半导体测试编带一体机的测试机构的制作方法

1.本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，尤其是指半导体测试编带一体机的测试机构。


背景技术：

2.半导体是指在常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体是指一种导电性可控，范围从绝缘体到导体之间的材料。从科学技术和经济发展的角度来看，半导体影响着人们的日常工作生活，直到20世纪30年代这一材料才被学界所认可。
3.现有的半导体测试机构在使用时，通常一种测试底座对应着一种规格的半导体，在需要对多种规格半导体进行测试时，便需要通过更换测试底座来对不同规格的半导体进行测试，较为繁琐，且频繁拆卸测试底座容易导致测试机构内部的部件快速老化与磨损，不利于测试机构的长时间使用。


技术实现要素：

4.本实用新型是提供半导体测试编带一体机的测试机构，有利于对不同规格的半导体进行测试，不用更换半导体测试底座，能够减少测试机构内部部件的磨损与老化，提高测试机构的使用寿命。
5.为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：
6.半导体测试编带一体机的测试机构，包括底板，所述底板的上表面设置有调节组件，所述调节组件的内部设置有第一夹持部件，所述底板的上表面设置有固定组件，所述固定组件的内部设置有第二夹持部件，且第一夹持部件的位置与第二夹持部件的位置相对应。
7.进一步地，所述调节组件包括固定板，且固定板的底部与底板的上表面固定连接，所述固定板的内部开设有安装槽，所述固定板的内部开设有第一滑槽，且第一滑槽位于安装槽的两侧，所述固定板的侧壁开设有螺纹孔，且螺纹孔与安装槽相连通。
8.进一步地，所述第一夹持部件包括第一移动块，所述第一移动块位于安装槽的内部，所述第一移动块的两侧均固定连接有第一凸块，且第一凸块位于第一滑槽的内部，所述第一移动块的一侧壁开设有活动孔，所述第一移动块的另一侧壁固定连接有第一测试片，所述第一移动块的上表面开设有第一连接孔。
9.进一步地，所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的一端安装在活动孔的内部，所述螺纹杆的另一端固定连接有把手。
10.进一步地，所述固定组件包括固定块，所述固定块的内部开设有固定孔，所述固定孔的内部设置有伸缩弹簧，所述固定块的侧壁开设有第二滑槽。
11.进一步地，所述第二夹持部件包括连接杆，所述连接杆的一端位于固定孔的内部，且连接杆的一端与伸缩弹簧的侧端相贴合，所述连接杆的另一端固定连接有第二测试片，且第二测试片的位置与第一测试片的位置相对应。
12.进一步地，所述第二测试片的外表面固定连接有第二移动块，所述第二移动块的侧壁固定连接有第二凸块，且第二凸块位于第二滑槽的内部。
13.进一步地，所述第二移动块的侧壁开设有第二连接孔。
14.本实用新型的有益效果：
15.1.通过第一夹持部件与第二夹持部件进行配合能够对半导体底部的引脚进行固定，通过调节第一夹持部件与第二夹持部件的位置使得装置在使用时能够对不同大小的半导体的引脚进行固定接触，相较于常规的测试机构只能够对一种规格的半导体进行测试，在面对多种规格半导体测试时需要更换不同的测试底座，该装置在使用时更为便捷。
16.2.通过旋转把手控制螺纹柱进行转动，进而控制螺纹柱在调节组件内部的位置，达到控制第一夹持部件前后移动的效果，通过伸缩弹簧向外推动第二夹持部件，使得装置能够改变第一测试片与第二测试片的位置，达到对不同规格的半导体的引脚进行夹持的效果，便于装置对半导体进行测试。
附图说明
17.图1为本实用新型的整体结构示意图；
18.图2为本实用新型的内部结构剖视图；
19.图3为本实用新型的调节组件结构示意图；
20.图4为本实用新型的第一夹持部件结构示意图；
21.图5为本实用新型的固定组件结构示意图；
22.图6为本实用新型的第二夹持部件结构示意图。
23.附图标记说明：
24.1、底板；2、调节组件；201、固定板；202、安装槽；203、第一滑槽；204、螺纹孔；3、第一夹持部件；301、第一移动块；302、活动孔；303、第一凸块；304、第一测试片；305、第一连接孔；4、螺纹杆；5、固定组件；501、固定块；502、固定孔；503、第二滑槽；6、伸缩弹簧；7、第二夹持部件；701、连接杆；702、第二测试片；703、第二移动块；704、第二凸块；705、第二连接孔。
具体实施方式
25.为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。
26.如图1所示，包括底板1，底板1的上表面设置有调节组件2，调节组件2的内部设置有第一夹持部件3，底板1的上表面设置有固定组件5，固定组件5的内部设置有第二夹持部件7，且第一夹持部件3的位置与第二夹持部件7的位置相对应，通过第一夹持部件3与第二夹持部件7进行配合能够对半导体底部的引脚进行固定，通过调节第一夹持部件3与第二夹持部件7的位置使得装置在使用时能够对不同大小的半导体的引脚进行固定接触，相较于常规的测试机构只能够对一种规格的半导体进行测试，在面对多种规格半导体测试时需要更换不同的测试底座，该装置在使用时更为便捷。
27.如图2、图3、图4所示，调节组件2包括固定板201，且固定板201的底部与底板1的上表面固定连接，固定板201的内部开设有安装槽202，便于第一移动块301进行安装，固定板201的内部开设有第一滑槽203，且第一滑槽203位于安装槽202的两侧，通过第一滑槽203便
于第一移动块301在安装槽202内部进行移动，固定板201的侧壁开设有螺纹孔204，且螺纹孔204与安装槽202相连通，第一夹持部件3包括第一移动块301，第一移动块301位于安装槽202的内部，第一移动块301的两侧均固定连接有第一凸块303，且第一凸块303位于第一滑槽203的内部，通过第一凸块303与第一滑槽203的配合能够有效地避免第一移动块301从安装槽202内部脱离，第一移动块301的一侧壁开设有活动孔302，第一移动块301的另一侧壁固定连接有第一测试片304，第一测试片304为金属材质，便于信号传输，第一移动块301的上表面开设有第一连接孔305，使用时将导线插入到第一连接孔305的内部，便于第一测试片304上的信号进行传输，螺纹孔204的内部螺纹连接有螺纹杆4，螺纹杆4的一端安装在活动孔302的内部，螺纹杆4的另一端固定连接有把手，通过旋转把手控制螺纹杆4进行旋转，使得螺纹杆4能够在螺纹孔204内部进行前后移动，进而达到控制第一移动块301进行前后移动的效果，便于装置对不同规格的半导体进行夹持后测试。
28.如图2、图5、图6所示，固定组件5包括固定块501，固定块501的顶部设置有突出方块，便于半导体进行放置，避免引脚在测试时被损坏，固定块501的内部开设有固定孔502，固定孔502的内部设置有伸缩弹簧6，使得装置能够控制第二夹持部件7进行前后移动，固定块501的侧壁开设有第二滑槽503，第二夹持部件7包括连接杆701，连接杆701的一端位于固定孔502的内部，且连接杆701的一端与伸缩弹簧6的侧端相贴合，连接杆701的另一端固定连接有第二测试片702，第二测试片702为金属材质，便于信号传输，且第二测试片702的位置与第一测试片304的位置相对应，通过第一测试片304与第二测试片702对半导体引脚进行固定，进而便于装置对半导体进行测试，第二测试片702的外表面固定连接有第二移动块703，第二移动块703的侧壁固定连接有第二凸块704，且第二凸块704位于第二滑槽503的内部，使得第二移动块703能够在固定块501的侧壁进行移动，第二移动块703的侧壁开设有第二连接孔705，使用时将导线插入到第二连接孔705的内部，便于第二测试片702上的信号进行传输。
29.工作原理：使用时，将连接导线插入到第一连接孔305与第二连接孔705的内部，将待测试的半导体放置在固定块501上，通过第一夹持部件3与第二夹持部件7进行配合能够对半导体底部的引脚进行固定，通过调节第一夹持部件3与第二夹持部件7的位置使得装置在使用时能够对不同大小的半导体的引脚进行固定接触，相较于常规的测试机构只能够对一种规格的半导体进行测试，在面对多种规格半导体测试时需要更换不同的测试底座，该装置在使用时更为便捷。
30.本实施例中的所有技术特征均可根据实际需要而进行自由组合。
31.上述实施例为本实用新型较佳的实现方案，除此之外，还包括其它方式实现，在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本实用新型的保护范围之内。