专利名称：一种光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于把信息记录到光盘及从光盘中读出的光盘装置，特别是涉及一种能够正确地访问形成于所述光盘上的记录道而不受光盘跟踪系统电失真的影响的光盘装置。
背景技术：
近年来，光盘作为一种大容量的存取数据的工具得到了蓬勃地发展。为了提高容量，现在已经开发出许多提高记录密度的方法。而为了达到高记录密度，就要求减小记录刻痕之间的干扰，提高信噪比，并且补偿由于光盘介质及光盘装置不稳定所引起的信号失真。特别地，这种不稳定现象主要是由于光盘的物理变形及用于光盘装置的电路性能所引起的。
现在参照图44说明关于光盘物理变形的第一种情形。首选，当光盘D放于光盘电机Md上时要求光盘D保持为平面状，这样光读出装置Os在存取操作中能够保持其光轴垂直于盘D的记录面。该光读出装置Os沿径向在与光盘半径其线的一条直线LR上移动(如图中箭头Dr所示)以扫描记录道。
但是，放置于光盘电机Md上的光盘D的外沿会因其自重而下垂。换句话说，光盘D会形成一个圆锥状而不是保持平面状。严格地说，光盘D沿径向及切线方向都会发生弯曲。因此，由于光盘D会发生这样的形变，则光读出装置Os就不能在扫描记录道时保持其光轴与光盘D的记录面垂直。而且，光轴与盘面的交角随着光读出装置Os相对于光盘D的不同位置(于直线LR上)而变化。
在这种情况下，光轴Ax与光盘D记录面之间所形成的角θr称为“径向倾角”。光轴Ax与光盘D记录道的切线(或垂直于半径的直线)LD之间所形成的角θt称为“切向倾角”。一盘来说，光盘(如CD)的径向倾角θr大小为-0.5°至0.5°之间。
关于电路性能的第二种情形是这样的，即使在聚焦和跟踪信号表明激光点已正确聚焦及跟踪时，激光束也不能正确地聚焦及跟踪于目标记录道上。因此除了象径向倾角或切向倾角这样的物理形变外，还要补偿这种聚焦误差及跟踪误差。
由于上述的不稳定情况，当读出装置不能使激光点聚焦在所对准的记录道上或跟踪该记录道。尤其是，激光点会聚焦于两相邻道之间，并以变化的交叉角扫描记录道，而且只是扫描被对准的记录道上的一小部分。进而，激光点不能够跟踪该记录道，并可能跟丢了被对准的记录道。因此，信号的读取面临着串扰、振幅不足、噪音、波形干扰以及抖动(与原始信号异步)等问题。这样所读出的记录信号就会抖动。当该抖动变大时，读出信号的质量就会大大下降。而且光读出装置的读出错误会随之增加。
在图45中展示了由实验获得的抖动量(％)与径向倾角(θr)之间的关系。在相对于零径向倾斜位置+0.1至-0.1度的范围内，抖动量有最小值。当径向倾角θr变大时，抖动就会明显地以增加的步调变大。换句话说，当径向倾角θr设为最小时抖动也最小。
因此，为了在这种不稳定因素下从记录道中读出原始信号就要求根据物理的变动(如径向倾斜和切向倾斜)和电的方面的起伏(如聚焦误差和跟踪误差)来调整光盘装置。
下面参考图46说明一种传统的用于补偿径向倾斜的光盘装置。该传统光盘装置中包括一个光盘8101、一个光头8102、一个倾斜传感器8103、一个前置放大器8104、一个径向倾斜控制器8105以及一个径向倾斜调整器8106。
在这种结构的传统光盘装置的操作中，倾斜传感器8103输出一个具有对应于光盘8101相对于光头8102的倾斜量的电压的倾斜信号Sr。前置放大器8104放大该倾斜信号Sr。径向倾斜控制器8105驱动径向倾斜调整器8106使得该放大后的倾斜信号变为零。这样，光头8102就能够保持在与光盘8101平行的位置，从而就能够对光盘进行优质信号的存取。
但是，在上述的构造中，倾斜传感器(8103)是一个基本的部件，它会使生产成本增高，而且由于它要放在光头(8103)旁，这样就防碍了光盘装置的小型化。另外，倾斜传感器应准确地平行于光头，否则光头与光盘之间的平行关系就不能得到正确地调节。
发明公开本发明的目的之一在于提供一种能够解决上述问题的光盘装置。
本发明是针对解决上述缺点而作出改进，其基本目的是提供一种改进的光盘装置。
为了实现上述目的，在此提供一种通过把光点聚焦于光盘的记录道上而从该记录道读取信号的光盘装置，该装置中包括一个用于产生一个引起所述读出信号抖动的第一图案的第一图案发生器，以及一个用于把所述第一图案写入所述光盘的一个第一记录道的写入装置。
附图简述在如下结合附图的最佳实施例中，本发明的上述和其它目的和特点将变得清楚明白。在各附图中，对相似的部分标以相同的参考数字，其中
图1A为简要表示根据本发明的一种带有一个校正数据区的光盘的俯视图；图1B为简要表示图1A所示的光盘的一种变型的俯视图；图1C为简要表示根据本发明的一种带有两个校正数据区的光盘的俯视图；图2示意性地表示一种可擦除(可重写)的光盘的图形；图3为图1A中用圆圈R圈起来的部分校正数据区的放大图；图4是示意性地表示记录于图1A、1B和1C中的校正数据区中的信号的第一个例子的视图。
图5A是表示图3中特定图案信号的记录刻痕分布情况的示意图；图5B是表示图5A中刻痕分布的一个特例的示意图；图6表示图4中特定图案信号的一个扇区结构；图7是表示记录刻痕的图形以及从该记录刻痕中读出的信号之间关系的示意图；图8为表示本发明第一实施例中的光盘装置的方框图；
图9为表示图8所示的抖动量测量器和锁相环电路单元(PLL)的方框图；图10是表示图8所示的径向倾斜调整器的结构的示意图；图11为表示带有图1A中的光盘的图8中的光盘装置的主要操作流程的流程图；图12是辅助说明根据本发明的径向倾斜调整方法的图形；图13为表示图11的块#5及图14的块#15和#23的径向倾斜估计流程的流程图；图14为表示带有图1C的光盘的图8中光盘装置的主要操作流程的流程图；图15是表示地址与最佳径向倾斜调整位置之间的关系的视图；图16简要表示记录于图1A、1B和1C的校正数据区中的信号的第二个例子；图17是表示图16的11T信号一个扇区结构的图形；图18为表示记录于图1A、1B和1C的校正数据区中的信号的第三个例子的示意图；图19是表示图3中校正数据区的一种变型的图形；图20为表示记录于图19中校正数据区的信号的第一个例子的示意图；图21为表示记录于图19中校正数据区的信号的第二个例子的示意图；图22为表示记录于图19中校正数据区的信号的第三个例子的示意图；图23是表示图3中校正数据区的另一种变型的示意图；图24为表示记录于图23中校正数据区的信号的第一个例子的示意图；图25是表示记录于图23中校正数据区的信号的第二个例子的示意图；图26是表示记录于图23中校正数据区的信号的第三个例子的示意图；图27是图3中校正数据区的第三种变型的图形；
图28是表示记录于图27中校正数据区的信号的第一个例子的示意图；图29是表示记录于图27中校正数据区的信号的第二个例子的示意图；图30是表示记录于图27中校正数据区的信号的第三个例子的示意图；图31为表示本发明第二实施例中的一种光盘装置的方框图；图32为表示图31中切向倾斜调整器的结构的示意图；图33辅助说明根据本发明的切向倾斜调整方法的图形；图34为表示本发明第三实施例中的一种光盘装置的方框图；图35为表示本发明第四实施例中的一种光盘装置的方框图；图36为表示图37中光盘装置所用的光盘的校正数据区的第一个例子的图形；图37为表示本发明第五实施例中的一种光盘装置的方框图；图38为表示图37中光盘装置的径向倾斜调整操作的流程图；图39为表示根据本发明的一种改动后的光盘的图形；图40A和40B是表示图39中光盘的校正数据区的例子的图形；图41为表示本发明第六实施例中的一种光盘装置的方框图；图42为表示图41中光盘装置的径向倾斜调整操作的流程图；图43为表示本发明第八实施例中的一种光盘装置的方框图；图44为辅助说明光盘的径向倾斜的图形；图45为辅助说明径向倾斜与抖动量之间的关系的图形；图46为表示传统光盘装置的方框图。
最佳实施例在图1A中简要表示一种用于本发明的光盘装置上的光盘的一个实例。光盘1具有形成于引导区上的一个数据记录区2和一个校正数据区3。在该校正数据区3中记录着预定的校正数据。
在图1B中表示类似于图1A中所示光盘的光盘1的一个特例。在本例中，该光盘1上另外带有位于校正数据区3内一个伪数据区Dd，以及位于校正数据区3与记录区2之间的控制数据区Dc。Dd、3和Dc这些区域都形成于光盘1的引导区内。
伪数据区Dd向光盘1的中心延伸到某个光盘装置的光读出装置能够访问的位置。在伪数据区Dd中记录着伪数据，该伪数据仅用于由光读出装置访问使得该光读出装置置于校正数据区3以内的区域。
校正数据区3中记录着校正数据，该区域最好(但不限于)大于四分之一圆周。在控制数据区Dc中记录着各种关于光盘1的信息，如校正数据区3的地址。
在图2中展示了图1A中形成于一种可擦除或可改写的光盘上并由圆圈R圈起来的校正数据区3。校正数据区3中至少有一条记录着校正数据的校正数据道区23。该校正数据道区23最好由三条记录道组成。
每条道上有多个用于记录信息，并与相邻道独立的多个刻痕。为了便于识别，在图2中相邻道的边界上用虚线24表示。记录道由台状部分PL和凹刻痕部分PG确定。
上方的线L1表示光盘的表面轮廓线，其中信息只记录于凹刻痕部分PG中。在这里，凹刻痕部分PG由边界线24确定。当信息只记录于凹刻痕部分PG时(未在图2中展示)，台状部分由边界线24确定。
下方的线L2也是表示光盘的表面轮廓线，其中信息记录于台状部分和凹刻痕部分中。在这里，相邻的前沿和后沿之间的区域对应于凹刻痕部分PG或台状部分PL的记录区。
在图3中展示了校正数据区3的放大图。数据区3具有三条道32、33和34。在本实施例中，第一、第二和第三条道32、33和34按次序在光盘1上从内朝外排列。在校正数据道区23两侧分别提供道20和21两条道。每条道中有用于记录信息的多个刻痕22。
由虚线24表示的边界线可以由合适的指示方式(如凹刻痕或图形)实际确定。在下文中刻痕和在一个道内相邻两个刻痕的间距分别称为“凹刻痕”和“刻痕间隔”。另外，对应于相邻两条边界线24的间距的相邻两条道的间距在本说明书中称为“道宽”。请注意，所有道32、33和34具有与形成光盘1记录区2上的记录道相同的道宽T1(如图3所示)。
请注意，在本说明书中“凹刻痕”表示在光盘的基质上具有不同于其他部位的光反射特性的特定部位，并且用于记录数字信息。例如，在激光唱盘系统中，通过刻入或削去光盘基质的对应部分形成凹刻痕。另外，在相变光盘中，通过对光盘基质上的对应部分进行非晶态化而形成刻痕，使得刻痕部位不同于处于结晶结构的其他基质。还有在磁性光盘中，通过连结对应部位的晶格平面的方向形成刻痕。这样，显然任何合适的结构或物质具有与基质其他部位的光反射性能不同的特性。
在图4中展示了表示记录于图3中校正数据道区域23(3)的信号的第一个例子。请注意为了简明起见图中没有把刻痕表示出来。第一条道32记录着随机信号SR。第二条道33记录着特定的图案信号SP。第三条道34记录着随机信号SR。
随机信号SR是根据一种(2，10)有限游程代码产生的，其中包括3T信号S3T至11T信号S11T。请注意在这里“T”代表根据ISO/IEC13963的一个信道的比特长度。
下面根据光盘1上的凹刻痕和刻痕间隔说明这种情况。该随机信号为多个凹刻痕和刻痕间隔的集合。该凹刻痕实有预定的数目(比如9个)，每个凹刻痕的长度不同，分别对应于3T信号S3T至11T信号S11T的不同长度。该刻痕间隔也具有预定的数目(比如9个)，每个刻痕间隔的长度不同，分别对应于信号S3T至信号S11T的不同长度。在下文中将参照图5A说明记录于第二道33中的第一个具体的刻痕图案。
下面将说明一种用于把校正信号(如信号SR和SP)记录于校正数据道区23中的装置。通过利用这种校正数据记录装置(图43)，卖主或用户可以在光盘出售给用户之前或之后在该光盘中记录校正数据。
请注意，光盘1的记录区2记录着一个(2，10)有限游程编码信号(在下文中称为“2-10调制”)。对于本发明也可以用除2-10调制以外的任何其他调制方法。例如，根据2-10调制方法的3T信号S3T对应于根据(1，7)有限游程编码(在下文中称为“1-7调制”)的2T信号S2T。根据2-10调制的11T信号S11T对应于根据1-7调制的8T信号S8T。根据其他调制方法3T信号S3T和11T信号S11T分别对应最小游程和最大游程。
在图5A中简要地展示了特定图案信号SP的刻痕图案的一个例子。该特定图案信号SP是通过重复第一和第二刻痕图案3207和3208之间的结合形成的。换句话说，把第一和第二刻痕图案3207和3208交替地记录于被对准的记录道上，例如校正数据区23的第二记录道33。
第一图案3207中包括一个较小的凹刻痕(刻痕)3202和两个按照记录次序分别排在该较小凹刻痕3202前面和后面的两个较大刻痕间隔3201和3203。较小凹刻痕3202比图5中由点状线表示的激光点Ls小，并可以对应于最小的游程。较大的刻痕间隔3201和3203大于激光点Ls，并可以对应于最大游程。
第二刻痕图案3208中包括一个较小刻痕间隔3205和两个分别分布于该较小刻痕间隔3205前后的较大凹刻痕3204和3206。该较小刻痕间隔3205小于激光点Ls，并可以对应于最小游程。较大凹刻痕3204和3206都大于激光点Ls，并可以对应于最大的游程。
请注意，激光点Ls的直径是这样确定的，使得该激光点Ls的光强是中心强度的1/e2倍(其中e表示自然对数的底)。也可以把地址数据和纠错码(在下文中称为ECC)加到在单个扇区内特定图案信号SP中。
图6中展示了在单个扇区内特定图案SP的一个例子。其中地址数据和纠错码分别加到该特定图案信号SP的两端。
图7中简要地展示了一个从具有图5A的刻痕图案的数据道33中还原的信号。实线Wc表示从图5A的刻痕图案3207中还原的信号，其中比激光点Ls小的凹刻痕3202夹在比激光点Ls大的两个刻痕间隔3201和3203之间。虚线Ws表示从大于激光点Ls的凹刻痕3202L中还原的信号。凹刻痕3202L是以凹刻痕3202的形状但是向刻痕间隔3201方向延伸而形成的。
水平中心线S1为分割该还原信号的振幅的切线。由于从记录道33上反射的激光束根据刻痕的面积而改变，则来自凹刻痕3202L的还原信号的振幅变化量大于来自凹刻痕3002的还原信号的振幅变化量。在此，凹刻痕3202L所反射出的信号Wc的振幅的减小速度比凹刻痕3202所反射出的信号Ws的振幅的减小速度快。
结果，还原信号Ws比信号Wc早一个抖动量Δj与切线S1相交(如图7中所示)。交点之间的距离代表本发明所要求的还原信号中的抖动。为了形成这些凹刻痕，可以使用任何使得凹刻痕部分区别于基质部分的方法如波形表面(从基质部分的凸起或凹陷)、磁化方向、以及结晶状态(结晶态或非结晶态)。
除了图5A中所示的图案以外，也可以形成特定的图案信号SP以比较小于激光点的凹刻痕或刻痕间隔的再生放大器与大于激光点的凹刻痕或刻痕间隔的再生放大器。这种图案在信号处理电路的优化(如均衡器系数的调节)方面是有效的，这在下文中将有详细说明。请注意校正数据区23只需要一个道，即记录着用于在信号还原中产生抖动的特定图案信号SP。
图5B中展示了图5A的特定图案信号SP的刻痕图案的一个典型例子。其中第一刻痕图案3207是这样形成的，使得第一较大刻痕间隔3201、较小凹刻痕3202、和第二较大刻痕间隔3203分别沿着记录道的纵向方向延伸6T、3T和7T的长度。换句话说，较大凹刻痕3202与相邻的凹刻痕之间分别被6T和7T的间隔分隔开，如图5B所示，第一刻痕图案的长度为16T。
第二刻痕图案是这样形成的，即使得第一较大凹刻痕3204、较小刻痕间隔3205和第二较大凹刻痕3206分别沿着道的纵向延伸6T、3T和7T的长度。换句话说，两个较大凹刻痕3204和3206被长度为3T的较小刻痕间隔3205所分隔开。第二刻痕图案3208的长度为16T。
在本例中，通过重复这两个名为16T长的刻痕图案3207和3208形成特定的图案信号SP并记录在记录道33上。但是，显然从对图7的说明中可以看出，只要重复这两个刻痕图案3207和3208之一而形成的特定图案信号SP就足够产生还原信号中的抖动。当然不用说如果把这两个刻痕图案3207和3208结合起来的话就能更加有效地产生抖动。第一实施例在图8中展示了一种根据本发明的第一实施例的光盘装置。光盘装置P1中包括一个用于把激光束打到光盘1以在其上记录信息以及从其上还原信息的光读出装置122。为了这一目的，该光读出装置122中包括一个用于打出激光束的激光二极管123、用于把激光束聚焦于光盘1的记录道上以及把从光盘1反射回来的激光束聚焦于某一位置的光学仪器、一个用于接收被反射的激光束以产生指示激光打在记录道上的情况的针状光电二极管。
所提供的转运装置58用于沿光盘1的径向方向移动光读出装置122，并通过把激光束打到光盘上来扫描形成于光盘上的记录道。这样，光读出装置122和转动装置58就构成了光读出系统Os。该转运装置58置于一个能够相对于光盘1沿径向方向倾斜的倾斜装置60上。
在图10中展示了该倾斜装置60。在该倾斜装置60中有一块用于支持其上的转动装置58的底板Pr和一个支点部分Fr。底板Pr的一端以悬臂方式与支点部分Fr可弯折地连接起来，而其另一端置于垂直往复式部件Tr的一端上。该垂直往复式部件Tr的另一端与径向倾斜调整器67之间滑动连接。在本例中，该垂直往复式部件Tr由一个可被径向倾斜调整器67所转动的螺杆制成，并可沿着箭头DZ所示的垂直方向往复运动。
在每次通过转动往复式部件Tr使得底板倾斜时，都要测量通过光读出装置122从校正数据道区域23还原的信号的抖动量。相应于底板Pr倾角的改变，读出装置122的光轴Ax相对于光盘1记录表面的夹角也改变了。结果，来自于第二记录道33相邻接的第一和第三记录道32和34的串扰发生了变化，而且来自这些校正数据道33的还原信号的抖动也发生了变化。请注意，使得还原信号的抖动量为最小值的位置为径向倾斜的最佳位置。
再参考图8，一个前置放大器125连接到光读出装置122，用于增加来自于针状光电二极管124的信号的振幅，并产生还原信号。该还原信号根据形成于光盘1记录道上的刻痕的长度而变化。
一个均衡器126连接到前置放大器125用于接收还原信号，并减小还原信号的波干涉。一个二进制电路127连接到均衡器126用于把该还原信号转换为数字化的还原信号Sd。请注意，该数字化的还原信号Sd会受到上述的串扰、振幅不足、噪声、波形干涉、以及抖动的影响。
一个锁相环单元(PLL)129连接到二进制化电路127，用于接收来自该二进制化电路的数据还原信号Sd，并产生同步信号S510。在下文中将参照图9说明该同步信号的产生过程。
一个采样电路1210连接到二进制化电路127和锁相环单元129，分别用于接收数字化还原信号Sd和同步信号S510。这样，该采样电路1210根据同步信号S510对该数字化还原信号Sd进步采样以产生通道数据S511。
一个解码器1211连接到采样电路1210，用于接收其中的通道数据S511，并通过应用纠错进行解码以还原原始信号Srp。接着该解码后的信号Srp进一步传输到操作的下一级。
一个抖动量测量器41连接到二进制化电路127和锁相环单元129，用于分别接收其中的信号Sd和S510。抖动量测量器41根据这二个信号Sd和S510测量从校正数据道区23还原的信号的抖动量，并产生抖动信号Sj。
在图9中详细说明了锁相环单元129和抖动量测量器41的组成。该锁相环单元129中包括相互连接在一起的一个第一相位比较器131、一个低通滤波器132、一个电压控制振荡器(VCO)133、一个分频器134、一个门电路135和一个D型触发电路138(如图9所示)。该抖动量测量器41中包括相互连接的一个第二相位比较器53、一个高通滤波器51、一个检波器54和一个A/D转换器52(如图9所示)。第一相位比较器131连接到二进制化电路127，用于接收其中的数字还原信号Sd；并且连接到门电路135，用接收其中的信号S141。第二相位比较器53连接到二进制化电路127和D型触发器138，用于分别接收其中的信号Sd和S510。
在操作中，第一相位比较器131检测还原信号Sd和来自门电路135的信号S141之间的相位差以产生表示这两个信号Sd和S141之间的相位差和频率差的第一相位差信号S139。低通滤波器132只从相位差信号S139中提取低频成分以产生一个具有控制电压控制振荡器(VCO)133的电压的VCO控制信号。VCO133根据该VCO控制信号产生一个时钟信号S137。分频器134把该时钟信号S137分为预定的频率。门电路135根据输入其中的还原信号Sd导通从分频器134输出的信号。
换句话说，只有当还原信号存在时，被分频的信号S141才被传输到相位比较器131和D型触发电路138作为信号S139。此时，VCO133的操作使得两个输入信号Sd和S141(S139)同相。结果就获得了与数字化的还原信号Sd的基本周期同步的同步信号S510。
第二相位比较器53检测信号Sd和S510之间的相位差，并产生一个表示所检测的相位差的第二相位差信号S140。
高通滤波器51从第二相位差信号S140中提取高频成分并把它传输到检波器54。
检波器54检测该高频成分并产生信号S53。还原信号Sd的抖动越大，信号S53就越大。A/D转换器52把该信号S53数字化以产生表示(对应于)当前的径向倾斜量θr的抖动信号Sj。
如图8所示，径向倾斜估计器50中包括连接到抖动量测量器41的第一和第二存储器51和52，用于接收抖动信号Sj以检测径向倾斜量θr。径向倾斜估计器50产生一个用于控制径向倾斜调整器67的径向倾斜调整控制信号St1，以便以预定的倾斜角来调整倾斜装置60。估计器50通过一条用于传输信号St1的线路Lr1连接到径向倾斜调整器67。
一个带有第三存储器55的径向倾斜控制器54通过线路Lr2和Lr3连接到径向倾斜估计器50上。该控制器54还通过线路Lr4连接到径向倾斜调整器67，以及通过线路Lr5和Lr6连接到转动装置58。
当径向倾斜校正操作启动时，径向倾斜控制器54产生一个启动指令并通过线路Lr2向径向倾斜估计器50传输。在接收信号Sc时，径向倾斜估计器50产生径向倾斜调整控制信号St1。接着，光读出系统Os开始扫描校正数据区并以上述的方式还原信号Sj。径向倾斜估计器50根据信号Sj和St1在当前倾角下检测当前的抖动量。这样，被检测的地址和抖动量被分别存于存储器51和52中，并且在每次倾斜装置60根据当前信号Sj和St1改变倾角时更新。
根据所更新的数据，径向倾斜估计器50确定使得径向倾斜θr最小的最佳倾角，并产生一个最佳倾角信号Sθa。该信号Sθa被通过线路Lr3传输到径向倾斜控制器54，并被存储于存储器55中。
径向倾斜控制器54根据表示当前倾角与所确定的最佳倾角之差的信号Sθa产生一个径向倾斜补偿信号St2。该径向倾斜补偿信号St2通过线路Lr4传输到径向倾斜调整器67，这样径向倾斜调整器67驱动倾斜装置60来设定光读出系统Os于最佳径向倾斜位置。
控制器54进一步产生一个用于驱动转运装置58的转运驱动信号Sm1以移动光读出系统Os去扫描光盘进行信号的存取。转运装置58产生一个表示系统Os相对于光盘1的当前位置的地址信号Sm2，并通过线路Lr6传输到控制器54。
下面参照图11说明图8中带有图1A中的光盘1的光盘装置P1的径向倾斜调整操作。流程图中的每个块表示一个流程步骤。
在块#1中，当操作开始时，控制器54控制转运装置58把光读出装置122的光头移动到光盘1的引导区。光读出装置122先读引导区取得校正数据道区23的地址。径向倾斜控制器54进一步根据该地址数据，控制转运装置58把光头(光读出装置122)移动兰光盘1的校正数据道区23下方。光读出装置122从数据道区23读出校正数据。在本例中，校正数据道区23位于某一内圆周上，但并不仅限于该圆周。在光盘1上任何合适的位置都可以用作为校正数据道区23。接着，程序进入下一流程块#3。
在块#3中，径向倾斜控制器54产生启动指令信号Sc，并把它传输到径向倾斜估计器50，以启动径向倾斜估计操作。接着，执行块#5的操作。
在块#5中，径向倾斜估计器50执行径向倾斜估计操作以取得最佳径向倾斜θr。对于这一流程块操作将在下文中参照图13进行详细说明。此后，执行块#7的操作。
在块#7中，径向倾斜控制器54在第三存储器3存储块#5中获得的最佳倾角信号Sθa。接着，该径向倾斜控制器54进一步驱动径向倾斜调整器67以根据最佳倾角信号Sθ把倾斜装置60的底板Pr设置于最佳位置。此后，光读出装置122的光头在具有最佳径向倾斜量θr的倾斜装置60的低板上沿径向Dr移动，以进行存取操作。
清注意，带有图1B中的光盘1的装置P1的径向倾斜调整操作除了块#1中的操作外基本上与上述参照图11，所描述的操作相同。在块#1中，光读出装置122首先读引导区的控制数据区Dc以取得校正数据道23的地址。接着，光读出装置122根据所读取的地址数据移动到空数据区Dd，以保证该光头能够访问整个校正数据区3。
在图12中简要地展示倾斜装置60的底板Pr与光盘1的径向倾斜之间的关系。当光盘1没有径向倾斜时(如实线所示)，则底板Pr被设置为平行于光盘1的表面，使得激光束Lb沿着轴垂直地打在光盘1上。但是，当光盘1具有如虚线所示的径向倾斜θr时，该光盘表面相对于光轴Ax有径向倾角大小的倾斜。为了补偿这一倾角θr，径向倾斜调整器67的螺杆电机MS把底板Pr的自由端下拉，根据径向倾角θr使底板倾斜预定的角度。
在图13中展示了图11中径向倾斜校正块#5的操作过程。
在步骤S100中，在从径向倾斜控制器54接收启动指令信号Sc时，径向倾斜估计器50驱动径向倾斜调整器67使设定于初始位置。该初始位置是这样一个位置使得倾斜装置60的底板Pr与光盘电机Md的转轴基本上成一直角。换句话说，最好把基座60设置于顶端与底端位置之间的中央位置上。该顶端与底端位置根据图45来确定，这样基座60可以在最大的径向倾角范围内倾斜(最好为+0.5°至-0.5°)。接着，执行下一步骤S102。
在步骤S102中，径向倾斜估计器50根据抖动信号Sj检测对应于当前倾斜角θa的抖动。接着，表示倾斜角θa和抖动量Sj的当前值分别存储于第二存储器52和第一存储器51的地址“0”中。在下文中，为了便于识别在对应的每个存储器的地址的倾角和抖动量之后加上“地址数字”后缀，例如θa0和Sj0。接着执行步骤S104。
在步骤S104中，径向倾斜估计器40驱动径向倾斜调整器67向下移动(或顺时钟方向)预定Δt角，使得基座60下倾斜θa角。Δt是根据其分辨率确定的，根据图45所示Δt最好为0.1度。这是因为光盘1被置于光盘电机Mb上时，该光盘的外沿余下垂(如上面根据图44的说明中所述)。因此，通过把基座60下移可以改善径向倾斜θr。在下文中，向下方向通过在移动量之前加前缀“-”表示，如-Δt；而对于向上方向(或逆时钟方向)用前缀“+”表示，如+Δt。接着，执行步骤S106。
在步骤S106中，当基座沿顺时钟方向转动分辨角-Δt(图44)时，径向倾斜估计器50检测对应于当前径向倾斜的当前抖动量。接着，所检测到的当前抖动量Sj1和倾斜θa1分别存储于第一存储器51和第二存储器52的地址“1”中。请注意，每当基座60被向上或向下移动分辨角Δt时都要检测抖动量Sj。因此，在下文中把基座60移动Δt的时间间隔定义为一个径向倾斜估计周期。接着，执行下一步骤S108。
在步骤S108中，判断当前估计周期的抖动量Sj1是否等于或小于前一个估计周期的抖动量Sj0。当径向倾斜改善了，则抖动量Sj变小，判断为“是”。接着，执行下一步骤S110。
在步骤S110中，在前一估计周期内分别存储于存储器1和2中的抖动量Sj0。和倾斜角θa0分别被当前抖动量Sj1和当前倾角θa1所代替。接着，返回到步骤S104。请注意，步骤S110、S104、S106和S108的操作重复进行直到在步骤S108的判断为“否”时为止。这样就可以沿着顺时钟方向找到使得抖动量Sj最小(这意味着径向倾斜也最小)的最佳位置。
但是，当在步骤S108中判断为“否”时，这意味着把基座60向下倾斜后径向倾斜变得比前一周期更差。因此，这一个使基座60倾斜的操作被放弃，接着，进入下一步骤S112。
在步骤S112中，径向倾斜估计器50驱动径向倾斜调整器67向上移动最小分辨量+Δt，以便在这一方向上检测最佳位置。接着进入下一步骤S114。
在步骤S114中，以类似于步骤S106的方式把当前抖动量Sj1和倾斜θa1分别存储于第一存储器51和第二存储器52的地址“1”中。接着进入下一步骤S116。
在步骤S116，判断当前估计周期的抖动量Sj1是否等于或小于前一估计周期的抖动量Sj0。当判断为“是”时，这意味着径向倾斜已得到改进，并且进入步骤S118。
在步骤S118中，分别存储于存储器51和存储器52中的抖动量Sj0和倾角θa0分别被当前抖动量Sj1和倾角θa1以类似于步骤S110的方式所代替。接着程序返回到步骤S112。请注意步骤S118、S112、S114和S116中的操作重复进行直到在步骤S116中的判断为“否”时为止，这一过程与步骤S108相同。这样就可以沿着逆时钟方向搜索使得径向倾斜最小的最佳位置。
当在步骤S116的判断为“否”时，这意味着在前一估计周期中的倾斜角作为沿着顺时钟和逆时钟两个方向搜索的结果是使得径向倾斜最小的最佳位置。接着进入步骤S120。
在步骤S120中，当前存储于存储器2内的倾斜角θa0作为最佳倾斜角信号Sθa被传输到径向倾斜控制器54中。然后终止程序。
在图1C中展示了图1A中的光盘的另一个实例。在该实例中，光盘1上除了具有图1A中的校正数据区3外，还具有一个校正数据记录区4。尽管在图1C中这两个区域3和4分别形成于光盘的内圆周和外圆周上，但是如上文所述，这两个区域3和4也可以形成于光盘1上的其他部位。
在图14中展示了一个带有图1C中的光盘1的图8中光盘装置的径向倾斜调整操作过程。除了关于对第二记录区4的操作外，图14中的其他操作与图11中的操作基本相同。
例如，块#11、#13和#15分别对应于块#1、#3和#5。
但是在块#17中，径向倾斜控制器54把在块#5中作为第一最佳倾斜角信号S1获得的最佳倾斜角信号Sθa存储于存储器55中。
块#19、#21、#23和#25涉及关于第二数据区4的第二径向倾斜估计操作。因此，块#19、#21和#23分别对应于块#11、#13和#15。接着，在块#25中，在块#23取得的最佳倾斜角信号Sθa被作为第二最佳倾斜角信号S2存储于控制器54的第三存储器55中。
在块#27中，径向倾斜控制器54推出在内圆围区(3)和外圆围区(4)之间的最佳倾斜角。然后，控制器54控制径向倾斜调整器67把光读出装置Os(122和58)设置为每个这样根据光读出装置122在径向方向上的位置而插入的倾斜角。
在图15中简要地展示了块#27插入倾斜角的原理。一般来说，在内圆围(L3)上最佳倾角Sθ(对出于径向倾斜)有最小值(S1)，该最佳倾角向外逐渐增大并在外圆周(L4)上达到最大值(S2)。基于这一事实，在光盘1的内圆周之间的任何位置(X)上的最佳倾角(Sx)可以通过数字插值方法来确定。
在图15中，垂直轴代表用于最小在径向倾斜的最佳倾角(θ)，水平轴代表光读出装置(光头)对应于扫描方向Dr的地址。现在分别根据第一和第二校正数据3和4检测第一个最佳倾角S1和S2，并把它们用圆点标在地址3和地址4上。这两个圆点之间可以用一条曲线7301连接起来，这条曲线可以定义为位置与倾角之间的函数。通过确定这条曲线的函数系数可以模拟在第一和第二数据区3和4之间的记录区2的实际径向倾斜。这条模拟线7301的函数系数可以用理论和实验方法来确定。
进一步地，可以把这样确定的模拟成7301的函数系数记录于光盘1上适当的区域。本发明的光盘装置即使在更换光盘时也能够迅速方便地动态校正径向倾斜。
另外，通过根据形成于光盘1上的校正数据道区计算光盘1的径向倾斜，这样在读取所对准的记录道的记录信号时减少了来自与所对准记录道相邻的记录道的串扰。因此，进一步提高了读取操作的可靠性。
另外，由于最佳倾角θa被作为最佳倾角信号Sθa存储于径向倾斜控制器54的第三存储器55中，这样，有可能比较本光盘装置与过去的光盘装置的径向倾斜量，例如在把该装置向终端用户提供之前对该光盘装置进行功能检测。
本发明的径向倾斜校正可以在任何需要径向倾斜校正的时候进行。例如，当光盘受到强烈的振动时，光盘可以改变其相对于光读出装置或光头的位置。
当均衡器126把还原信号的抖动减少到不可检测出来的程度时，可以把该均衡器126从图8的光盘装置中除去。这样的话，前置放大器125输出的信号直接输入到二进制化电路127。
对于抖动量测量器11，可以采用任何其他能够检测还原信号Sd的抖动量的装置。当光盘在许可的范围内存在尺寸误差时，在光盘的内圆周和外圆周的径向倾斜也可能表现为不同的数值。这种误差可能是由于反射面不平整、变形或形成过程不当引起的。在这种情形下，最好通过调整光读出装置Os(122和58)的倾角对光盘的整个记录区补偿径向倾斜。为了这一目的，根据本发明在光盘的内圆周和外圆周分别提供两个校正数据区，如上文中对图1C的说明所述。
在图16中展示了图4的校正数据道区的第二个实例。在本实例中，第一和第二道中都记录着11T信号S11T。第二道33中记录着随机信号SR。
该随机信号SR根据2-10调制产生，其中包括3T信号S3T至11T信号S11T。下面参照光盘1上的凹刻痕和刻痕间隔说明这一情形。该随机信号SR为多个凹刻痕和刻痕间隔的结合。该凹刻痕具有预定的数目(例如九个)，其长度各不相同，分别对应于3T信号S3T至11T信号S11T的长度。刻痕间隔也具有预定的数目(例如九个)，其长度各不相同分别对应于信号S3T至信号S11T的长度。
第一和第三道32和34中只记录着11T信号S11T，该信号是一个由长度对应于11T信号S11T的一个凹刻痕与长度对应于11T信号S11T的一个刻痕间隔组成的连续图案。只要已包含足够多的11T信号成份，也可以在11T信号的单个扇区内把地址和ECC加到11T信号中。
在图17中展示了在单个扇区内的11T信号S11T的一个实例。其中地址数据和纠错码分别加到11T信号S11T的两端。
在图18中展示了一个类似于图15的校正数据道区23的第三实例。在本实例中，第二道33中记录着特定图案信号SP。该特定的图案信号SP的构成如上文中参照图5A和5B的说明所述。
在图19中展示了另一种图3中所示的校正数据道区23。尽管在图3中的数据中，所有的道32、33和34具有相同的道宽下，但是在本实例中第二道33的道宽T2小于其他道32和34的道宽T1。
在图20中展示了图19的校正数据道区23的第一个实例。第一和第三道32和34记录着随机信号SR。第二道33记录着特定图案信号SP。
在本例中，由于第二道33的道宽比其他道32和34的道宽窄，则对于第二道33来说来自相邻的道32和34的串扰比图4中的情况要大。因此，由于径向倾斜所引起的抖动量也较大，这样就进一步提高了检测径向倾斜的精度。除此以外，由于校正数据道区23占据了较小的空间，则有更多的空间用于记录信息。
在图21中展示了类似于图19中所示的校正数据道区23的第二实例，在本实例中，第一和第三道32和34记录着11T信号S11T，第二道33记录着随机信号SR。
在图22中展示了类似于图18中所示的校正数据区的第三实例。在本实例中，第一和第三道32和34记录着11T信号S11T，第二道33记录着特定图案信号SP。
在图23中展示了类似于图19中所示的另一种图3中的校正数据道区23。在图19中，尽管第二道33的道宽小于其他道的道宽，但是在本实例中第一和第三道32和34，具有相同的道宽T3，且小于第二道33的道宽T1。
在图24中展示了类似于图20中所示的图17中的数据道区23的第一实例。第一和第三道32和34中记录着随机信号SR，第二道33记录着特定图案信号SP。
在本实例中，由于第一和第三道32和34的道宽比第二道33的道宽窄，则对于第二道33来说，来自相邻道32和34的串扰比图4中的情形要大。因此，由于径向倾斜而导致的抖动量也较大，从而进一步提高了径向倾斜检测的精确度。除此以外，由于校正数据区23占据了较小的空间，则可以有更多的空间用于记录信息。
在图25中展示了类似于图21所示的图17中的数据道区23的第二实例。第一和第三道32和34记录着11T信号S11T，第二道33记录着随机信号SP。
在图26中展示了类似于图22所示的图23中的数据道区23的第三实例，第一和第三道32和34记录着11T信号S11T，第二道33记录着特定图案信号SP。
在图27中展示了类似于图3所示的另一种图3中的校正数据道区23。其中所有道32、33和34的道宽T4小于光盘1的记录区2中的道宽T1。
在图28中展示了类似于图20所示的图27中的数据道区23的第一实例。第一和第三道32和34记录着随机信号SR，第二道33记录着特定图案信号SP。
在本例中，所有校正数据道32、33和34的道宽T4小于形成于光盘1的记录区2中的记录道的道宽。因此，对于第二道33来说，来自于相邻道32和34的串扰比图4中的情形要大。因此，由于径向倾斜所导致的抖动量也较大，这样就提高了检测径向倾斜的精确度。除此以外，由于校正数据道区23占据了较少的空间，从而有更多的空间用于记录信息。
在图29中展示了类似于图21所示的图27中的数据道区23的第二实例。第一和第三道32和34记录着11T信号S11T，第二道33记录着随机信号SR。
在图30中展示了类似于图22所示的图27中的数据道区23的第三实例。第一和第三道32和34记录着11T信号S11T，第二道33记录着特定图案信号SP。第二实施例在图31中展示了根据本发明第二实施例的一种光盘装置。该光盘装置P2的结构与图8中所示的结构十分相似，其中的径向倾斜估计器50、径向倾斜控制器54和径向倾斜调整器67分别被切向倾斜估计器70、切向倾斜控制器74和切向倾斜调整器82所代替。
如图31所示，切向倾斜估计器70和切向倾斜控制器74的结构基本上分别与径向倾斜估计器50和经向倾斜控制54的结构相同。切向倾斜调整器73的结构除了倾斜装置73外类似于图10中的径向倾斜调整器60的结构。
在图32中展示了倾斜装置73。该倾斜装置73具有一个用于支承位于其上面的转运装置58的底板Pt和一个支点部件Fr。底板Pt的一端以悬臂方式与支点部分Fr可弯析地连接起来。另一端置于垂直往复部件Tt的一端上。该垂直往复部件Tt与径向倾斜调整器82之间滑动连接。在本例中，垂直住复部件Tr由可被径向倾斜调整器82所旋转的螺杆构成，并可以往复地沿着箭头Dz所示的垂直方向往复运动。
随着螺杆部件Tt的往复运动，包括转运装置58和光读出装置122在内的底板Pt相对于支点部件Ft沿箭头方向Dr绕轴旋转。换句话来说，光读出系统Os的径向倾斜可以由切向倾斜调整器82来确定。请注意径向倾斜和切向倾斜装置60和73的底板Pr和Pt可以形成于一个具有两个支点Fr的Ft的装置中。
根据本实施例，使得抖动量最小的位置对应于使得切向倾斜最小的最佳倾角。基于这一事实，切向倾斜可以通过对光读出装置Os的倾角进行调整而得到补偿。由于本实施例基本上与参照图11、13和14对图1A、1B和1C中的光盘1的说明相似，因而为了简单起见在此略去进一步的说明。
在图33中简要地展示了倾斜装置73的底板与光盘1的切向倾斜之间的关系。当光盘1没有切向倾斜时，底板Pt被设置为平行于光盘1的表面使得激光束Lb沿着光轴垂直地打在光盘1上。但是，当光盘1沿着任何一个箭头方向切向倾斜θt时，光盘表面相对于光轴倾斜该切向倾角。为了补偿该切向倾角θt，切向倾斜调整器73的螺杆电机Mt根据该切向倾角θt沿着对应的方向精确地调整底板Pt的自由端。第三实施例在图34中展示了根据本发明第三实施例的光盘装置。该光盘装置P3的结构类似于图8中的装置，其中的径向倾斜估计器50、径向倾控制器54和包括倾斜装置60在内的径向倾斜调整器67分别被聚焦位置估计器90、聚焦控制器94、聚焦伺服电路100和通过线路Lr7连接到聚焦伺服电路100的聚焦位置调整器110所代替。请注意包括倾斜装置60的倾斜调整器67和包括倾斜装置73的切向调整器82可以同时用于本实施例中，但是简单起见在此省略。
如图34所示，聚焦位置估计器90和聚焦控制器94的结构分别与径向倾斜估计器50和径向倾斜控制器54的结构基本相同。聚焦位置估计器90产生一个用于控制聚焦伺服电路100的聚焦伺服电路控制信号Sfs取代径向倾斜调整控制信号St1(该信号由径向倾斜估计器50产生)。
根据本实施例，使得抖动量最小的位置对应于使得聚焦误差信号最小的最佳聚焦位置。关于这一事实，聚焦伺服电路100产生一个表示当前位置为最佳位置(在此位置上误差信号应为零或为最小值)的聚焦补偿信号Sf。该聚焦补偿信号Sf通过线路Lr7传输聚焦位置调整器110，这样聚焦位置调整器97调整光读出装置以补偿在当前位置检测到的聚焦误差信号使其为零或最小值。这样由电路特性所决定的聚焦误差就能得到补偿。
如上文所述，由于聚焦位置可以通过调整光读出装置Os的倾斜角而得到补偿，则本实施例的操作过程基本上与参照图11、13和14的说明相类似。第四实施例在图35中展示了根据本发明第四实施例的一种光盘装置。该光盘装置P4的结构与图34中的十分相似，其中的聚焦位置估计器90、聚焦控制器94、聚焦伺服电路100和聚焦位置调整器110分别被跟踪位置估计器120、跟踪控制器124、跟踪伺服电路120和跟踪位置调整器140所代替。
跟踪位置估计器120、跟踪控制器124、跟踪伺服电路130和跟踪位置调整器140的结构分别与聚焦位置估计器90、聚焦控制器94、聚焦伺服电路100和聚焦位置调整器110的结构十分相似。只是跟踪位置估计器120产生一个用于控制跟踪伺服电路130的跟踪伺服电路控制信号Sts，而不是径向倾斜调整控制信号St1。
根据本实施例，使得抖动量最小的位置对应于最佳跟踪位置，在该位置上跟踪误差信号应为零或为最小值。基于这一事实，跟踪伺服电路130产生一个表示当前位置为跟踪的最佳位置的跟踪补偿信号Str。该跟踪补偿信号通过线路Lr7传输到跟踪位置调整器140，这样跟踪位置调整器140调整光读出装置Os(122和58)以补偿在当前位置检测到的跟踪误差信号，使其变为零或为最小值。因而，由电路特性所决定的跟踪误差就能得到补偿。
如上文所述，由于可以通过调整光读出装置Os的倾角来对跟踪位置进行补偿，所以本实施例的操作过程基本上与上文中参照图11、13和14的说明相同。第五实施例在图36中展示了图3中的校正数据道区23的另一种变形。请注意，在图3中的第一、第二和第三校正数据道32、33和34分别对应于图36中的道3702、3701和3703。另外，道间距Tp(代替图3中的道宽T1)定义为两相邻道中心线之间的距离。每条道的中心线由点划线表示。而且在本实施例中，第一、第二和第三道3702、3701和3703按顺序地从光盘1的内侧向外侧排列。
在本例中，第二道3701中没有记录着任何凹刻痕。第二道3702记录着由第三刻痕图案3704所表示的第一周期信号。通过重复地在22TW周期内形成一对凹刻痕和刻痕间隔而把第三刻痕图案3704记录道3702上，其中“TW”为窗宽。第三道3703记录着由第四刻痕图案3705表示的第二周期信号。通过重复地在20TW的周期内形成一对凹刻痕和刻痕间隔，而把第四刻痕图案3705记录于道3703上。
换句话说，第一校正数据道3702记录着以t1＝1/22TW周期重复的由一对凹刻痕和刻痕间隔组成的刻痕图案。第三校正数据道3703记录着以t2＝1/22TW周期重复的由一对凹刻痕和刻痕间隔组成的刻痕图案。请注意，t2≠t1、t2≠n.t1以及t2≠t1/m，其中“n”和“m”为正整数。
为形成这些凹刻痕，可以使用任何使得凹刻痕部分区别于基质部分的方法，如波形表面(从基质表面的凸起或凹陷)、磁化方向、以及结晶状态(结晶态或非结晶态)。也可以把道地址信息重复地加到这些信号中，在下文中将对本实施例的这种重复地加入道地址信息的情况加以说明。请注意，如图1A、1B和1C所示，在本实施例中分别使用具有一个和两个校正数据道区23的光盘。
在图37中展示了根据本发明第五实施例的一种光盘装置。该光盘装置15中包括一个用于把激光束打到光盘3800上以从上面存取信息的光读出装置3801。在该光盘装置中提供一个对应于图8的径向倾斜调整器67和倾斜装置60的径向倾斜调整装置3809以调整光读出装置3801的倾斜位置。
一个径向倾斜控制器3811连接到径向倾斜装置3809，用于向其传输径向倾斜调整控制信号St1。
一个径向倾斜校正器3808连接到径向倾斜控制器3811，用于接收其启动指令Sc；另外还连接到径向倾斜调整装置3809，用于向其传输径向倾斜补偿信号St2。
一个前置放大器3802连接到光读出装置3801用于增大从光盘3800还原的信号的振幅，并产生还原信号。该还原信号根据形成于光盘3800记录道上的刻痕长度而变化。
一个具有频率F1的第一带通滤波器3803连接到前置放大器3802，用于接收其还原信号。当第一带通滤波器3803设置使得频率为f1＝1/22TW的信号可通过时，则来自第一道3702的串扰成份与来自第二道3701的还原信号的主要成份一同通过该滤波器。
一个第一检波器3805连接到该带通滤波器3803，用于接收通过该第一带通滤波器3803的还原信号以把它转变为第一电压。
一个放大器3812连接到第一检波器，用于接收并放大该第一电压。该放大器3812可以由一个衰减器所代替。当在第三和第四刻痕图案3704和3705中的不同长度的凹刻痕有可能分别使得从道3702和3703中还原的信号的振幅不同时，可以使用放大器(衰减器)3812来补偿这一振幅的差别。
一个具有频率f2的第二带通滤波器3804连接到前置放大器3802，用于接收其还原信号。当该第二带通滤波器3804设置为使得频率为f2＝1/20TW的信号通过时，则来自第二道3703的串扰成分与来自第二道3701的还原信号的主要成分一同通过该滤波器。
一个第二检波器连接到第二带通滤波器3804，用于接收通过第二带通滤波器3804的还原信号，以把它转变为第二电压。
一个带有连接到放大器3812和第二检波器3806的两个输入端的比较器3807，用于分别接收放大的第一电压和第二电压。该比较器3807检测这两个电压之差并产生一个差信号Sy。请注意，这一差信号Sy代表来自第一和第三道3703的两个串扰成分之差。
因此，当差信号为正值时，来自第一道3702的串扰比来自第三道3703的串扰要大。在这种情况中，这意味着径向倾斜向着某个方向偏斜，在这一方向上位于内圆周一侧的光读出装置3801部分与光盘3800相接近。在下文中这一方向称为“负倾斜方向”。
另一方面，当差信号Sy为负值时，来自第一道3702的串扰比来自第三道3703的串扰要小。在这种情况中，这意味着径向倾斜向着某一方向偏斜，在这一方向上位于外圆周一侧的光读出装置3801部分与光盘3800相接近。在下文中这一方向称为“正倾斜方向”。
另外，当差信号Sy为零时，这意味着对于第二道3701来说来自相邻的道3702和3703的串扰相同。请注意，这一位置为使得径向倾斜最小的最佳位置。
为了实用的目的，当差信号Sy处于许可的范围内时，则判断当前位置为最佳径向倾斜位置。
由于串扰成分的增益由形成于该道上的刻痕图案的频率所确定。因此，来自道3702和3703的串扰成分具有不同的增益，这是由于比较器3807的比较不当所引起的。为了补偿这种两串扰成分之间的增益差别，在比较器3807之前提供放大器3812(如上文所述)。该放大器3812的放大系数可以根据刻痕图案的频率来确定。
径向倾斜校正器3808连接到比较器3807，用于接收来自该比较器的差信号Sy，以根据该信号Sy产生径向倾斜补偿信号St2。
一个地址读取器3810连接到前置放大器3802，用于接收其还原信号，以产生一个表示当前估计径向倾斜的地址的地址信号；并且连接到径向倾斜控制器3811，用于向其传输该地址信号。
在图38中展示了图37的光盘装置执行径向倾斜校正的操作过程。在下文中将说明这种带有如图1C所示的具有两个校正数据区的光盘3800的光盘装置的操作过程。而带有只有一个校正数据区的光盘的光盘装置的操作过程很简单，并且十分类似于图11中的过程，在此为简单起见予以省略。
首先，为图37中的光盘3800放置于图31的光盘装置中时，该径向倾斜校正流程启动如下。
在步骤S200中，光读出装置3801读取形成于光盘3800内圆周上的第一校正数据道区23中的第二校正数据道3701，以从其中读取信号。接着执行步骤S202。
在步骤S202中，判断差信号Sy是否在-ε～ε的范围内。其中“ε”为一个确定最佳径向倾斜位置的许可范围的预定数值，其大小最好为2Db。如果判断为“否”，这意味着执行步骤S204。
在步骤S204中，判断差信号Sy是否为正数。如果判断为“是”，这表示当前的径向倾斜偏向于负方向，接着，执行步骤S206。
在步骤S206中，把光读出装置3801倾斜一预定量Δt，接着执行步骤S202。
然而，当在步骤S204中判断为“否”时，这表示径向倾斜目前偏置于正方向，那么执行步骤S208。
在步骤S208中，把光读出装置3801倾斜一预定量-Δt，接着返回步骤S202。循环执行步骤S202、S204、S206和S208直到在步骤S202判断当前径向倾斜已处于许可范围内时为止。
在步骤S202的判断为“是”时，执行步骤S210。
在步骤S210中，存储当前倾角和地址存储作为第一倾角信号Sθ1和第一地址信号Sa1。接着，执行步骤S212。
在步骤S212中，光读出装置3801读取形成于光盘3800外圆周上的第二校正数据道区23中的第二校正数据道3701，以从其中读取信号。接着执行步骤S214。
在步骤S214中，判断差信号Sy是否处于-ε～ε的范围内。如果判断为“否”，则执行步骤S216。
在步骤S216中，判断差信号Sy是否为正值。如果判断为“是”，则执行步骤S218，在这一步骤中把光读出装置3801倾斜一预定量-Δt，接着返回步骤S214。
然而，当在步骤S216判断为“否”时，进到步骤S220，其中光读出装置3801按一预定量-Δt倾斜，然后回到步骤S214。
如在步骤S214的判断为“是”，则执行步骤S222，在这一步骤中把当前倾角和地址存储为第二倾角信号Sθ2和第二地址信号Sa2。然后终止程序。第六实施例在图39中展示了类似于图1C中的光盘的另一种光盘。类似地，在光盘1501中包括一个数据记录区1502、一个形成于其引导区内的第一校正数据区C3、以及第二校正数据区C4。请注意这些区域1502、C3和C4分别对应于图1C中的区域2、3和4。尽管在此只参照图39说明这种具有两个校正数据区的光盘1501，但是本发明也可以应用于只有一个校正数据区的光盘。
每个第一和第二校正数据区C3和C4被分割为多个扇区。例如，第一校正数据区C3可以按适当的比例分割为四个扇区1507、1508、1509和1510。换句话说，该校正数据区C3可以等分或不等分地分割为两个或多个扇区。为了便于识别，在此把所分割的扇区1507、1508、1509和1510分别定义为第一、第二、第三和第四内部校正扇区。
每个内部校正扇区进一步分为两个部分，第一部分为用于记录校正数据的数据区，第二部分为用于记录如扇区地址和道地址这样的地址信息的地址区。具体地说，该内部校正扇区1507中包括一个第一内部地址区1507a和一个第一内部数据区1507b。其他内部校正扇区1508、1509和1510中分别包括一个第二内部地址区1508a和一个第二内部数据区1508b、一个第三内部地址区1509a和第三内部数据区1509b、以及一个第四内部数据区1510a和一个第四内部数据区1510b。
类似地，第二校正数据区C4也包括第一、第二、第三和第四外部校正扇区1503、1504、1505和1506。另外，这些外部校正扇区1503、1504、1505和1506中包括一个第一外部地址区1503a和一个外部数据区1503b、一个第二外部地址区1504a和一个第二外部数据区1504b、一个第三外部地址区1505a和一个第三数据区1505b，以及一个第四外部地址区1506a和一个第四外部数据区1506b。
第一校正数据区C3的每个分割扇区似乎在径向方向上与第二校正数据区C4的对应分割扇区相对齐。但是，如上文所述，每个校正数据区C3和C4可以以任何合适的比例分割为不同数目的部分。因此，这些扇区并不要求分布在相对于其他扇区的预定位置上。
下面将参照图40A和40B说明记录于每个内部数据区1507b、1508b、1509b和1510b以及外部数据区1503b、1504b、1505b和1506b内的校正信号。两个不同的校正信号记录于不同的扇区。
在图40A中展示了第一和第三内部数据扇区1507b和1509b(1503b和1505b)的一个实例。道5102、5101和5103对应于图4中的第三数据道32、33和34。第一道5102记录着带有对应于图36的第三刻痕图案3704的一个刻痕图案5104的第一周期信号。如图40A所示第二和第三道5101和5103没有被记录。
在图40B中展示了第二和第四内部数据扇区1508b和1510b(1504b和1506b)的一个实例。道5106、5105和5107对应于图4中的第一、第二和第三数据道32、33和34。第一和第二数据道5106和5105中没有记录。但是，第三道5107记录着带有对应于图36中的第三刻痕图案3704的一个刻痕图案5108的第一周期信号。
在图41中展示了一种根据本发明第六实施例的光盘装置。该光盘装置P6中包括一个用于把激光束打到光盘1501上以在其上存取信息的光读出装置5201。在光盘装置中提供一个用于调整光读出装置5201的倾斜位置的径向倾斜调整装置5211，其对应于图8中的径向倾斜调整器67和倾斜装置60。
一个径向倾斜控制器5212连接到径向倾斜调整装置5211，用于向其传输径向倾斜控制信号St1。
一个径向倾斜估计器5210连接到径向倾斜控制器5212，用于接收其启动指令信号Sc；并且连接到径向倾斜调整装置5211，用向其传输径向倾斜补偿信号St2。
一个前置放大器5202连接到光读出装置5201，用于增加从光盘1501还原的信号的振幅，并产生还原信号。该还原信号随着形成于光盘1501上记录道的槽长度的不同而变化。
一个滤波频率为f1的带通滤波器5204连接到前置放大器5202，用于接收其中的还原信号。当带通滤波器5202的导通频率设置为f1＝1/22TW，则来自第一和第三数据扇区1507b和1509b的第一道5102(图40A)或第二和第四数据扇区1508b和1510b的第三道5107(图40B)的串扰成分与来自第二道5101(图40A)或5105(图40B)的还原信号的主要成分一起通过。
一个检波器5205连接到带通滤波器5204，用于把通过带通滤波器3803的还原信号转变为电压。
一个地址读取器5203连接到前置放大器5202，用于读取来自放大的还原信号的地址信息以产生开关信号SW。
该径向倾斜控制器5212还连接到该地址读取器5203，用于接收该开关信号Sw。
在该光盘装置中提供一个带有一个输入端口和两个输出端口的选择开关5206，该选择开关由控制信号所操作以有选择地把其中一个输出端口与该输入端口连接起来。该输入端口连接到检波器5205，用于接收其中的转换电压。其中一个输出端口连接到一个第一采样保持器5207，另一个连接到一个第二采样保持器5208。
一个带有两个输入端连接到第一采样保持器5207和第二采样保持器5208的比较器5209，用于接收所保持的来自相邻道5101和5107的串扰成分。比较器5209检测这两电压之差并产生差信号Sy。请注意，该差信号Sy代表来自第一或第三和第二或第四扇区的两个串扰成分的差值。
该径向倾斜估计器5210还连接到比较器5209，用于接收该差信号Sy。
在图42中展示了上述光盘装置P6的操作流程。下面就简要地介绍该操作过程。
首先，光盘读出装置5301访问第一扇区1507的第二道，例如从其中读取信息。接着，前置放大器5202放大来自光读出装置5301的还原信号，并把放大后的还原信号传输到地址读取器5203和带通滤波器5204。
地址读取器5203，读取光读出装置当前访问的扇区(1507)中地址区(1507a)的地址信息。基于所检测到的当前扇区地址，地址读取器1507进一步产生两个开关信号Sw1和Sw2之一。具体地说，当检测到奇数扇区时，则表明当前访问的扇区为第一扇区1707或第三扇区1709，这时产生第一开关信号Sw1。当检测到偶数扇区时，则表明当前访问的扇区为第二扇区1708或第四扇区1710，这时产生第二开关信号Sw2。
把带通滤波器的导通频率设置为f1＝1/22TW，这样来自第一和第三扇区1507和1509的第一道5102以及来自第二和第四扇区1508和1510的第三道5107的串扰成分导通并传到检波器5205。检波器分别把各串扰成分转变为电压。
在接收到第一信号Sw1后，选择开关把检波器5205连接到第一采样保持器5207，使得来自奇数(第一和第二)扇区(1507和1509)的串扰电压传输到第一采样保持器5207。在接收第一信号Sw2后，选择开关把检波器5205连接到采样保持器5208，使得来自偶数(第二和第四)扇区(1508和1510)的串扰电压传输到第二采样保持器5210。
结果，第一采样保持器5207只保持来自对应于图4的第一校正数据道32的内部圆周道上的串扰成分。第二采样保持器5208只保持来自对应于图4的第三校正数据道33的外部圆周道上的串扰成分。
这样，比较器5209比较来自第一和第三校正数据道32和34的串扰成分，并产生差信号Sy。在此以后的操作过程与上文中参照图37和38进行说明的光盘装置P5的操作过程十分相似，在此为了简单起见予以省略。
如上文所述，由于第一和第三道32和34中部记录着刻痕图案，可以用三束跟踪方法从第二道33读取校正数据。
另外，第二道34记录着频率为t0的校正数据信号，第一和第三道32和34记录着频率t2的校正数据信号，其中t0≠1、t0≠n.t1(n为整数)。这样，可以清楚地从第一和第二道(32)和(34)中检测出串扰成分，并且不受从第二道(33)中读出的信号影响。
另外，由于在该数据系统中，具有预定频率，对应于一个字节单位的信号记录于第二道(32)，则可以用简单的格式形成该校正数据区(23)。请注意，68TW对应于具有2-10调制过程的数据系数中的4个字节。第七实施例在图43中展示了一种根据本发明第七实施例，用于在光盘1上形成校正数据道区的光盘装置。本实施例中的光盘装置P7的结构类似于图8、31、34、35中的光盘装置的结构，但在以下几点涉及把预定校正数据记录于校正数据道区23中的每个数据道的方面有所不同。在下文中只说明对于形成校正数据道23起关键作用的部分而其他与图8、31、34和35中相同或相类似的部分为简便起见，在此省略。
光盘装置P7中包括光读出装置122，该光读出装置中又包括用于从光盘1存取信息的激光二极管123和针状光电二极管1241。在该光盘装置中提供用于移动光读出装置122以扫描形成于光盘1上的记录道的转运装置58。这样，光读出装置122和转运装置58就构成了光读出系统Os。聚焦误差信号Sfe从连接到光读出装置122的前置放大器125传输到聚焦伺服电路200。聚焦伺服电路200产生一个用于驱动包含于光读出装置Os内的聚焦控制系统(未展示)的聚焦驱动信号Sfd。请注意，该聚焦伺服电路200对应于图34中的聚焦伺服电路100。
一个校正数据控制器210产生一个用于控制光读出装置运动的转运装置驱动信号Std，并把该信号传输到与其相连的转运装置58。该校正数据记录控制器210还产生一个表示将记录于校正数据道区23的校正数据的校正数据选择信号Src。
校正数据发生器220中带有多个用于存储对应于校正数据的刻痕图案数据(这已在上文中参照附图的说明中提到)的存储器，例如ROM。请注意，为了简单起见，在图43中只展示了三个ROM300、310和320，但不只限于三个ROM。
校正数据发生器220连接到校正数据记录控制器210，用于接收校正数据信号Src。校正数据发生器220根据校正数据信号Src的指示从ROM300、310和320等只读存储器中选择用于存储刻痕图案数据的特定ROM。根据校正数据信号Src从所选中的特定ROM中按预定的次序和时序读出对应的刻痕图案数据，并写到区域223中对应的数据道32、33和34中。
一个激光二极管驱动电路240连接到校正数据发生器220，用于从每个对应的ROM中读出的刻痕图案数据，并产生一个用于控制光读出装置Os(122)的激光二极管123的激光二极驱动信号Sld。该激光二极管驱动电路240还连接到激光二极管123以把激光二极管驱动信号Sld传输到该激光二极管。
光读出装置Os根据信号Std和Src的控制把由预定的刻痕图案所表示的预定的校正数据记录到校正数据区223的每个记录道32、33和34中。如上文所述，凹刻痕和刻痕间隔的尺寸由为了还原信号而打在其上面的激光束的光斑尺寸Ls所确定。当然，凹刻痕和刻痕间隔的尺寸也可由为在光盘上记录凹刻痕而打在光盘上的激光束的光斑尺寸所确定。
虽然在上文通过结合附图和实施例已对本发明作了详尽的说明，但是对于专业技术人员来说也能够作出各种改进，但这些改动和变化形式也在本发明的权利要求书所确定的范围内。
工业应用即使在存储数字信息的光盘因重力而发生物理缺陷或形变的情况下以及当这种光盘具有不是设定于该光盘装置的不同尺寸时，也可应用本发明从该光盘中读取数字信息。另外，本光盘装置中使用了电路的特殊电特性。
因此，制造商可以发售带有记录着校正图案的校正记录区的光盘。用户可以通过使用包含着本发明的校正机构的光盘装置补偿影响数字信号的还原性的，因径向倾斜、切向倾斜和电子特性而产生的失真。
另外，用户以通过使用本发明光盘装置中的可写类型在使用该光盘的第一时间把校正图案写入可写光盘中。
权利要求
1.一种用于通过把光点(Ls)聚焦于光盘(1)上的记录道上从该记录道还原信号(Sd)的光盘装置(P7)，所述装置中包括一个用于产生一个引起还原信号发生抖动的第一图案(SP)的第一图案发生器装置(ROM)；一个用于把所述第一图案(SP)写到所述光盘(1)的第一记录道(33)的写入装置(122)。
2.如权利要求1所述的光盘装置(P7)，其特征在于被写入所述第一记录道(33)中的所述第一图案(SP)包括一个位于沿所述记录道(33)延伸的准直线上的大于所述光点(Ls)的第一刻痕(3204)；一个位于所述记录道准直线上的大于所述光点(Ls)的第二刻痕(3206)，其与所述第一刻痕(3204)相隔小于所述光点(Ls)大小的第一预定距离(3205)。
3.如权利要求2所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述的第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布所述第一记录道(33)上。
4.如权利要求2所述的光盘装置(P7)，其特征在于被写入所述第一记录道(33)中的第一图案(SP)包括多个位于沿所述记录道(33)延伸的准直线上，小于所述光点(Ls)，并与其他任何第三刻痕(3202)相隔第二预定距离(3201和3203)的第三刻痕(3202)。
5.如权利要求1所述的光盘装置(P7)，其特征在于还包括一个用于产生第二预定图案(SR)的第二图案发生器装置(ROM)，所述写入装置(122)把所述第二图案(SR)写入位于所述第一记录道(33)两侧的第二和第三记录道(32和34)中，用于通过从所述第二和第三记录道(32和34)中还原的信号(Sd)在从所述第一记录道(33)还原的信号(Sd)中引起串扰。
6.如权利要求5所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述第二和第三道(32和34)中包括多个随机分布的刻痕。
7.如权利要求5所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述第一、第二和第三道(33、32和34)分别具有预定的第一、第二和第三道宽(TP)。
8.如权利要求7所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述第一、第二和第三预定道宽(Tp)是相同的(T1)。
9.如权利要求7所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述第一预定道宽(T2)小于所述第二和第三预定道宽(T1)。
10.如权利要求7所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述第一预定道宽(T1)大于所述第二和第三预定道宽(T3)。
11.如权利要求11所述的光盘装置(P4)，其特征在于其中还包括一个用于把所述光点(Ls)打到所述记录道上以从其上还原所述信号(Sd)的光读出装置(Os)；一个用于按预定的间距改变所述光读出装置(Os)的聚焦位置的跟踪位置控制装置(140)；一个用于在从所述第一记录道(33)中还原的信号(Sd)中测量抖动量的抖动量测量装置(41)；一个用于检测使得所述测量到的抖动量(Sj)为最小的最小抖动跟踪位置的最小抖动位置检测装置(120)；一个用于控制所述跟踪位置控制装置(140)去把所述光读出装置(Os)设置于所述检测到的最小抖动跟踪位置上的跟踪控制装置(130)。
12.一种用于从记录着使得还原信号(Sd)发生抖动的预定图案(SP)的光盘(1)的记录道(2和33)中还原出信号(S)的光盘装置(P1)，其中包括一个用于通过把光点(Ls)打到所述记录道(2和33)上来从中还原所述信号(Sd)的光读出装置(Os)；一个用于在预定方向上把所述光读出装置倾斜预定的角度(Δt)的倾斜装置(60)；一个用于从所述记录道(33)中还原的信号(Sd)中测量抖动量(Sj)的抖动量测量装置(41)；一个用于检测使得所述测量到的抖动量(Sj)为最小的最小抖动角(θa)的最小抖动角检测装置(50)；一个用于控制所述倾斜装置(60)把所述光读出装置(Os)倾斜到所述检测到的最小抖动角(Qa)的倾斜控制装置(54和67)。
13.如权利要求12所述的光盘装置(P1)，其特征在于所述预定方向为一相对于所述光盘(1)的径向方向。
14.如权利要求12所述的光盘装置(P2)，其特征在于所述预定方向为相对于所述光盘(1)半径的切向方向。
15.一种用于从记录着使得还原信号(Sd)发生抖动的预定图案(SP)的光盘(1)的记录道(2和33)中还原出信号(Sd)的光盘装置(P3)，其中包括一个用于通过把光点(Ls)打到所述记录道(2和33)上来从中还原所述信号(Sd)的光读出装置(Os)；一个用于按预定的间距改变所述光读出装置(Os)的聚焦位置的聚焦位置控制装置(110)；一个用于在从所述第一记录道(33)中还原的信号(Sd)中测量抖动量(Sj)的抖动量测量装置(41)；一个用于检测使得所述测量的抖动量(Sj)为最小的最小抖动聚焦位置的最小抖动位置检测装置(90)；一个用于控制所述聚焦位置控制装置(110)以将所述光读出装置(OS)设在所述检测到的最小抖动聚焦位置的聚焦控制装置(100)。
16.一种用于从记录着使得还原信号(Sd)发生抖动的预定图案(SP)的光盘(1)的记录道(2和33)中还原出信号(Sd)的光盘装置(P4)，其中包括一个用于通过把光点(Ls)打到所述记录道以从其中还原所述信号(Sd)的光读出装置(Os)；一个用于按预定的间距改变所述光读出装置(Os)的聚焦位置的跟踪位置控制装置；一个用于在从所述第一记录道(33)还原的信号(Sd)中测量抖动量(Sj)的抖动量测量装置(41)；一个用于检测使得所述测量的抖动量(Sj)为最小的最小抖动跟踪位置的最小抖动位置检测装置(120)；一个用于控制所述跟踪位置控制装置(140)以把所述光读出装置(Os)设置于所述测到的最小抖动跟踪位置的跟踪控制装置(130)。
17.一种通过把光点(Ls)聚焦于形成光盘(1)上的记录道上，用于使信号(Sd)记录于所述光盘(1)的记录道上的光盘装置(P7)，其中包括一个用于产生引起所述还原信号(Sd)发生抖动的第一图案(SP)的第一图案发生器装置(ROM)；一个用于在所述光盘(1)的第一记录道(33)中写入所述第一图案(SP)的写入装置(122)。
18.如权利要求17所述的光盘装置(P7)，其特征在于被写入所述第一记录道33的所述第一图案(SP)中包括一个位于沿所述记录道(33)延伸的准直线上，大于所述光点(Ls)的第一刻痕(3204)；一个位于所述记录道准直线上，并与所述第一记录刻痕(3204)相隔一个小于所述光点(Ls)的预定距离(3205)的大于所述光点(Ls)的第二刻痕(3206)。
19.如权利要求18所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布于所述第一记录道(33)上。
20.如权利要求17所述的光盘装置(P7)，其特征在于所述被写入所述第一记录道(33)中的第一图案(SP)中包括多个位于沿所述记录道(33)延伸的准直线上，且与其他第三刻痕(3202)相隔一个第二预定距离(3201和3203)的小于所述光点(Ls)的第三刻痕(3202)。
21.如权利要求17所述的光盘装置(P7)，其特征在于其中还包括一个用于产生第二预定图案(SR)的第二图案发生器装置(ROM)，所述写入装置(122)把所述第二图案(SR)写入分别位于所述第一记录道(33)两侧的第二和第三记录道(32和34)中，用于使在从所述第一记录道(33)还原的信号中引起与所述第二和第三记录道中还原的信号串扰。
22.一种用于光盘装置(P1)中，通过把光点(Ls)聚焦于光盘上的所述记录道上，从形成在光盘(1)上的多个记录道还原信号的光盘(1)，其中包括一个用于记录所述信号的第一记录道(2)；一个用于记录能使从中还原的信号发生抖动的第一预定图案(SP)的第二记录道(33∶3，23)。
23.如权利要求22所述的光盘(1)，其特征在于所述的写入第二记录道(33)的第一图案(SP)中包括一个位于沿所述记录道(33)延伸的准直线上，且大于所述光点(Ls)的第一刻痕(3204)；一个位于所述准直线上且大于所述光点(Ls)的第二刻痕(3206)，其与所述第一刻痕间隔小于所述光点(Ls)的第一预定距离(3205)。
24.如权利要求23所述的光盘(1)，其特征在于所述第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布于所述第二记录道(33)内。
25.如权利要求22所述的光盘(1)，其特征在于被写入所述第二记录道(33)的所述第一图案(SP)中包括多个位于沿着所述记录道(23)延伸的一条准直线上小于所述光点(Ls)的第三刻痕(3202)，且其与任何其他第三刻痕相隔一个大于所述光点(Ls)的第二预定距离(3201和3203)。
26.如权利要求23所述的光盘(1)，其特征在于所述第一刻痕(3204)沿着所述准直线方向延伸一第一预定长度6T，所述第一刻痕(3206)沿着所述准直线方向延伸为第二预定长度7T，所述第一预定距离(3205)为长度3T，所述T为该通道的位长。
27.如权利要求25所述的光盘(1)，其特征在于所述第三刻痕(3202)沿着所述准直线方向延伸为第三预定长度3T，并与其中一个相邻的第三刻痕(3202)相隔一个第三预定距离7T，并与另一个相邻的第三刻痕(3202)相隔一个第四预定距离6T，所述的T为该通道的位长。
28.如权利要求22所述的光盘(1)，其特征在于被写入所述第二记录道(33)的所述第一图案(SP)中包括所述第一刻痕(3204)沿着所述第二记录道(33)纵向方向延伸长度为大于所述光点(Ls)的一个第一预定长度；一个第二刻痕(3206)沿着所述第二记录道(33)纵向方向延伸长度为大于所述光点的一个第二预定长度，且位于所述第一刻痕(3204)的一第一侧并与其相隔一个小于所述光点(Ls)的一个第一预定间距(3205)；一个第三刻痕(3202)测着所述第二记录道(33)纵向方向延伸长度为小于所述光点(Ls)的一个第三预定长度，且位于所述第一刻痕(3204)的另一侧，并与所述第二刻痕(3206)相隔一个大于所述光点(Ls)的一个第二预定间距。
29.如权利要求28所述的光盘(1)，其特征在于所述第一图案(SP)重复地形成于所述第二记录道(33)上，这样所述第三刻痕(3202)与下一个所述第一刻痕(3206)之间的间距为大于所述光点(Ls)的一个第三预定间距(3201)。
30.如权利要求28所述的光盘(1)，其特征在于所述第一预定长度为6T；所述第二预定长度为7T；所述第一预定间距为3T；所述第三预定长度为3T；所述第二预定间距为7T，所述T为通道的位长。
31.如权利要求29所述的光盘(1)，其特征在于所述第三预定间距(3201)为6T，所述T为通道的位长。
32.如权利要求29所述的光盘(1)，其特征在于其中还包括位于所述第二记录道(33)两侧的一个第三和一个第四记录道(32和34)，该记录道用于通过从其中还原的信号在从所述第二记录道(33)中还原的信号(Sd)中产生串扰。
33.如权利要求32所述的光盘(1)，其特征在于所述第三和第四记录道(32和34)中包含多个随机排列的刻痕。
34.如权利要求32所述的光盘(1)，其特征在于所述第二、第三和第四记录道(33、32和34)分别具有第一、第二和第三预定道宽(TP)。
35.如权利要求34所述的光盘(1)，其特征在于所述第一、第二和第三预定道宽(TP)是相同的(T1)。
36.如权利要求34所述的光盘(1)，其特征在于所述第一预定道宽(T2)小于所述第二和第三预定道宽(T1)。
37.如权利要求34所述的光盘(1)，其特征在于所述第一预定道宽(T1)大于所述第二和第三预定道宽(T3)。
全文摘要
一种用于通过把光点(Ls)聚焦于光盘(1)的记录道上,从中还原信号(Sd)的光盘装置(P7),其中包括一个校正数据发生器(220)。该校正数据发生器(220)中带有多个存储着用于使所述被还原发生抖动的各种校正图案(SP和SR)的ROM(300)。一个校正数据记录控制器(210)控制校正数据发生器(220)有选择地向光读出装置(Os)输出一个特定的校正图案(SP),以把所述特定图案(SP)记录于该光盘(1)的一个校正数据道区(23)中。
文档编号G11B7/09GK1207821SQ96199655
公开日1999年2月10日 申请日期1996年1月16日 优先权日1996年1月16日
发明者岛田敏幸, 东海林卫, 石田隆, 大原俊次 申请人:松下电器产业株式会社