一种封装结构、应用其的低熔点金属器件及其封装方法与流程

文档序号:15878925发布日期:2018-11-09 17:31阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明提供一种封装结构、应用其的低熔点金属器件及其封装方法,涉及电子封装技术领域。本发明提供的封装结构用于对基材上的低熔点金属线路进行封装,所述封装结构包括:依次覆盖于所述低熔点金属线路上的一层保护层、至少一层粘接层和一层隔离层;其中,所述保护层直接与所述低熔点金属线路接触,所述保护层用于防止所述低熔点金属线路变形,所述粘接层用于粘接所述保护层和所述隔离层,所述隔离层用于隔绝空气和水蒸汽。本发明的技术方案能够防止低熔点金属线路变形,且防止空气和水蒸汽与低熔点金属线路接触。

技术研发人员:郑翰;董仕晋;班茹悦;于洋;刘静
受保护的技术使用者:北京梦之墨科技有限公司
技术研发日:2018.08.14
技术公布日:2018.11.09
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