0055]步骤S604,分析记录数据,计算方法如下:
[0056]Pg-Px=-Lx+Gt_Ls+Gh - Ly=(-Ls+Gh-Ly)+Gt - Lx (4)
[0057]其中，
[0058]Px为信号源408输出连续模拟信号的功率值，为频率的函数；
[0059]Pg为频谱分析仪409的功率值，为频率的函数；
[0060]公式(3)中，Pg和Px通过仪表实时读取，Gt是宽带增益基准天线的标准增益，可以从该天线的说明书或铭牌标识获知，Lx可以现场通过利用测量仪器测量得到，
[0061]ΔPc，=(-Ls+Gh-Ly)=Pg - Px-Gt+Lx (5)
[0062]这样可以得到测试环境链路(包括空间损耗、线缆差损、接收天线增益等)的校准参数Λ Pc，它是频率的离散函数。
[0063]步骤S605，对APc’进行离散点插值拟合，得到APc曲线，它是频率的连续函数，此参数就是在测试环境下进行有源天线共存共址杂散性能测试的校准参数。
[0064]图5中的宽带增益基准天线302，同样可以为一个或多个。
[0065]获取上述吸波暗室或者空旷无信号干扰的测试场的校准参数的方法有多种，不限于上述实施例所描述的方法，也可以采用以前测试的校准参数或者根据经验估计的校准参数 APc0
[0066]在经过校准的测试环境中，测试人员用有源天线系统702替换增益基准天线安装在天线转台306上，并通过光纤704和基带处理单元708相连，如图7所示。
[0067]以下结合图8说明测试过程。如图8所示，该测试过程包括:
[0068]步骤S801，有源天线系统和基带处理单元启动并开始工作，测试人员调整待测系统，使得有源天线系统处于发射模式，并发射固定指向的无线波束。
[0069]步骤S802，测试人员调整天线转台，使有源天线系统与接收天线在水平和俯仰上达到最佳指向(主波束方向)且极化对准。
[0070]步骤S803，测试人员配置有源天线系统参数使其产生不同制式(GSM，CDMA, WCDMA或LTE等)的载波信号，有源天线系统产生空间波束。
[0071]步骤S804，测试人员通过频谱分析仪读出共存共址杂散频点的功率值Pg，把它作为频率的函数记录下来。
[0072]记录下来的Pg为有源天线系统在天馈口的杂散功率(测试环节有源天线系统与基带处理单元之间用光纤连接，该光纤链路无衰减)经过发射天线阵列获得的增益，再经过空间传输的衰减，又经接收天线的增益和线缆的衰弱后的功率，用公式表示为:
[0073]Pg=Ps+Gs+ (-Ls+Gh-Ly) =Ps+Gs+ Δ Pc (6)
[0074]EIRPs的计算方法如下:
[0075]EIRPs=Ps+Gs=Pg-Δ Pc (7)
[0076]通过以上公式计算可以得到主波束方向的EIRPs，它是频率的函数。据此可以实现有源天线系统主波束方向的共存共址杂散性能的测试。
[0077]测试非主波束方向上的共存共址杂散指标时，同样按照图7所示搭建测试环境。
[0078]以下结合图9说明测试过程。如图9所示，该测试过程包括:
[0079]步骤S901，测试人员将有源天线系统水平(或垂直)放置在天线转台上，调整待测系统，使有源天线系统和基带处理单元启动并正常工作，配置参数使得有源天线系统处于发射模式，并发射固定指向的无线波束。
[0080]步骤S902，测试人员调整天线转台，使有源天线系统与接收天线在水平和俯仰上达到最佳指向(主波束方向)且极化对准，保证频谱分析仪在信号频点的测量功率值Pg为最大。
[0081]步骤S903，测试人员配置有源天线系统参数使其产生不同制式(GSM，CDMA, WCDMA或LTE等)的载波信号，有源天线系统产生空间波束。
[0082]步骤S904，在有源天线的垂直方向图(或水平方向图)面内旋转(顺时针或逆时针)测试转台，通过频谱分析仪测量共存共址杂散频点功率值Pg，把它作为频率和角度的函数记录下来，通过公式(7)可以计算得到有源天线系统垂直面(或水平面)非主波束方向的EIRPs，它是频率和角度的函数。据此可以实现有源天线系统非主波束方向的共存共址杂散性能测试。
[0083]通过【具体实施方式】的说明，应当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图示仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以限制。同时在不冲突的情况下，实施例和实施例中的特征可以相互组合。
[0084]本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、或计算机程序产品。因此，本发明可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
[0085]本发明是参照根据本发明实施例的方法和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
[0086]这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
[0087]这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
[0088]以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种测试有源天线系统共存共址杂散性能指标的方法，其特征在于，所述方法包括: 测试环境校准，获得环境校准参数； 设置有源天线系统在获得了环境校准参数的测试环境中； 有源天线系统发射无线波束； 测量接收天线接收到的无线波束信号； 根据环境校准参数和接收天线接收到的无线波束信号测量值，确定有源天线系统的共存共址杂散性能指标。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述共存共址杂散性能指标是指有源天线系统全频段共存共址杂散性能指标。
3.根据权利要求1所述的方法，所述的测试环境为:吸波暗室或空旷无信号干扰的测试环境。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的测试环境校准包括: 在测试场设置发射天线和接收天线，其中所述的发射天线通过射频线缆连接到矢量网络分析仪的第一端口，接收天线通过射频线缆连接到矢量网络分析仪的第二端口 ； 调整转台使得发射天线的主波束跟接收天线正向对准； 通过矢量网络分析仪获得整个校准系统在待测共存共址杂散频段的插入损耗； 获得校准参数。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述的发射天线是增益标准天线，数目是一个或多个，所述发射天线所工作的频点能够覆盖待测共存共址杂散的频段。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述的矢量网络分析仪为信号源和频谱分析仪，此时发射天线通过射频线缆跟信号源连接，接收天线通过射频线缆跟频谱分析仪连接。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述共存共址杂散性能指标包括主波束方向共存共址杂散性能指标和非主波束方向共存共址杂散性能指标。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的确定有源天线系统共存共址杂散性能指标是根据EIRPs=Pg+ Δ Pc。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述的非主波束方向共存共址杂散性能指标测试包括: 将有源天线系统水平或垂直放置在天线转台上； 使得有源天线系统处于发射模式，并发射固定指向的无线波束； 在有源天线的垂直方向图或水平方向图面内旋转测试转台； 获取不同角度的发射共存共址杂散频点的功率值； 根据获得的不同角度的功率值和环境校准参数APc获取非主波束方向共存共址杂散性能指标。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述的在有源天线的垂直方向图或水平方向图面内旋转测试转台为顺时针旋转或为逆时针旋转。
【专利摘要】本发明公开了一种测试有源天线系统共存共址杂散性能指标的方法。所述测试方法包括：通过构建测试环境校准获得环境校准参数、测试人员将有源天线系统设置在获得了校准参数的测试环境中，调整待测系统，使有源天线系统发射无线波束，经过空间传输给接收天线，根据接收天线接收到的信号和测试环境校准参数，确定有源天线系统的共存共址杂散性能指标。
【IPC分类】H04B17-29, H04B17-15
【公开号】CN104717025
【申请号】CN201310688319
【发明人】白雪, 王鹏, 侯建平, 刘平
【申请人】中兴通讯股份有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2013年12月13日
【公告号】WO2015085877A1