本申请涉及电子设备技术领域，主要涉及了一种跌落信息的检测方法及相关产品。
背景技术：
近年来，随着电子设备技术的不断发展，大屏幕手机、平板电脑等电子设备越来越普及。在日常使用电子设备的过程中，难免会发生跌落的情况。为避免跌落给用户造成过大的经济损失，商家往往提供碎屏险或其他的保险业务，因此，如何辨别电子设备为有意跌落状态还是无意跌落状态是本领域技术人员待解决的一个技术问题。
技术实现要素：
本申请实施例提供了一种跌落信息的检测方法及相关产品，可提高判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性。
第一方面，本申请实施例提供一种跌落信息的检测方法，包括：
在检测到电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据；
根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值；
在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
第二方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括处理器、与所述处理器连接的重力传感器，其中：
所述重力传感器，用于检测所述电子设备是否进入跌落状态；
所述处理器，用于在所述电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据；根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值；在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
第三方面，本申请实施例提供一种跌落信息的检测装置，包括：
获取单元，用于在检测到电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据；根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值；
确定单元，用于在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
第四方面，本申请实施例提供了另一种跌落信息的检测方法，应用于包括处理器、与所述处理器连接的重力传感器的电子设备，其中：
所述重力传感器检测所述电子设备是否进入跌落状态；
所述处理器在所述电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据；根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值；在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
第五方面，本申请实施例提供另一种电子设备，包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序，其中，上述一个或多个程序被存储在上述存储器中，并且被配置由上述处理器执行，所述程序包括用于如第一方面中所描述的部分或全部步骤的指令。
第六方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行如本申请实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。
第七方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，其中，所述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，所述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。
实施本申请实施例，将具有如下有益效果：
采用了上述的跌落信息的检测方法及相关产品之后，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备的握持姿态数据和运行数据，并根据握持姿态数据和运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。也就是说，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落状态和有意跌落状态的可能性，将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落状态和有意跌落状态两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落状态或有意跌落状态进行不同的操作。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
其中：
图1为本申请实施例提供的一种跌落信息的检测方法的流程示意图；
图1A为本申请实施例提供的一种重力传感器的原理示意图；
图2为本申请实施例提供的另一种跌落信息的检测方法的流程示意图；
图3为本申请实施例提供的一种跌落信息的检测装置的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图；
图5为本申请实施例提供的另一种跌落信息的检测方法的流程示意图；
图6为本申请实施例提供的另一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本申请实施例所涉及到的电子设备可以包括各种具有无线通信功能的手持设备、车载设备、可穿戴设备、计算设备或连接到无线调制解调器的其他处理设备，以及各种形式的用户设备(user equipment，UE)，移动台(mobile station，MS)，终端设备(terminal device)等等。为方便描述，上面提到的设备统称为电子设备。
本申请实施例提供了一种跌落信息的检测方法及相关产品，可提高判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性。下面结合附图对本申请实施例进行介绍。
请参照图1，图1为本申请实施例提供的一种跌落信息的检测方法的流程示意图。如图1所示，包括：
101：在检测到电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据。
本申请对于跌落状态的检测方法不作限定，可通过重力传感器获取重力加速度，若重力加速度与预设重力加速度匹配，则确定电子设备处于失重状态；还可通过重力传感器检测到的三个轴向的加速度进行判断，在三个轴向的加速度均小于第一阈值的状态的持续时间大于预设时长时，确定所述电子设备为跌落状态。
其中，重力传感器(gravity sensor，G-sensor)用于检测加速度的方向和大小，等效于检测电子设备的运动状态，重力传感器的功能理解起来比较简单，主要是感知加速力的变化，比如晃动、跌落、上升、下降等各种移动变化都能被重力传感器转化为电信号，然后通过微处理器的计算分析后，就能够完成程序设计好的功能。
重力传感器的具体原理请参考图1A所示，加速度方向包括互相垂直的三个轴向：X轴、Y轴以及Z轴。其中，X轴和Y轴平行与电子设备100平面，X轴为电子设备100的宽度方向，Y轴为电子设备100的长度方向，Z轴垂直于电子设备100平面。
在本申请中，将X轴方向的加速度作为横向加速度，将Y轴方向的加速度作为纵向加速度，将Z轴方向的加速度作为重力加速度。加速度值的单位为m/s2，重力加速度一般为9.8m/s2。
对于第一阈值和预设时长不作限定。由于重力传感器包括三轴转子和转子的支撑部分，当电子设备跌落时，该电子设备处于自由落体状态，则电子设备内的转子和转子的支撑部分都处于自由落体的状态，支撑部分就没有发生形变，则输出的三个轴向的加速度均为零。而考虑到电子设备跌落过程中可能涉及风力、空气阻力、磁力等环境因素，因此设置第一阈值，在三个轴向的加速度均小于第一阈值的状态的持续时间大于预设时长，则确定电子设备跌落，否则，电子设备没有跌落。
需要说明的是，电子设备中的重力传感器可以是其它结构的，且如果重力传感器的结构发生改变，则电子设备判断该电子设备是否跌落的方法也会随着重力传感器的结构发生相应的改变，在此不进行限制，只要重力传感器能感应到电子设备的自由落体运动即可。
若检测到电子设备不处于跌落状态，则继续执行检测电子设备是否处于跌落状态的步骤；若检测到电子设备处于跌落状态，则获取检测到跌落状态时电子设备的握持姿态数据和运行数据。
其中，握持姿态数据为电子设备跌落时的用户握持电子设备的数据，可以包括握持手势、握持面积、握持力度等；运行数据为电子设备跌落时当前运行的数据，可包括前台应用、时间值、网络带宽、系统占用资源、情景模式等。
102：根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值。
其中，无意跌落概率值为电子设备为无意跌落状态的可能性，有意跌落概率值为电子设备为有意跌落状态的可能性。如上述的握持姿态数据为电子设备跌落时的用户握持电子设备的数据，运行数据为电子设备跌落时当前运行的数据，对握持姿态数据和运行数据进行分析，获取无意跌落概率值和有意跌落概率值。
本申请对于如何获取无意跌落概率值和有意跌落概率值不作限定，若所述握持姿态数据包括多个第一维度数据，所述运行数据包括多个第二维度数据，可选的，获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的无意跌落状态对应的第一特征数据之间的匹配值得到多个第一匹配值；获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的有意跌落状态对应的第二特征数据之间的匹配值得到多个第二匹配值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值，根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第二匹配值获取所述有意跌落概率值。
其中，第一维度数据可以是上述的握持手势、握持面积、握持力度等，第二维度数据可以是上述的前台应用、时间值、网络带宽、系统占用资源、情景模式等；第一特征数据为预先存储的无意跌落状态对应的特征数据，第二特征数据为预先存储的有意跌落状态对应的特征数据。
本申请对于每一维度数据的预设权值不作限定，可选的，获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中至少两个维度数据之间的关联值得到多个目标关联值；根据所述多个目标关联值确定所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据的预设权值。
由于每一维度数据与其他的维度数据可能存在一定的关联性，例如：若电子设备为振动状态，握持面积较小，且握持力度较小，则易造成无意跌落；若时间为用户的作息时间或邻近的休息时间，握持力度较小，也易造成无意跌落；若握持力度较大，且运行数据中包括大量情绪数据时，易造成有意跌落。当通过维度数据之间的关联值确定预设权值时，可提高预设权值的有效性，便于提高无意跌落概率值和有意跌落概率值的准确率。
可以理解，分别获取多个第一维度数据和多个第二维度数据中每一维度数据与第一特征数据、第二特征数据之间的匹配值，再结合每一维度数据的预设权值可获得无意跌落概率值和有意跌落概率值。
103：在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
如图1所示的方法中，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备的握持姿态数据和运行数据，并根据握持姿态数据和运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。也就是说，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落状态和有意跌落状态的可能性，将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落状态和有意跌落状态两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落或有意跌落进行不同的操作。
请参照图2，图2为本申请实施例提供的一种跌落信息的检测方法的流程示意图。如图2所示，包括：
201：在检测到电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据。
202：根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值。
203：在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
上述步骤201-203可参照图1所示的实施例，在此不作限定。
204：在检测到所述电子设备的跌落状态结束时，获取所述电子设备的跌落数据。
本申请对于跌落状态结束的检测方法不作限定，在所述三个轴向的加速度中至少一个加速度大于第二阈值时，确定所述电子设备的跌落状态结束。
其中，对于第二阈值不作限定，例如，第二阈值为两倍的重力加速度，即19.6m/s2。电子设备通过重力传感器持续获取三个轴向的加速度，然后将三个轴向的加速度大小分别与第二阈值进行比较，当判断该三个轴向的加速度大小中至少有一个大于第二预设大小时，三个轴向的加速度大小都取绝对值。例如，获取到的横向加速度大小为0.02m/s2，纵向加速度大小为0.01m/s2，重力加速度大小为25m/s2，则重力加速度大小大于第二阈值19.6m/s2，此时可确定为电子设备与地面或其他物体发生碰撞，即跌落状态结束。
若检测到电子设备仍处于跌落状态结束，则继续执行检测电子设备的跌落状态是否结束的步骤；若检测到电子设备的跌落状态结束，则获取电子设备的跌落数据。
其中，跌落数据可包括跌落高度，也可包括跌落状态的检测结果(无意跌落状态还是有意跌落状态)，还可包括跌落时间、跌落路径、跌落过程中用户的反应数据等。本申请对于如何获取跌落数据不作限定。
205：在跌落高度大于第三阈值时，检测所述电子设备的指定硬件是否异常得到检测结果。
在本申请中，对于电子设备的指定硬件不作限定，可包括触摸屏、耳机、多个传感器等电子设备的外设。对于如何检测指定硬件是否异常的方法也不做限定，可通过向指定硬件发送与所述指定硬件对应的预设检测程序，若所述指定硬件执行所述指定硬件对应的预设检测程序，则所述指定硬件的状态为正常状态，否则为异常状态。
本申请对于第三阈值也不作限定，当在跌落高度大于第三阈值对电子设备的指定硬件进行检测，从而有效地避免多次检测而消耗电子设备的功耗。在检测完成时得到检测结果，上述检测结果至少包括指定硬件是否异常，也可包括指定硬件中具体的异常模块。
206：在所述指定硬件异常时，根据所述检测结果和所述跌落数据生成检测报告，向服务器发送所述检测报告。
在本申请中，若指定硬件异常，根据检测结果和跌落数据生成检测报告，并向服务器发送检测报告，则服务器可通过检测报告快速获取用户此次跌落的信息(例如：跌落高度、跌落时间、电子设备的损坏情况、无意跌落或有意跌落的判断)，在用户携带电子设备在指定的维修点进行维修时，只需查看对应的检测报告，就可快速对电子设备进行维修，从而提高维修效率。
此外，还可根据检测报告进行预约，以免用户到达维修点时待更换的指定硬件不足造成的便利性差的技术问题。
可选的，启动所述指定硬件的自校验程序；对所述指定硬件进行重新检测是否异常，若所述指定硬件正常时，则结束。若指定硬件(例如某些传感器)可通过自校验程序恢复至正常，则不需要向服务器发送检测报告，减少了服务器的负载，且提高了指定硬件的故障恢复能力。
如图2所示的方法中，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落状态和有意跌落状态的可能性，得到无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。即将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落状态和有意跌落状态两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落状态或有意跌落状态进行不同的操作。并在跌落状态结束时，获取电子设备的跌落数据，且在跌落高度大于第三阈值对电子设备的指定硬件进行检测，从而有效地避免多次检测而消耗电子设备的功耗。若指定硬件异常，则将根据检测结果和跌落数据生成的检测报告发送给服务器，以便服务器对检测报告进行分析和跌落情况进行备份。
与图1和图2所示的实施例一致的，请参照图3，图3为本申请实施例提供的一种跌落信息的检测装置的结构示意图。如图3所示，上述装置300包括：
获取单元301，用于在检测到电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据；根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值。
确定单元302，用于在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
在一个可能的示例中，所述握持姿态数据包括多个第一维度数据，所述运行数据包括多个第二维度数据，所述获取单元301具体用于获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的无意跌落状态对应的第一特征数据之间的匹配值得到多个第一匹配值；获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的有意跌落状态对应的第二特征数据之间的匹配值得到多个第二匹配值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第二匹配值获取所述有意跌落概率值。
在一个可能的示例中，所述获取单元301还用于获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中至少两个维度数据之间的关联值得到多个目标关联值；所述确定单元302还用于根据所述多个目标关联值确定所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据的预设权值。
在一个可能的示例中，所述获取单元301还用于获取所述电子设备在互相垂直的三个轴向的加速度；所述确定单元302还用于在所述三个轴向的加速度均小于第一阈值的状态的持续时间大于预设时长时，确定所述电子设备为跌落状态；在所述三个轴向的加速度中至少一个加速度大于第二阈值时，确定所述电子设备的跌落状态结束。
在一个可能的示例中，所述获取单元301还用于在检测到所述电子设备的跌落状态结束时，获取所述电子设备的跌落数据，所述跌落数据包括跌落高度；在所述跌落高度大于第三阈值时，检测所述电子设备的指定硬件是否异常得到检测结果；所述装置300还包括生成单元303和发送单元304，其中：
所述生成单元303用于在所述指定硬件异常时，根据所述检测结果和所述跌落数据生成检测报告；
所述发送单元304，用于向服务器发送所述检测报告。
如图3所示的装置中，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备的握持姿态数据和运行数据，并根据握持姿态数据和运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。也就是说，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落状态和有意跌落状态的可能性，将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落状态和有意跌落状态两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落状态或有意跌落状态进行不同的操作。
与图1和图2所示的实施例一致的，请参照图4，图4为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。如图4所示，上述电子设备400包括处理器410和与处理器410连接的重力传感器420和存储器430。
在本申请中，所述重力传感器420用于检测所述电子设备400是否进入跌落状态；所述处理器410用于在所述电子设备400进入跌落状态时，获取所述电子设备400的握持姿态数据和运行数据；根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值；在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备400为无意跌落状态。
在一个可能的示例中，所述握持姿态数据包括多个第一维度数据，所述运行数据包括多个第二维度数据，所述存储器430用于存储所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值；在所述处理器410根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值方面，所述处理器410具体用于获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的无意跌落状态对应的第一特征数据之间的匹配值，得到多个第一匹配值；获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的有意跌落状态对应的第二特征数据之间的匹配值，得到多个第二匹配值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第二匹配值获取所述有意跌落概率值。
在一个可能的示例中，在所述处理器410根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值之前，所述处理器410还用于获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中至少两个维度数据之间的关联值，得到多个目标关联值；根据所述多个目标关联值确定所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据的预设权值。
在一个可能的示例中，所述存储器430还用于存储第一阈值、预设时长和第二阈值；所述重力传感器420还用于获取所述电子设备400在互相垂直的三个轴向的加速度；所述处理器410还用于在所述三个轴向的加速度均小于所述第一阈值的状态的持续时间大于所述预设时长时，确定所述电子设备400为跌落状态；在所述三个轴向的加速度中至少一个加速度大于所述第二阈值时，确定所述电子设备400的跌落状态结束。
在一个可能的示例中，所述存储器430还用于存储第三阈值；所述处理器410还用于在检测到所述电子设备400的跌落状态结束时，获取所述电子设备400的跌落数据，所述跌落数据包括跌落高度；在所述跌落高度大于所述第三阈值时，检测所述电子设备400的指定硬件是否异常，得到检测结果；在所述指定硬件异常时，根据所述检测结果和所述跌落数据生成检测报告，向服务器发送所述检测报告。
如图4所示的电子设备中，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备的握持姿态数据和运行数据，并根据握持姿态数据和运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。也就是说，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落和有意跌落状态的可能性，将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落状态和有意跌落状态两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落状态或有意跌落状态进行不同的操作。
与图1和图2所示的实施例一致的，请参照图5，图5为本申请提出的另一种跌落信息的检测方法的流程示意图，应用于如图4所描述的电子设备。其中：
501：重力传感器检测电子设备是否进入跌落状态。
502：处理器在所述电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据。
503：所述处理器根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值。
504：所述处理器在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
在一个可能的示例中，所述握持姿态数据包括多个第一维度数据，所述运行数据包括多个第二维度数据，所述处理器根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，包括：
所述存储器存储所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值；
所述处理器获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的无意跌落状态对应的第一特征数据之间的匹配值得到多个第一匹配值；获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的有意跌落状态对应的第二特征数据之间的匹配值得到多个第二匹配值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值；根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第二匹配值获取所述有意跌落概率值。
在一个可能的示例中，在所述处理器根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值之前，所述方法还包括：
所述处理器获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中至少两个维度数据之间的关联值，得到多个目标关联值；根据所述多个目标关联值确定所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据的预设权值。
在一个可能的示例中，所述方法还包括：
所述存储器存储第一阈值、预设时长和第二阈值；
所述重力传感器获取所述电子设备在互相垂直的三个轴向的加速度；所述处理器在所述三个轴向的加速度均小于所述第一阈值的状态的持续时间大于所述预设时长时，确定所述电子设备为跌落状态；在所述三个轴向的加速度中至少一个加速度大于所述第二阈值时，确定所述电子设备的跌落状态结束。
在一个可能的示例中，所述方法还包括：
所述存储器存储第三阈值；
所述处理器在检测到所述电子设备的跌落状态结束时，获取所述电子设备的跌落数据，所述跌落数据包括跌落高度；在所述跌落高度大于所述第三阈值时，检测所述电子设备的指定硬件是否异常得到检测结果；在所述指定硬件异常时，根据所述检测结果和所述跌落数据生成检测报告，向服务器发送所述检测报告。
如图5所示的方法中，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备的握持姿态数据和运行数据，并根据握持姿态数据和运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。也就是说，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落状态和有意跌落状态的可能性，将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落和有意跌落两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落状态或有意跌落状态进行不同的操作。
与图1和图2所示的实施例一致的，请参阅图6，图6是本申请实施例提供的另一种电子设备的结构示意图。如图6所示，该电子设备600包括处理器610、存储器620、通信接口630以及一个或多个程序640，其中，一个或多个程序640被存储在存储器620中，并且被配置由处理器610执行，程序640包括用于执行以下步骤的指令：
在检测到电子设备进入跌落状态时，获取所述电子设备的握持姿态数据和运行数据；
根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值；
在所述无意跌落概率值大于或等于所述有意跌落概率值时，确定所述电子设备为无意跌落状态。
在一个可能的示例中，所述握持姿态数据包括多个第一维度数据，所述运行数据包括多个第二维度数据，在所述根据所述握持姿态数据和所述运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值方面，所述程序640具体用于执行以下步骤的指令：
获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的无意跌落状态对应的第一特征数据之间的匹配值，得到多个第一匹配值；
获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据与预先存储的有意跌落状态对应的第二特征数据之间的匹配值，得到多个第二匹配值；
根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值；
根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第二匹配值获取所述有意跌落概率值。
在一个可能的示例中，在所述根据所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据对应的预设权值和所述多个第一匹配值获取所述无意跌落概率值之前，所述程序640具体用于执行以下步骤的指令：
获取所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中至少两个维度数据之间的关联值，得到多个目标关联值；
根据所述多个目标关联值确定所述多个第一维度数据和所述多个第二维度数据中每一维度数据的预设权值。
在一个可能的示例中，所述程序640还用于执行以下步骤的指令：
获取所述电子设备在互相垂直的三个轴向的加速度；
在所述三个轴向的加速度均小于第一阈值的状态的持续时间大于预设时长时，确定所述电子设备为跌落状态；
在所述三个轴向的加速度中至少一个加速度大于第二阈值时，确定所述电子设备的跌落状态结束。
在一个可能的示例中，所述程序640还用于执行以下步骤的指令：
在检测到所述电子设备的跌落状态结束时，获取所述电子设备的跌落数据，所述跌落数据包括跌落高度；
在所述跌落高度大于第三阈值时，检测所述电子设备的指定硬件是否异常，得到检测结果；
在所述指定硬件异常时，根据所述检测结果和所述跌落数据生成检测报告，向服务器发送所述检测报告。
如图6所示的电子设备中，在检测到电子设备进入跌落状态时，获取电子设备的握持姿态数据和运行数据，并根据握持姿态数据和运行数据获取无意跌落概率值和有意跌落概率值，在无意跌落概率值大于或等于有意跌落概率值时，确定电子设备为无意跌落状态，否则为有意跌落状态。也就是说，获取电子设备跌落时的用户握持电子设备的握持姿态数据和电子设备当前运行的运行数据，并对握持姿态数据和运行数据进行分析得到无意跌落状态和有意跌落状态的可能性，将其中概率较大的作为电子设备的跌落状态，从无意跌落状态和有意跌落状态两方面进行判断，提高了判断有意跌落状态还是无意跌落状态的准确性，便于根据无意跌落状态或有意跌落状态进行不同的操作。
本申请实施例还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质存储用于存储计算机程序，该计算机程序使得计算机执行如方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤，计算机包括电子设备。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，计算机程序可操作来使计算机执行如方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包，计算机包括电子设备。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
在实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置，可通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括：U盘、只读存储器(read-only memory，ROM)、随机存取存储器(random access memory，RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。