一种提高闪存可利用率的方法与流程

本发明涉及闪存技术领域，具体为一种提高闪存可利用率的方法。

背景技术：

闪存是一种长寿命的非易失性(在断电情况下仍能保持所存储的数据信息)的存储器，数据删除不是以单个的字节为单位而是以固定的区块为单位，区块大小一般为256kb到20mb。闪存是电子可擦除只读存储器(eeprom)的变种，闪存与eeprom不同的是，eeprom能在字节水平上进行删除和重写而不是整个芯片擦写，而闪存的大部分芯片需要块擦除。由于其断电时仍能保存数据，闪存通常被用来保存设置信息，如在电脑的bios(基本程序)、pda(个人数字助理)、数码相机中保存资料等；闪存正朝大容量、低功耗、低成本的方向发展。与传统硬盘相比，闪存的读写速度高、功耗较低，市场上已经出现了闪存硬盘，也就是ssd硬盘，该硬盘的性价比进一步提升。随着制造工艺的提高、成本的降低，闪存将更多地出现在日常生活之中。

闪存为非消失性的存储器装置，闪存从一个存储器单元里存放一比特，擦写次数10万次，演进到一个存储器单元里存放二比特，擦写次数5000到10000次，到最新提出的一个存储器单元里存放三比特，擦写次数1000次。新的闪存推出，使用寿命减少，寿命减少会导致错误比特发生率提高。因此能增加数据正确性，成为一个重要的议题。

闪存为非消失性的存储器装置，由页组成块，再由块组成的集合成为逻辑单元,而大容量的闪存不只一個逻辑单元,有2,4,8…等个逻辑单元。但是品质较差的大容量闪存时常伴随着某个逻辑单元无法使用的状况,这样在闪存固件需要2的n次幂个逻辑单元(除了1个逻辑单元之外)的操作下,会导致无法使用。另外普遍提高利用率的方式仅针对页或块做处理,遇到逻辑单元层面的损坏就只能将整颗闪存放弃。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种提高闪存可利用率的方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种提高闪存可利用率的方法，包括以下步骤：

a、首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在；

b、接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果；

c、如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,；

d、如果有逻辑单元不能使用,则利用硬件将闪存逻辑单元重新定址后,挑能符合规则的逻辑单元数量进行生产。

优选的，所述步骤a中的闪存逻辑单元有1024个块，每个块有256个页，每个页有32个扇形组合而成。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明中，首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在,接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果,如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,如果有逻辑单元不能使用,则利用硬件将闪存逻辑单元重新定址后,挑能符合规则的逻辑单元数量进行生产，本发明可以达到提高闪存的利用率,减少客户的损失得目的。

附图说明

图1为本发明流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明提供一种技术方案：一种提高闪存可利用率的方法，包括以下步骤：

a、首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在；其中，闪存逻辑单元有1024个块，每个块有256个页，每个页有32个扇形组合而成；

b、接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果；

c、如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,；

d、如果有逻辑单元不能使用,则利用硬件将闪存逻辑单元重新定址后,挑能符合规则的逻辑单元数量进行生产。

举例说明:闪存有4个逻辑单元,位置分别为0,1,2,3,假设位置1的逻辑单元损坏,则根据容量用位置2或3去替代,如果用2替代,则生产可使用逻辑单元0,2,开半容生产,反之亦然。这样就可以达到提高闪存的利用率,减少客户的损失。

本发明中，首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在,接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果,如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,如果有逻辑单元不能使用,则利用硬件将闪存逻辑单元重新定址后,挑能符合规则的逻辑单元数量进行生产，本发明可以达到提高闪存的利用率,减少客户的损失得目的。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种提高闪存可利用率的方法，其特征在于：包括以下步骤：

a、首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在；

b、接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果；

c、如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,；

d、如果有逻辑单元不能使用,则利用硬件将闪存逻辑单元重新定址后,挑能符合规则的逻辑单元数量进行生产。

2.根据权利要求1所述的一种提高闪存可利用率的方法，其特征在于：所述步骤a中的闪存逻辑单元有1024个块，每个块有256个页，每个页有32个扇形组合而成。

技术总结
本发明公开了一种提高闪存可利用率的方法，首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在,接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果,如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,如果有逻辑单元不能使用,则利用硬件将闪存逻辑单元重新定址后,挑能符合规则的逻辑单元数量进行生产，本发明可以达到提高闪存的利用率,减少客户的损失的目的。

技术研发人员：蔡定国;李庭育;许豪江;黄中柱
受保护的技术使用者：江苏华存电子科技有限公司
技术研发日：2020.03.22
技术公布日：2020.11.13