一种天线覆盖性能评估方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种天线覆盖性能评估方法及系统，该方法包括：获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中；获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。本发明在不影响现网运行的基础上，能够准确、快捷地对天线的覆盖性能进行评估。
【专利说明】一种天线覆盖性能评估方法及系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及无线通信领域，特别涉及一种天线覆盖性能评估方法及系统。
【背景技术】
[0002]GSM网络中运行有大量的天线，如果天线的覆盖性能指标不及格，将会对GSM网络 的信号质量造成影响。
[0003]现有技术中，主要是使用天线空间暗室实验室对天线的覆盖性能进行评估，确定 覆盖性能指标不及格的问题天线。使用天线空间暗室实验室对天线的覆盖性能进行评估的 方法，是通过停止天线的运行，并拆卸下天线，然后将拆卸的天线一一送到天线空间暗室实 验室进行测试评估。
[0004]上述方法虽然可以检查出天线的各种覆盖性能，但是存在以下缺点:
[0005]可操作性不强:GSM网络运行中的天线数量巨大，将天线一一送天线空间暗室实 验室进行评估，缺乏可操作性，因此只能抽样测试。
[0006]成本高:在拆卸天线后，需要使用备用天线，拆卸与安装、运输等成本极高。
[0007]操作周期长:从停止天线运行，拆卸天线，将天线送至天线空间暗室实验室进行检 测，然后到装回天线，整体操作流程所需周期长，时效性差，若天线数量大则难以避免对现 网运营造成影响。
【发明内容】
[0008]有鉴于此，本发明提供一种天线覆盖性能评估方法及系统，在不影响现网运行的 基础上，能够准确快捷地对天线的性能进行评估。
[0009]为解决上述问题，本发明提供一种天线覆盖性能评估方法，包括:
[0010]获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；
[0011]根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中；
[0012]获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一 个或多个所述测试采样点；
[0013]获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；
[0014]根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对 所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。
[0015]优选的，所述扫频数据中包含所述测试采样点的经纬度信息，所述根据所述扫频 数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中的步骤包括:
[0016]将所述测试采样点的经纬度信息映射成所述天线评估坐标系中的一天线评估坐 标，其中，所述天线评估坐标中包含所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，以及 所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度。
[0017]优选的，所述测试点的天线评估坐标F (LI，Y I)的计算公式如下:
【权利要求】
1.一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，包括:获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中；获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。
2.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述扫频数据中包含所述测试采样点的经纬度信息，所述根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中的步骤包括:将所述测试采样点的经纬度信息映射成所述天线评估坐标系中的一天线评估坐标，其中，所述天线评估坐标中包含所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，以及所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度。
3.如权利要求2所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述测试点的天线评估坐标F (LI，y I)的计算公式如下:
4.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述扫频数据中包含所述测试采样点的信号场强，所述获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强的步骤包括:获取所述采样统计单位中的所有所述测试采样点的信号场强；获取所述所有所述测试采样点的信号场强的平均值，作为所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强。
5.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论信号场强的计算公式如下:理论 RSSI (L, y，Rxlev) =BSPWRB+G-Att ( y ) -Att (Vert) -Pass (L) -P_P_oth其中，理论RSSI (L，Y1Rxlev)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论信号场强，L为所述采样统计单位与所述目标评估天线的球面距离，Y为所述采样统计单位与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度，BSPffRB为所述目标评估天线的发射功率，G为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论天线增益， Att(y)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论水平增益衰减值，Att(Vert)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论垂直增益衰减值，Pass(L)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论自由空间损耗，P为所述目标评估天线的固定损耗，P_oth 为其他预定损耗。
6.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线增益，所述根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估的步骤包括:从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位；从所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位；根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的实测信号场强，计算所述目标评估天线在所述第一统计单位的实测天线增益；选取最大的所述实测天线增益作为所述目标评估天线的天线增益性能评估得分。
7.如权利要求6所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述目标评估天线的实测天线增益的计算公式如下:G(L, y )=实测 RSSI (L, y，Rxlev) -BSPWRB+Att ( y ) +Att (Vert) +Pass (L) +P+P_oth其中，G(L，y)为所述目标评估天线在所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的实测天线增益，实测RSSI (L，Y1Rxlev)为所述目标评估天线在所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的实测信号场强，Att(y)为所述目标评估天线在所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的理论水平增益衰减值，Att(Vert)为所述目标评估天线在所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的理论垂直增益衰减值，Pass(L)为 所述目标评估天线在所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的理论自由空间损耗，P为所述目标评估天线的固定损耗，P_oth为其他预定损耗。
8.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线水平半功率角，所述根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估的步骤包括:从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，分别选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位、旁波瓣范围的第二统计单位以及背波瓣范围内的第三统计单位；从所述第一统计单位、第二统计单位和第三统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位、第二统计单位和第三统计单位；根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位、第二统计单位和第三统计单位的实测信号场强和理论信号场强，计算所述目标评估天线的水平波瓣性能评估得分。
9.如权利要求8所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述目标评估天线的水平波瓣性能评估得分的计算公式如下:P (L, Y )=[王波辦E有效达标F (L, Y ^/[王波辦^^测试前^化，Y ) *ALL E测试有效F (L, y )]其中，主波瓣EwsfcagF (L, y)为理论信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的数量， 主波瓣E3mwmF (L，y)为实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的数量，ALL EF(L, y)为实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位、第二统计单位和第3统计单位的总数量。
10.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线前后比，所述根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估的步骤包括:从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，分别选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位以及位于背波瓣范围内的第三统计单位；从所述第一统计单位和第三统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位和第三统计单位；根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位和第三统计单位的实测信号场强和理论信号场强，计算所述目标评估天线的实测天线前后比性能评估得分。
11.如权利要求10所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述所述目标评估天线的天线前后比性能评估得分的计算公式如下:FB (L, Y )=[王波辦E有效达标F(L, Y )*背波辦E测试有效F(L, Y ) ]/[王波辦E}则试有效F (L, Y )*背波辦S有效达标F (L, y )]其中，主波瓣EW5&fi^F(L，y)为理论信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的数量，主波瓣EawaF (L, y)为实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的数量，背波_EawaF(L，y)为实测信号场强大于预定场强阀值的第三统计单位的数量，背波瓣E w*?F(L, y)为?论信号场强大于预定场强阀值的第3统计单位的数量。
12.—种天线覆盖性能评估系统，其特征在于，包括:扫频数据获取模块，用于获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；映射模块，用于根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中； 统计单位获取模块，用于获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；场强获取模块，用于获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；评估模块，用于根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。
13.如权利要求12所述的天线覆盖性能评估系统，其特征在于:所述映射模块还用于将所述测试采样点的经纬度信息映射成所述天线评估坐标系中的一天线评估坐标，其中，所述天线评估坐标中包含所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，以及所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度。
14.如权利要求12所述的天线覆盖性能评估系统，其特征在于，所述场强获取模块包括:第一获取模块，用于获取所述采样统计单位中的所有所述测试采样点的信号场强； 第二获取模块，用于获取所述所有所述测试采样点的信号场强的平均值，作为所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强。
15.如权利要求12所述的天线覆盖性能评估系统，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线增益，所述评估模块包括:第一选取模块，用于从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位；第二选取模块，用于从所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位；第一计算模块，用于根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的实测信号场强，计算所述目标评估天线在所述第一统计单位的实测天线增益；第三选取模块，用于选取最大的所述实测天线增益作为所述目标评估天线的天线增益性能评估得分。
16.如权利要求12所述的天线覆盖性能评估系统，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线水平半功率角，所述评估模块包括:第四选取模块，用于从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，分别选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位、旁波瓣范围的第二统计单位以及背波瓣范围内的第三统计单位；第五选取模块，用于从所述第一统计单位、第二统计单位和第三统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位、第二统计单位和第三统计单位；第二计算模块，用于根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位、第二统计单位和第三统计单位的实测信号场强和理论信号场强，计算所述目标评估天线的水平波瓣性能评估得分。
17.如权利要求12所述的天线覆盖性能评估系统，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线前后比，所述评估模块包括:第六选取模块，用于从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，分别选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位以及位于背波瓣范围内的第三统计单位；第七选取模块，用于从所述第一统计单位和第三统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位和第三统计单位；第三计算模块，用于根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位和第三统计单位的实测信号场强和理论信号场强，计算所述目标评估天线的实测天线前后比性能评估得分。
【文档编号】H04W24/08GK103517285SQ201210214491
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2012年6月26日 优先权日:2012年6月26日
【发明者】蔡汉才, 黄志伟, 周守义, 尹小华, 韩永佳, 林玉辉, 蓝本, 梁仲可 申请人:中国移动通信集团广东有限公司, 深圳市科虹通信有限公司