专利名称：基于新型dcc处理技术的测试方法
技术领域：
本发明涉及SDH技术领域，尤其涉及SDH中DCC通道数据处理的一种测试方法。
背景技术：
在传统的SDH中，DCC通道的处理一般是通过一对一的处理方式，即一个DCC通道采用一组DCC的信号硬连线来连接光接口线卡和网络管理线卡，这样就增加了背板的连线，同时也限制了DCC通道处理的总数，不利于大容量的SDH系统来管理更多的业务。因此提出了一种总线处理DCC的处理方式。这种新型的基于DCC总线处理方法可以有效的减少背板的互连线，同时可以增加DCC通道处理的总数。对于以往的DCC通道处理采用简单的一对一的互连处理方式，即一根时钟线和一根相应的数据线。由于连线简单且不存在切换时钟域的问题，处理相对简单，只需要注意信号线间的干扰即可，最后可用网络管理卡收发包来确认DCC通道的工作正常性，无需其它调试。
新的DCC总线处理方法，增强设备可处理DCC通道的数目，同时对这种新的DCC总线处理技术提出了相应的测试要求。由于这种基于总线的DCC处理方法在光接口线卡中存在一个模块用于光接口线卡上DCC数据的总线插入及提取，在总线的插入一侧存在着数据时钟域的切换，即从线路时钟域切换的系统时钟域，这样可以将所有的线路同步到系统时钟域中进行处理；在网元管理线卡中存在着基于总线时隙的提取及下发时隙数据的插入；最后交给HDLC芯片供处理器处理。由于在整个设备的DCC处理过程中存在多个复杂模块组成的链路，因此对它的测试需要用一种相应的测试方法逐级的测试DCC总线工作的正常性及稳定性。
新型DCC通道处理中相应的光接口线卡上话方向的DCC插入总线模块的具体框图如图1，该模块完成了32个光线路侧的192K的DCC串行数据平滑处理到本地时钟域，然后根据配置插入到相应的6M总线的32个时隙中，每个时隙25个比特的时隙数据，根据平滑处理过程中线路侧时钟和本地系统钟的频偏智能动态的控制输出23比特、24比特、25比特，用来控制两个时钟域的数据的无缝隙切换。
新型DCC通道处理中相应的光接口线卡下话方向的DCC从总线抽取模块的具体框图如图2，该模块完成从6M总线的32个时隙中提取数据，该下话方向的时钟始终是本地的系统钟，因此所有的处理是在一个时钟域内进行，6M总线的32个时隙中，每25个比特的前24个比特是固定的有效数据，第25比特固定为空闲无效数据。
新型DCC通道处理中相应的网络管理卡的选择抽取插入模块的具体框图如图3，该模块根据配置数据将整个输入的4条6M总线上128个DCC的数据时隙的任意32个时隙的数据选择为处理数据，上发给HDLC处理芯片。同时将下发的32路HDLC数据帧送到需插入的32个相应时隙中。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于新型DCC处理技术的测试方法以解决新型DCC总线处理的正常性及稳定性测试。
对新型DCC总线处理的正常性及稳定性测试根据实际设计的要求，采用分阶段来测试新型DCC总线处理的性能。具体测试上主要分为四个阶段来完成。第一个阶段是光接口卡上的DCC总线自己环回挂表的测试，测试光盘上模块的正常与否，如不正常，需调试正常后继续后续测试。第二个阶段是在网元管理卡上经过DCC交叉分配后的环回测试，测试光盘和进入网元管理卡的DCC正常与否，主要是网元管理卡的DCC处理正常与否，如不正常，需调试正常后继续后续测试。第三是通过BMU通过HDLC处理芯片发包，在光路将DCC数据环回的测试，如不正常，需调试网元管理卡中DCC环回后与HDLC处理芯片相连接部分的问题，同时需要考虑前级模块工作的正常性，需调试正常后继续后续测试。第四个阶段的测试是通过两个站的BMU用正常的网管程序观察两站通过DCC处理来传输DCC数据的正常性，如果从站可以在主站相连的主机上看到就是正常的。如不正常，在确认前阶段测试正常的情况下需检查软件的正常性。通过上述四个阶段的测试即利于查找问题有能确定新型DCC总线工作的正常性及稳定性。
为此本发明提出一种基于新型DCC处理技术的测试方法，对新型DCC总线处理的正常性及稳定性进行测试，该方法包括
第一阶段光接口卡上的DCC总线自己环回挂表测试；第二阶段网元管理卡上经过DCC交叉分配后的环回测试；第三阶段通过BMU通过HDLC处理芯片发包，在光路将DCC数据环回的测试；第四阶段通过两个站的BMU用正常的网管程序观察两站通过DCC处理来传输DCC数据的正常性。
其中第一阶段的测试包括采用SDH测试仪发送DCC字节的随机码流，同时接收光模块发送过来的DCC字节随机码流，如果发送与接收的码流的DCC字节无误码，表明该段DCC处理正常。
其中第二阶段的测试包括通过SDH测试仪收发随机码，在交叉矩阵后将DCC数据环回，如果DCC数据在SDH测试仪上的收发无误码，表明该DCC数据处理部分正常。
所述交叉矩阵是32到128中任意32的交叉矩阵。
其中第三阶段的测试包括使用一个SDH设备来发送接收HDLC帧，并在超级终端中显示收发HDCL帧的信息来确认DCC数据处理通道工作的正常性。
其中第四阶段的测试包括用两个SDH设备发送接收HDLC帧，在超级终端中观察打印的收发HDLC帧的信息是否正常。
其中第四阶段的测试还包括利用正常的设备可上网管程序，如果网管主机上可以看到两个设备，并且通过主机PING两个设备的IP地址，如果不丢包，表明整个设备的DCC处理通道正常。
图1是新型DCC通道处理中相应的光接口线卡上话方向的DCC插入总线模块的具体框图；图2是新型DCC通道处理中相应的光接口线卡下话方向的DCC从总线抽取模块的具体框图；图3是新型DCC通道处理中相应的网络管理卡的选择抽取插入模块的具体框图；图4是涉及本发明实施例的流程图；图5是第一阶段光接口卡上的DCC总线自己环回挂表的测试框图；
图6是在第一个测试阶段确认没有错误后进行的第二阶段的测试，该测试框图是在网元管理卡上经过DCC交叉分配后的环回测试；图7是在第一与第二阶段的测试正常后进行的第三阶段的测试。通过BMU通过HDLC处理芯片发包，在光路将DCC数据环回的测试；图8是在第一、第二与第三阶段的测试正常后进行的第四阶段的测试。
具体实施例方式
在该基于总线的DCC处理系统，箭头指DCC数据在系统中的流向。为了要测试整个DCC信号的正确性，需要进行下列四个阶段的测试。
第一个阶段测试的是光接口线卡的DCC插入总线模块、光接口线卡的DCC从总线抽取模块工作的正确性及可靠性。测试这一部分的正确性及可靠性采用光仪表发送随机码，在该两模块的后端环回的方法。如图5，给出了测试该光接口卡中DCC模块工作正常性的测试框图。在该图的测试中将SDH测试仪的时钟设置成收时钟，这时整个测试系统实际上是个同步系统，全部同步到系统时钟域中，这个是用来测试光接口线卡中的DCC总线处理模块的基本工作状况的，确定光线路接口卡中DCC总线在同步时钟域的抽取与插入的正确性，在测试过程中采用SDH测试仪发送DCC字节的随机码流，同时接收光模块发过来的DCC字节随机码流，如果发送与接收到的码流的DCC字节无误码就表明该段DCC的处理正常，能够正确的传送DCC字节，测试过程中由于该设计模块添加了环回的功能，因此不需添加其它测试实体，只需要在光接口卡上配置光接口卡DCC环回功能控制寄存器即可。
第二阶段的测试是在完成光接口卡中DCC数据抽取插入模块的环回测试正常后进行的，如图6。在光接口线卡的DCC插入总线模块、光接口线卡的DCC从总线抽取模块工作正常后需要对网络管理卡的DCC抽取模块、网络管理卡的DCC插入模块、网络管理卡的选择抽取插入模块进行测试，测试也是通过配置网络管理卡中的环回控制寄存器来完成的。此时SDH测试仪的时钟仍然设置成收时钟，整个测试系统仍然是一个同步测试系统，这一步的测试是用来测试网元管理卡中的复杂DCC处理模块在同步的情况下是否工作正常。该模块主要是网络管理卡的选择抽取插入模块。网络管理卡的选择抽取插入模块中DCC选择抽取实际上是一个128到32的交叉矩阵，用于灵活的DCC选择配置，DCC的插入实际上是一个32到128中任意32的交叉矩阵。这个时候的测试通过SDH测试仪收发随机码，在交叉矩阵后将DCC数据环回，如图6所示。如果DCC数据在SDH测试仪上的收发无误码就说明了参与测试的DCC数据处理部分正常。
第三个阶段的测试是在前两个测试过程正常的前提下进行的。在完成DCC数据处理系统的部分模块的随机码测试后，需要通过CPU收发正常的HDLC帧来确定整个DCC数据处理通道的正确性，如图7。实际中通过编写测试软件，用一个SDH设备来发送接收HDLC帧，并在超级终端中显示收发HDLC帧的信息来确认DCC数据处理通道工作的正常性。该测试过程需要更改BMU的软件为DCC测试软件，软件是通过两个计数器来记录BMU发送和收到的HDLC帧的数目，同时将这两个数据通过超级终端显示出来，在一段较长时间如1个小时，如果这两个数据在超级终端上显示的一致或者相差1到2，就表明测试正常，如果相差较大，就说明有丢包现象。发送和收到的数据相差1或2的原因是BMU收到发出的包需要一段时间，如果此时没收到，但是过片刻后收到就会有1到2的差异。这个步骤的测试系统仍然是个同步测试系统，DCC的处理仍然是在系统时钟域上进行处理，主要是用来测试整个DCC处理系统在同步的情况下是否工作正常。
第四个阶段的测试是在上述三个阶段的测试成功后进行的，如图8。当一个SDH设备发送HDLC帧测试DCC数据处理通道工作正常后，需用两个SDH设备来发送接收HDLC帧，首先用第三阶段的BMU测试软件测试，并在超级终端中观察显示的收发HDLC帧的信息来确认DCC数据处理通道工作的正常性，观察方法同第三阶段的一样。这个时候两个站如果时钟是其中一个设备锁另一个设备的时钟，则处理的两个设备的DCC仍然是在一个频率相同的时钟域处理的DCC。如果此时的两个设备是自由震荡，则处理的DCC通道在两个设备上实在两个有一定频偏的时钟上，在这两种情况下，外部不需做任何更改，因为整个设计是按不同步设计的。如果此时通过SDH设备发送HDLC帧测试包，在超级终端中观察打印的收发HDLC帧的信息正常，就表明DCC数据处理通道工作正常。然后将BMU的软件更换成正常的设备可上网管的程序，如果此时在网管主机上可以看到两个设备，且通过主机PING两个设备的IP地址，如果不丢包就表明整个设备的DCC处理通道正常了。如果此时无法看到两个设备，需要检查主机的配置和BMU正常的可上网管程序是否正常，如正常就会在主机上看到两个设备。
经过上述四个阶段的逐步测试，可以完整的测试整个DCC字节数据传输的过程，为该设备的DCC通道正常工作提供保证。
通过本发明的测试方法，提高了设备的稳定性及可靠性，同时利于研发生产测试。上述仅为本发明较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种基于新型DCC处理技术的测试方法，对新型DCC总线处理的正常性及稳定性进行测试，该方法包括第一阶段光接口卡上的DCC总线自己环回挂表测试；第二阶段网元管理卡上经过DCC交叉分配后的环回测试；第三阶段通过BMU通过HDLC处理芯片发包，在光路将DCC数据环回的测试；第四阶段通过两个站的BMU用正常的网管程序观察两站通过DCC处理来传输DCC数据的正常性。
2.如权利要求1的测试方法，其特征在于第一阶段的测试包括采用SDH测试仪发送DCC字节的随机码流，同时接收光模块发送过来的DCC字节随机码流，如果发送与接收的码流的DCC字节无误码，表明该段DCC处理正常。
3.如权利要求1的测试方法，其特征在于第二阶段的测试包括通过SDH测试仪收发随机码，在交叉矩阵后将DCC数据环回，如果DCC数据在SDH测试仪上的收发无误码，表明该DCC数据处理部分正常。
4.如权利要求3的测试方法，其特征在于所述交叉矩阵是32到128中任意32的交叉矩阵。
5.如权利要求1的测试方法，其特征在于第三阶段的测试包括使用一个SDH设备来发送接收HDLC帧，并在超级终端中显示收发HDLC帧的信息来确认DCC数据处理通道工作的正常性。
6.如权利要求1的测试方法，其特征在于第四阶段的测试包括用两个SDH设备发送接收HDLC帧，在超级终端中观察打印的收发HDLC帧的信息是否正常。
7.如权利要求6的测试方法，其特征在于第四阶段的测试还包括利用正常的设备可上网管程序，如果网管主机上可以看到两个设备，并且通过主机PING两个设备的IP地址，如果不丢包，表明整个设备的DCC处理通道正常。
全文摘要
本发明公开了一种基于新型DCC处理技术的测试方法，该测试包括四个阶段。第一阶段光接口卡上的DCC总线自己环回挂表测试；第二阶段网元管理卡上经过DCC交叉分配后的环回测试；第三阶段通过BMU通过HDLC处理芯片发包，在光路将DCC数据环回的测试；第四阶段通过两个站的BMU用正常的网管程序观察两站通过DCC处理来传输DCC数据的正常性。通过上述四个阶段的测试既有利于查找问题又能确定新型DCC总线工作的正常性及稳定性，对新型DCC总线处理的正常性及稳定性进行测试。
文档编号H04L12/26GK101056145SQ20071011084
公开日2007年10月17日 申请日期2007年6月12日 优先权日2007年6月12日
发明者钟永波, 陈飞月, 陈永洲 申请人:烽火通信科技股份有限公司