器控制精密数位电表通过ddr5连接器量取所有pin脚的电压，获取电压值并记录，随后对12v和3v3的电压值分别进行比较，获取最差电压值及对应的pin脚信息；
56.4、控制器获取到最差电压值，自动填写至报告指定位置；同时控制示波器ch1与最小和/或最大电压值的pin脚相连接，负载仪拉载恒定电流值，获取示波器上量测的ripple值并填写至报告指定位置处；
57.5、控制器控制电子负载仪拉载指定的恒定电流值，同时控制信号发生器拉载指定的动态响应，拉载时通过示波器读取电流值，调整好risetime和falltime，保证拉载精度；
58.6、拉载电流值确定后，控制器控制信号发生器进行最差电压点的自动化扫频。扫频的占空比由10％到90％，频率在1khz到1mhz，频率扫频间隔为0.5khz，记录从1k到1mhz变化区间的电压值，并生成excel测试数据报告；
59.7、控制器读取扫频测试数据报告，并对电压值进行排序，获取最小和/或最大电压值对应的频率和占空比；
60.8、控制器控制信号发生器设置步骤7中获得的频率和占空比，同时控制示波器读取对应的电压值，波形累计500次后保存截图，同时将示波器读取的电压值填写至报告的指定位置处；
61.9、控制器控制负载仪卸载，信号发生器卸载，测试结束。
62.本发明实施例提供的自动测试方法，通过设计的自动化测试系统实现自动比较，并在确定好最差电压点后，自动进行最差频率和占空比的扫频，自动完成测试结果的截图并保存并同步生成测试数据报告。
63.本发明实施例还公开了一种自动测试装置，如图4所示，应用于自动测试系统的控
制器，控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，自动测试系统还包括信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与ddr5连接器、控制器连接；该装置包括：
64.第一控制模块301，用于控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置；
65.第二控制模块302，用于控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡；
66.第三控制模块303，用于控制信号发生器对目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值；
67.第四控制模块304，用于根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作。
68.本发明提供的自动测试装置，应用于自动测试系统的控制器，控制器与安装在待测memory卡上的ddr5连接器相连，自动测试系统设置的信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与ddr5连接器、控制器连接，控制器控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置，控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡，控制信号发生器对目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值，根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作；相比于现有技术中通过手动方式进行memory卡的供电稳定性的测试，本发明实施例提供的测试方式通过控制器连接各测试组件并控制相应的测试组件完成对待测memory卡的测试，实现了对memory卡的自动测试，节省了测试时间、提高了测试效率。
69.作为本发明一个可选实施方式，该方法还包括：第一获取模块，用于获取测试报告并读取测试报告的初始化数据。
70.作为本发明一个可选实施方式，第二控制模块，包括：记录子模块，用于记录获取到的所有pin脚电压值；获取子模块，用于获取最差电压值对应的pin脚信息；第一填写子模块，用于将最差电压值以及其对应的pin脚信息填写至测试报告的指定位置。
71.作为本发明一个可选实施方式，该装置还包括：第五控制模块，用于控制示波器的ch1与最差电压值对应的pin脚相连接；第六控制模块，用于控制电子负载仪拉载恒定电流值，获取示波器上量测的ripple值并将ripple值填写至报告的指定位置。
72.作为本发明一个可选实施方式，第三控制模块，包括：第一控制子模块，用于按照预设占空比区间和预设频率区间，控制信号发生器按照预设扫频间隔进行扫频操作并控制示波器记录扫频操作过程中的电压值；生成子模块，用于生成扫频操作测试报告。
73.作为本发明一个可选实施方式，第四控制模块，包括：读取子模块，用于读取扫频操作测试报告；扫频子模块，用于对扫频操作测试报告中的电压值进行排序操作，得到最差电压值对应的频率值和占空比；第二控制子模块，用于控制示波器读取扫频操作测试报告中的电压值，并在波形累积得到预设次数后控制示波器响应截屏保存操作；第二填写子模块，用于将示波器读取的电压值填写至报告的指定位置。
74.本发明实施例还提供了一种自动测试系统，如图3所示，包括：
75.ddr5连接器，用于安装在待测memory卡上；
76.控制器，与ddr5连接器连接；
77.信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器，其中信号发生器、精密数位电表、电子负载仪、示波器分别与ddr5连接器、控制器连接；
78.控制器用于执行如上述实施例的自动测试方法的步骤。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
79.本发明实施例提供的自动测试系统，通过控制器控制电子负载仪响应拉载操作并控制示波器进行参数初始化设置，控制精密数位电表通过ddr5连接器获取每侧多张待测memory卡的pin脚电压值，根据获取到的pin脚电压值确定最差电压值对应的目标待测memory卡，控制信号发生器对目标待测memory卡的驱动端拉载动态电流值并进行扫频操作，控制示波器获取扫频操作过程中的电压值，根据电压值确定最差电压值对应的频率值和占空比并控制示波器进行截屏保存操作；相比于现有技术中通过手动方式进行memory卡的供电稳定性的测试，本发明实施例提供的测试方式通过控制器连接各测试组件并控制相应的测试组件完成对待测memory卡的测试，实现了对memory卡的自动测试，节省了测试时间、提高了测试效率。
80.本发明实施例还提供了一种电子设备，如图5所示，该电子设备可以包括处理器401和存储器402，其中处理器401和存储器402可以通过总线或者其他方式连接，图5中以通过总线连接为例。
81.处理器401可以为中央处理器(central processing unit，cpu)。处理器401还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
82.存储器402作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的自动测试方法对应的程序指令/模块。处理器401通过运行存储在存储器402中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的自动测试方法。
83.存储器402可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器401所创建的数据等。此外，存储器402可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器402可选包括相对于处理器401远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器401。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
84.所述一个或者多个模块存储在所述存储器402中，当被所述处理器401执行时，执行如图1所示实施例中的自动测试方法。
85.上述电子设备具体细节可以对应参阅图1所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
86.本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通
过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)、随机存储记忆体(randomaccessmemory，ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive，缩写：hdd)或固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
87.虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。