一种测试方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种测试方法及系统，将M个测试装置与测试通路选择装置的输入端连接，并将N个待测装置与测试通路选择装置的输出端连接，M大于等于1，N大于等于1；然后测试通路选择装置可根据测试通路控制指令从M个测试装置中选择相应的测试装置对N个待测装置进行测试，即本发明中的测试通路选择装置可在测试通路控制命令的控制下，自动选择一个或多个测试装置对N个待测装置进行测试。因此，在测试过程中，不需要手动切换与测试装置连接的待测装置，而是由测试通路选择装置根据控制命令进行自动切换，即可完成对与之连接的N个待测装置都进行一次或多次的测试，因此可提高测试装置的测试效率，同时降低测试成本。
【专利说明】一种测试方法及系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信领域，具体涉及一种测试方法及测试系统。
【背景技术】
[0002]在通信领域，涉及各种测试，而在目前的测试领域中，经常需要使用各种测试设备对待测设备进行测试，而最常用的则是测试仪表。而目前的测试仪表一次只能连接一个待测设备，测试完毕后需要更换待测设备，更换待测设备一般都是由测试人员手动完成。这样就造成测试仪表必须在有人的情况下才能运行，在非工作时间，昂贵的测试仪表完全闲置，造成了巨大的资源浪费；同时也降低了测试的效率。为了解决该问题，最常见的方案是安排更多的测试人员，实行两班倒或者三班倒工作制，从而提高仪表使用效率，但这种方案会大幅增加人力成本。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的主要技术问题是，提供一种测试方法及测试系统，解决目前测试过程中的测试效率低、测试成本高的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本发明提供一种测试系统，包括:测试控制装置、测试通路选择装置、M个测试装置以及N个待测装置，所述M大于等于1，所述N大于等于I ;所述M个测试装置与所述测试通路选择装置的输入端连接，所述N个待测装置与所述测试通路选择装置的输出端连接，所述测试通路选择装置用于根据所述测试控制装置发送的测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试。
[0005]在本发明的一种实施例中，所述测试系统还包括电源通路选择装置，所述电源通路选择装置的输入端与电源连接，输出端与所述N个待测装置连接；所述电源通路选择装置用于根据所述测试控制装置发送的电源通路控制指令将当前测试通路中的待测装置与所述电源连接。
[0006]在本发明的一种实施例中，所述测试系统还包括通信通路选择装置，所述通信选择装置的一端与所述测试控制装置连接，另一端与所述N个待测装置连接；所述通信通路选择装置用于根据所述测试控制装置发送的通信通路控制命令将当前测试通路中的待测装置与所述测试控制装置连接。
[0007]在本发明的一种实施例中，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试为:所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试。
[0008]在本发明的一种实施例中，所述测试通路控制指令包括第一测试通路控制指令和第二测试通路控制指令；所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试包括:
[0009]所述测试通路选择装置根据所述第一测试通路控制指令从测试装置中选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试；在测试过程中，当前进行测试的测试装置每测试完一个待测装置后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第二测试通路控制指令从剩下的待测装置中选择一个与该测试装置连接；当前进行测试的测试装置对所述N个待测装置测试完毕后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第一测试通路控制指令从剩下的测试装置中重新选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试，直到所述M个测试装置都对所述N个测试装置进行了测试。
[0010]在本发明的一种实施例中，所述测试装置还用于在对每个待测装置测试完毕后，将测试结果发送给所述测试控制装置。
[0011]在本发明的一种实施例中，所述测试控制装置还用于存储测试策略；所述测试装置还用于在对与之连接的待测装置进行测试之前，从所述测试控制装置获取测试策略，然后根据该测试策略对当前与之连接的待测装置进行测试。
[0012]为了解决上述问题，本发明还公开了一种测试方法，包括:
[0013]将M个测试装置与测试通路选择装置的输入端连接，并将N个待测装置与测试通路选择装置的输出端连接，所述M大于等于I，所述N大于等于I ;
[0014]所述测试通路选择装置根据测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试。
[0015]在本发明的一种实施例中，所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试为:所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试。
[0016]在本发明的一种实施例中，所述测试控制装置还用于在所述M个测试装置都对所述N个待测装置逐个测试完毕后，对接收到的所有测试结果进行分析，根据分析结果确定需要重新测试的待测装置，并发送重测控制指令给所述测试通路选择装置；
[0017]所述测试通路选择装置还用于根据所述重测控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对需要重新测试的待测装置逐个进行测试。
[0018]在本发明的一种实施例中，所述测试通路控制指令包括第一测试通路控制指令和第二测试通路控制指令；所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试包括:
[0019]所述测试通路选择装置根据所述第一测试通路控制指令从测试装置中选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试；在测试过程中，当前进行测试的测试装置每测试完一个待测装置后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第二测试通路控制指令从剩下的待测装置中选择一个与该测试装置连接；当前进行测试的测试装置对所述N个待测装置测试完毕后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第一测试通路控制指令从剩下的测试装置中重新选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试，直到所述M个测试装置都对所述N个测试装置进行了测试。
[0020]在本发明的一种实施例中，测试装置在对每个待测装置测试完毕后，将测试结果发送给所述测试控制装置；
[0021]所述测试控制装置在所述M个测试装置都对所述N个待测装置逐个测试完毕后，对接收到的所有测试结果进行分析，根据分析结果确定需要重新测试的待测装置，并发送重测控制指令给所述测试通路选择装置；
[0022]所述测试通路选择装置根据所述重测控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对需要重新测试的待测装置逐个进行测试。
[0023]本发明的有益效果是:
[0024]本发明提供的测试方法及系统，将M个测试装置与测试通路选择装置的输入端连接，并将N个待测装置与测试通路选择装置的输出端连接，M大于等于1，N大于等于I ;然后测试通路选择装置可根据测试通路控制指令从M个测试装置中选择相应的测试装置对N个待测装置进行测试，即本发明中的测试通路选择装置可在测试通路控制命令的控制下，自动选择一个或多个测试装置对N个待测装置进行测试。因此，在测试过程中，不需要手动切换与测试装置连接的待测装置，而是由测试通路选择装置根据控制命令进行自动切换，即可完成对与之连接的N个待测装置都进行一次或多次的测试，因此可提高测试装置的测试效率，同时降低测试成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0025]图1为本发明一种实施例提供的测试系统结构示意图一；
[0026]图2为本发明一种实施例提供的测试系统结构示意图二 ；
[0027]图3为本发明一种实施例提供的测试系统结构示意图三；
[0028]图4为本发明一种实施例提供的测试系统结构示意图四；
[0029]图5为本图4中各通路选择装置集成设置的结构示意图；
[0030]图6为本发明一种实施例提供的测试方法流程示意图。
【具体实施方式】
[0031]下面通过【具体实施方式】结合附图对本发明作进一步详细说明。
[0032]请参见图1所示，该图所示为本实施例提供的一种测试系统，测试控制装置、测试通路选择装置、M个测试装置以及N个待测装置，本实施例中的M大于等于I，N大于等于I ;本实施例中，测试控制装置也可作为测试控制中心，主要用于控制各通路的选择、测试装置对待测装置的测试以及收集待测装置的各种参数信息、收集测试装置反馈的各种测试结果以及基于测试结果进行的各种处理分析等。本实施例中的测试通路选择装置可由纯硬件实现，也可由软件结合硬件实现，其可包括一个控制单元，该控制单元用于接收测试控制装置发送的控制指令从而进行对应的操作。本实施例中的测试装置可以为各种测试仪表，待测装置则可为对应各中测试仪表的各种待测设备。下面结合系统中各装置其具体连接关系以及控制过程对本发明做进一步说明。
[0033]本实施例中，将M个测试装置与测试通路选择装置的输入端连接，将N个待测装置与测试通路选择装置的输出端连接，本实施例中，测试通路选择装置的输入端和输出端的通路数量可根据具体的应用场景等因素进行具体的设置；且本实施例中M以及N值的具体选定也可根据具体的应用场景进行选定设置，只要M的值不大于测试通路选择装置的输入端的通路数，以及N的值不大于测试通路选择装置的输出端的通路数即可；测试通路选择装置还与测试控制装置，用于接收测试控制装置发送的测试通路控制指令，并根据该测试通路控制指令从M个测试装置中选择相应的测试装置对N个待测装置进行测试。具体的，其可根据控制指令从M个测试指令中选择相应的一个或多个(小于MWt N个测试装置进行测试，也可从M个测试装置中逐个选择测试装置，且所选择的测试装置对N个测试装置都进行测试。本实施例中，一个测试装置对N个待测装置进行测试时，根据实际情况，可选择对N个待测装置逐个进行测试，也可选择对N个待测装置中的多个同时进行测试。值得注意的是，本实施例中，对个测试装置、待测试装置的识别，具体可通过为各装置编号识别，也可通过各装置自身的识别信息(例如标识信息)进行识别；而获取各装置的识别信息的方式可以是通过测试人员手动输入，也可以是各装置通过相应的通信链路自动上报。
[0034]在本实施例中，测试装置对每个待测装置进行测试所采用的测试策略根据实际情况，可预置在每个测试装置或其中一个或多个测试装置上，然后未预置的测试装置则可从有预置的测试装置上获取；也可直接在测试控制装置上预置各种测试策略，然后由测试控制装置根据当前进行测试的测试装置以及当前被侧的待测装置，将对应的测试策略发送给测试装置，也可由当前进行测试的测试装置主动向测试控制装置索取测试策略；当预置在测试控制装置上时，测试装置在对与之连接的待测装置进行测试前，需到测试控制装置上获取对应的测试策略。只有当测试装置检测到其当前所存储的测试策略与当前被检测的待测设备匹配时，可不需到测试控制装置上重新获取测试策略，可直接对该待测设备进行测试，且在测试完毕后，将测试结果进行上传值对应的数据采集中心；本实施例中可上传至测试控制装置，且可设置其没测试完一个待测装置后，都将测试结果上传至测试控制装置，测试控制装置接收到该测试结果后，即可得知当前的测试完毕，需向测试通路选择装置发送控制命令，以切换测试通路。当所有的测试装置对所有的待测装置都测试完毕后，测试控制装置即根据收集到的测试结果进行后续的处理、分析。当然，也可将测试结果集中发送给对应的处理设备进行处理分析。
[0035]为了更好的理解本发明，下面以测试通路选择装置根据测试控制装置发送的测试通路控制指令从M个测试装置中依次选择测试装置对N个待测装置进行逐个测试为例进行说明，本实施例中测试控制装置发送的测试通路控制指令包括第一测试通路控制指令和第二测试通路控制指令；第一测试通路控制指令主要用于选择测试装置，而第二测试通路控制指令则主要用于选择待测装置，具体选择、测试过程如下:
[0036]测试通路选择装置先根据第一测试通路控制指令从测试装置中选择一个测试装置对N个待测装置进行测试；在这个测试装置的测试过程中，当前进行测试的测试装置每测试完一个待测装置后，测试通路选择装置根据测试控制装置发送的第二测试通路控制指令从剩下的待测装置中选择一个与该测试装置连接以进行测试；当前进行测试的测试装置对N个待测装置测试完毕后，测试通路选择装置根据测试控制装置发送的第一测试通路控制指令从剩下的测试装置中重新选择一个测试装置对N个待测装置进行测试，直到M个测试装置都对N个测试装置进行了测试。由于M各测试装置都对N各待测装置进行了测试，因此每个待测装置都有M个测试结果，根据M个测试结果进行统计分析得到的测试结果也就更为精确。
[0037]为了更好的控制测试过程，使得到的测试结果更为精确。本实施例中，每个待测装置的供电电源也可由测试控制装置进行控制。请参见图2所示，本实施例中的测试系统还可包括电源通路选择装置，该电源通路选择装置的输入端与电源连接，输出端与上述N个待测装置连接；电源通路选择装置用于接收测试控制装置发送的电源通路控制指令，并在接收到该指令后，将当前测试通路中的待测装置与所述电源连接，且该电源的输出电压和电流是可受测试控制装置或电源通路选择装置自身的控制单元控制，可以在一定范围内针对不同的待测装置进行调整。
[0038]请参见图3所示，本实施例中的测试系统还可进一步包括通信通路选择装置，通信选择装置的一端与测试控制装置连接，另一端与上述N个待测装置连接；通信通路选择装置用于根据测试控制装置发送的通信通路控制命令将当前测试通路中的待测装置与测试控制装置连接；测试控制装置可以基于该通信通路获取与之通信连接的待测装置的各种参数等信息，以及通过该通信通路向待测装置发送相应的指令对该待测装置的参数进行设置、修改等等。
[0039]请参见图4所示，本实施例中的测试系统还可进一步包括显示装置，该显示装置可用于根据应用场景需要设置需要显示的内容，以供测试人员或监控人员查看，更便于监测试。
[0040]本实施例中，测试系统所包括的各装置之间可通过总线等方式连接。且本实施例中的测试通路选择装置、电源通路选择装置以及通信通路选择装置可集成在一起设置成一个智能多路开关，通过一个控制模块控制各开关模块，请参见图5所示；也可单独分离设置，每个装置中对应单独设置一个控制单元，以接收测试控制装置发送的指令进而以运行相应的程序执行相应的功能。值得注意的是，本实施例中，各装置的输入输出端子可设置为通用的连接端口，可以根据需要连接不同类型的测试线缆，通用性好，且测试控制装置发送测试通路控制命令、电源通路控制命令以及通信通路控制命令的时序并无严格限制，可根据具体的应用场景选择设置；例如，当根据测试控制装置发送的第二测试通路控制指令为测试装置切换一个待测装置时，测试控制装置可向电源通路选择装置以及通信通路选择装置分别发送电源通路控制命令以及通信通路控制命令进行电源通路和通信通路的对应切换。
[0041]为了更好的理解本发明，下面结合上述测试系统，对整个测试过程进行说明。首先对测试系统初始化，将所有的待测装置和测试通路选择装置、电源通路选择装置以及通信通路选择装置的输出通路建立连接，将所有的测试设备和测试通路选择装置输入端连接，将电源通路选择装置的输入端与电源连接，并将电源通路选择装置与测试控制装置连接，将通信通路选择装置的输入端与测试控制装置连接；具体连接可通过总线连接；然后测试人员在测试控制装置上配置软件，包括配置对应的测试策略，并启动测试；测试控制装置根据配置发送对应的控制指令选择一个测试通路，一个通信通路和一个电源通路，相应的测试装置、待测装置也就确定了，然后测试装置开始对当前与之连接的待测装置进行测试；当一个待测装置测试完毕后，测试装置将测试数据传送到测试控制装置保存，测试控制装置发送对应的控制命令给测试通路选择装置、电源通路选择装置以及通信通路选择装置选择下一个测试通路，通信通路和电源通路，并开始测下一个待测装置；当所有待测设备都测试完毕后，测试控制装置控制测试装置进行切换，切换到下一个测试装置，直到所有的测试装置都对待测装置进行测试完毕；然后测试控制装置对接收到的所有测试结果进行分析处理，根据分析结果确定需要重新进行测试的待测装置，例如对于测试结果明显错误的待测装置、根据测试结果初步判定有问题、故障的待测装置等，都可判定为需要重新进行测量；此时测试控制装置发送重测控制指令给测试通路选择装置；测试通路选择装置还用于根据接收到的重测控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对需要重新测试的待测装置逐个进行测试；根据重测控制指令选择测试通过的过程可同上述测试过程；例如，测试控制装置可安排对测试结果有问题的待测装置根据控制策略重新安排复测，并保存重新测试的测试结果；复测的过程可采用上述测试过程。
[0042]下面以测试装置为测试仪表、测试控制装置为控制中心、测试通路选择装置、电源通路选择装置以及通信通路选择装置集合在一起设置为智能多路开关为例，结合附图6对本发明做进一步的说明，具体如下:
[0043]步骤600:开始；
[0044]步骤601:测试系统软硬件初始化，硬件方面要将M个测试仪表和N个待测装置都与按照上述方式通过总线与智能多路开关连接，并将控制中心与智能多路开关、测试仪表通过总线连接，软件方面，配置测试脚本；
[0045]步骤602:智能多路开关根据控制中心的指令，在输入端自动选择与测试仪表j连接(j大于等于1，小于等于M)，输出端自动选择与待测装置i连接(i〈N)，默认情况下，初始化后，j=l，i=l，也可以选择其他配置；同时智能多路开关也会选择相应的通信通路和电源通路；
[0046]步骤603:测试仪表j对待测装置i进行测试，测试策略(或内容)由控制中心的脚本控制，待测装置的供电由供电通路提供，电源大小可调，通讯由通讯通路提供；
[0047]步骤604:测试仪表j对待测装置i的测试完成后，控制中心保存测试数据；
[0048]步骤605:控制中心发出第二测试通路控制指令，将智能多路开关装置的输出自动切换到下一个待测装置，程序设置i=i+l ;同时发送通信通路控制指令和电源通路控制指令进行通信通路和电源通路的进行；
[0049]步骤606:判断i是否小于等于N，如是，转至步骤603，否则转至步骤607 ；
[0050]步骤607:设置 i=l，j=j+l;
[0051]步骤608:判断j是否小于等于M，如是，装置步骤609 ;否则，转至步骤610 ；
[0052]步骤609:控制中心控制智能多路开关装置的输入端切换到测试仪表j，然后转至步骤603 ；
[0053]步骤610:测试结束。
[0054]可见，本发明提供的测试系统及测试装置，可以在不增加人力成本的前提下，通过在现有的各种测试装置上配合控制软件，使测试设备长时间连续自动化进行测试，大幅提高测试装置的使用效率。特别适合用于研发测试和调试领域，同时也可以用于大规模的批量测试。
[0055]以上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种测试系统，其特征在于包括:测试控制装置、测试通路选择装置、M个测试装置以及N个待测装置，所述M大于等于1，所述N大于等于I ;所述M个测试装置与所述测试通路选择装置的输入端连接，所述N个待测装置与所述测试通路选择装置的输出端连接，所述测试通路选择装置用于根据所述测试控制装置发送的测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试。
2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括电源通路选择装置，所述电源通路选择装置的输入端与电源连接，输出端与所述N个待测装置连接；所述电源通路选择装置用于根据所述测试控制装置发送的电源通路控制指令将当前测试通路中的待测装置与所述电源连接。
3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括通信通路选择装置，所述通信选择装置的一端与所述测试控制装置连接，另一端与所述N个待测装置连接；所述通信通路选择装置用于根据所述测试控制装置发送的通信通路控制命令将当前测试通路中的待测装置与所述测试控制装置连接。
4.如权利要求1-3任一项所述的测试系统，其特征在于，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试为:所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试。
5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述测试通路控制指令包括第一测试通路控制指令和第二测试通路控制指令；所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试包括: 所述测试通路选择装置根据所述第一测试通路控制指令从测试装置中选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试；在测试过程中，当前进行测试的测试装置每测试完一个待测装置后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第二测试通路控制指令从剩下的待测装置中选择一个与该测试装置连接；当前进行测试的测试装置对所述N个待测装置测试完毕后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第一测试通路控制指令从剩下的测试装置中重新选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试，直到所述M个测试装置都对所述N个测试装置进行了测试。
6.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置还用于在对每个待测装置测试完毕后，将测试结果发送给所述测试控制装置。
7.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述测试控制装置还用于存储测试策略；所述测试装置还用于在对与之连接的待测装置进行测试之前，从所述测试控制装置获取测试策略，然后根据该测试策略对当前与之连接的待测装置进行测试。
8.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试控制装置还用于在所述M个测试装置都对所述N个待测装置逐个测试完毕后，对接收到的所有测试结果进行分析，根据分析结果确定需要重新测试的待测装置，并发送重测控制指令给所述测试通路选择装置； 所述测试通路选择装置还用于根据所述重测控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对需要重新测试的待测装置逐个进行测试。
9.一种测试方法,其特征在于包括: 将M个测试装置与测试通路选择装置的输入端连接，并将N个待测装置与测试通路选择装置的输出端连接，所述M大于等于1，所述N大于等于I ; 所述测试通路选择装置根据测试控制装置发送的测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试。
10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令从所述M个测试装置中选择相应的测试装置对所述N个待测装置进行测试为:所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试。
11.如权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述测试通路控制指令包括第一测试通路控制指令和第二测试通路控制指令；所述测试通路选择装置根据所述测试通路控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对所述N个待测装置逐个进行测试包括: 所述测试通路选择装置根据所述第一测试通路控制指令从测试装置中选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试；在测试过程中，当前进行测试的测试装置每测试完一个待测装置后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第二测试通路控制指令从剩下的待测装置中选择一个与该测试装置连接；当前进行测试的测试装置对所述N个待测装置测试完毕后，所述测试通路选择装置根据所述测试控制装置发送的第一测试通路控制指令从剩下的测试装置中重新选择一个测试装置对所述N个待测装置进行测试，直到所述M个测试装置都对所述N个测试装置进行了测试。
12.如权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括: 测试装置在对每个待测装置测试完毕后，将测试结果发送给所述测试控制装置； 所述测试控制装置在所述M个测试装置都对所述N个待测装置逐个测试完毕后，对接收到的所有测试结果进行分析，根据分析结果确定需要重新测试的待测装置，并发送重测控制指令给所述测试通路选择装置； 所述测试通路选择装置根据所述重测控制指令依次从所述M个测试装置中选择测试装置对需要重新测试的待测装置逐个进行测试。
【文档编号】H04B17/00GK104378167SQ201310354118
【公开日】2015年2月25日 申请日期:2013年8月14日 优先权日:2013年8月14日
【发明者】陈玉华, 刘鑫正, 蔡成亮 申请人:中兴通讯股份有限公司