技术特征：
技术总结
公开了一种用于测量待测装置的方法和系统。在一些实施例中，系统包括：仿真器核心，该仿真器核心位于测试室外部的中心位置处，该仿真器核心配置为在至少一个接收到的信号和至少一个传输信号中的每一个中引入减损以产生数字受损信号，以及以下装置中的至少一个，该装置位于测试室内部的远程位置处，针对与待测装置(DUT)通信的多根天线中的每一根：发射器，该发射器配置为将数字受损信号转换为模拟RF信号；以及接收器，接收器配置为将接收到的模拟RF信号转换为待由所述仿真器核心进行减损以产生受损信号的接收到的信号。
技术研发人员：M·D·福格利
受保护的技术使用者：美国电磁兼容测试系统公司
技术研发日：2017.07.21
技术公布日：2018.02.06