一种产线射频耦合测试屏蔽箱的制作方法

文档序号:20732154发布日期:2020-05-12 19:22阅读:411来源:国知局
一种产线射频耦合测试屏蔽箱的制作方法

本实用新型涉及耦合测试技术领域,特别涉及一种产线射频耦合测试屏蔽箱。



背景技术:

许多电子设备(如手机、平板电脑、电子书等)在产线上装配完成后,需要对其通信天线的通信性能进行测试。

目前,产线射频耦合测试屏蔽箱(如可参见中国专利公告号为“cn207992278u”的实用新型专利所公开的实施方式)被广泛应用于电子设备的通信天线的测试。

但现有的产线射频耦合测试屏蔽箱普遍存在如下问题:1、现有的产线耦合测试箱在转产换机型要根据机型调整测试天线位置,转产时间长,效率低;2、测试天线的位置需要人为的调整,所有机台位置很难调的一致,整线一致性差,容易出现误判,功率不准或者天线缺陷未检出等问题,从而容易导致不良品出货并导致品质客诉;3、维护成本高,需要更多维护技术人员。4、现有的产线射频耦合测试屏蔽箱主要针对4g电子设备(如4g手机)的测试,3g或4g电子设备一般只有2~4个通信天线,对应的,现有的产线射频耦合测试屏蔽箱也设计为最多只能悬挂2~4个测试天线。但随着5g时代的到来,5g电子设备上一般会配置更多(如10个以上)的通信天线,因此,现有的产线射频耦合测试屏蔽箱无法一次完成5g电子设备的测试,需通过多个(如3个)现有的产线射频耦合测试屏蔽箱分别完成5g电子设备的相应通信天线的测试,而分步完成的方式,存在测试成本高且效率低的问题。



技术实现要素:

本实用新型的主要目的是提出一种产线射频耦合测试屏蔽箱,旨在提高测试效率和测试准确度,并降低测试成本。

为实现上述目的,本实用新型提出了一种产线射频耦合测试屏蔽箱,包括:

箱体,箱体内部限定有测试腔室;

多个测试天线,所述测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线;

射频控制开关,所述射频控制开关与多个所述测试天线电性连接,用于控制测试天线对射频信号的发送和接收;以及

托盘,所述托盘位于测试腔室内,用于放置被测件。

本实用新型技术方案在测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线,使测试天线整体实现了一个测试箱体的内部纵切面的形成完整均匀采样,从而在转产换机型时,无须根据机型调整测试天线的位置,具有如下有益效果:1、转产换机型,无须调整测试天线的位置,相应的转产时间短,效率高;2、测试天线的位置无须调整,整线一致性高,不易出现误判、功率不准或者天线缺陷未检出等问题,相应的准确性和重复性更高,测试结果更接近标准暗室结果,更能准确地判断出不良品,从而大幅降低不良品出货并导致品质客诉的机率;3、相应的维护成本低,降低对维护技术人员的需求量。

附图说明

图1为本实用新型的立体示意图;

图2为本实用新型的纵向剖视图;

图3为内壳隐去顶壁后,测试腔室内部的结构示意图;

图4为测试天线与支架的装配示意图;

图5为托盘与限位角块的配合示意图;

图6为图5的a部分的放大详图。

具体实施方式

下面将结合附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

需要说明,若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后、顶、底、内、外、垂向、横向、纵向,逆时针、顺时针、周向、径向、轴向……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。

另外,若本实用新型实施例中有涉及“第一”或者“第二”等的描述,则该“第一”或者“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种产线射频耦合测试屏蔽箱。

本实用新型实施例中,如图1至6所示,该产线射频耦合测试屏蔽箱,包括箱体1、多个测试天线2、射频控制开关(未图示)和托盘3。

其中,箱体1内部限定有可包围被测件100的测试腔室,测试腔室的内部具有后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104、底壁105和前壁106,所述测试腔室的后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105分别设有至少一个所述测试天线2,使测试天线2整体实现了一个测试箱体1的内部纵切面的形成完整均匀采样,从而在转产换机型(即被测件)时,无须根据机型调整测试天线2的位置。所述射频控制开关与多个所述测试天线2电性连接,用于控制测试天线2对射频信号的发送和接收,射频控制开关为现有技术,这里不再对其具体结构以及工作原理进行赘述。所述托盘位于测试腔室内,用于放置被测件100。

可以理解地,分别设于测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的测试天线2的数量可根据测试需求而定,例如被测件100为3g或4g电子设备时,其通信天线较少,对应的测试天线2可设置得较少。例如,可仅在测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105分别设置一个测试天线2;如被测件100为5g电子设备时,其通信天线较多,对应的测试天线2可设置得较多。示例性的,如图2所示,设于测试腔室后壁的测试天线2有六个、设于测试腔室左壁102和右壁103的测试天线2分别有两个、设于测试腔室的顶壁104和底壁105的测试天线2分别有三个,且测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的相邻测试天线2优选正交垂直。以形成正交搅模,达到电磁混响效果,从而替换传统结构复杂的机械搅拌方式。

优选地,设于测试腔室的顶壁104和底壁105的测试天线2,以及设于测试腔室左壁102和右壁103的测试天线2分别对称设置,且设在测试腔室后壁的所述测试天线2在其正前投影面上位于设在测试腔室左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的测试天线2的共同中间位置,此设置方式可使测试天线整体进一步实现在一个测试箱体1的内部纵切面的形成完整均匀采样,从而进一步提高测试效果。

在本实用新型实施例中,所述测试天线2的形状和构造可以有多种实施方式,如采用现有的圆形片状、锯齿片状等结构。也可以采用如下实施方式,如图4所示,所述测试天线2设计为平面水滴型结构(或者说水滴片状结构),经测试数据显示,平面水滴型测试天线2的带宽为600m-6g,驻波比<2.5,具有超宽频、性能高的优点,且增益平坦。

在本实用新型实施例中,托盘3的结构以及材质有多种实施方式,例如可采用现有技术,也可以采用超低介电常数的类真空泡沫材料(介电常数<1.1)制成,采用所述超低介电常数的类真空泡沫材料制成的托盘3。托盘3尺寸可根据测试需求(例如被测件100的尺寸大小,一次测试被测件100的数量等)而定。优选地,托盘3的表面长度和宽度均可以为300~500mm,优选400*400mm,此尺寸可同时间隔放置多个(如四个)被测件100进行测试。托盘3可以为一个,也可以为多个(如两个),为多个时,多个托盘3上下间隔设置,示例性地,托盘3为两个时,基于上述实施例,两个托盘3共可同时放置八个被测件100,放置多个进行测试的方式可大幅度提高生产效率。

优选地,托盘3位于设在测试腔室后壁101的测试天线2的正前方位置,且在托盘3的正前投影面上位于设在测试腔室左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的测试天线2的共同中间位置,上下可以3cm范围内调整。

可以理解地,被测件100为平铺放置在托盘3上,被测件100之间的间距保持在10cm以上,每个被测件100周边安装可调的限位件来定位被测件100,转产切换不同机型时相应调节限位件的位置即可。

具体而言,所述托盘3可通过顶面开设限位槽的方式形成用于定位被测件100的放置区,也可以在顶面设置限位件的方式形成用于定位被测件100的放置区,在一较佳实施方式中,所述托盘3的顶面平坦,对应每个放置区的位置设有四个呈矩形分布的限位角块31(即上述限位件),四个限位角块的内围共同围成一个矩形的所述放置区,以对放于其内的被测件100进行定位。

进一步地,四个相应的所述限位角块可滑动安装于托盘3,以调节矩形放置区的大小,从而适应不同尺寸被测件100的放置需求,另有锁定件(如塑料螺栓)用于将调整位置后的限位角块31锁定于托盘3。具体地,所述托盘3对应每个限位角块的位置设有多条沿放置区的宽度方向间隔分布的滑槽32,每道所述滑槽32沿放置区的长度方向延伸,沿滑槽32的长度方向(也为放置区的长度方向)移动限位角块31时,可调节放置区的长度,沿滑槽32的间隔方向(也为放置区的宽度方向)调节限位角块31的位置,可调节放置区的宽度,限位角块31可通过塑料螺栓锁定于滑槽32的相应位置。更进一步地,所述限位角块31开设有沿滑槽32的间隔方向延伸的过槽311,塑料螺栓(未图示)的杆部穿过过槽311后将限位角块31锁定于相应的滑槽32中,通过设置过槽311,可进一步调节放置区的宽度。

具体地,测试腔室的后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104、底壁105和前壁106均为表面光滑且导电性能良好的金属材质,例如由3mm厚6061铝板所形成。

在本实用新型实施例中,托盘3的安装方式以及箱体1的结构有多种实施方式,例如,托盘3可采用抽屉式托盘(如参考公开号为cn207992278u”的实用新型所公开的抽屉式实施方式),抽屉式托盘3装于箱体1的前壁,并配以气缸4,以实现自动进出测试箱体1并与外部的机械手自动化连线,实现被测件100的自动取放。箱体1的一般包括内壳10和包围内壳10的外壳11,其中,内壳10内部限定有所述测试腔室,外壳11两侧设有提手5(优选两侧各两个提手5),方便搬运,内壳10和外壳11的前壁设有供托盘3进入的内通道和外通道(未图示),抽屉关闭后,抽屉式托盘3的抽屉门板30将内通道封闭,且抽屉门板30的前壁面与外壳11的前壁面平齐,外壳11的前壁上沿采用弧形设计,美观整洁,且外壳11前壁安装有被测件100测试状态指示灯(pass,fail,test),方便观察测试状态。

在本实用新型实施例中,所述测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105对应测试天线2的位置固设有支架20,支架20优选低介电常数的塑料(如abs)制成,所述测试天线2安装于支架20上,并与设于箱体1外壁(优选后壁)的射频连接头22电性连接。具体地,测试天线2的安装方式有多种,在一较佳实施例中,所述测试天线2(优选中后部)开设有多个固定孔21,并通过螺丝(优选塑料材质的螺丝)固定于支架20。所述固定孔21的数量优选四个,且呈矩形分布。

在本实用新型实施例中,测试腔室优选呈长方体状,测试腔室的长度(即测试的前壁和后之间的距离)为820~850mm,如为820mm、830mm或者850mm等;宽度(即测试腔室的左壁102和右壁103之间的距离)为550~650mm,如为550mm、600mm或者650mm等;高度(即测试腔室的)500~700mm,如为500mm、600mm或者700mm等。

进一步地,本实用新型具有防压手感应装置(未图示),当操作人员发生误操作,并出现手被抽屉门板压住的情况时,防压手感应装置可快速的感,并驱使气缸驱动抽屉门板快速自动弹开。

具体地,本实用新型的包含有usb接口、rs232和网口多种控制接口,通过usb接口和rs232接口可以进行抽屉式托盘的进出、指示灯状态、防压手装置和射频控制开关的控制;网口可以链接机械手服务器,实现自动化方案达成的高效对接,相比单串口的控制板更有优势。

使用本实用新型进行被测件100的测试时,先将被测件100与配套的测试仪表(未图示)、测试软件建立好同步和通讯后,通过测试软件结合控制和算法接口,控制射频开关依次将多个所述测试天线2(如第一个所述测试天线2到第十六个测试天线2)之间的连通切换(至于如何控制连通切换,为现有技术,这里不再进行赘述,同理,测试软件非本实用新型所要求保护的技术方案,其可采用现有技术),并通过测试仪表依次测得多个所述被测件100的发射功率(txpower)或者接收电平(rssi),最终通过算法计算出一个总的发射功率或者接收功率结果,并输出给测试软件。

具体而言,测试工作包括如下步骤:a、在批量测试之前,将一个标准实验室暗室测出的记录有各频点功率值的金机依次放置在托盘3上的每个放置区做校准测量,并将金机在每个定位区测试得到的总的发射功率和接收功率结果与金机暗室记录值进行比对,差值即为线损,记录在线损校准表里(此过程一般通过测试软件自动完成);b、经过金机校准后,进行被测件100射频耦合功率指标测试,并最终得到测试结果。采用本实用新型测出的任何一个被测件100的发射或者接收功率值通常与实验室暗室测量结果差异在2db以内。可以理解地,对多个被测件100同时测试时,每一个被测件100在混响箱里的测试过程是一样的,测试次序,对被测件100的控制与信息读取都是通过测试软件来管控。

应当说明的,上述被测件100可以为手机、平板电脑以及电子书等电子设备,本实用新型支持被测件100测试频率优选690-6000m,箱体1隔离度>60db。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的实用新型构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

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