专利名称：一种测量机器底噪的方法和系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及无线网络技术领域，具体涉及一种测量机器底噪的方法和系统。背景技术：
LTE (Long Term Evolution，长期演进)项目是3G的演进，它改进并加强了 3G的空中接入技术，采用 OFDM (Orthogonal Frequency DivisionMultiplexing，正交频分复用) 和ΜΙΜΟ (Multiple-Input Multiple-Out-put，多输入多输出)作为其无线网络演进的唯一标准。在20MHz频谱带宽下能够提供下行326Mbit/s与上行86Mbits/s的峰值速率，LTE改善了小区边缘用户的性能，提高了小区容量和降低系统延迟。LTE系统采用小区间干扰抑制技术来提高小区边缘数据率。目前小区间干扰技术主要包括干扰协调(ICIC，Inter Cell Interference Coordination)、干扰随机化(ICIR, Inter Cell Interference Randomization)、干扰消除(ICICc, Inter Cell Interference Cancellation)和慢功控等。在干扰协调方案中，网络层需要了解在频率上的噪声干扰增量 (IOT)，并通过裁判门限来判断是否存在干扰以及干扰的强弱，然后通过基站间协调的方式尽可能避免干扰出现，其中IOT的定义如下IOT = NI/N(1)其中，N为机器底噪，NI为噪声干扰。LTE协议中需要测量每个资源块噪声干扰功率和机器底噪。现有技术中一种机器底噪的测量算法采用下述公式计算Plhermal = KTB+ 噪声系数(2)其中KTB表示底噪声，K为波尔兹曼常数，T为参考温度(开氏)，B为接收机有效噪声宽带。该算法在带宽固定的情况下，该值随着温度变化，接收机是无法准确知道外界温度的，在温度变化较大的情况下该种算法存在测量不准确的问题。现有技术中另一种测量机器底噪的算法是在深夜接入用户较少的时候，采用用户没有使用的频域资源来进行噪音测量。该种算法具有很大的局限性，需要人为的判断是否该时刻用户少。
发明内容本发明的主要目的是提供一种测量机器底噪的方法和系统，测量准确。本发明所采用的技术方案是一种测量机器底噪的方法，包括获取第一噪声干扰集合，从中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合，然后计算第二噪声干扰集合的平均值；判断第二噪声干扰集合的平均值是否小于等于设定阈值，如果是，则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合的平均值。优选的，所述预设噪声干扰阈值按如下方式确定从所述第一噪声干扰集合中查找最小噪声干扰，将最小噪声干扰的整数倍值设定为预设噪声干扰阈值。
优选的，所述第一噪声干扰集合中噪声干扰的数量等于LTE系统上行链路资源块的数量。优选的，所述设定阈值等于机器底噪的修正值与参考机器底噪两者之和的绝对值，所述参考机器底噪等于常温、无干扰情况下，LTE系统上行链路资源块的噪声干扰的平均值。优选的，所述机器底噪的修正值为所述为参考机器底噪的1/2。优选的，所述的方法还包括如果第二噪声干扰集合的平均值大于设定阈值，则当前机器底噪等于所述参考机器底噪。一种测量机器底噪的系统，包括获取单元，用于获取第一噪声干扰集合；查找单元，与获取单元连接，从所述第一噪声干扰集合中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合；计算单元，与查找单元连接，用于计算第二噪声干扰集合的平均值；判断单元，判断第二噪声干扰集合的平均值是否小于等于设定阈值，如果是，则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合的平均值。优选的，所述查找单元从所述第一噪声干扰集合中查找最小噪声干扰，将最小噪声干扰的整数倍值设定为预设噪声干扰阈值。优选的，所述第一噪声干扰集合中噪声干扰值的数量等于LTE系统上行链路资源块的数量。优选的，所述设定阈值等于机器底噪的修正值与参考机器底噪两者之和的绝对值，所述参考机器底噪等于常温、无干扰情况下，LTE系统上行链路资源块的噪声干扰的平均值。优选的，所述机器底噪的修正值为参考机器底噪的1/2。优选的，所述判断单元还用于，如果第二噪声干扰集合的平均值大于设定阈值，则当前机器底噪等于所述参考机器底噪。与现有技术相比，本发明通过在第一噪声干扰集合中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰，得到第二噪声干扰集合并计算其平均值，当该平均值小于等于设定阈值时，则可以确定当前机器低噪为该平均值，这种方法能够得到更加准确的机器低噪测量值，克服了现有技术中由于温度变化带来的机器底噪的改变导致定测法测量不准确的问题。
图1为本发明提供的一种测量机器底噪的方法流程图；图2为本发明提供的一种测量机器底噪的系统框图。
具体实施方式下面通过实施例并结合附图对本发明作进一步详细的描述。请参阅图1所示，图1为本发明提供的测量机器底噪的方法流程图，包括步骤步骤101 基站在每个资源块(RB，Resource Block)上进行噪声干扰测量，得到第一噪声干扰集合A。在LTE系统中，设接收机测量得到的第一噪声干扰集合A为A = {NIk, k = 1，2，· · . λ }其中λ为资源块的个数。在LTE系统中，假如上行链路为5Μ，则总共有25个资源块，对25个资源块进行噪声干扰(Ni)测量，得到包含25个元素的第一噪声干扰集合Α。步骤102 在第一噪声干扰集合A中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合 B= {NIk|NIk< α ρ ,k= 1,2... λ}。本实施例中，所述预设噪声干扰阈值按如下方式确定从所述第一噪声干扰集合中查找最小噪声干扰，设最小噪声干扰为α，将最小噪声干扰的某一整数倍值设定为预设噪声干扰阈值。查找最小噪声干扰的方法包括快速查找法、折半查找法等，查找技术为现有技术，在此不再赘述。其中，ρ为比例因子，接收机在不同条件下配置不同，与室温有关，通常情况下，P 一般为整数，优选等于2。步骤103 计算第二噪声干扰集合B的平均值χ。步骤104 判断第二噪声干扰集合B的平均值χ是否小于等于设定阈值，如果是， 则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合B的平均值χ ；否则，如果第二噪声干扰集合的平均值大于设定阈值，则当前机器底噪等于参考机器底噪。所述设定阈值等于机器底噪的修正值与参考机器底噪两者之和的绝对值，所述参考机器底噪等于常温、无干扰情况下，LTE系统上行链路资源块的噪声干扰的平均值。本实施例中，在常温，无干扰情况下，通过接收机测量LTE系统上行链路资源块的噪声干扰，然后取这些噪声干扰的平均值得到参考机器底噪。步骤105 输出测量得到的机器底噪后，结束流程。本实施例，通常情况下，所述机器底噪的修正值为参考机器底噪的1/2。设参考机器底噪为ζ，机器底噪的修正值为ε，通常情况下ε = ζ/2，则设定阈值为I ζ +ε |。如果第二噪声干扰集合B的平均值χ彡I ζ + ε I，则当前机器底噪等于X，
否则，如果第二噪声干扰集合B的平均值1> I ζ + ε I，则当前机器底噪等于参考机器底噪 ζ。上述测量机器底噪的方法克服了现有技术中由于温度变化带来的机器底噪的改变导致定测法测量不准确的问题。同时，也解决了需要在某个特定环境下，接收机进行机器底噪测量不能表征一般情况下的机器底噪的问题。下面通过具体的数据进行详细地说明。实施例一假如在LTE系统中，上行链路带宽为5Μ，总共有25个资源快。则在常温、无干扰情况下，对25个资源块的噪声干扰(Ni)测量结果求平均值，获得参考值ζ = 1120。步骤Al 基站在每个资源块(RB，Resource Block)上进行噪声干扰测量，得到第一噪声干扰集合A，假如得到的第一噪声干扰集合A = {2228, 2328, 2845, 2928, 3228,4129, 4228，4321，5222，6527，4123，4424，4525，5428，6422，6726，1108，1258，1144，3455，4529， 4678，4988，5038，5618}，上述结果由基站内部测得，由物理层测量，数据为量化之后的结果。步骤A2 在第一噪声干扰集合A25个元素中查找到最小噪声干扰α，本实施例中最小噪声干扰α =1108。步骤A3:以P =2为例，在第一噪声干扰集合A中25个元素中查找小于2倍最小噪声干扰α即1108x2 = 2216的值，得到第二噪声干扰集合B = {1108，1258，1144}。步骤Α4 计算第二噪声干扰集合B = {1108，1258，1144}的平均值χ = (1108+1258+1145)/3 = 1170。步骤A5 判断χ = 1170 < I ζ + ε I = | 1120+560 | = 1680，当前结果在机器底噪的变化区间之内，则当前机器底噪等于X = 1170，输出该机器底噪后，流程结束。实施例二 假如在LTE系统中，上行链路带宽为5Μ，总共有25个资源块，则在常温、无干扰情况下，对25个资源块的噪声干扰(Ni)测量结果求平均值，获得参考值ζ = 1120。步骤Bl 基站在每个无线承载RB上进行噪声干扰测量，得到第一噪声干扰集合 Α，，假如得到的第一噪声干扰集合 A，= {5228，5328,16845，5448，5278，5159，5268，5351， 5275，16527,5123,15424，17525，17428，17422，16726，17108，17258，17144，17455，17529， 17678，19988，18038，18618}，上述结果由基站内部测得，由物理层测量，数据为量化之后的结果。步骤Β2 在第一噪声干扰集合Α’集合25个元素中查找到最小噪声干扰α ’，本实施例中最小值'α，= 5123。步骤Β3:以P =2为例，在第一噪声干扰集合Α’集合25个元素中查找小于2倍最小噪声干扰即 5123x2 = 10246 的值，得到集合 B，= {5228，5328, 5448，5278，5159，5268， 5351,5275,5123}。步骤Β4:计算集合 B，= {5228，5328，5448，5278，5159，5268，5351，5275，5123}的平均值，得到X，= 5273。步骤Β5 判断χ，= 5273 > ζ + ε | = 1120+560 = 1680，则当前结果在机器底噪的变化区间之外，表明测量结果中有干扰存在，当前计算结果无效，则当前机器底噪等于 1120，输出该机器底噪后，流程结束。请参阅图2所示，本实施例还提供了一种测量机器底噪的系统，包括获取单元201，用于获取第一噪声干扰集合。查找单元202，与获取单元201连接，从所述第一噪声干扰集合中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合。所述查找单元202从所述第一噪声干扰集合中查找最小噪声干扰，将最小噪声干扰的某一整数倍值设定为预设噪声干扰阈值。优选的，所述倍数为2倍。计算单元203，与查找单元连接，用于计算第二噪声干扰集合的平均值。判断单元204，判断第二噪声干扰集合的平均值是否小于等于设定阈值，如果是， 则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合的平均值。优选的，所述设定阈值等于机器底噪的修正值与参考机器底噪两者之和的绝对值，所述参考机器底噪等于常温、无干扰情况下，LTE系统上行链路资源块的噪声干扰的平均值。所述机器底噪的修正值为参考机器底噪的1/2。优选的，本实施例中，所述第一噪声干扰集合噪声干扰值的数量等于LTE系统上行链路资源块的数量。进一步的，所述判断单元204还用于，如果第二噪声干扰集合的平均值大于设定阈值，则当前机器底噪等于所述参考机器底噪。上述实施例提供的测量机器底噪的系统克服了现有技术中由于温度变化带来的机器底噪的改变导致定测法测量不准确的问题。同时，也解决了需要在某个特定环境下，接收机进行机器底噪测量不能表征一般情况下的机器底噪的问题。以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
权利要求
1.一种测量机器底噪的方法，其特征在于，包括获取第一噪声干扰集合，从中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合，然后计算第二噪声干扰集合的平均值；判断第二噪声干扰集合的平均值是否小于等于设定阈值，如果是，则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合的平均值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设噪声干扰阈值按如下方式确定 从所述第一噪声干扰集合中查找最小噪声干扰，将最小噪声干扰的整数倍值设定为预设噪声干扰阈值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一噪声干扰集合中噪声干扰的数量等于LTE系统上行链路资源块的数量。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述设定阈值等于机器底噪的修正值与参考机器底噪两者之和的绝对值，所述参考机器底噪等于常温、无干扰情况下， LTE系统上行链路资源块的噪声干扰的平均值。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述机器底噪的修正值为所述参考机器底噪的1/2。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括如果第二噪声干扰集合的平均值大于设定阈值，则当前机器底噪等于所述参考机器底噪。
7.一种测量机器底噪的系统，其特征在于，包括获取单元，用于获取第一噪声干扰集合；查找单元，与获取单元连接，从所述第一噪声干扰集合中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合；计算单元，与查找单元连接，用于计算第二噪声干扰集合的平均值；判断单元，判断第二噪声干扰集合的平均值是否小于等于设定阈值，如果是，则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合的平均值。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述查找单元从所述第一噪声干扰集合中查找最小噪声干扰，将最小噪声干扰的整数倍值设定为预设噪声干扰阈值。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第一噪声干扰集合中噪声干扰值的数量等于LTE系统上行链路资源块的数量。
10.根据权利要求7至9中任一项所述的系统，其特征在于，所述设定阈值等于机器底噪的修正值与参考机器底噪两者之和的绝对值，所述参考机器底噪等于常温、无干扰情况下，LTE系统上行链路资源块的噪声干扰的平均值。
11.根据权利要求11所述的系统，其特征在于，所述机器底噪的修正值为参考机器底噪的1/2。
12.根据权利要求7至9中任一项所述的系统，其特征在于，所述判断单元还用于，如果第二噪声干扰集合的平均值大于设定阈值，则当前机器底噪等于所述参考机器底噪。
全文摘要
本发明公开了一种测量机器底噪的方法和系统，其中方法包括获取第一噪声干扰集合，从中查找小于预设噪声干扰阈值的噪声干扰得到第二噪声干扰集合，然后计算第二噪声干扰集合的平均值；判断第二噪声干扰集合的平均值是否小于等于设定阈值，如果是，则当前机器底噪等于第二噪声干扰集合的平均值。本发明提供的测量机器底噪的方法，测量准确，克服了现有技术中由于温度变化带来的机器底噪的改变导致定测法测量不准确的问题。
文档编号H04B17/00GK102195720SQ20101012748
公开日2011年9月21日 申请日期2010年3月15日 优先权日2010年3月15日
发明者李玉洁, 苏小明 申请人:中兴通讯股份有限公司