一种显示面板和显示装置的制作方法

本实用新型涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术：

有机电致发光显示器，是一种新兴的显示器。与现有的液晶显示器相比，其具有自主发光、视角宽、超轻、超薄、高亮度、低功耗和快响应等一系列的优点，并且响应速度可达液晶显示器的1000倍，因此，有机电致发光显示器成为国内外非常热门的显示器产品，具有广阔的应用前景。有机电致发光显示器的结构包括：基板；依次层叠设置在基板上的阳极层、有机功能层和阴极层；以及封装层。其中，有机功能层包括空穴传输层、发光层、电子传输层和电子注入层。

在阳极层和阴极层之间构成了电容结构。像素区中有机材料有多种材料及结构组成，不同的组成会导致不同的像素容值，不同的容值会对产品的外在表现产生影响，例如亮度、电流、像素启动电压、不亮点等。但是由于现有屏体结构的设计，很难测试出像素电容差异。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术中无法及时监测显示面板的显示异常的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种显示面板，包括：基板，所述基板包括器件区和包围所述器件区的外围区，所述器件区包括若干像素区，所述像素区上具有发光单元；所述外围区的表面具有与所述发光单元电学连接的阳极引线和阴极引线，所述外围区的表面还具有第一电容测试引线和第二电容测试引线，所述第一电容测试引线与所述阴极引线连接，所述第二电容测试引线与所述阳极引线连接。

可选的，所述第一电容测试引线的一端与所述阴极引线连接，所述第一电容测试引线的另一端为第一测试点，所述第二电容测试引线的一端与所述阳极引线连接，所述第二电容测试引线的另一端为第二测试点。

可选的，所述阳极引线包括位于基板上自下至上依次层叠的第一阳极膜、第二阳极膜、第三阳极膜和第四阳极膜，所述第一阳极膜为ito阳极膜，所述第二阳极膜为钼阳极膜，所述第三阳极膜为铝阳极膜，所述第四阳极膜为钼阳极膜；所述第二电容测试引线包括位于基板上自下至上依次层叠的第一子引线膜、第二子引线膜、第三子引线膜和第四子引线膜，所述第一子引线膜为ito子引线膜，所述第二子引线膜为钼子引线膜，所述第三子引线膜为铝子引线膜，所述第四子引线膜为钼子引线膜。

可选的，所述阴极引线包括位于基板上自下至上依次层叠的第一阴极膜、第二阴极膜、第三阴极膜和第四阴极膜，所述第一阴极膜为ito阴极膜，所述第二阴极膜为钼阴极膜，所述第三阴极膜为铝阴极膜，所述第四阴极膜为钼阴极膜；所述第一电容测试引线包括位于基板上自下至上依次层叠的第五子引线膜、第六子引线膜、第七子引线膜和第八子引线膜，所述第五子引线膜为ito子引线膜，所述第六子引线膜为钼子引线膜，所述第七子引线膜为铝子引线膜，所述第八子引线膜为钼子引线膜。

可选的，还所述若干像素区呈m行＊n列的阵列，所述阴极引线具有m条，所述阳极引线具有n条，m为大于或等于2的整数，n为大于或等于2的整数；所述第一电容测试引线的数量为k1个，所述第二电容测试引线的数量为k2个，k1为小于或等于m的整数，k2为小于或等于n的整数。

可选的，一条第一电容测试引线与一条阴极引线电学连接，不同的第一电容测试引线与不同的阴极引线电学连接；一条第二电容测试引线与一条阳极引线电学连接，不同的第二电容测试引线与不同的阳极引线电学连接。

可选的，所述阴极引线分别位于所述器件区的相对的第一侧和第二侧，所述阳极引线位于所述器件区的第三侧；所述第一电容测试引线和第二电容测试引线位于所述器件区的第三侧。

可选的，所述发光单元包括位于所述像素区表面的阳极层、发光层和位于所述发光层背向所述阳极层一侧的阴极层；所述阳极引线与所述阳极层连接，所述阴极引线与所述阴极层连接。

可选的，还包括：驱动芯片，所述驱动芯片与所述阴极引线和所述阳极极引线邦定在一起，且所述驱动芯片位于所述第一电容测试引线和第二电容测试引线的侧部。

本实用新型还提供一种显示装置，包括本实用新型的显示面板。

本实用新型技术方案，具有如下优点：

1.本实用新型技术方案提供的显示面板，所述外围区的表面具有与所述发光单元电学连接的阳极引线和阴极引线，所述外围区的表面还具有第一电容测试引线和第二电容测试引线，所述第一电容测试引线与所述阴极引线连接，所述第二电容测试引线与所述阳极引线连接。这样使得通过在第一电容测试引线和第二电容测试引线上施加电压，就能测试出对应的发光单元的电容值。能够及时监测不同的显示面板的显示异常。当第一电容测试引线和第二电容测试引线为多条时，还能及时监测同一显示面板中不同区域的显示异常。

2.进一步，所述第一电容测试引线的一端与所述阴极引线连接，所述第一电容测试引线的另一端为第一测试点，所述第二电容测试引线的一端与所述阳极引线连接，所述第二电容测试引线的另一端为第二测试点。所述第一测试点位于阴极引线的侧部，所述第二测试点位于阳极引线的侧部。通过在第一测试点和第二测试点上施加电压对发光单元的电容进行测试。这样使得第一测试点和第二测试点对发光单元的电容测试不影响阴极引线和阳极引线的邦定。

3.本实用新型技术方案提供的显示装置，包括本实用新型的显示面板，通过在第一电容测试引线和第二电容测试引线上施加电压，就能测试出对应的发光单元的电容值。能够及时监测不同的显示面板的显示异常。当第一电容测试引线和第二电容测试引线为多条时，还能及时监测同一显示面板中不同区域的显示异常。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一实施例中显示面板的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型实施例提供一种显示面板，参考图1，包括：

基板100，所述基板100包括器件区c和包围所述器件区c的外围区d，所述器件区c包括若干像素区，所述像素区上具有发光单元(未图示)；

所述外围区d的表面具有与所述发光单元电学连接的阳极引线110和阴极引线111，所述外围区d的表面还具有第一电容测试引线120和第二电容测试引线130，所述第一电容测试引线120与所述阴极引线111连接，所述第二电容测试引线130与所述阳极引线110连接。

本实施例中，通过在第一电容测试引线120和第二电容测试引线130上施加电压，就能测试出对应的发光单元的电容值。能够及时监测不同的显示面板的显示异常。当第一电容测试引线120和第二电容测试引线130为多条时，还能及时监测同一显示面板中不同区域的显示异常。

本实施例中，用于监测发光单元电容的显示面板的结构简单。

所述基板100包括透明基板，进一步，所述基板100为柔性透明基板。

所述第一电容测试引线120的一端与所述阴极引线111连接，所述第一电容测试引线120的另一端为第一测试点140，所述第二电容测试引线130的一端与所述阳极引线110连接，所述第二电容测试引线130的另一端为第二测试点150。

所述第一测试点140位于阴极引线111的侧部，所述第二测试点150位于阳极引线110的侧部。通过在第一测试点140和第二测试点150上施加电压对发光单元的电容进行测试。这样使得第一测试点140和第二测试点150对发光单元的电容测试不影响阴极引线111和阳极引线110的邦定。

本实施例中，所述阳极引线110包括位于基板上自下至上依次层叠的第一阳极膜、第二阳极膜、第三阳极膜和第四阳极膜，所述第一阳极膜为ito阳极膜，所述第二阳极膜为钼阳极膜，所述第三阳极膜为铝阳极膜，所述第四阳极膜为钼阳极膜。所述第二电容测试引线130包括位于基板上自下至上依次层叠的第一子引线膜、第二子引线膜、第三子引线膜和第四子引线膜，所述第一子引线膜为ito子引线膜，所述第二子引线膜为钼子引线膜，所述第三子引线膜为铝子引线膜，所述第四子引线膜为钼子引线膜。阳极引线110和第二电容测试引线130能够在一道工艺制程中同时形成，制作工艺简化。

本实施例中，所述阴极引线111包括位于基板上自下至上依次层叠的第一阴极膜、第二阴极膜、第三阴极膜和第四阴极膜，所述第一阴极膜为ito阴极膜，所述第二阴极膜为钼阴极膜，所述第三阴极膜为铝阴极膜，所述第四阴极膜为钼阴极膜。所述第一电容测试引线120包括位于基板上自下至上依次层叠的第五子引线膜、第六子引线膜、第七子引线膜和第八子引线膜，所述第五子引线膜为ito子引线膜，所述第六子引线膜为钼子引线膜，所述第七子引线膜为铝子引线膜，所述第八子引线膜为钼子引线膜。阴极引线111和第一电容测试引线120能够在一道工艺制程中同时形成，制作工艺简化。

所述若干像素区呈m行＊n列的阵列，所述阴极引线111具有m条，所述阳极引线110具有n条，m为大于或等于2的整数，n为大于或等于2的整数。

所述第一电容测试引线120的数量为k1个，所述第二电容测试引线130的数量为k2个，k1为小于或等于m的整数，k2为小于或等于n的整数。在一个具体的实施例中，第二电容测试引线130的数量等于第一电容测试引线120的数量。在其他实施例中，第二电容测试引线130的数量不等于第一电容测试引线120的数量。

所述发光单元包括位于所述像素区表面的阳极层、发光层和位于所述发光层背向所述阳极层一侧的阴极层；所述阳极引线与所述阳极层连接，所述阴极引线与所述阴极层连接。具体的，本实施例中，显示面板为pmoled(passivematrixorganiclightemittingdiode)显示面板，同一行的像素区上的阴极层连接在一起，不同行的像素区上的阴极层间隔，同一列的像素区上的阳极层连接在一起，不同列的像素区上的阳极层间隔。一条阴极引线111与一行的阴极层连接，一条阳极引线110与一列的阳极层连接。

本实施例中，所述发光单元还包括位于所述阳极层和所述发光层之间的空穴功能层以及位于所述阴极层和所述发光层之间的电子功能层。所述空穴功能层包括空穴注入层和空穴传输层中的一种或者两种的组合，所述电子功能层包括电子注入层和电子传输层中的一种或者两种的组合。

本实施例中，阴极层为al阴极层，阳极层为ito阳极层。

本实施例中，一条第一电容测试引线120与一条阴极引线111电学连接，不同的第一电容测试引线120与不同的阴极引线111电学连接；一条第二电容测试引线130与一条阳极引线110电学连接，不同的第二电容测试引线130与不同的阳极引线110电学连接。

所述阴极引线111分别位于所述器件区c的相对的第一侧和第二侧，所述阳极引线110位于所述器件区c的第三侧。所述第一电容测试引线120和第二电容测试引线130位于所述器件区c的第三侧。

所述显示面板还包括：驱动芯片(未图示)，所述驱动芯片与所述阴极引线111和所述阳极引线110邦定在一起，且所述驱动芯片位于所述第一电容测试引线120和第二电容测试引线130的侧部。由于驱动芯片位于所述第一电容测试引线120和第二电容测试引线130的侧部，这样使得邦定所述驱动芯片之后，驱动芯片不会阻挡所述第一测试点140和第二测试点150的位置，便于对电容的测试。在一个实施例中，所述驱动芯片位于所述器件区c的第三侧。

相应的，本实用新型又一实施例还提供一种显示装置，包括上述的显示面板。

本实用新型技术方案提供的显示装置，包括本实用新型的显示面板，通过在第一电容测试引线120和第二电容测试引线130上施加电压，就能测试出对应的发光单元的电容值。能够及时监测不同的显示面板的显示异常。当第一电容测试引线和第二电容测试引线为多条时，还能及时监测同一显示面板中不同区域的显示异常。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。