一种半导体封装检测装置的制作方法

1.本发明涉及一种检测装置，具体涉及一种半导体封装检测装置。


背景技术：

2.半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。封装过程为：来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后被切割为小的晶片，然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板架的小岛上，再利用超细的金属导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘连接到基板的相应引脚,并构成所要求的电路；然后再对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护，塑封之后还要进行一系列操作，封装完成后进行成品测试，通常经过入检、测试和包装等工序，最后入库出货。
3.在半导体封装完毕后，需要使用检测装置检测封装质量，现有检测方式一般为人工目视检测或自动检测，对于人工检测方式其通过将待检测的产品放在承载板上，然后旋转承载板实现对产品的多角度观测，在实际使用的过程中，现有的检测装置无法对快速便捷的对多个承载板进行调节，使其对任一承载板上的成品进行检测。


技术实现要素：

4.本发明的一个目的在于提供一种半导体封装检测装置，通过本装置能够自动旋转承载板进而在任意角度都能对承载板中的待检测成品进行检测，并且在承载板正面和反面时能增加检测的时间，提高操作人员检测质量，并且本装置可同时检测多个成品，能进一步的提高使用效率。
5.该目的采用以下技术方案实现：本装置包括底座，底座上设置有移动块，移动块能够在底座上移动，底座上设置有第一支撑杆，第一支撑杆上设置有旋转杆，旋转杆的一端连接有连接盘，旋转杆的另一端连接有装有待检测的产品的承载板，移动块在底座上移动能够使连接盘旋转，连接盘旋转时能够带动承载板旋转。承载板的一端与连杆可拆卸连接，连杆与旋转杆可拆卸连接。在使用时，由于需要对承载板上的成品进行检测，因此在检测的过程中需要旋转承载板，进而对承载板中的成品进行多角度的检测，本装置的承载板为透明材质，并且承载板包括上板和下板，成品夹持在上板和下板之间，上板和下板上均具有通孔，更有利于操作人员对成品的检测。
6.通过手动旋转承载板操作麻烦，并且需要一只手旋转承载板，另一只手拿取检测的装置进行肉眼或其他方式的检测，效率低下，本装置通过移动块作用在连接盘上，通过移动块在底座上移动进而带动连接盘旋转，连接盘旋转的过程中通过旋转杆带动旋转杆另一端上的承载板旋转，进而可使承载板自动旋转，并在旋转的过程中操作人员对承载板中的成品进行检测。本装置不需要手动旋转，不需要手动操作，更有利于提高检测效率，提高成品的质量。
7.在本装置的承载板旋转的过程中，为了进一步的限定旋转的角度，使得承载板在某一位置固定不旋转，其他位置旋转，进一步的提高检测效率的同时，还能更好的对其的不
同角度进行检测，具体的：本装置的连接盘的外侧面设置有第一旋转部，第一旋转部均匀设置有若干第一齿轮；移动块包括第二旋转部、第二固定部和第三固定部，第二旋转部上设置有若干与第一齿轮对应啮合的第二齿轮，第二旋转部位于第二固定部和第三固定部之间，第二旋转部能够使连接盘旋转，第二固定部和第三固定部能够使连接盘不旋转。在使用时，在移动块移动的过程中，移动块的第二固定部先与连接盘上的第一旋转部相接触，第二固定部此时不会与第一旋转部上的第一齿轮啮合，因此在第二固定部的作用下此时旋转盘不会旋转，固定在该方向上，旋转盘不会带动旋转杆旋转，旋转杆也不会带动承载板旋转，进而实现承载板固定在某位置上，操作人员可在该位置进行进一步的检查，当移动块继续移动，连接盘上的第一旋转部，作用在移动块上的第二旋转部上时，第二旋转部上的第二齿轮与第一旋转部上的第一齿轮相互啮合，移动块在移动的过程中，第二旋转部带动连接盘上的第一旋转部旋转，进而连接盘带动旋转杆一起旋转，旋转杆带动承载板一起旋转，进而在旋转的过程中操作人员对承载板中的成品进行其他角度的检查，当移动块继续移动，移动块的第三固定部与连接盘上的第一旋转部相接触，第三固定部此时不会与第一旋转部上的第一齿轮啮合，因此在第三固定部的作用下旋转盘不会旋转，固定在该方向上，在第三固定部的上承载板的方向与在第二固定部上时承载板的方向不同，因此本装置能使承载板在两个方向时固定时间较长，便于操作人员做进一步的检测。
8.优选的，根据承载板的形状，成品一般来说都是夹持在上板和下板之间的，因此本装置将固定的两个方向设置为成品的上端和成品的下端，即承载板的上板正面朝上和下板正面朝上。因此，本装置的连接盘与第二固定部相接触时，承载板正面向上；连接盘与第三固定部相接触时，承载板反面向上。移动块在移动的过程中，移动块上的第二固定部首先与连接盘上的第一旋转部相接触，此时承载板的上板正面朝上，当移动块在移动的过程中第一旋转部与第二旋转部相接触时，第一齿轮和第二齿轮相互啮合，连接盘在第二旋转部上旋转，即承载板旋转，当移动块移动到第三固定部上时，此时承载板刚好旋转180度，移动块与第三固定部接触后，连接盘不再旋转，此时承载板的下板正面朝上，并保持该状态，以便操作人员进行检测，当检测完毕，需要再次检测时，移动块朝反方向移动，即第一旋转部先与第三固定部相接触，然后第一旋转部与第二旋转部相接触，第一旋转部最后与第二固定部相接触，承载板有下板正面朝上到旋转180度后上板正面朝上，更便于检测。
9.进一步的，为了确保承载板旋转180度，连接盘的外侧面均分为第一旋转部和第一固定部，即圆形的连接盘中，第一旋转部和第一固定部各占一半，第一旋转部均匀设置有若干第一齿轮。这样在第一齿轮和第二齿轮啮合时，能进一步的确保连接盘旋转180度，更适用于半导体的封装检测。
10.在此基础上，本装置的底座上设置有若干移动块，底座上设置有若干第一支撑杆，每个移动块对应一个第一支撑杆。因此本装置能同时检测多个装有待检测产品的承载板进一步的提高检测效率。
11.并且，移动块上设置有连接块，第二旋转部、第二固定部和第三固定部位于连接块上，移动块与连接块组成凸型。这样在使用时，移动块在底座上移动时，连接盘能更好的与连接块上的第二旋转部、第二固定部和第三固定部相接触，提高使用效率。
12.同时，移动块上设置有两个凹槽，并且两个凹槽在移动块的侧面上开口，底座上设置有用于放置移动块的放置槽，并且移动块在放置槽中移动，在移动的过程中，可有多种方
式驱动移动块移动，本装置采用移动杆带动移动块移动，具体的：放置槽的内侧面上设置有移动槽，移动槽内设置有与移动块对应的移动杆，移动杆与凹槽连接，移动杆通过在移动槽内移动带动移动块在放置槽中移动。移动杆卡在凹槽中，并在移动杆移动时带动移动块移动，这样的设置，在使用时，可直接将移动块从下到上移动并将移动块从放置槽中取出，便于更换维修，同时移动杆位于放置槽的移动槽中，不会占用多余的空间体积，更便于使用。
13.其次，若本装置的放置槽中设置有多个移动块时，本装置的移动槽内设置有若干个移动杆，放置槽中设置有若干移动块，若干移动块与若干移动杆一一对应。每个移动块对应一个连接盘，一个连接盘对应一个承载板，在使用时，多个移动杆可分别控制一个移动块，带动其移动进而控制对应的承载板旋转，更便于操作使用。
14.更进一步的，底座上连接有第二支撑杆，第二支撑杆上连接有第三支撑杆，第三支撑杆上连接有用于检测承载板中待检测的产品的显微镜，第二支撑杆上设置有滑道，第三支撑杆能够在滑道上滑动，调节显微镜的位置。通过第三支撑杆在滑道上滑动，可将显微镜调节到不同的位置上，进而检测不同位置的承载板上的成品，通常使用显微镜检测承载板的上板正面向上或下板正面向上时的成品。通过显微镜进一步的进行检测，更便于操作使用。
15.本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
16.本发明一种半导体封装检测装置，本装置能够自动旋转承载板进而在任意角度都能对承载板中的待检测成品进行检测，在检测时，能够在承载板的上端面和下端面两个方向停留较长时间，便于操作人员进行进一步的检测，在检测时还可以配合显微镜进行进一步的检测，进一步的提高了检测的质量，同时，在检测的过程中，承载板可反复的旋转便于提高操作人员的检测效率和质量。其次，本装置可同时旋转多个装有待检测成品的承载板，每个承载板的旋转的角度各不相同，能进一步的提高操作人员的检测效率，能够对其中一个承载板进行单独的范围检测。
附图说明
17.此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本技术的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：
18.图1为实施例1中本装置结构示意图；
19.图2为实施例1中第二固定部与连接盘上的第一旋转部相接触时结构示意图；
20.图3为实施例1中第二旋转部与连接盘上的第一旋转部相接触时结构示意图；
21.图4为实施例1中第三固定部与连接盘上的第一旋转部相接触时结构示意图；
22.图5为实施例1中承载板与连杆之间的连接结构示意图；
23.图6为实施例2中本装置结构示意图；
24.图7为实施例2中移动块和连接块的结构示意图；
25.图8为实施例3中本装置结构示意图。
26.附图中标记及对应的零部件名称：
27.1-底座，2-移动块，3-连接块，4-连接盘，5-旋转杆，6-第一支撑杆，7-连杆，8-承载板，9-凹槽，10-移动槽，11-移动杆，12-第二齿轮，13-第一齿轮，14-第二支撑杆，15-第三支撑杆，16-显微镜。
具体实施方式
28.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
29.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”、“下”、“竖直”、“水平”、“高”、“低”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
30.【实施例1】
31.如图1所示，本装置包括底座1，底座1上设置有移动块2，移动块2能够在底座1上移动，底座1上设置有第一支撑杆6，第一支撑杆6上设置有旋转杆5，旋转杆5的一端连接有连接盘4，旋转杆5的另一端连接有装有待检测的产品的承载板8，移动块2在底座1上移动能够使连接盘4旋转，连接盘4旋转时能够带动承载板8旋转。
32.连接盘4的外侧面设置有第一旋转部，第一旋转部均匀设置有若干第一齿轮13；移动块2包括第二旋转部、第二固定部和第三固定部，第二旋转部上设置有若干与第一齿轮13对应啮合的第二齿轮12，第二旋转部位于第二固定部和第三固定部之间，第二旋转部能够使连接盘4旋转，第二固定部和第三固定部能够使连接盘4不旋转。连接盘4的外侧面均分为第一旋转部和第一固定部，第一旋转部均匀设置有若干第一齿轮13。
33.在使用时，移动块在底座中移动，初始状态时，如图2所示，移动块上的第二固定部首与连接盘上的第一旋转部相接触，此时承载板的上板正面朝上，连接盘不旋转，移动块继续移动，当移动块上的第一旋转部与第二旋转部相接触时，第一齿轮和第二齿轮相互啮合，连接盘在第二旋转部上旋转，此时如图3所示，连接盘在旋转的过程中，带动旋转杆旋转，旋转杆带动承载板旋转，进而操作人员在旋转的过程中对承载板中的成品进行检测，此时移动块继续移动，当移动块移动到第三固定部上时，此时承载板刚好旋转180度，移动块与第三固定部接触后，连接盘不再旋转，此时承载板的下板正面朝上，如图4所示，并保持该状态，以便操作人员进行检测，当检测完毕，需要再次检测时，移动块朝反方向移动，即第一旋转部先与第三固定部相接触，然后第一旋转部与第二旋转部相接触，第一旋转部最后与第二固定部相接触，承载板有下板正面朝上到旋转180度后上板正面朝上。
34.其中，如图5所示，承载板8的一端与连杆7可拆卸连接，连杆7与旋转杆5可拆卸连接。以便能快速连接承载板，并且旋转杆能够带动连杆以连杆与旋转杆的连接处为圆心连杆的长度为半径旋转，在使用时，更有利于操作人员便捷的检测承载板上的成品。
35.【实施例2】
36.在实施例1的基础上，如图6所示，底座1上设置有四个移动块2，底座1上设置有四个第一支撑杆6，每个移动块2对应一个第一支撑杆6。在使用时，可同时旋转多个承载板，进而一次性对多个待检测成品进行检测。如图7所示，移动块2上设置有连接块3，第二旋转部、第二固定部和第三固定部位于连接块3上，移动块2与连接块3组成凸型。移动块2上设置有两个凹槽9，并且两个凹槽9在移动块2的侧面上开口，底座1上设置有用于放置移动块2的放置槽，放置槽的内侧面上设置有移动槽10，移动槽10内设置有与移动块2对应的移动杆11，移动杆11与凹槽9连接，移动杆11通过在移动槽10内移动带动移动块2在放置槽中移动。在
本实施例中，移动槽10内设置有若干个移动杆11，放置槽中设置有若干移动块2，若干移动块2与若干移动杆11一一对应。移动杆在移动槽中通过伸缩杆带动移动杆在移动槽中移动，移动杆带动移动块移动，并且每个移动杆的伸缩杆单独设置，在使用时，可单独控制每个伸缩杆的伸缩，并且伸缩速度也可调节，进而更便于操作人员进行检测。
37.【实施例3】
38.在实施例2的基础上，如图8所示，底座1上连接有第二支撑杆14，第二支撑杆14上连接有第三支撑杆15，第三支撑杆15上连接有用于检测承载板8中待检测的产品的显微镜16，显微镜在第三支撑杆上的高度位置也可进行调节，第二支撑杆14上设置有滑道，第三支撑杆15能够在滑道上滑动，调节显微镜16的位置。在使用时，当需要使用显微镜对不同位置的承载板进行检测时，可直接将第三支撑杆在滑道上滑动，进而使其位于需要检测的位置上。本装置在使用显微镜进行检测时，承载板的上板正面朝上或下板正面朝上，即第一旋转部位于第二固定部或第三固定部上，连接盘不旋转时进行检测，这样检测效率更高，更便于使用。
39.本文中所使用的“第一”、“第二”、“第三”只是为了描述清楚起见而对相应部件进行区别，不旨在限制任何次序或者强调重要性等。此外，在本文中使用的术语“连接”在不进行特别说明的情况下，可以是直接相连，也可以使经由其他部件间接相连。
40.以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。