技术总结
本发明提供了一种LTE‑V2X外场性能测试场景合格的判断方法与装置。其中，LTE‑V2X外场性能测试场景合格的判断方法包括：响应输入的待测试的外场测试场景的场景类型，获取场景类型下的最小路径损耗值；获取信号源在待测试的外场测试场景的第一预定位置发送的标准调制信号以及接收机在待测试的外场测试场景的第二预定位置接收的信号源数据；根据标准调制信号和信号源数据，获取在待测试的外场测试场景下的实际路径损耗值；判断实际路径损耗值是否大于或等于最小路径损耗值，如果是，则判定待测试的外场测试场景合格，否则，判定待测试的外场测试场景不合格。 1
技术研发人员：杜昊;郭伟斌;许瑞琛;吕玉琦;王筠婷;李晓帆;张莎
受保护的技术使用者：深圳无线电检测技术研究院;国家无线电监测中心检测中心
技术研发日：2017.12.15
技术公布日：2018.06.15