对过零点附近进行采样的电压偏移和时钟偏移的修正的制作方法

专利名称：对过零点附近进行采样的电压偏移和时钟偏移的修正的制作方法
技术领域：
本实施方式涉及接收机电路。更具体地，本实施方式涉及用于 确定和{奮正4妄收才几电^各中的偏移电压的电路和方法。


图1是示出了存储器系统的实施方式的框图； 图2A是示出了存储器控制器的实施方式的框图； 图2B是示出了存储器器件的实施方式的框图； 图3A是示出了接收机电路的实施方式的框图； 图3B是示出了接收机电路的实施方式的框图； 图4A是示出了信号的实施方式的时序图； 图4B是示出了信号的实施方式的时序图； 图4C是示出了信号的实施方式的时序图； 图5A是示出了信号的实施方式的时序图； 图5B是示出了信号的实施方式的时序图； 图5C是示出了信号的实施方式的时序图； 图5D是示出了信号的实施方式的时序图7是示出了系统的实施方式的框图。
注意，贯穿整个附图，类似的参考标号表示相应的部件。
具体实施例方式
提供以下描述以使得本领域技术人员能够制造和使用所公开的 实施方式，并且以下描述是在特定应用的上下文中提供的。本领域 技术人员很容易明了对所公开实施方式的各种变形，并且此处所定义的通用原理可以应用到其他实施方式中应用中，而不偏离本说明 书的精神和范围。因此，本说明书的意图不在于限制于所示实施方 式，而是遵循与此处公开的原理和特征一致的最宽范围。
描述了电路、包括此电路的存储器器件、包括此电路的存储器 控制器、包括发射机(诸如存储器控制器)和接收机(诸如存储器 器件)的系统、以及用于校准接收机电路的偏移电压(针对电压模 式)和/或偏移电路(针对电流模式)的技术的实施方式。在有些实 施方式中，电路是部署在半导体晶片上的集成电路。而且要注意， 校准技术可以使用硬件和/或软件(诸如固件)来实现。尽管使用存 储器系统作为以下实施方式的示意性示例，但是注意，可以在广泛 的应用中4吏用本校准技术，这些应用包括串行链路和/或并^f亍链^各， 包括芯片间通信和芯片内通信。而且，尽管使用对一个或多个偏移 电压的校准作为以下实施方式的示意性示例，但是该校准技术可以 用于才交准一个或多个偏移电流。
在校准技术中，时钟数据恢复(CDR)电路(其可以实现早/晚 CDR技术)以及偏移校准电路用于确定和调整接收机中给定采样器 的偏移电压。具体地，可以使用CDR电路来调整一对采样器对所采 集的样本的采样时间，从而使采样时间接近于与接收机所接收的信 号相关联的眼图边沿处的信号交叉点。接下来，偏移校准电路可以 用于确定并调整给定采样器在接近该信号交叉点的定时区域内的偏 移电压，其中CDR电路基于当前偏移电压而在当前采样时间附近抖 动(dither)。通过这种方式，CDR电路和偏移校准电路可以迭代收 敛到信号交叉点以及该给定采样器的残余偏移电压上。
在有些实施方式中，在校准操作模式期间确定偏移电压，在此 期间，所接收的信号包括训练模式。例如，可以在初始启动期间校 准偏移电压(其有时称为启动校准模式)或者根据需要进行校准(诸 如当在电路或器件的通信期间性能度量发生恶化时)。然而在有些 实施方式中，偏移电压是在常规操作模式期间使用现场数据来确定 的(其有时称为实时校准模式)。例如，接收机中一对附加采样器对具有独立于上述采样器对的釆样时间，其可以对接近眼图中心(在 该处有明显的定时余量)的信号进行采样。基于这些样本，电路中 的控制逻辑可以识别信号中的特定数据模式，并且该数据模式的样 本可以由上述采样器对进行采集，以确定和调整给定采样器的偏移 电压。随后，这两对釆样器对的角色可以颠倒(例如，通过调整采 样器对与附加采样器对的采样时间的相位)，从而促进校准此附加 采样器对中的采样器的偏移电压。
注意，控制逻辑随后可以选择另 一 采样器进行偏移电压校准。 通过这种方式，接收机中所有采样器的偏移电压都可以顺序地确定 和调整。
在所示实施方式中，这些电路、集成电路、器件、系统和/或技 术中的一个或多个可以在存储器系统和/或存储器器件中使用，存储
器系统和/或存储器器件包括各种类型的存储器，诸如易失性存储 器、非易失性存储器、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、电可 擦除可编程只读存储器(EEPROM) 、 NAND或NOR闪存、完全缓 沖NAND闪速存储器模块、固态存储器和/或其他类型的存储器。而 且，对于给定类型的存储器，可以在不同的存储器技术或技术时期 使用这些技术(其可以使用各种电源电压)。
使用这些技术的部件(诸如存储器控制器、存储器器件、存储 器模块和/或存储器系统)可以包括在各式各样的应用中，诸如桌 上型或膝上型计算机、计算机系统、手持或便携式设备(诸如个人 数字助理和/或蜂窝电话)、机顶盒、家庭网络和/或视频游戏设备。 例如，存储器件(诸如存储器模块)可以包括在计算机主存储器中。 而且，这些实施方式中的一个或多个可以包括在通信系统中，诸如 串行或并4亍《连路、城域网(诸如WiMax)、局域网(LAN)、无线 局域网(WLAN )、个人区域网(PAN )和/或无线个人区域网(WPAN )。
现在描述对接收机电路的 一 个或多个偏移电压进行校准的电 路、以及包括该电路和接收机电路的设备和系统的实施方式。在接 收机电路中，通常在采样器的两个输出(诸如逻辑'0'和逻辑'1，)之间的阈值电压中存在偏移电压。例如，此偏移电压可能与晶体管 失配有关。不幸的是，随着晶体管尺寸的放大，失配可能对性能具 有较大影响。而且，该性能影响可能随着电压信号水平的降低而增 大。因此，为了具有足够的电压裕度，有力且有效地确定和补偿偏
移电压变得越来越重要。注意，偏移电压可以随着以下各项而变化: 接收电路的操作点、温度、电源电压和/或接收信号的频率内容。
图1提供了示出存储器系统100的实施方式的框图。该存储器 系统包括至少一个存储器控制器110以及一个或多个存储器器件 112,诸如一个或多个存储器模块。在有些实施方式中，存储器控制 器110是本地存储器控制器和/或是系统存储器控制器(其可以实现 在微处理器中)。
存4诸器控制器110可以包括I/O接口 118-1和控制逻辑120-1。 控制逻辑12 0 -1可以用于对数据进行编码以便由接口 118 -1传输到一 个或多个存储器器件112,和/或对通过接口 118-1从一个或多个存 储器器件112接收的数据进行解码(例如，使用调制代码)。
在有些实施方式中， 一个或多个存储器器件112包括控制逻辑 120和"^姿口 118的至少一个。注意，在有些实施方式中，可将两个或 多个存储器器件112 (诸如存储器器件112-1和112-2)配置为存储 器组116。
存储器控制器110和存储器器件112通过信道122中的一条或 多条链路114进行耦合。这些链路可以包括有线通信、无线通信 和/或光通信。而且，链路114可以用于存储器控制器110和一个或 多个存储器器件112之间的双向和/或单向通信。例如，存储器控制 器110和给定存储器器件之间的双向通信可以是同时的(全双工通 信)。备选地，存储器控制器110可以向给定存储器器件发射信息 (诸如包括命令的数据分组)，并且该给定存储器器件随后可以向 存储器控制器110提供所请求的数据，例如，在一条或多条链路114 上的通信方向可以交替(半双工通信)。注意， 一条或多条链路114 以及相应的发射电路(其在图2A和图2B中示出)和/或接收机电路(其在图2A和图2B中示出)例如可以通过控制逻辑120电路之一 来动态配置用于双向通信和/或单向通信。
在有些实施方式中，可以在一条或多条《连路114上使用与一个 或多个载波频率乂.相关联的一个或多个子信道来传送数据。而且，给
定子信道可以具有相关联的频率范围、频带、或频带组(此后称 为频带)。例如，基带子信道与第一频带相关联，通带子信道与第 二频带相关联。注意，如果至少一个链路114是AC耦合的，那么 基带子信道可以不包含DC (也即，不包括0Hz)。
在有些实施方式中，相邻子信道的频带可以部分地或者全部重 叠，或者可以不重叠。例如，可以存在邻近频带的部分重叠，其发 生在所i胃的近合乂比4争力口载(approximate bit loading)中。而且，在有 些实施方式中，相邻子信道上的信号可以是正交的。
这些子信道上携带的信号可以是时间复用的、频率复用的和/ 或已编码的。因此，在有些实施方式中，使用时分多址、频分多址 和/或码分多址来对信号进行编码。而且，在有些实施方式中，使用 离散多音频通信(诸如正交频分复用)在链路114上传送信号。
而且，在链i 各114上传送的凄t据可以进4于调制编码。该调制编 码可以包括扩频编码，例如基于以下编码二进制伪随机序列(诸 如最大长度序列或m-序列)、Gold码和/或Kasami序列。而且，调 制编码可以包括"比特到符号"编码，其中一个或多个数据比特被 一起映射到一个数据符号；以及"符号到比特编码，，，其中一个或 多个符号被映射到数据比特。例如，两个数据比特的组可以被映射 到编码lt据信号的四个不同幅度之一；正弦波的四个相位之一； 或正弦波的两个不同幅度之一与同一正弦波的两个不同相位之一的 组合(诸如在正交幅度调制或QAM中)。
一般地，调制编码可以包括幅度调制、相位调制和/或频率调 制，诸如脉沖幅度调制(PAM)、脉沖宽带调制和/或脉沖编码调制。 例如，调制编码可以包括两级脉沖幅度调制(2-PAM)、三级脉 冲幅度调制(3-PAM)、四级力永沖幅度调制(4-PAM)、八级脉冲幅度调制(8-PAM)、十六级脉冲幅度调制(16-PAM)、两级通断 键控(2-OOK)、四级通断键控(4-OOK)、八级通断键控(8-OOK) 和/或十六级通断键控(16-OOK)。
在有些实施方式中，调制编码包括非归零(NRZ)编码。而且， 在有些实施方式中，调制编码包括两级或多级QAM。注意，在链》各 114上传送的不同子信道可以进行不同的编码，和/或调制编码可以 进行动态调整。如下文参考图2A和图2B所进一步描述的，该调整 可以基于与一条或多条链路114上的通信相关联的性能度量。
尽管图1示出了具有一个存储器控制器110和三个存储器器件 112的存储器系统100,但是其他实施方式可以具有附加的存储器控 制器以及更少或更多的存储器器件112。而且，尽管存储器系统100 示出了存储器控制器110耦合至多个存储器器件112，但是在其他实 施方式中，两个或多个存储器控制器可以相互耦合。注意，存储器 控制器110和一个或多个存储器器件112可以实现在相同的或不同 的集成电路上，并且该一个或多个集成电路可以包括在芯片封装中。
在有些实施方式中，某些存储器器件112可能不具有控制逻辑 120。而且，存储器控制器110和/或一个或多个存储器器件112可以 包括不止一个接口 118，并且这些接口可以共享一个或多个控制逻辑 120电路。此外，尽管存储器系统100示出了三条链路114，但是其 他实施方式可以有更少或更多条链路114。
图2A提供了示出存储器控制器210(诸如存储器控制器110(图 1))的实施方式200的框图。在操作期间，将由存储器控制器210 发射到存储器器件的数据218可以临时存储在存储器緩冲器220-1 中。然后，数据218可以转发至发射电路(Tx) 222，并且可以作为 (模拟或数字)信号230进行发射。
类似地，可以使用接收机电路(Rx) 234从存储器器件接收信号 232，接收机电路包括检测电路(诸如限幅电路)以便根据信号232 确定数据238。在有些实施方式中，数据238临时存储在存储器緩沖 器220-2中。注意，转发、接收和/或发射的定时可以由频率合成器226提供 的一个或多个定时信号来进行门控。因而，可以基于一个或多个定 时信号中的 一个边沿或两个边沿来发射信号230和/或接收信号232。 而且，在有些实施方式中，发射和接收可以是同步的和/或异步的。
这些定时信号可以基于一个或多个时钟信号224而生成，其中 时钟信号可以片上生成(例如，使用锁相环以及频率参考所提供的 一个或多个参考信号)和/或片下生成。备选地，定时信号或时钟信 号224例如可以使用CDR电路214而从信号232恢复。而且，信号 230的电压水平和/或电压摆幅可以基于电源(未示出)提供的电压 228，并且数据238的逻辑水平可以基于电源提供的电压236。这些 电压可以是固定的或者可调节的。
在有些实施方式中，基于与去往和/或来自存储器控制器210的 通信相关联的性能度量，来调整一个或多个定时信号的周期、 一个 或多个定时信号的扭斜(skew)或延迟、和/或一个或多个电压228 和236。此性能度量可以包括信号力度(诸如信号幅度或信号强度)、 相对于目标(诸如检测阈值、星座图中的点、和/或星座图中的点序 列)的均方差(MSE)、信噪比(SNR)、误比特率(BER)、定时 裕度和/或电压裕度。
存储器控制器210可以包括CDR电^各214和偏移才交准电路208， 用于确定和补偿接收机234中的一个或多个采样器的偏移电压(如 下文参考图3到图5所进一步描述的)。如前所述，偏移电压可以 在校准操作模式中进行确定和修正(诸如启动校准模式)，或者在 常规操作模式中进行确定或修正(诸如实时校准模式)。例如，在 校准操作模式期间，另一器件(诸如图2B的存储器器件260)中的 发射机可以发射训练模式。备选地，在常规操作模式期间，在确定 和校准偏差电压时，可以使用信号232中的一个或多个特定数据模 式。在有些实施方式中，控制逻辑212用于选择操作模式；选择 要校准的采样器；和/或识别在校准偏差电压时使用的、 一个或多个 信号232中的数据模式。注意， 一个或多个采样器所测量的样本可以存储在可选存储器216中。
而且，尽管在图2A中未示出，但是在有些实施方式中，存储器 控制器210包括耦合至单独的命令链路(或通信信道)的一个或多 个附加发射电路，其将命令传送至存储器器件。此单独的链路可以 是无线链路、光链路或有线链路；其数据率可以低于一个或多个子 信道的关联数据率；其可以使用不同于与数据子信道中使用的载波 频率的一个或多个载波频率；和/或其可以使用不同于数据子信道中 使用的调制技术。然而，在有些实施方式中，使用一个或多个发射 电路222来传送命令。
图2B提供了示出存储器器件260(诸如存储器器件112-1(图1 )) 的实施方式250的框图。在此存储器器件中，使用接收机电路(Rx) 270从另一器件(诸如图2A的存储器控制器210)接收信号268。 这些电路可以包括检测电路(诸如限幅电路)以根据信号268确定 数据280。在有些实施方式中，数据280临时存储在存储器緩冲器 278-l中。接着，数据280存储在一个或多个存储单元282中。
响应于读取命令，从一个或多个存储单元282读回数据284。在 被发射到另一器件之前，此数据可以临时存储在存储器緩冲器278-2 中。接着，数据284可以被转发到发射电路(Tx) 286，并且可以作 为(模拟或数字)信号290进行发射。
注意，转发、接收和/或发射的定时可以由频率合成器274提供 的一个或多个定时信号来进行门控。因而，可以基于一个或多个定 时信号中的 一个边沿或两个边沿来发射信号290和/或接收信号268。 在有些实施方式中，发射和接收可以是同步的和/或异步的。
这些定时信号可以基于一个或多个时钟信号272而生成，其中 时钟信号可以片上生成(例如，使用锁相环以及频率参考所提供的 一个或多个参考信号)和/或片下生成。备选地，定时信号或时钟信 号272例如可以使用CDR电路264而从信号268恢复。而且，信号 290的电压水平和/或电压摆幅可以基于电源(未示出)提供的电压 288，并且数据280的逻辑水平可以基于电源提供的电压276。这些电压可以是固定的或者可调节的。
在有些实施方式中，基于与去往和/或来自存储器器件260的通
信相关联的性能度量来调整一个或多个定时信号的周期、 一个或多
个定时信号的扭斜或延迟、和/或一个或多个电压276和288。此性 能度量可以包括信号力度(诸如信号幅度或信号强度)、相对于 目标(诸如检测阈值、星座图中的点、和/或星座图中的点序列)的 均方差(MSE)、信噪比(SNR)、误比特率(BER)、定时裕度和 /或电压纟谷度。
尽管在图2B中未示出，但是在有些实施方式中，存储器器件260 包括耦合至单独的命令链路(或通信信道)的一个或多个附加接收 机电路，其从另一器件接收命令。然而，在有些实施方式中，使用 一个或多个接收机电路270来接收命令。
存储器器件260可以包括CDR电路264和偏移校准电路258, 用于确定和补偿接收机270中的一个或多个采样器的偏移电压(如 下文参考图3-图5所进一步描述的)。如前所述，偏移电压可以在 校准操作模式中进行确定和修正(诸如启动校准模式)，或者在常 规操作模式中进行确定或修正(诸如实时校准模式)。例如，在校 准操作模式期间，另一器件(诸如图2A的存储器控制器210)中的 发射机可以发射训练模式。备选地，在常规操作模式期间，在确定 和校准偏差电压时，可以使用信号268中的一个或多个特定数据模 式。在有些实施方式中，控制逻辑262用于选择操作模式；选择 要校准的采样器；和/或识别在校准偏差电压时使用的、 一个或多个 信号268中的数据模式。注意， 一个或多个采样器所测量的样本可 以存储在可选存储器266中。
在有些实施方式中，控制逻辑262包括存储器控制器的功能。 因此，在有些实施方式中，存储器器件260包括存储器模块和存储 器控制器。这些部件可以包括在一个或多个集成电路上的芯片封装 中。例如，该芯片封装可以包括包含有存储器控制器的第一集成电 路，以及包含有存储器模块的第二集成电路。如前所述，存储器控制器可以是本地存储器控制器和/或系统存储器控制器。
在存储器控制器210 (图2A)和/或存储器器件260的某些实施 方式中，使用附加的技术来恢复或防止在器件之间传送的数据的丢 失和/或防止存储在存储单元282中的数据的丟失。例如，在器件之 间传送的数据和/或所存储的数据中的至少 一部分可以包括检错码 (EDC )信息和/或纠错码(ECC )信息。此EDC和/或ECC信息可 以是预先存在的或者可以动态生成(例如，实时生成)。
在有些实施方式中，ECC信息包括Bose-Chaudhuri-Hocquenghem (BCH)码。注意，BCH码是循环码的子集。在示例性实施方式中， ECC信息包括循环冗余码(CRC)、奇偶码、海明码、Reed-Solomon 码和/或其他检错纠错码。
因此，在有些实施方式中，接收机电路270实现检错和/或纠错。 例如，可以通过结合信号268中的一个或多个奇偶位来执行多比特 XOR (异或)操作，从而检测与通信相关联的错误。
而且，如果在存储器控制器210 (图2A)与存储器器件260之 间的通信期间出现错误或者 一个或多个性能度量恶化，控制逻辑212 (图2A)和/或262可以采用各种补救动作。这些补救动作可以包括 重发之前的数据；使用相比于之前发射中使用的发射功率增大的发 射功率来发射之前的或新的数据(此后称为数据)；相对于之前发 射中所使用的数据率，降低一个或多个子信道的数据率；使用减少 的符号间干扰来发射数据(例如，在数据之前和/或之后插入空白间
隔)；在单个时钟边沿上发射数据(相对于双数据率传输)；发射 其中至少部分数据包括ECC或EDC的数据；使用与之前传输所使 用的编码不同的编码或调制码来发射数据；在预定空闲时间之后发 射数据；将数据发射至不同的接收机电路；和/或改变子信道的数目。 注意，在有些实施方式中，可以连续地、按照需要(例如，基于一 个或多个性能度量)、和/或在预定时间间隔之后执行一个或多个此 类调整。
在有些实施方式中，补救动作(更一般地，对一个或多个子信道的调整)是基于在存储器控制器210 (图2A)与存储器器件260 之间交换的控制信息的。此控制信息可以使用带内通信(例如，经 由用于传送信号230 (图2A) 、 232 (图2A) 、 268和290的频带) 和/或带外通信(例如，使用单独的链路)进行交换。
在有些实施方式中，补救动作和/或调整包括自动协商技术。在 此自动协商期间， 一个器件中的接收机电路可以向另 一个器件中的 发射电路提供有关子信道上信号的任何改变的效力的反馈。基于此 反々贵，发射电路可以进一步修改这些信号，例如可以进行补救动作。 注意，存储器控制器210 (图2A)和/或存储器器件260可以 包括更少的部件或者附加的部件。例如，耦合部件的信号线可以表 示多个信号线(或总线)。在有些实施方式中，存储器控制器210 (图2A)和/或存储器器件260包括预加强(pre-emphasis )，以补 偿与器件间通信相关联的损失和/或离差。类似地，在有些实施方式 中，信号的接收机包括均衡化。注意，预加强和/或均衡化可以使用 前向反馈滤波器和/或决策反馈均衡化电路来实现。
在存储器控制器210 (图2A)和/或存储器器件260中所示出的 部件和/或功能可以使用模拟电路和/或数字电路来实现。而且，这些 通信电路中任何一个的部件和/或功能可以使用硬件和/或软件(诸如 固件)来实现。例如，控制电路212 (图2A)和/或262可以包括处 理器或处理器内核，并且CDR电路214 (图2A)和264和/或偏移 校准电路208 (图2A)和258可以实现为由控制逻辑、处理器或处 理器内核来执行的指令。
在有些实施方式中，控制逻辑212 (图2A)和262的功能由计 算机系统中的处理器来提供。
注意，存储器控制器210 (图2A)和/或存储器器件260中的两 个或更多部件可以合并成单个部件，和/或一个或多个部件的位置可 以改变。在有些实施方式中，存储器控制器210 (图2A)和/或存储 器器件260包括在一个或多个半导体晶片上的一个或多个集成电路 中。在偏移电压校准技术中， 一对采样器对可以对接收机(诸如图
2A的接收机270和234之一 )在与信号相关联的眼图边沿的接近信 号交叉点(也称为跃迁边沿))处接收的信号进行采样。这在图3A 中示出，其中提供了示出接收机电路300的实施方式的框图。
具体地，可以基于一个或多个时钟信号318 (例如，使用锁相环 或延迟锁定环)以及来自控制逻辑328的指令，由相位调整电路314-1 来提供采样器312的采样时间。这些指令可以基于来自CDR电路324 的信息，其中CDR电路可以分析信号322，尝试将采样器312之一 (诸如采样器312-1 )的采样时间锁定在信号交叉点(在采样器312-1 的校准完成之后，随后可以校准采样器312-2的偏移电压)。注意， 如果没有偏移电压，则相位调整电路314-1将4巴采样器312-1的采样 时间与信号交叉点对准(如下文参考图5A所进一步描述的)。
然而，给定采样器(诸如采样器312-1)中的偏移电压造成了定 时不确定区域，此后将其称为无差别(undifferentiated)定时区域。 在此区域中，CDR电路324获得相等数目的信号322的早样本和晚 样本。从而，CDR电路324所^是供的信息可以导致基于当前偏移电 压而在采样器312-1的当前采样时间附近抖动。
如下文参考图5B-图5D所描述的，在无差别定时区域内采集的 样本指示采样器312-1的偏移电压的符号(sign)。因此，在此区域 中，偏移校准电路326可以确定和调整采样器312-1的当前偏移电 压。通过并行地操作CDR电路214和偏移校准电路326, CDR电路 324和偏移校准电路326可以迭代收敛到信号交叉点上，从而收敛到 采样器312-1的残余偏移电压上。
附加地，如下文参考图4B-图4C所进一步描述的，在某些实施 方式中，采样器312-1在第一时间对信号310采样，采样器312-2在 第二时间对信号310采样，其中第二时间与第一时间之间的差基本 上等于信号310的一个比特时间(或者更一般地， 一个符号时间)。 而且，当正在校准采样器312-2时，采样器312-1还可以在第三时间 对信号310采样，其中第三时间与第二时间之间的差基本上等于信号310的符号时间。(备选地，当正在校准采样器312-1时，采样器 312-2可以在第一时间、并继而在第三时间对信号310采样。)例如， 基于来自控制逻辑328的指令，相位调整电路314-1可以调整采样器 312的采样时间，以允许在第 一 时间、第二时间和第三时间采集样本。
注意，给定采样器(诸如采样器312-1)的采样时间可以基于在 第一时间、第二时间以及第三时间采集的样本而进行调整(基于来 自CDR电路324的信息)。例如，第一时间可以在对应于眼图的边 沿或4言号交叉点的时间之前，而第三时间可以在对应于眼图的信号 交叉点的时间之后。
此外，注意， 一个或多个此类样本可以临时存4诸在可选存储器 330中，以便随后在将给定采样器(诸如采样器312-1)的采样时间 锁定到信号交叉点时以及在校准偏移电压时使用。
在有些实施方式中，接收机电路300包括可选的解串器320-1， 诸如先进先出緩冲器，其将串行数据转换为并行字。例如，可选的 解串器320-1可以将单个链路上的数据转换为16个并行链路上的数 据。
接收机电路300可以用于在校准操作模式中(诸如启动校准模 式)确定和调整采样器312的偏移电压。在此操作模式期间，可以 由另 一电路中的发射机向此接收机电路提供训练模式。该训练模式 可以包括方波数据模式，诸如具有四倍于比特或符号时间的基本周 期的方波模式(如下文参考图4A所描述的)。
如前所述，基于来自控制逻辑328的信息，可以在某一时间对 采样器312之一的偏移电压进行校准。例如，对于眼图具有两个符 号时间宽度的'11001100，训练模式，釆样器312之一可以配置用 于在接近信号交叉点处进行采样，同时另一采样器312将会在接近 眼图中心处进行采样。
接下来，可以校准另一采样器312的偏移电压，并且可以继续 该过程直到所有采样器312的偏移电压都已校准。然后，接收机电 路300可以切换到常规操作模式，在该模式中，CDR电路可以提供信息以将釆样器312的采样时间锁定为接近于眼图中心。
注意，这些接收机电路可以用于确定和调整与晶体管失配相关 联的偏移电压(例如，与制程偏差相关联的偏移电压)。然而，在 某些实施方式中，在常规操作模式(或实时校准模式)期间，实时
数据或现场数据被用来确定和调整与以下相关联的偏移电压晶体 管失配、温度变动和/或电源变动。(不过在启动时，可以在校准操 作模式(诸如启动校准模式)期间校准偏移电压。)这在图3B中示 出，其提供了示出接收机电路350的实施方式的框图。
在此实施方式中，使用两个附加采样器312-4和312-5在接近与 信号310相关联的眼图中心处对信号310进行采样。注意，采样器 312-4和312-5可以基本上以比特时间或符号时间为间隔。而且，采 样器312-4和312-5可以具有独立于其他采样器(诸如图3A中的采 样器312-1和312-2)的采样时间。例如，可以基于一个或多个时钟 信号318以及来自控制逻辑328的指令，由相位调整电路314-2来确 定采样器312-4和312-5的采样时间。注意，在将一个或多个时钟信 号318耦合到相位调整电^各314-2之前，倒相器316可以对这些信号 进行倒相，从而将采样器312-4和312-5的采样时间设置为接近眼图 中心。
基于这些样本，控制逻辑328可以识别信号中的数据模式。而 且，与数据模式相关联的样本可以用于确定和调整给定采样器的偏 移电压。注意，此数据模式可以包括第一值的两个连续实例以及其 后的第二值的两个连续实例，诸如'1100'数据模式。
在有些实施方式中，在已经校准采样器312-1和312-2的偏移电 压之后，控制逻辑328选择性地交换采样器312-1和312-2与采样器 312-4和312-5的角色，从而允许确定和调整这些附加釆样器的偏移 电压。例如，在已经校准采样器312-1和312-2的偏移电压之后，可 以调整这些采样器的采样时间，使得它们也在接近眼图中心处进行 采样。接着，可以将采样器312-3和312-4的采样时间调整为接近信可以周期性地或根据需要重复这个循环，从而更新采样器312的偏 移电压。注意，采样器312可以进行无缝切换以保护系统性能(例 如，良好的数据流)。
而且，在有些实施方式中，当已经在校准操作模式或常规操作 模式中确定和调整一个或多个采样器312的偏移电压之后，接收机 电路300 (图3A)和350继而可以调整定时裕度。
在有些实施方式中，接收才几电路300 (图3A)和350包括更少 的或附加的部件。例如，这些接收才几电路的实例可以用来才交准并4亍 接口中的每个比特或链路的偏移电压。注意，这些接收机电路以及 偏移电压校准技术可以与差分信号和/或单端信号一起使用。在有些 实施方式中，偏移电压校准技术用来设置单端接收机电路中给定采 样器的参考电压。而且，两个或更多部件可以合并成单个部件，和/ 或一个或多个部件的位置可以改变。
在示例性实施方式中，偏移电压校准技术与具有低共模和低信 号摆幅的i殳备和系统一起使用。例如，信号310 (图3A和图3B) 可以具有50-300 mVpp的差分幅度。注意，在有些实施方式中(单 端的或差分的)，使用较低的电压摆幅，而在另外一些实施方式中， 使用较高的电压摆幅，诸如LVDS ( 350 mV差分摆幅)、LVTTL (超 过3.3V的摆幅)和/或TTL (超过5.0V的摆幅)。
如前所述，信号310可以包括包含方波信号的训练模式。这在 图4A中示出，其提供了示出信号的实施方式的时序图400。在有些 实施方式中，这些信号具有4倍于符号时间的周期。
此训练模式具有多个在确定偏移电压有用的特征，包括DC平 衡；对占空比失真的不敏感性(因为每两个符号时间只有一次信号 跃迁)；无符号间干扰(因为只有一个单频率分量)；无依赖于数 据的颤动(jitter)(因为只有一个单频率分量)；以及同等权重的 上升和下降信号跃迁(因为样本在'0，和'1，之间交替)。注意，
由于没有符号间干扰，眼图中的信号交叉点近似于固定，并且直接 位于最大电压和最小电压之间。这些信号交叉点定义了理想电压水应于第 一值或第二值
(诸如'o，或'r )。如前所述，在邻近这些信号交叉点之一处 可以使用迭代技术来确定和调整给定采样器的偏移电压。
在偏移电压校准期间，给定采样器的采样时间被CDR电路324 (图3A和图3B)锁定到眼图中最近的信号交叉点或边沿。如图4B 所示，其提供了示出信号的实施方式的时序图430,这可以通过将给 定采样器(诸如采样器410-2)的样本与早一个符号时间采集的样本 (样本410-1)以及晚一个符号时间采集的样本(样本410-3 )进行 比较来实现。注意，这些另外的样本可以通过采样器对(诸如图3A 和图3B中的采样器312-1和312-2)中的互补采样器伙伴来获得。
而且，样本410的比较可以用来调整一个或多个相位调整电路 314 (图3A和图3B)。例如，如果样本410-2与样本410-1相同， 则样本410-2的采样时间早于信号交叉点。这种情况下，将更新相位 调整电路，诸如相位调整电路314-1 (图3A和图3B),从而延迟此 采样时间。然而，如图4C所示，其提供了示出信号的实施方式的时 序图400，如果样本410-2与样本410-3相同，则样本410-2的采样 时间晚于信号交叉点。这种情况下，将更新相位调整电路314-1 (图 3A和图3B)以提前此采样时间。更一^:地，CDR电路324 (图3A 和图3B )可以使用大量早/晚样本统计来决定何时延迟或提前给定采 样器的采样时间的相位，其目标是将其对准信号交叉点中心。
如前所述，如果偏移电压是零，则相位调整电路314-1 (图3A 和图3B)会将给定采样器的采样时间与信号交叉点对准(在此相位 调整电路的精度范围内)。这在图5A中示出，其提供了示出信号的 实施方式的时序图500。注意，阈值电压512-1穿过信号交叉点(例 如，偏移电压是零)。
然而，如图5B所示，其提供了示出信号的实施方式的时序图 530，给定采样器的阚值电压512-2中的有穷偏移电压造成了 CDR 电路324 (图3A和图3B)的定时不确定区域(无差别定时区域)。 如虚线框所示，此无差别定时区域在时间上由阈值电压512 - 2与信号跃迁的交点来界定。在此无差别定时区域中，给定采样器看到相等
数目的上升沿和下降沿。因此，CDR电路324 (图3A和图3B)将 确定相等数目的"早样本"和"晚样本"，并且不会被驱动至任何 一个方向。从CDR电路324 (图3A和图3B)的角度来看，在无差 别定时区域内，相位调整电路314-1的所有相位设置都是等同的。
在此无差别定时区域内，可以确定和调整给定采样器的阈值电 平中的偏移电压。例如，如时序图530所示，如果阈值电压512-2 太高，则来自给定采样器(诸如采样器410-2)的(在上升信号跃迁 以及下降信号跃迁上的)所有样本将会是'0，。具体地，对于上升 跃迁样本410可以是'001，，对于下降跃迁样本410可以是'100，。
然而，如图5C所示，其提供了示出了信号的实施方式的时序图 560,如果阈值电压512-3太低，则来自给定采样器(诸如采样器 410-2)的(在上升信号跃迁以及下降信号跃迁上的)所有样本将会 是'i，。具体地，对于上升跃迁样本410可以是'011，，对于下 降跃迁样本410可以是'110，。
注意，当在无差别定时区域内操作时，从给定采样器收集的样 本的多数表决(vote)可以用来调整偏移电压。具体地，基于样本 410，可以确定偏移电压的符号，并且可以调整偏移校准电路326(图 3A和图3B)中的数模转换器。
如图5D所示，其提供了示出了信号的实施方式的时序图590, 信号交叉点将电压/时间空间划分为4个象限两个表示无差别定时 区域(UTR),两个表示无差别电压区域(UVR)。注意，无差别 电压区域表示采样器阔值电压在两个重叠波形之间。由于釆样器 交替对'0，和'1，进行采样，因此无法做出有关如何调整偏移电 压的决策。
在有些实施方式中，当CDR电路324 (图3A和图3B)以及偏 移校准电路326 (图3A和图3B)并行运行时，取决于当前操作区 域，在给定时间只有其中之一可以更新。然而，这可能不是由控制 逻辑328 (图3A和图3B)执行的明确决策。相反，很有可能在给定时间这些电路中只有一个可以更新。
而且，每当交叉信号跃迁时，可以交换由CDR电路324 (图3A 和图3B)和偏移校准电路326 (图3A和图3B )所做的调整。例如， 当调整阈值电压512-4时，给定采样器的操作点(采样时间和阈值电 压)可能离开无差别定时区域之一，并且进入无差别电压区域之一。 此时，CDR电路324 (图3A和3B)可能回到全摆幅，旋转更靠近 信号交叉点的釆样时间的相位。因此，给定采样器的操作点可以大 致追踪朝向信号交叉点的最近的信号跃迁，从而在无差别定时区域 与无差别电压区域之间交替。这在时序图590中示出，其中初始阈 值电压512-4和采样时间592迭代地调整，直到获得信号交叉点以及 残余偏移电压(基于图3A和图3B中的偏移校准电路326的精度)。 注意，定时和电压颤动可能在偏移电压4交准4支术中^分演着重要 角色。例如，颤动可以提供围绕信号交叉点的'模糊(fuzz)，区域， 这允许偏移电压校准技术从不同的无差别区域收集有用的统计数 据。因此，在CDR电路324 (图3A和图3B )以及偏移才交准电路326
(图3A和图3B)的精度内，这种'模糊，可以促进给定采样器的 操作点收敛至信号交叉点。
现在描述用于校准接收机电路的过程的实施方式。图6提供了 示出了用于校准接收机电路的过程600的实施方式的流程图，其可 以由电路或器件来执行。在操作期间，器件使用时钟数据恢复技术 来调整接收机电路的采样时间，使得接收机电路的采样时间接近于 与该接收机电路接收的信号相关联的眼图边沿处的信号交叉点
(610)，其中接收机电路包括第一采样器和第二采样器。接下来， 器件确定给定采样器在接近信号交叉点的定时区域内的当前偏移电 压，该给定采样器可以是第一采样器或第二采样器，其中时钟数据 恢复技术基于当前偏移电压在当前采样时间附近抖动(612)。然后， 器件迭代地收敛到信号交叉点以及给定采样器的残余偏移电压上
(614)。
在过程600的有些实施方式中，存在更少或附加的操作。而且，两个或更多操作可以合并为单个操作，和/或一个或多个操作的位置 可以改变。
此处所描述的器件和电路可以使用本领域可用的计算机辅助设 计工具来实现，并且可以通过包含此类电路的软件描述的计算机可
读文件来具体化。这些软件描述可以是行为级、寄存器传送级、 逻辑部件级、晶体管级和几何布局级描述。而且，软件描述可以存 储在存储介质上或通过载波传送。
实现此类描述的数据格式可以包括但不限于支持行为语言(诸 如C语言)的格式、支持寄存器传送级RTL语言(诸如Verilog和 VHDL)的才各式、支持几何描述语言(诸如GDSII、 GSDIII、 GDSIV、 CIF和MEBES)的才各式以及其他合适的才各式和语言。而且，机器可 读介质上的这些文件的数据传送可以通过因特网上的分散介质或者 例如经由电子邮件来电子化实现。注意，物理文件可以实现在机器 可读介质上，诸如4 mm》兹带、8 mm磁带、3又1/2英寸软盘、CD、 DVD等等。
图7提供了示出了存储此类计算机可读文件的系统700的实施 方式的框图。该系统可以包括至少一个数据处理器或中央处理单元 (CPU) 710、存储器724、以及用于将这些部件相互耦合的一个或 多个信号线路或通信总线722。存储器724可以包括高速随机访问存 储器和/或非易失性存储器，诸如ROM、 RAM、 EPROM、 EEPROM、 闪存、 一个或多个智能卡、 一个或多个磁盘存储器件和/或一个或多 个光学存储器件。
存储器724可以存储电路编译器726和电路描述728。电路描述 728可以包括针对上面参考图1-图6讨论的电路或电路的子集的描 述。具体地，电路描述728可以包括有关下列的电路描述 一个或 多个存储器控制器730、 一个或多个存储器器件732、 一个或多个 CDR电路734、 一个或多个偏移校准电路736、控制逻辑738 (或指 令集)、 一个或多个采样器740、 一个或多个可选解串器742、和/ 或可选的存储器744。在有些实施方式中，系统700包括更少的或附加的部件。而且， 两个或更多部件可以合并成的单个部件，和/或一个或多个部件的位 置可以改变。
在有些实施方式中，电路包括接收信号的接收机电路，接收机 电路包括第一采样器和第二采样器。接收机电路中的时钟数据恢复 电路可以调整接收机电路的采样时间，使得采样时间接近于与信号 相关联的眼图边沿处的信号交叉点。而且，接收机电路中的偏移校 准电路可以确定和调整给定釆样器的偏移电压，该给定采样器可以 是第一采样器或第二采样器。注意，偏移校准电路可以确定给定采 样器在接近信号交叉点的定时区域内的当前偏移电压，其中时钟数 据恢复电路基于当前偏移电压在当前采样时间附近抖动。此外注意， 时钟数据恢复电路和偏移校准电路可以迭代地收敛到信号交叉,*以 及给定采样器的残余偏移电压上。
在有些实施方式中，第一采样器在第一时间对信号进行采样， 第二采样器在第二时间对信号进行采样，其中第二时间与第 一时间 之间的差基本上等于信号的符号时间。而且，当给定采样器是第二 采样器时，第一采样器还可以在第三时间对信号进行采样，其中第 三时间与第二时间之间的差基本上等于信号的符号时间。注意，在
第 一时间和/或第三时间采集的样本可以存储在存储器中。
在有些实施方式中，基于在第一时间、第二时间和第三时间釆 集的样本来调整采样时间。 注意，第一时间可以在对应于眼图边沿的时间之前，而第三时 间可以在对应于该眼图边沿的时间之后。
在有些实施方式中，接收机电路包括两个附加采样器，其具有 独立于第 一 采样器和第二采样器的采样时间，并且这些采样时间基 本上以符号时间为间隔。注意，这两个附加采样器可以在接近与信 号相关联的眼图中心处对信号进行采样。
而且，接收机电路可以包括控制逻辑，其基于来自两个附加采 样器的样本来识别信号中的数据模式，从而能够确定和调整与该数据模式相关联的样本的偏移电压。此数据模式可以包括第 一 值的两 个连续实例以及其后的第二值的两个连续实例。
在有些实施方式中，控制逻辑选择性地交换第 一 和第二采样器 与附加采样器的角色，从而允许确定和调整附加采样器的偏移电压。
此外，这两个附加釆样器和控制逻辑通过使用对应于常规操作 模式中数据的信号来促进确定和调整偏移电压。
然而，在有些实施方式中，偏移电压在校准操作模式期间确定。 而且，在确定偏移电压以及返回常规j喿作才莫式之后，时钟凄t据恢复 电路可以调整接收机电路的采样时间，使得采样时间接近于与信号 相关联的眼图中心。注意，信号可以包括训练模式，诸如具有4倍 于符号时间的基本周期的方波模式。
在有些实施方式中，信号是正交信号。而且，信号可以包括差 分信号和/或单端信号。
另一实施方式提供了部署在包括电路的半导体晶片上的集成电路。
另一实施方式^是供了包括电路的系统。例如，该系统可以包括 存储器控制器(其可以包括电路的实例)以及耦合至存储器控制器 的存储器器件(其可以包括电路的实例)。而且，在有些实施方式 中，系统实现在芯片封装中，该芯片封装包括具有存储器控制器和 存储器器件的集成电路，或者包括分别具有存储器控制器和存储器 器件的集成电路。.
另 一 实施方式提供了包括描述电路的数据的计算机可读介质。 另一实施方式提供了用于校准接收机电路的方法，其可以由器 件或电路来执行。在操作期间，器件使用时钟数据恢复技术来调整 接收机电路的采样时间，使得接收机电路的采样时间接近与该接收 机电路所接收的信号相关联的眼图边沿的信号交叉点，其中该接收 机电路包括第一采样器和第二采样器。接着，器件确定给定采样器 在接近信号交叉点的定时区域内的当前偏移电压，该给定采样器可 以是第 一 采样器或第二采样器，其中时钟数据恢复技术基于当前偏移电压在当前采样时间附近抖动。然后，器件迭代地收敛到信号交 叉点以及给定采样器的残余偏移电压上。
另 一 实施方式提供了用于结合计算机系统使用的计算机程序 产品。该计算机程序产品包括计算机可读存储介质以及嵌入在其中 用于配置此计算机系统的计算机程序机制。而且，此计算机程序机 制可以包括对应于由电路执行的操作(诸如在本方法中执行的操作) 的指令。
仅仅出于示意性和描述的目的提供了实施方式的前述描述。前
对于本领域技术人员来说，各种修改和变形都是很显然的。此外， 上述公开的意图不在于限制本申请。本申请的范围由所附权利要求 定义。
权利要求
1.一种电路，包括用于接收信号的接收机电路，其中所述接收机电路包括第一采样器和第二采样器；时钟数据恢复电路，用于调整所述接收机电路的采样时间，使得所述采样时间接近与所述信号相关联的眼图的边沿处的信号交叉点；以及偏移校准电路，用于确定和调整给定采样器的偏移电压，所述给定采样器可以是所述第一采样器或所述第二采样器，其中所述偏移校准电路用于确定所述给定采样器在接近所述信号交叉点的定时区域内的当前偏移电压，其中所述时钟数据恢复电路基于所述当前偏移电压在当前采样时间附近抖动；以及其中所述时钟数字恢复电路和偏移校准电路用于迭代地收敛到所述信号交叉点以及所述给定采样器的残余偏移电压上。
2. 如权利要求l所述的电路，其中所述第一采样器在第一时间 对所述信号进行采样，而所述第二采样器在第二时间对所述信号进 行采样，以及其中所述第二时间与所述第 一时间之间的差基本上等于所述信 号的符号时间。
3. 如权利要求2所述的电路，其中，当所述给定采样器是所述 第二采样器时，所述第 一 采样器还在第三时间对所述信号进行采样， 以及其中所述第三时间与所述第二时间之间的差基本上等于所述信 号的所述符号时间。
4. 如权利要求3所述的电路，其中在所述第一时间或所述第三 时间采集的样本存储在存储器中。
5. 如权利要求3所述的电路，其中基于在所述第一时间、第二 时间以及第三时间所采集的样本，来调整所述采样时间。
6. 如权利要求3所述的电路，其中所述第一时间在所述眼图的 所述边沿的对应时间之前，而所述第三时间在所述眼图的所述边沿 的所述对应时间之后。
7. 如权利要求3所述的电路，还包括两个附加采样器，其具有 独立于所述第 一 采样器和所述第二采样器的采样时间，并且其采样 时间基本上以所述符号时间为间隔，其中所述两个附加采样器用于 在接近与所述信号相关联的所述眼图的中心处对所述信号进行采 样。
8. 如权利要求7所述的电路，还包括控制逻辑，用于基于来自 所述两个附加采样器的样本来识别所述信号中的数据模式，以及用 于使能够确定和调整与所述数据模式相关联的样本的偏移电压。
9. 如权利要求8所述的电路，其中所述数据模式包括第一值的 两个连续实例以及其后的第二值的两个连续实例。
10. 如权利要求8所述的电路，其中所述两个附加采样器以及所 述控制逻辑使用对应于常规操作模式中数据的信号来促进确定和调 整所述偏移电压。
11. 如权利要求8所述的电路，其中所述控制逻辑选择性地交换 所述第一釆样器和第二采样器与所述附加采样器的角色，从而允许 确定和调整所述附加采样器的偏移电压。
12. 如权利要求1所述的电路，其中所述偏移电压在校准操作模 式期间确定。
13. 如;K利要求12所述的电路，在确定所述偏移电压并返回常 规操作模式之后，所述时钟数据恢复电路用于调整所述接收机电路 的所述采样时间，使得所述采样时间接近与所述信号相关联的所述 眼图的中心。
14. 如权利要求l所述的电路，其中所述信号包括训练模式。
15. 如权利要求14所述的电路，其中所述训练模式包括具有四 倍于符号时间的基本周期的方波模式。
16. 如权利要求l所述的电路，其中所述信号是正交信号。
17. 如权利要求1所述的电路，其中所述信号包括差分信号或单 端信号。
18. 如权利要求1所述的电路，其中所述电路包括在集成电路中。
19. 一种电^各，包括用于接收信号的接收机电路，其中所述接收机电路包括第 一 采样 器和第二采样器；用于调整所述接收机电路的采样时间的装置，其中所述装置调整 所述采样时间，使得所述采样时间接近与所述信号相关联的眼图的 边沿处的信号交叉点；以及偏移校准电路，用于确定和调整给定采样器的偏移电压，所述给 定采样器可以是所述第一采样器或所述第二采样器，其中所述偏移 校准电路用于确定所述给定采样器在接近所述信号交叉点的定时区 域内的当前偏移电压，其中所述装置基于所述当前偏移电压在当前 采样时间附近抖动；以及其中所述装置和所述偏移校准电路用于迭代地收敛到所述信号 交叉点以及所述给定采样器的残余偏移电压上。
20. —种用于校准4妄收冲几电路的方法，包括使用时钟数据恢复技术来调整接收机电路的采样时间，使得所述的眼图的边沿处的信号交叉点，其中所述接收机电路包括第一采样 器和第二采样器；确定给定采样器在接近所述信号交叉点的定时区域内的当前偏 移电压，所述给定采样器可以是所述第 一采样器或所述第二采样器， 其中所述时钟数据恢复技术基于所述当前偏移电压在当前采样时间 附近抖动；以及迭代地收敛到所述信号交叉点以及所述给定采样器的残余偏移 电压上。
21. —种用于与计算机系统一起使用的计算机程序产品，所述计 算机程序产品包括计算机可读存储器介质以及嵌入在其中用于配置所述计算机系统的计算机程序机制，所述计算机程序机制包括 用于使用时钟数据恢复技术来调整接收机电路的采样时间的指的信号相关联的眼图的边沿处的信号交叉点，其中所述接收机电路 包括第一采样器和第二采样器；用于确定给定采样器在接近所述信号交叉点的定时区域内的当 前偏移电压的指令，所述给定采样器可以是所述第一采样器或所述 第二采样器，其中所述时钟数据恢复技术基于所述当前偏移电压在 当前采样时间附近抖动；以及用于迭代地收敛到所述信号交叉点以及所述给定采样器的残余 偏移电压上的指令。
22. —种包含表示电路的数据的计算机可读介质，其中所述电路 包括用于接收信号的接收机电路，其中所述接收机电路包括第 一 采样 器和第二采样器；时钟数据恢复电路，用于调整所述接收机电路的采样时间，其中 所述时钟数据恢复电路调整所述采样时间，使得所述采样时间接近 与所述信号相关联的眼图的边沿处的信号交叉点；以及偏移校准电路，用于确定和调整给定采样器的偏移电压，所述给 定采样器可以是所述第一采样器或所述第二采样器，其中所述偏移 校准电路用于确定所述给定采样器在接近所述信号交叉点的定时区 域内的当前偏移电压，其中所述时钟数据恢复电路基于所述当前偏 移电压在当前采样时间附近抖动；以及其中所述时钟数字恢复电路和偏移校准电路用于迭代地收敛到所述信号交叉点以及所述给定采样器的残余偏移电压上。
全文摘要
描述了一种电路的实施方式。此电路包括接收机电路，其包括第一采样器(312-1)和第二采样器(312-2)。接收机电路中的时钟数据恢复电路(324)调整接收机电路的采样时间，使得采样时间接近与接收信号相关联的眼图的边沿处的信号交叉点。接收机电路中的偏移校准电路(326)确定和调整给定采样器的偏移电压，给定采样器可以是第一采样器或第二采样器。偏移校准电路可以确定给定采样器在接近信号交叉点(410-2)的定时区域内的当前偏移电压(412)，其中时钟数据恢复电路基于所述当前偏移电压在当前采样时间附近抖动。此外，时钟数字恢复电路和偏移校准电路迭代地收敛到所述信号交叉点以及所述给定采样器的残余偏移电压上。
文档编号H04L25/06GK101606365SQ200880004695
公开日2009年12月16日 申请日期2008年2月11日 优先权日2007年2月12日
发明者A·M·富勒, J·波尔顿 申请人:拉姆伯斯公司