适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构的制作方法

适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构
技术领域
1.本实用新型属于半导体测试技术领域，具体涉及一种适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构。


背景技术：

2.在半导体测试领域广泛使用p&p handler设备，例如epson ns8000系列集成电路测试处理器，ns8000系列普遍使用通用接口总线(general
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purpose interface bus，gpib)进行通讯，该系列handler gpib接口接线后线束3会向下弯曲，接口处拉的比较紧，一段时间后接口处会有松动影响通讯，gpib线长期拉紧并弯曲会导致使用寿命降低，且在安装时需要固定4个螺丝，使插头和面板准确插接，若定位不准，容易损坏接口的插针。


技术实现要素：

3.本实用新型解决的技术问题：gpib接口接线后线束3会向下弯曲，接口处拉紧受力，容易产生松动影响通讯，gpib线长期拉紧并弯曲导致使用寿命降低，安装时定位不准，容易损坏接口的插针。
4.技术方案：为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：
5.一种适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构，包括插座面板、插头和线束，所述插座面板固定在处理器背板上，所述插头与插座面板插接，在所述插座面板的两侧设置有若干定位凹槽，所述线束通过一压接套固定在插头上，在所述插头下表面设置有与定位凹槽位置对应的定位柱。
6.作为优选，所述插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下。
7.作为优选，所述压接套与出线口螺纹连接，在所述压接套上设置有供线束通过的通孔。
8.作为优选，所述出线口设置有内螺纹，所述压接套设置有外螺纹。
9.作为优选，在所述通孔内设置有橡胶圈。
10.作为优选，所述定位凹槽为铁制成的槽口，所述定位柱为磁铁制成，所述定位柱插入定位凹槽内。
11.作为优选，所述定位凹槽的开口处置为喇叭口形状。
12.作为优选，在所述插座面板的四角设置有螺纹孔，在所述插座面板的四角设置有螺丝安装孔。
13.有益效果：与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：
14.本实用新型的适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构，在进行接口安装时，先进行快速的定位，使插头和插座面板进行全完契合，然后拧紧螺丝即可；本实用新型的插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下，不会发生折弯和松动现象，且设置的压接套牢固的将线束固定在插头上，不容易产生松动，从而不影响数据传输。
附图说明
15.图1是本实用新型的适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构处理器面板和插座面板示意图；
16.图2是本实用新型的适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构插头的主视图；
17.图3是本实用新型的适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构插头的侧视图；
18.图4是本实用新型的适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构压接套的结构示意图。
具体实施方式
19.下面结合具体实施例，进一步阐明本发明，实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
20.如图1
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4所示，一种适用于ic测试处理器的gpib接口安装结构，包括插座面板1、插头2和线束3，插座面板1通过螺丝固定在处理器背板4上，插头2与插座面板1插接，在插座面板1的两侧设置有若干定位凹槽5，线束3通过一压接套6固定在插头2上，在插头2下表面设置有与定位凹槽5位置对应的定位柱7。
21.插头2的出线口8开口向下，能使使线束3的出线方向垂直向下。出线口8设置有内螺纹，压接套6设置有外螺纹。压接套6与出线口8螺纹连接，在压接套6上设置有供线束3通过的通孔9。在通孔9内设置有橡胶圈10，增加线束与压接套之间的摩擦力，使线束3固定更加牢固，不易旋转和滑落，同时起到保护线束表面的作用，
22.定位凹槽5为铁制成的槽口，定位柱7为磁铁制成，定位柱7插入定位凹槽5内，由于磁吸的作用，定位柱7自动靠近定位槽，可进行快速定位，定位凹槽5的开口处置为喇叭口形状，定位柱7末端设置弧形倒角，便于定位柱7插入。定位凹槽5和定位柱7的数量分别设置有4个，两两分布在插头的两侧，或者定位凹槽5和定位柱7的数量分别设置有3个，三者成三角分布，也可进行快速定位。
23.在插座面板1的四角设置有螺纹孔11，在插座面板1的四角设置有螺丝安装孔12。定位后，利用螺丝穿过螺丝安装孔12与螺纹孔拧紧连接即可。
24.以上仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。