专利名称：一种测试多径衰落的方法、装置和系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及移动多径和衰落传播环境的测试，尤其涉及的是，一种测试多径衰落的方法、装置和系统。
背景技术：
目前，全球数字移动用户已经达到13亿，而且随着中国3G牌照的发放该数字有望在未来几年内翻一番。随着市场对终端业务的需求日益增长，产品在上市入网前后对其性能的测试也日益苛刻，尤其是现在移动通信网的环境日益复杂恶化，运营商对终端产品的抗多径衰落指标测试越来越细致。
通常终端的多径衰落测试如图1所示，使用一个模拟基站，如德国的罗德与施瓦茨公司(R&S)的综合测试仪CMU200，将综合测试仪(简称综测仪)上行和下行分开，在下行方向的射频电缆中间连上信道模拟器，如思博伦公司的SR5500，然后接上终端，以下采用UMTS制式的终端为例子，测试时将综测仪的信道设置到9750，然后对上行，下行射频链路的损耗分别进行设置，被测终端开机与综测仪建立呼叫，此时用计算机控制信道模拟器SR5500将衰落模式设置到WCDMA协议3GPP(第三代合作伙伴计划)TS 34.121 V6.3.0(2005-12)7.3 D.2.2Multi-path fading propagationconditions中的CASE1模式，在SR5500中按照3GPP的规定有设置好的各个衰落模式，用户直接可以选用；对终端接收机的抗多径衰落性能进行测试，得出最终的结果，完成这一事例(CASE，亦称测试模式)的测试。
对于大多数的终端设备厂商来说，购买一台信道模拟器费用高昂，一般超过100万元人民币，因此厂家对其终端产品的指标一般不作测试。但是这给产品的入网认证带来了很大的隐患，一旦在入网认证时才发现问题，解决起来异常困难。
因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
发明内容
本发明的目的在于为移动终端产品提供一种简单、有效的测试多径衰落的方法、装置和系统，给企业节约费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，提升产品质量。
本发明的技术方案如下一种测试多径衰落的方法，其包括步骤A1、根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；A2、启动综合测试仪，依据所述测试模式，设置所述综合测试仪的参数；A3、依据所述测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；A4、依据所述测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；A5、建立所述综合测试仪与测试终端的通信；A6、进行所述测试终端的多径衰落性能测试。
所述的方法，其中，步骤A4包括单独或组合设置固定衰减器、调节可调衰减器或电调衰减器的衰减量。
所述的方法，其中，步骤A3包括单独或串联设置延时线，用作延时器。
一种测试多径衰落的装置，其中，其包括由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成的信道路径。
所述的装置，其中，其包括至少两条并联的所述信道路径。
所述的装置，其中，所述延时器是单独或串联的延时线。
所述的装置，其中，所述衰减器包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。
一种测试多径衰落的系统，包括综合测试仪和双工机，其中，还包括至少两条并联的信道路径，所述信道路径由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成。
所述综合测试仪通过所述信道路径发送测试多径衰落的信号到所述双工机，接收从测试终端返回到所述双工机的反馈信号。
所述的系统，其中，所述延时器是单独或串联的延时线。
所述的系统，其中，所述衰减器包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。
采用上述方案，本发明提供了一种测试多径衰落的替代方案，费用低，约为购买信道测试仪费用的1/100至1/30；将测试环境搭建完成后，可以固化，反复使用，操作简单，适合在广大测试人员中推广，给企业节约了费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，最终提升产品质量和企业的核心竞争力。
图1为现有技术的实现示意图；图2是本发明系统的一种实施方式的示意图；图3是本发明方法的一种实施方式的流程图。
具体实施例方式
以下对本发明的较佳实施例加以详细说明。
如图3所示，本发明提供了一种测试多径衰落的方法，其包括步骤A1、根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；为方便理解，下面列出3GPP TS 34.121标准V6.3.0(2005-12)7.3 D.2.2 Multi-path fadingpropagation conditions(多径衰落传播环境)，其中Table D.2.2.1Propagationconditions for multi-path fading environments(多径衰落环境的传播条件)
A2、启动综合测试仪，依据所述测试模式，设置所述综合测试仪的参数；综合测试仪出厂时已经提供了相应的参数设置，一般使用中，只需按照测试模式进行相应的设置即可。
A3、依据所述测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；步骤A3还可以包括单独或串联设置延时线用作延时器。例如，可以采用可调式延时线，变更延时量时只需拨动开关或调整微调旋钮即可。
A4、依据所述测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；步骤A4还可以包括单独或组合设置固定衰减器、调节可调衰减器或电调衰减器的衰减量。例如，根据需要，在一个实施例中，第一信道路径的衰减量可以设置为零，此时，该信道实质可以不设置衰减器。
A5、建立所述综合测试仪与测试终端的通信；建立通信这一步也可以在步骤A3之前完成，本发明对此并无限制。
A6、进行所述测试终端的多径衰落性能测试，完成模拟移动多径和衰落传播环境的测试功能。
以下是一个具体实施方法，其包括如下步骤步骤1、模拟基站--综合测试仪(如R&S CMU 200)与移动终端建立通信；步骤2、对各路延时线，按照具体测试项的具体要求作测试前延时量的设置；步骤3、对可调衰减器，按照具体测试项作功率衰减量的相应设置；步骤4、在综合测试仪上观察接收指标，至此，本发明提供的方法简单、实用，能够完成移动终端接收机多径衰落的测量。
本发明还提出了一种测试多径衰落的装置，其包括由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成的信道路径。当用在测试多径衰落方面时，本发明所述的装置，可以包括至少两条并联的所述信道路径，按需要增减所述并联的述信道路径。其中，所述延时器可以是单独或串联的延时线；所述衰减器可以包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。例如采用单独或组合的固定衰减器，来实现某一信道的衰减量，也可以满足测试多径衰落的信道要求。
本发明还提出了一种测试多径衰落的系统，包括综合测试仪和双工机，其中，还包括至少两条并联的信道路径，所述信道路径由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成。所述综合测试仪通过所述信道路径发送测试多径衰落的信号到所述双工机，接收从测试终端返回到所述双工机的反馈信号。其中，所述延时器可以是单独或串联的延时线；所述衰减器可以包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。
本发明的系统所采用的一种实施方式如图2所示，为了满足测试3GPPTS 34.121 V6.3.0(2005-12)7.3 D.2.2 Multi-path fading propagationconditions，使用了两条信道路径(简称路径)，第一条路径和第二条路径的延时器都是将3个MSD0327串接在了一起，以达到要求的976ns的延时量，可调衰减器都是使用一个就可满足要求，本发明的一条路径可以是由延时器和可调衰减器串接而成。在该系统中，可以采用上述的测试多径衰落的装置，即由各条信道路径组成的装置。实际应用中，本发明的系统可以采用多条信道路径。以下对该系统和实现方法同时进行说明。
1.打开综测仪CMU20和被测终端，将综测仪设置到9750信道，并与终端建立通信；2.任意选择一项CASE做测试，如3GPP TS 34.121 V6.3.0(2005-12)7.3 D.2.2 Multi-path fading propagation conditions中的CASE1条件，在该标准里规定了该CASE1是2条路径的，该标准中还包括了3条径、4条径、6条径等CASE的测试。
采用2条路径CASE1为例，Propagation conditions for multi-path fadingenvironments CASE1
3.本方案中采用BAL MSD0327开关式无源延时线，也可以采用其他延时线或延时器，例如达拉斯马克西姆半导体公司(DALLAS MAXIMSEMICONDUCTOR)的DS1100等等；其上设有2ns、5ns、10ns、20ns、40ns、60ns、80ns、160ns共8个开关及微调旋钮，最大延时可达377ns。此延时线体积小，稳定可靠，变更延时量只需拨动开关或调整微调旋钮，使用极为方便。按照步骤2中PATH2的延时要求，用3个延时器来完成延时976ns的要求，前两个延时器设置为延时377ns，第三个延时器设置为222ns。
4.对各路径上连接的可调衰减器按照步骤2的要求第一路衰减量设置为0dB第二路设置为衰减10dB；可调衰减器可以采用上海华湘计算机通讯有限公司的GKTS2-3-101-2.5-A4、深圳市研通高频技术有限公司的VA-0012B等等。当然，也可以根据测试要求，采用单独的固定衰减器，或者将固定衰减器组合起来应用到路径中，不过，更方便的是采用可调衰减器或者电调衰减器，按需调节。
5.在综合测试仪上测试终端接收机的抗多径衰落接收性能指标，至此，即可实现本发明所述的测试多径衰落功能。
本发明给出了一种模拟移动多径和衰落传播环境的简单方法和装置，其核心是将原来需要专用信道模拟器才可以完成的移动通信多径衰落传播模型替代，可以对移动终端各项多径和衰落指标进行测试。采用本发明，费用低，两条路径的测试只需1万元人民币左右，6条路径的测试软件搭建费用约为4万元人民币，约为购买信道测试仪费用的1/100至1/30；将测试环境搭建完成后，可以固化，反复使用，使用时操作简单，不需要用计算机来控制，只要按照3GPP的相应要求设置延时量和衰减量就可以，对操作人员的要求很低，适合在广大测试人员中推广，可以对移动终端各项多径和衰落指标进行测试。给企业节约了费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，最终提升产品质量和企业的核心竞争力。
本发明的方法、装置和系统对所有多径和衰落的测试CASE都适用，而且费用低廉，厂家易于接受，从而提高了研发调试效率、改善了产品品质。
应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种测试多径衰落的方法，其包括步骤A1、根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；A2、启动综合测试仪，依据所述测试模式，设置所述综合测试仪的参数；A3、依据所述测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；A4、依据所述测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；A5、建立所述综合测试仪与测试终端的通信；A6、进行所述测试终端的多径衰落性能测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤A4包括单独或组合设置固定衰减器、调节可调衰减器或电调衰减器的衰减量。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤A3包括单独或串联设置延时线，用作延时器。
4.一种测试多径衰落的装置，其特征在于，其包括由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成的信道路径。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，其包括至少两条并联的所述信道路径。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述延时器是单独或串联的延时线。
7.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述衰减器包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。
8.一种测试多径衰落的系统，包括综合测试仪和双工机，其特征在于，还包括至少两条并联的信道路径，所述信道路径由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成。所述综合测试仪通过所述信道路径发送测试多径衰落的信号到所述双工机，接收从测试终端返回到所述双工机的反馈信号。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述延时器是单独或串联的延时线。
10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述衰减器包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。
全文摘要
本发明提供了一种测试多径衰落的方法、装置和系统，其方法包括步骤根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；启动综合测试仪，依据测试模式，设置所述综合测试仪的参数；依据测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；依据测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；建立所述综合测试仪与测试终端的通信；进行所述测试终端的多径衰落性能测试。还提供了相应的装置和系统，从而为用户提供了一种测试多径衰落的替代方案，费用低，可以固化、反复使用，操作简单，适合在广大测试人员中推广，给企业节约了费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，最终提升产品质量和企业的核心竞争力。
文档编号H04B1/707GK101079675SQ20071007619
公开日2007年11月28日 申请日期2007年6月29日 优先权日2007年6月29日
发明者李成恩, 段亚军, 尹成刚, 秦国强, 李健, 崔巧云 申请人:中兴通讯股份有限公司