断路器试验按钮的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种断路器试验按钮，属于断路器结构设计领域。
【背景技术】
[0002]现有的断路器试验按钮中，上半体和下半体通过上半体上的插接部与下半体上的圆形插孔过盈插接形成连接，其存在的不足是:装配时需要较大的力气才能装配上去，但是力度过大就会撑破插孔，导致试验按钮损坏；另外，长期使用后塑料试验按钮会老化，这时上半体和下半体间的过盈配合会松动进而容易分离，导致试验按钮失效，使用寿命短暂。
【实用新型内容】
[0003]对此，本实用新型的目的是提供一种结构合理，使用寿命长的断路器试验按钮。
[0004]实现本实用新型目的的技术方案是:
[0005]一种断路器试验按钮，包括由上半体和下半体连接构成的按钮本体，以及套设在所述按钮本体上的复位弹簧；所述下半体的上端设有插孔，所述上半体下端的插接部与所述插孔插接配合；所述插接部的侧壁上成型有卡台，所述插孔的侧壁上成型有与所述卡台卡接配合的卡孔。
[0006]上述技术方案中，所述插孔的开口端设有截面形状为椭圆的锥状孔区。
[0007]上述技术方案中，所述插接部的底端边缘设有倒角。
[0008]本实用新型具有积极的效果:(I)本实用新型中，所述插接部与所述插孔插接后，并通过卡台与卡孔卡接配合从而使得上半体与下半体可靠连接，有效避免了因试验按钮老化而失效的问题，从而延长试验按钮的使用寿命。(2)本实用新型中，所述插孔的开口端设有截面形状为椭圆的锥状孔区，通过采用这种结构有利于插接部插入插孔，同时由于这种锥状孔区较之圆孔具有更大的扩张量，因此在插接部与插孔插接时插孔不易被撑破，并且由于锥状孔区呈外大内小的锥状结构，因此卡台与卡孔形成卡接配合后不易脱离，这样既延长了试验按钮的使用寿命，并且能避免试验按钮在装配时损坏。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的结构示意图。
[0010]图中所示附图标记为:1_上半体；2_下半体；3_复位弹簧；4_插孔；5_插接部；
6-卡台；7_卡孔；8_断路器壳盖。
【具体实施方式】
[0011]下面结合说明书附图对本实用新型中的断路器试验按钮的结构做以说明:
[0012]该断路器试验按钮包括由上半体I和下半体2连接构成的按钮本体，以及套设在所述按钮本体上的复位弹簧3 ;该试验按钮安装后，试验按钮被限位在断路器壳盖8的按钮孔内，所述复位弹簧3的上端抵在所述按钮本体上，其下端抵在所述断路器壳盖8上；所述下半体2的上端设有插孔4，所述上半体I下端的插接部5与所述插孔4插接配合；本实施例中，所述插接部5的侧壁上成型有卡台6，所述插孔4的侧壁上成型有与所述卡台6卡接配合的卡孔7。本实施例中，所述插接部5与所述插孔4插接后，并通过卡台6与卡孔7卡接配合从而使得上半体I与下半体2可靠连接，有效避免了因试验按钮老化而失效的问题，延长了试验按钮的使用寿命。
[0013]本实施例中，所述插孔4的开口端设有截面形状为椭圆的锥状孔区，通过采用这种结构有利于插接部5插入插孔4，同时由于这种锥状孔区较之圆孔具有更大的扩张量，因此在插接部5与插孔4插接时插孔4更不易被撑破，并且由于锥状孔区呈外大内小的锥状结构，因此卡台6与卡孔7形成卡接配合后不易脱离，这样既延长了试验按钮的使用寿命，并且能避免试验按钮在装配时损坏。
[0014]本实施例中，所述插接部5的底端边缘设有倒角，以更有利于插入所述插孔4。
[0015]显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而这些属于本实用新型的实质精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种断路器试验按钮，包括由上半体(I)和下半体(2)连接构成的按钮本体，以及套设在所述按钮本体上的复位弹簧(3);所述下半体(2)的上端设有插孔(4)，所述上半体(I)下端的插接部(5)与所述插孔(4)插接配合；其特征在于:所述插接部(5)的侧壁上成型有卡台出)，所述插孔(4)的侧壁上成型有与所述卡台(6)卡接配合的卡孔(7)。
2.根据权利要求1所述的断路器试验按钮，其特征在于:所述插孔(4)的开口端设有截面形状为椭圆的锥状孔区。
3.根据权利要求1或2所述的断路器试验按钮，其特征在于:所述插接部(5)的底端边缘设有倒角。
【专利摘要】本实用新型公开了一种断路器试验按钮，包括由上半体和下半体连接构成的按钮本体，以及套设在所述按钮本体上的复位弹簧；所述下半体的上端设有插孔，所述上半体下端的插接部与所述插孔插接配合；所述插接部的侧壁上成型有卡台，所述插孔的侧壁上成型有与所述卡台卡接配合的卡孔。本实用新型中，所述插接部与所述插孔插接后，并通过卡台与卡孔卡接配合从而使得上半体与下半体可靠连接，有效避免了因试验按钮老化而失效的问题，从而延长试验按钮的使用寿命。
【IPC分类】H01H83-04
【公开号】CN204537967
【申请号】CN201520284425
【发明人】贺棉怀, 曾凤刚
【申请人】加西亚电子电器有限公司
【公开日】2015年8月5日
【申请日】2015年5月5日